国产精品1024永久观看,大尺度欧美暖暖视频在线观看,亚洲宅男精品一区在线观看,欧美日韩一区二区三区视频,2021中文字幕在线观看

  • <option id="fbvk0"></option>
    1. <rt id="fbvk0"><tr id="fbvk0"></tr></rt>
      <center id="fbvk0"><optgroup id="fbvk0"></optgroup></center>
      <center id="fbvk0"></center>

      <li id="fbvk0"><abbr id="fbvk0"><dl id="fbvk0"></dl></abbr></li>

      用于在電化學測試條中降低直接和間接干擾電流影響的方法

      文檔序號:426872閱讀:222來源:國知局
      專利名稱:用于在電化學測試條中降低直接和間接干擾電流影響的方法
      技術領域
      本發(fā)明一般涉及降低干擾化合物對通過分析物測量系統(tǒng)進行的測量的影響的方法,更具體來說,涉及降低使用電化學測試條的葡萄糖監(jiān)測系統(tǒng)中直接干擾電流和間接干擾電流的影響的方法,其中所述電化學測試條具有電極,所述電極具有被活性試劑涂布的區(qū)域和被非活性試劑涂布的區(qū)域。
      背景技術
      在很多情況下,電化學測量系統(tǒng)可由于生理流體中常見的干擾化合物的氧化而具有增高的氧化電流,所述干擾化合物是例如撲熱息痛、抗壞血酸、膽紅素、多巴胺、龍膽酸、谷胱甘肽、左旋多巴、甲基多巴、妥拉磺脲、甲苯磺丁脲和尿酸。因此,通過降低或消除由干擾化合物產(chǎn)生的那部分氧化電流,可提高葡萄糖測量儀的準確度。理想情況是,應當沒有由任何干擾化合物產(chǎn)生的氧化電流,這樣整個氧化電流僅取決于葡萄糖濃度。
      因此,希望提高在可能的干擾化合物例如在生理流體中常見的抗壞血酸鹽、尿酸鹽和撲熱息痛存在下,電化學傳感器的準確度。對于這樣的電化學傳感器,分析物的實例可包括葡萄糖、乳酸鹽和果糖胺。雖然葡萄糖是所討論的主要分析物,但是對于本領域技術人員來說顯而易見的是,本發(fā)明也可用于其它分析物。
      氧化電流可通過幾條途徑產(chǎn)生。特別是,所期望的氧化電流由氧化還原介體與所關注的分析物(例如葡萄糖)的相互作用產(chǎn)生,而不期望的氧化電流通常由在電極表面被氧化以及通過的與氧化還原介體的相互作用而被氧化的干擾化合物產(chǎn)生。例如,某些干擾化合物(例如撲熱息痛)在電極表面被氧化。其它干擾化合物(例如抗壞血酸)通過與氧化還原介體的化學反應而被氧化。在葡萄糖測量系統(tǒng)中,干擾化合物的氧化引起測量的氧化電流既依賴于葡萄糖的濃度也依賴于任何干擾化合物的濃度。因此,在干擾化合物以與葡萄糖同樣的效率氧化,并且相對于葡萄糖濃度,干擾化合物的濃度是高的時,葡萄糖濃度的測量可通過降低或消除干擾化合物對總氧化電流的貢獻而得到改善。
      降低干擾化合物的影響的一個已知策略是使用帶負電荷的薄膜來覆蓋工作電極。作為一個實例,可以使用磺化氟代聚合物例如NAFIONTM來排斥所有帶負電荷的化學物質(zhì)。一般情況下,大部分干擾化合物例如抗壞血酸鹽和尿酸鹽帶有負電荷,因此,帶負電荷的薄膜阻止帶負電荷的干擾化合物到達電極表面以及在電極表面上被氧化。然而,由于某些干擾化合物例如撲熱息痛不帶負電荷,并且從而可以通過帶負電荷的薄膜,所以該技術不總是成功的。該技術也不能降低由于干擾化合物與某些氧化還原介體的相互作用而產(chǎn)生的氧化電流。在工作電極上使用帶負電荷的薄膜還可阻止某些常用的氧化還原介體例如鐵氰化物通過帶負電荷的薄膜來與電極進行電子交換。
      可用于降低干擾化合物的影響的另一個策略是在工作電極頂部使用尺寸選擇薄膜。作為一個實例,可以將100道爾頓尺寸排阻薄膜例如乙酸纖維素薄膜來覆蓋工作電極,以排除分子量大于100道爾頓的所有化學物質(zhì)。大部分干擾化合物的分子量大于100道爾頓,因此被排除而不能在電極上被氧化。然而,這樣的選擇薄膜通常使得測試條的制造更復雜,并且由于氧化的葡萄糖必須通過選擇薄膜擴散到達電極而增加了測量時間。
      可用于降低干擾化合物的影響的另一個策略是使用具有低氧化還原電位的氧化還原介體,例如氧化還原電位為約-300mV至+100mV(當相對于飽和甘汞電極測量時)的氧化還原介體。因為氧化還原介體具有低氧化還原電位,施加給工作電極的電壓也可以較低,這降低了干擾化合物被工作電極氧化的速度。具有較低氧化還原電位的氧化還原介體的實例包括鋨聯(lián)吡啶絡合物、二茂鐵衍生物和醌衍生物。該策略的缺點是,具有較低氧化還原電位的氧化還原介體經(jīng)常難以合成,較不穩(wěn)定以及具有低的水溶解度。
      可用于降低干擾化合物的影響的另一個策略是使用涂布了氧化還原介體的偽電極。在某些情況下,還可以將偽電極用惰性蛋白或失活的氧化還原酶。偽電極的目的是在電極表面上氧化干擾化合物和/或氧化被干擾化合物還原的氧化還原介體。在該策略中,將在偽電極上測量的電流從在工作電極測量的總氧化電流中減去,以消除干擾影響。該策略的缺點是,其需要測試條包括不能用于測量葡萄糖的另外的電極和另外的電連接(即偽電極)。包括偽電極是在葡萄糖測量系統(tǒng)中無效率地使用電極。
      發(fā)明概述本發(fā)明涉及降低電化學傳感器中的干擾的方法,其中所述方法包括下列步驟測量在第一個工作電極上的第一個電流的步驟,所述第一個工作電極被活性試劑層覆蓋;測量在第二個工作電極上的第二個電流的步驟,所述第二個工作電極被非活性試劑層覆蓋;以及使用第一個工作電極的活性區(qū)域面積與第二個工作電極的非活性區(qū)域面積的比例來計算代表葡萄糖濃度的校正電流值的步驟。
      本發(fā)明還涉及降低電化學傳感器中的干擾的方法,其中所述方法包括下列步驟測量在第一個工作電極上的第一個電流的步驟,所述第一個工作電極被活性試劑層覆蓋;測量在第二個工作電極上的第二個電流的步驟,其中活性試劑層布置在第二個工作電極的活性區(qū)域上,并且第二個工作電極的非活性區(qū)域被非活性試劑層覆蓋;以及使用在第一個和第二個工作電極上的活性區(qū)域面積與在第二個工作電極上的非活性區(qū)域面積的比例來計算代表葡萄糖濃度的校正電流值的步驟。
      附圖簡述通過下面給出示例性實施方案的詳細描述,可以更好地了解本發(fā)明的特征和優(yōu)點,其中使用了本發(fā)明的原理以及附圖

      圖1是根據(jù)本發(fā)明的示例性實施方案的測試條的部件分解透視圖;圖2是測試條的遠端部分的簡化平面視圖,所述測試條是根據(jù)圖1所示的本發(fā)明實施方案的測試條,并且包括導電層和絕緣層;圖3是根據(jù)圖1所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此不接觸,并且顯示具有絕緣層和導電層;圖4是根據(jù)圖1所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此直接相鄰,并且顯示具有絕緣層和導電層;圖5是根據(jù)圖1所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此重疊,并且顯示具有絕緣層和導電層;圖6是根據(jù)圖1所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此不接觸,并且顯示具有導電層;圖7是根據(jù)圖1所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此直接相鄰,并且顯示具有導電層;圖8是根據(jù)圖1所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此重疊,并且顯示具有導電層;圖9是表明與測試條連接的測量儀的簡單圖解圖,所述測試條具有布置在襯底上的第一個接觸點(contact)、第二個接觸點和參比接觸點;圖10是表明與測試條連接的測量儀的簡單圖解圖,所述測試條具有布置在襯底上的第一個接觸點和第二個接觸點,以及在方向上與第一個接觸點和第二個接觸點面對的參比接觸點;圖11是表明γ放射對于在20mg/dL葡萄糖濃度測量的測試條精確度的影響;圖12是表明γ放射對于在50mg/dL葡萄糖濃度測量的測試條精確度的影響;圖13是表明γ放射對于在100mg/dL葡萄糖濃度測量的測試條精確度的影響;圖14是表明γ放射對于在300mg/dL葡萄糖濃度測量的測試條精確度的影響;圖15是表明γ放射對于在500mg/dL葡萄糖濃度測量的測試條精確度的影響;圖16是表明龍膽酸對于在70mg/dL葡萄糖濃度測量的測試條準確度的影響;圖17是表明龍膽酸對于在240mg/dL葡萄糖濃度測量的測試條準確度的影響;圖18是表明尿酸對于在70mg/dL葡萄糖濃度測量的測試條準確度的影響;圖19是表明尿酸對于在240mg/dL葡萄糖濃度測量的測試條準確度的影響;圖20是測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其表明了使得第二個工作電極的面積增加的改進的剪切塊;圖21是根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性實施方案的測試條的部件分解透視圖;圖22是根據(jù)圖21所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此不接觸,并且顯示具有絕緣層和導電層;圖23是根據(jù)圖21所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此直接相鄰,并且顯示具有絕緣層和導電層;圖24是根據(jù)圖21所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此重疊,并且顯示具有絕緣層和導電層;圖25是根據(jù)圖21所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此不接觸,并且顯示具有導電層;圖26是根據(jù)圖21所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此直接相鄰,并且顯示具有導電層;和圖27是根據(jù)圖21所示本發(fā)明實施方案的測試條的遠端部分的簡化平面視圖,其中活性和非活性試劑層的位置彼此重疊,并且顯示具有導電層。
      發(fā)明詳述本文所描述的本發(fā)明包括測試條以提高在干擾化合物存在下葡萄糖測量的準確度。在一些情況下,在加入體液例如血液之前,一類干擾化合物可在測試條自身中形成。該類型的干擾化合物可以是還原的介體(例如亞鐵氰化物),其是從氧化的介體(例如鐵氰化物)的轉(zhuǎn)化而形成的。這引起背景信號增加,從而降低了測試條測量的準確度。應當注意到,在這種情況下,干擾化合物在測試條自身中形成,而不是以體液形式提供給測試條。
      氧化的介體通常布置在工作電極上,其目的是氧化的介體將是穩(wěn)定的,并且不躍遷到還原的氧化還原態(tài)。對于使用氧化電流來與葡萄糖濃度相關聯(lián)的電化學傳感器,產(chǎn)生還原的介體引起背景信號增加。通常,鐵氰化物(例如氧化的介體)隨著時間的延長往往變得被還原,成為還原的氧化還原態(tài)。當暴露于環(huán)境條件,包括但不限于堿性pH、高溫、高濕度、亮光條件、電子束照射和γ放射時,鐵氰化物通常更塊地躍遷到還原的氧化還原態(tài)。
      最近,已經(jīng)將刀片和測試條與單一醫(yī)療裝置成為一個整體。這些成一個整體的醫(yī)療裝置可以與相關測量儀一起使用,以監(jiān)測各種分析物,包括葡萄糖。根據(jù)這種情況,可設計測試條來以插曲式單用格式、半連續(xù)格式或連續(xù)格式來監(jiān)測分析物。刀片和測試條的整體化簡化了操作,因為這消除了使用者協(xié)調(diào)從樣本位點取樣體液與隨后把體液傳遞給測試條的需要。在這樣的情況下,必須將刀片與測試條一起滅菌以減去感染危險。
      電離放射可用于將測試條和刀片滅菌??赡艿碾婋x放射源是電子束、γ射線和X-射線。然而,測試條滅菌中所面臨的一個挑戰(zhàn)是提供足夠高強度的放射,從而將測試條整個包裝中足夠高比例的微生物被殺死,同時不給試劑層帶來不利影響。通常,將批次或包裝的測試條暴露于劑量為約10KGy-約50KGy的電離放射。對于使用e-電子束滅菌的情況,入射的e-電子束源的能量可以為約3MeV-約12MeV。撞擊式電離放射在其強度方面可經(jīng)常具有某些非一致性,引起包裝的一個具體部分接收的電離放射比該包裝的另一部分多。實驗已經(jīng)表明,γ放射和電子束放射引起電化學傳感器的背景信號增加。此外,對于滅菌的批次測試條,在非一致性性質(zhì)中,放射的較不一致性引起背景信號增加。當測量具體批次的滅菌的葡萄糖測試條時,這引起精確度下降。此外,在低葡萄糖濃度范圍內(nèi)(例如約20mg/dL-約100mg/dL),這種精確度下降會加重,因為對于低葡萄糖濃度范圍,還原介體的比例較高。
      圖1是測試條800的部件分解透視圖,該測試條是設計用來補償可能由于氧化介體轉(zhuǎn)化成還原介體而引起的增加的背景中的差異。在圖1所示的本發(fā)明實施方案中,用于測量體液例如血液或間隙液中葡萄糖濃度的電化學測試條800包括第一個工作電極808、第二個工作電極806和參比電極810。活性試劑層820布置在第一個工作電極808和參比電極810上,其中活性試劑層820完全覆蓋第一個工作電極808并且部分覆蓋參比電極810。非活性試劑層818布置在第二個工作電極806上。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,活性試劑層820可包括例如葡萄糖氧化酶和介體例如鐵氰化物。非活性試劑層818可包括介體,但是沒有對于所關注的分析物有特異性的活性酶。因為鐵氰化物在碳電極上具有約400mV的氧化還原電位(當相對于飽和甘汞電極測量時),所以引入體液例如血液可通過氧化還原介體和/或工作電極產(chǎn)生顯著的干擾物氧化,從而產(chǎn)生顯著的不期望的氧化電流。因此,在第一個工作電極808上測量的氧化電流將是氧化電流源的疊加由于葡萄糖的氧化而產(chǎn)生的第一個期望的氧化電流;在電極上干擾物的直接氧化而產(chǎn)生的第二個不期望的氧化電流(直接干擾電流);和通過介體的干擾物的間接氧化而產(chǎn)生的第三個不期望的氧化電流(間接干擾電流)。在第二個工作電極806上測量的氧化電流也將是類似于第一個工作電極808的氧化電流和疊加,但是第一個期望的氧化電流應當不會存在,因為在第二個工作電極806上不存在任何酶。因為在第二個工作電極806上測量的氧化電流僅取決于干擾物,并且在第一個工作電極808上測量的氧化電流取決于葡萄糖和干擾物,所有可能計算出校正葡萄糖電流,該校正葡萄糖電流不受在第一個工作電極808和第二個工作電極806上氧化的干擾化合物的影響。在這樣的情況下,將第一個工作電極808的電流密度減去第二個工作電極806的電流密度,以計算校正葡萄糖電流密度G,其中G=WE1-WE2(公式8)其中WE1是在第一個工作電極808上的電流密度,WE2是在第二個工作電極806上的電流密度。
      根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案,由于在第二個工作電極806上沒有酶,在第二個工作電極806上的干擾物氧化電流密度與在第一個工作電極808上的電流密度可能稍微不同。在這樣的情況下,可使用常數(shù)K來校正電流測量中的這樣的非理想性。公式9顯示了常數(shù)K是如何修飾上述公式8。
      G=WE1-(k×WE2)(公式8)其中K可以為約0.5-約1.5。
      測試條800包括襯底50、導電層802、絕緣層804、非活性試劑層818、活性試劑層820、粘合層830和頂層824。測試條800可通過將5個層依次印制在襯底50上而制得,所述5個層是導電層802、絕緣層804、非活性試劑層818、活性試劑層820和粘合層830。頂層824可通過層壓方法來裝配。測試條800還包括第一個側(cè)面54、第二個側(cè)面56、遠端部分58和近端部分60。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,襯底50是電絕緣材料例如塑料、玻璃、陶瓷等。在本發(fā)明的一個實施方案中,襯底50可以是塑料例如尼龍、聚碳酸酯、聚酰亞胺、聚氯乙烯、聚乙烯、聚丙烯、PETG或聚酯。更具體來說,聚酯可以是例如由DuPont Teijin Films生產(chǎn)的MelinexST328。襯底50還可以包括丙烯酸涂層,涂層是涂在一個或兩個側(cè)面上來改善墨粘合。
      沉積在襯底50上的第一層是導電層802,該層包括第一個工作電極808、第二個工作電極806、參比電極810和測試條檢測板17。根據(jù)本發(fā)明,可用具有圖1所示的限定幾何學的乳膠圖案的篩網(wǎng)來沉積材料例如導電碳墨??赏ㄟ^篩網(wǎng)印制、輪轉(zhuǎn)凹板印制、濺射、蒸發(fā)、無電噴鍍、噴墨、升華、化學氣相沉積等將導電層802沉積在襯底50上??捎糜趯щ妼?02的合適的材料是Au、Pd、Ir、Pt、Rh、不銹鋼、摻雜的氧化錫、碳等。在本發(fā)明的一個實施方案中,碳墨層可具有1-100微米,更特別是5-25微米,甚至更特別是約13微米的高度。導電層802的高度可根據(jù)所需要的印制材料的電阻和電導率而改變。
      第一個接觸點(contact)814、第二個接觸點812和參比接觸點816可用于和測量儀電連接。這使得測量儀與分別通過第一個接觸點814、第二個接觸點812和參比接觸點816與第一個工作電極808、第二個工作電極806和參比電極810電聯(lián)通。
      沉積在襯底50上的第二個層是絕緣層804。如圖1和2所示,將絕緣層804沉積在至少一部分導電層802上。圖2是測試條800的遠端部分58的簡化平面視圖,該圖重點突出了第一個工作電極808、第二個工作電極806和參比電極810相對于絕緣層804的位置。絕緣層804還包括切口(cutout)18,其可具有如圖1和2所示的矩形結構。切口18暴露了可以被液體潤濕的一部分第一個工作電極808、第二個工作電極806和參比電極810。切口18包括切口寬度W20和切口長度L26。如圖2所示,切口寬度W20與第二個工作電極806、參比電極810和第一個工作電極808的寬度相對應。在本發(fā)明的一個實施方案中,切口寬度W20可以為約0.7mm-約1.4mm,并且切口長度L26可以為約0.4mm-約3.4mm。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,第二個工作電極806和第一個工作電極808具有分別為L20和L21的長度,所述長度可相同,并且為約0.1mm-約0.8mm。參比電極810可具有長度L24,其可以為約0.2mm-約1.6mm。根據(jù)本發(fā)明,電極間距S1是第二個工作電極806與參比電極810之間的距離;以及參比電極810與第一個工作電極808之間的距離,并且可以為約0.2mm-約0.6mm。
      根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案,第一個工作電極808的面積可以與第二個工作電極806的面積不同。第一個工作電極808面積第二個工作電極806面積的比例可以為約1∶1-約1∶3。在一些情況下,通過提高第二個工作電極806的相對面積可改善背景的降低。如圖20所示,第二個工作電極806的面積可通過改變切口6008的幾何學來提高。
      圖2顯示了,在如圖1所示完全層壓之后,可沿著切口線A-A’將測試條800切開。在沿著圖1所示切口線A-A’將測試條800切開的過程中,產(chǎn)生了樣本入口52,在該入口中,可給測試條800施加液體樣本。
      圖3-5是根據(jù)圖1所示本發(fā)明實施方案的測試條800的遠端部分58的簡化平面視圖,其表明了活性試劑層820和非活性試劑層818彼此之間的不同位置。分別與圖3-5相對應的圖6-8沒有顯示絕緣層804,以有助于更清楚地表明導電層802、活性試劑層820和非活性試劑層818之間的關系。
      測試條800可具有布置在第二個工作電極806上的非活性試劑層818,這樣如圖3-5所示,其完全覆蓋第二個工作電極806。在本發(fā)明的一個實施方案中,如圖3和4所示,非活性試劑層818完全覆蓋第二個工作電極806,但是不接觸參比電極810。在本發(fā)明的另一個實施方案中,如圖5所示,非活性試劑層818完全覆蓋第二個工作電極806,并且至少部分覆蓋參比電極810。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,非活性試劑層818包括至少一個氧化的介體例如鐵氰化物,并且可任選包括惰性蛋白或失活蛋白。非活性試劑層818還可以包括pH6的檸檬酸鹽緩沖劑、聚乙烯醇、聚乙烯吡咯烷酮-乙酸乙烯酯、Dow Coming DC1500消泡劑、羥乙基纖維素(Natrosol 250G,Hercules)和具有親水性和疏水性區(qū)域的表面改性的二氧化硅(Cab-o-sil TS 610,Cabot)。氧化的介體的實例可以是鐵氰化物、二茂鐵絡合物、醌絡合物和鋨絡合物。惰性蛋白的實例可以是巴豆毒蛋白(crotein)或白蛋白(例如?;蛉税椎鞍?。失活酶的實例可以是apo形式的PQQ-葡萄糖脫氫酶(其中PQQ是吡咯并-喹啉-醌的首字母組合詞)或apo葡萄糖氧化酶(例如沒有任何活性位點的酶)。還可以通過熱處理或者通過用變性劑例如尿素處理將酶失活或?qū)⒚富钚宰銐驕p弱。因為非活性試劑層818不包括活性酶,所以在第二個工作電極806上測量的氧化電流與葡萄糖濃度不成正比。出于該原因,本領域技術人員可將第二個工作電極806稱為偽電極。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,非活性試劑層818中的惰性蛋白或失活酶可以起介體穩(wěn)定劑的作用。在高溫干燥處理期間,惰性蛋白或失活酶可以將介體屏蔽起來。此外,惰性蛋白或失活酶還可以起干燥劑的作用,其有助于保護介體不受水分的影響,水分可能會讓介體去穩(wěn)定化。
      如圖3-5所示,測試條800具有布置在第一個工作電極808上的活性試劑層820。在本發(fā)明的另一個實施方案中,活性試劑層820完全覆蓋第一個工作電極808,但是不接觸參比電極810。在本發(fā)明的另一個實施方案中,如圖3-5所示,活性試劑層820完全覆蓋第一個工作電極808,并且至少部分覆蓋參比電極810。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,活性試劑層820包括至少氧化的介體和酶?;钚栽噭?20還可以包括pH6的檸檬酸鹽緩沖劑、聚乙烯醇、聚乙烯吡咯烷酮-乙酸乙烯酯、Dow Coming DC1500消泡劑、羥乙基纖維素(Natrosol 250G,Hercules)和具有親水性和疏水性區(qū)域的表面改性的二氧化硅(Cab-o-sil TS 610,Cabot)。氧化的介體的實例可以是鐵氰化物、二茂鐵絡合物、醌絡合物和鋨絡合物。酶的實例可以是葡萄糖氧化酶、使用PQQ輔因子的葡萄糖脫氫酶和使用煙酰胺腺嘌呤二核苷酸輔因子的葡萄糖脫氫酶。因為活性試劑層820包括酶,所以在第一個工作電極808上測量的氧化電流與葡萄糖濃度成正比。
      應當注意,如果使用篩網(wǎng)印制來沉積非活性試劑層818和活性試劑層820,則需要兩個單獨的篩網(wǎng)印制來將各個試劑層沉積到合適的電極上。應當注意,篩網(wǎng)印制并不非常適于將兩種不連續(xù)的試劑印制到同一篩網(wǎng)上。在印制期間,涂刷器運動可引起兩種各自的試劑在篩網(wǎng)印制加工期間混合。圖3顯示了本發(fā)明的一個實施方案,其具有布置在第二個工作電極806上的非活性試劑層818和布置在第一個工作電極808和參比電極810上的活性試劑層820。在該實施方案中,非活性試劑層818不接觸活性試劑層820或與之重疊。因為第二個工作電極806、第一個工作電極808和參比電極810的面積較小,所以可能難以以希望的產(chǎn)率分別依次排列和涂布非活性試劑層818和活性試劑層820。還應當注意,較小電極面積(例如約0.6mm2)是優(yōu)選的,因為這使得測試條所需的液體樣本的體積很小。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,首先印制非活性試劑層820,然后在高溫下干燥。之后印制活性試劑層818,然后在高溫下進行另一個干燥步驟,如國際申請PCT/GB/03004708中所述,該專利引入本文以供參考。因為活性試劑層818是第二個沉積的,所以其僅暴露于一個干燥步驟,與之不同的是,非活性試劑層820暴露于兩個干燥步驟。這有助于穩(wěn)定活性試劑層818內(nèi)的介體和酶,因為在一些條件下,酶可能會隨著連續(xù)暴露于高溫而降解。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,圖4顯示了布置在第二個工作電極806上的非活性試劑層818和布置在第一個工作電極808和參比電極810上的活性試劑層820。在該實施方案中,非活性試劑層818和活性試劑層820彼此直接相鄰。在這樣的情況下,非活性試劑層818和活性試劑層820將接觸,但是通常不在任何顯著程度上彼此重疊。雖然印制加工的目標是使得非活性試劑層818和活性試劑層820彼此直接相鄰的排列,但是正常的生產(chǎn)差異將會以一定頻率引起非活性試劑層818與活性試劑層820之間的一些重疊。同樣,這樣的差異還將引起非活性試劑層818有時與活性試劑層820不接觸。因為讓非活性試劑層818接觸或不接觸活性試劑層820,并且本發(fā)明方法的操作仍然能夠降低在任一情況下的背景差異,可接受的測試條的產(chǎn)率得到提高了。
      應當注意,非活性試劑層818與活性試劑層820的重疊不影響葡萄糖測量,只要在測量所容許的時間內(nèi)(即約5秒或更短時間),酶不能在任何顯著程度上從活性試劑層820中擴散到第二個工作電極806上。如果酶擴散到第二個工作電極806上,第一個工作電極808將測量到葡萄糖電流以及非酶特異性電流。這將阻止測試條800有效地降低背景信號。
      應當注意到,如果在參比電極810上發(fā)生非活性試劑層818與活性試劑層820的重疊,則這不會葡萄糖測量。在這樣的情況下,參比電極810上酶和/或氧化介體的量將增加,但是應當不影響葡萄糖測量或背景校正算法。
      圖5顯示了改善非活性試劑層818和活性試劑層820涂布方法的本發(fā)明另一個實施方案??梢酝坎挤腔钚栽噭?18,使其完全覆蓋第二個工作電極806和一部分參比電極810。類似地,可以涂布活性試劑層820,使其完全覆蓋第一個工作電極808和至少一部分參比電極810。在本發(fā)明的一個實施方案中,印制加工的目標是這樣的排列,使得非活性試劑層818與活性試劑層820在參比電極810于重疊區(qū)域822上基本上彼此重疊。在這樣的情況下,非活性試劑層818和活性試劑層820可以在重疊區(qū)域822上彼此混合。因為與附圖4所示的實施方案相比,非活性試劑層818和活性試劑層820的長度被進一步提高,所以活性試劑層820和非活性試劑層818排列以及涂布到第一個工作電極808和第二個工作電極806上被進一步改善。
      應當注意,如圖1-5所示,第二個工作電極806(例如偽電極)位于測試條800的遠側(cè)部分58上。這引起生理流體以下列順序依次潤濕第二個工作電極806、參比電極810和第一個工作電極808。測試條800被有目的地設計成具有在活性試劑層820(不含有酶)上游的非活性試劑層818(含有酶)。這降低了酶既存在于第二個工作電極806也存在于第一個工作電極808上的可能性。如果含有酶的活性試劑層820涂布在第二個工作電極806上,并且在第一個工作電極808上沒有任何酶,則某些酶可能會從第二個工作電極806沖到第一個工作電極808上。在第一個工作電極808上存在大量酶將會阻止通過使用偽電極格式而帶來的背景信號降低。
      如圖1所示,在本發(fā)明的一個實施方案中,頂層824可以呈整體化刀片826的形式。在這樣的實施方案中,頂層824可包括位于遠端部分58上的刀片826。也可以稱為穿透部件的刀片826可適于刺入使用者的皮膚并且把血液抽吸到測試條800內(nèi),這樣第二個工作電極806、第一個工作電極808和參比電極810被潤濕。頂層824通過粘合層830粘著到測試條800上。該粘合層830可以是熱封或壓敏粘合劑。刀片826包括在裝配的測試條800的遠端部分58上終止的刀片基底832。刀片826可以由絕緣材料例如塑料、玻璃和硅或?qū)щ姴牧侠绮讳P鋼和金制成。對于其中頂層824是導電的情況,頂層824還可以用作參比電極810,其在方向上與第二個工作電極806和第一個工作電極808是面對關系。使用整體化刀片的整體化醫(yī)療裝置的進一步描述可參見國際申請PCT/GB01/05634和U.S.專利申請10/143,399。此外,刀片826可例如通過級進模沖壓技術來制造,所述技術如公開在上述國際申請PCT/GB01/05634和U.S.專利申請10/143,399中。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,粘合層830的高度為約70-110微米。粘合層830可包括雙側(cè)壓敏粘合劑、UV固化粘合劑、熱激活粘合劑、熱固化粘合劑或本領域技術人員已知的其它粘合劑。作為非限制性實例,粘合層830可通過篩網(wǎng)印制壓敏粘合劑來形成,所述粘合劑是例如水基丙烯酸共聚物壓敏粘合劑,其購自Tape Specialties LTDin Tring,Herts,United Kingdom(part#A6435)。
      在本發(fā)明方法中,背景差異通過從在第一個工作電極808測量的第一個電流中減去在第二個工作電極806測量的第二個電流而降低。為了開始測量,把樣本施加給樣本入口52,其容許在第二個工作電極806和第一個工作電極808上測量電流。因為第二個工作電極806不具有布置于其上的葡萄糖氧化酶,所以在第二個工作電極806上的氧化電流的大小與存在于測試條800上的干擾化合物的量以及樣本中存在的干擾化合物的量成正比。這使得能夠使用第一個工作電極808與第二個工作電極806之間的差異來計算校正電流值,從而降低樣本中存在的干擾化合物以及可能存在于測試條800上的干擾化合物的影響。
      圖9是表明與測試條800連接的測量儀900的簡單圖解圖。測量儀900具有至少3個電接觸點,這些電接觸點形成與第二個工作電極806、第一個工作電極808和參比電極810的電連接。特別是,第二個接觸點812和參比接觸點816與第一個電壓源910連接;第一個接觸點814和參比接觸點816與第二個電壓源920連接。當進行測量時,第一個電壓源910在第二個工作電極806與參比電極810之間施加第一個電位E1,第二個電壓源920在第一個工作電極808與參比電極810之間施加第二個電位E2。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,第一個電位E1和第二個電位E2可以相同,例如約為+0.4V。在本發(fā)明的另一個實施方案中,第一個電位E1和第二個電位E2可以不同。施加血樣,這樣第二個工作電極806、第一個工作電極808和參比電極810被血液覆蓋。這容許第二個工作電極806和第一個工作電極808測量與葡萄糖和/或非酶特定源成正比的電流。施加樣本5秒鐘后,測量儀900測量第二個工作電極806和第一個工作電極808的氧化電流。
      圖10是表明與測試條800連接的測量儀900的簡單圖解圖。與圖9不同,頂層824是導電的,并且用作參比電極來代替布置在襯底50上的參比電極810。更具體來說,圖10顯示,參比電極形式的頂層824與第一個工作電極808和第二個工作電極806是面對關系。在這種情況下,測量儀900形成與頂層824,代替圖1所示參比電極816的電接觸。
      圖21是根據(jù)本發(fā)明的另一個實施方案的測試條的部件分解透視圖。在第一個工作電極100上測量的氧化電流將是氧化電流源的疊加由于葡萄糖的氧化而產(chǎn)生的第一個期望的氧化電流,和由干擾物產(chǎn)生的第二個不期望的氧化電流。干擾物的氧化可在第一個工作電極100上直接發(fā)生,以及可通過氧化還原介體間接發(fā)生。
      第二個工作電極102具有幾何圖形,該圖形具有被活性試劑820涂布的活性部分102a,和被非活性試劑818涂布的非活性部分102i。在活性部分102a上測量的氧化電流與第一個工作電極100類似。第二個工作電極102的非活性部分102i將氧化干擾物,并且由于不存在酶,所以不氧化葡萄糖。此外,非活性部分102i將在第二個工作電極102上直接氧化干擾物,并且通過經(jīng)由氧化還原介體的介導的機制來間接氧化干擾物。因為在非活性部分102i測量的氧化電流與葡萄糖無關,并且非活性部分102i的面積是已知的,所以可以計算出其對于在第二個工作電極102上測量的干擾物氧化電流的貢獻。從而,使用計算的非活性部分102i的干擾物氧化電流以及已知的第一個工作電極100的面積和活性部分102a的面積,能夠計算出除去了在電極上氧化的干擾化合物的影響的校正葡萄糖電流。應當注意,在本發(fā)明中,非活性部分102i幫助針對直接和間接的干擾物氧化來校正葡萄糖電流。
      因此,可使用一個算法來計算不受干擾物影響的校正葡萄糖電流。給測試條1000施加樣本后,給第一個工作電極100和第二個工作電極102施加恒定的電位,測量這兩個電極的電流。在其中活性試劑層820覆蓋整個電極面積的第一個工作電極100上,可使用下列公式來描述對氧化電流作出貢獻的成分,WE1=G+I1a(公式1)其中WE1是在第一個工作電極上的電流密度,G是不受干擾物影響的由于葡萄糖而產(chǎn)生的電流密度,并且I1a是由于在被活性試劑820覆蓋的第一個工作電極100上氧化的干擾物而產(chǎn)生的電流密度。
      在被活性試劑820和非活性試劑818部分覆蓋的第二個工作電極102上,可使用下列公式來描述對氧化電流作出貢獻的成分,WE2=G+I2a+I2i(公式2)其中WE2是在第二個工作電極上的電流密度,I2a是由于在活性部分102a上的干擾物而產(chǎn)生的電流密度,且I2i是由于在非活性部分102i上的干擾物而產(chǎn)生的電流密度。
      為了降低干擾物的影響,制訂了描述在活性部分102a上的干擾電流與在非活性部分102i上的干擾電流之間的關系的公式。估計在活性部分102a上測量的干擾物氧化電流密度與在非活性部分102i上測量的電流密度大約相同。通過下面的公式進一步描述該關系,I2a=A2aA2i&times;I2i]]>(公式3a)其中A2a是被活性試劑層820覆蓋的第二個工作電極的面積,并且A2i是被非活性試劑層818覆蓋的第二個工作電極的面積。
      非活性部分102i可氧化干擾物,但是不氧化葡萄糖,因為其上面沒有涂布酶?;钚圆糠?02a可氧化葡萄糖和干擾物。因為通過實驗發(fā)現(xiàn),非活性部分102i以與活性部分102a的面積成正比的方式氧化干擾物,所以能夠預測干擾電流占在第二個工作電極102上測量的總電流的比例。這使得在第二個工作電極102上測量的總電流(即WE2)可通過減去干擾電流而被校正。在本發(fā)明的一個實施方案中,A2i∶A2a的比例可以為約0.5∶1-5∶1,并且優(yōu)選為約3∶1。對關于電流校正的該數(shù)學算法的更詳細描述將在下面的章節(jié)中描述。
      在本發(fā)明的另一個實施方案中,I2a可以與I2i不同。這可能是因為,由于存在酶,在活性部分102a上效率更高或效率更低的干擾物氧化。出于未充分描述的原因,可能的是,酶的存在可影響電極氧化介體的能力。這種性質(zhì)可以通過將公式3a改寫成以下形式來進行唯象模型化,I2a=f×I2i(公式3b)其中f是校正因子,其引入了活性部分102a的干擾物氧化效率對活性部分120i的影響。
      根據(jù)本發(fā)明的一個實施方案,可以運算公式1、2和3a來推導能輸出不受干擾物影響的校正葡萄糖電流密度的公式。應當注意,這三個公式(公式1、2和3a)總共具有4個未知數(shù),這4個未知數(shù)是G、I2i、I2a和I1a。然而,I1a和I2a可保守地假定相等,因為它們是相同的導電材料,并且涂布相同的活性試劑層820。可將公式1重新排列成以下形式。
      G=WE1-I1a=WE1-I2a(公式4)
      接下來,可將得自公式3a的I2a替代到公式4內(nèi),得到公式5。
      G=WE1-[A2aA2i&times;I2i]]]>(公式5)接下來,可將公式1和公式2合并,得到公式6。
      I2i=WE2-WE1(公式6)接下來,可將得自公式6的I2i替代到公式5內(nèi),得到公式7a。
      G=WE1-{(AaAi)X(WE2-WE1)}]]>(公式7a)公式7a輸出了校正葡萄糖電流密度G,葡萄糖電流密度G消除了干擾物的影響,該公式僅需要從第一個工作電極100和第二個工作電極102測量的電流密度(即WE1和WE2),以及第二個工作電極的涂布面積與未涂布面積的比例(即A2a/A2i)。在本發(fā)明的一個實施方案中,可將比例A2a/A2i程序化到葡萄糖測量儀內(nèi),例如程序化到測量儀的只讀存儲器內(nèi)。在本發(fā)明的另一個實施方案中,可將比例A2a/A2i通過校準碼芯片傳遞給測量儀,所述校準碼芯片可消除A2a或A2i中的制造差異。
      在本發(fā)明的另一個實施方案中,當活性部分102a的干擾物氧化電流密度與活性部分102i的干擾物氧化電流密度不同時,可使用公式1、2和3b。在這樣的情況下,推導出如下所示的另一校正公式7b。
      G=WE1-{f×(WE2-WE1)}(公式7b)在本發(fā)明的另一個實施方案中,只有當超過一定閾值時,測量儀才可以使用校正葡萄糖電流公式7a或7b。例如,如果WE2比WE1大出約10%或10%以上,則測量儀將使用公式7a或7b來校正輸出電流。然而,如果WE2比WE1大出約10%或10%以下,則測量儀將簡單地取WE1與WE2之間的平均電流值,來提高測量的準確度和精確度。只有在一些其中樣本中存在顯著水平的干擾化合物的情況下使用公式7a或7b的策略減輕了測量的葡萄糖電流校正過度的危險。應當注意,當WE2比WE1足夠大時(例如大出約20%或更多)時,這是具有非常高濃度的干擾化合物的指示。在這樣的情況下,可能希望輸出錯誤信息而不是葡萄糖值,因為非常高水平的干擾物可引起公式7a或7b準確度的打破。
      圖21顯示了測試條實施方案的部件分解透視圖,所述測試條是設計用來補償增加的背景中的差異,這種差異是通過氧化的介體轉(zhuǎn)化成還原的介體而引起的。測試條1000包括襯底50、導電層164、絕緣層106、非活性試劑層818、活性試劑層818、粘合層830和頂層824。測試條1000還包括遠端58和近端60。應當注意,測試條1000是測試條800的變型,其中活性試劑涂層820覆蓋第一個工作電極100和第二個工作電極102的一部分。這使得能夠進行兩次葡萄糖測量,同時校正了在測試條1000內(nèi)發(fā)展的干擾物或引入到測試條1000內(nèi)的干擾物。測試條1000將采用公式7a或7b來降低干擾化合物或增加的背景的影響。與測試條800不同,測試條1000具有對導電層164和絕緣層106的改變。對于測試條1000與測試條800,襯底50、非活性試劑層818、活性試劑層818、粘合層830和頂層824在形狀和材料方面都是類似的。
      圖22-24是根據(jù)圖21所示本發(fā)明實施方案的測試條1000的遠端部分58的簡化平面視圖,其顯示了活性試劑層820和非活性試劑層818彼此之間的不同位置。分別與圖22-24相對應的圖25-27沒有顯示絕緣層804,以有助于更清楚地表明導電層164、活性試劑層820和非活性試劑層818之間的關系。
      如圖21所示,在測試條1000中,導電層164布置在襯底50上。導電層164包括第一個工作電極100、第二個工作電極102、參比電極104、第一個接觸點101、第二個接觸點103、參比接觸點105、測試條檢測板17。與測試條800不同,第二個工作電極806和第一個工作電極102具有C-形狀。
      圖22是第一個工作電極100、第二個工作電極102和參比電極104、絕緣層106、非活性試劑層818和活性試劑層818的簡化平面視圖。絕緣層106包括切口108,其限定了第二個工作電極102的面積具有非活性部分102i和活性部分102a。在該實施方案中,非活性試劑層818布置在非活性部分102i上,而活性試劑層818布置在活性部分102a、第一個工作電極100和參比電極104上。圖22顯示非活性試劑層818不接觸活性試劑層818或與之重疊。
      測試條1000與測試條800的不同之處在于,非活性試劑層818和活性試劑層818都涂布第二個工作電極102的一部分。這使得能夠進行兩次葡萄糖測量,同時降低了背景和/或干擾物的影響。制備圖22所示測試條1000所面臨的一個挑戰(zhàn)是,可能難以依次排列和涂布非活性試劑層818和活性試劑層818,這樣它們不能以所期望的產(chǎn)率彼此接觸,因為第一個工作電極100、第二個工作電極102和參比電極104的面積較小。
      在本發(fā)明的一個實施方案中,圖23顯示了布置在非活性部分102i上的非活性試劑層818和布置在活性部分102a、第一個工作電極100和參比電極104上的活性試劑層818。在該實施方案中,非活性試劑層818和活性試劑層818彼此直接相鄰。在這樣的理想情況下,非活性試劑層818和活性試劑層818將接觸,但是基本上不彼此重疊。雖然印制加工的目標是使得非活性試劑層818和活性試劑層818彼此直接相鄰的排列,但是正常的生產(chǎn)差異將會以一定頻率引起非活性試劑層818與活性試劑層818之間的一些重疊。同樣,這樣的差異還將引起非活性試劑層818以一定頻率與活性試劑層818不接觸。因為讓非活性試劑層818接觸或不接觸活性試劑層818,可接受的測試條的產(chǎn)率得到提高了。
      圖24顯示了本發(fā)明的另一個實施方案,其改善了涂布非活性試劑層818和活性試劑層818的方法??梢酝坎挤腔钚栽噭?18,使其完全覆蓋非活性部分102i和一部分參比電極104。類似地,可以涂布活性試劑層818,使其完全覆蓋活性部分102a、第一個工作電極100和至少一部分參比電極104。在本發(fā)明的一個實施方案中,印制加工的目標是這樣的排列,使得非活性試劑層818與活性試劑層818在參比電極810于重疊區(qū)域822上基本上彼此重疊。在這樣的情況下,非活性試劑層818和活性試劑層818可以在重疊區(qū)域822上彼此混合。因為與附圖23所示的實施方案相比,非活性試劑層818和活性試劑層818的長度被進一步提高,所以活性試劑層818和非活性試劑層818的排列以及涂布在產(chǎn)率方面被進一步改善。
      本發(fā)明的一個優(yōu)點在于,使用兩個試劑層來幫助降低增加的背景的影響。足以補償測試條自身中不同水平的還原的介體例如亞鐵氰化物的能力使得可以獲得高水平的準確度和精確度。在生產(chǎn)、測量和貯存過程期間,有幾個因素可能影響氧化的介體向還原形式的轉(zhuǎn)化。因此這使得需要進行校正來解決生產(chǎn)差異例如試劑層高度(批次內(nèi)以及批次之間)、熱封粘合生產(chǎn)條件、高溫干燥和滅菌條件。因為校正消除了這些差異,所以可提供更有效的方法,其中無需嚴格加工控制來監(jiān)測和控制這樣的生產(chǎn)差異。背景電流的測量也可以提高測試條抵抗不利貯存條件例如高溫和濕度的穩(wěn)定性。這可以使得設計更簡單的筒來貯存可無需嚴格密封來抵抗水分的測試條。
      實施例1制備如圖1-3a所示的測試條800。在血液中測量暴露于不同水平的滅菌放射的測試條800。對于測試條800,將其與恒電勢器電連接,恒電勢器具有部件來在第一個工作電極808與參比電極810之間;以及第二個工作電極806與參比電極810之間施加+0.4伏特的恒定電位。給樣本入口52施加血樣,讓血液浸吸到樣本接收室內(nèi),并且潤濕第一個工作電極808、參比電極810和第二個工作電極806。活性層820變得被血液水合,然后產(chǎn)生亞鐵氰化物,亞鐵氰化物可以與樣本中存在的葡萄糖的量和/或干擾物濃度成正比。相反,非活性層818變得被血液水合,并且不產(chǎn)生另外的亞鐵氰化物,另外的亞鐵氰化物在水合之前不存在于非活性層818內(nèi)。在給測試條800施加樣本5秒鐘后,測量作為第一個工作電極808和第二個工作電極806的電流的亞鐵氰化物和/或干擾物的氧化。
      實施例2制備兩批測試條來表明使用非活性試劑層818和活性試劑層820改善了通過γ放射滅菌的測試條的總精確度。按照類似于實施例1所述的方式測量這兩批測試條。第一批測試條是測試條800,并且稱為批次1。稱為批次2的第二批測試條也類似于測試條800,但是不包括非活性試劑層818,并且還具有覆蓋第一個工作電極808、第二個工作電極806和參比電極810的改變的活性試劑層。當測量批次1時,使用第一個工作電極808與第二個工作電極806的電流差異來計算校正信號電流,然后將其轉(zhuǎn)化成葡萄糖濃度。當測量批次2時,將第二個工作電極806和第一個工作電極808的電流加和在一起,得到一個值,然后使用該值來計算未校正葡萄糖濃度。在用血液測量之前,將批次1和批次2的測試條用0kGy和25kGy的γ放射處理。然后,評估以下4個測量組的精確度批次1-0kGy、批次1-25kGy、批次2-0kGy和批次2-25kGy,對于每個測量組,評估是通過用血液以5個葡萄糖濃度測量24個測試條來進行的,這5個葡萄糖濃度是20、50、100、300和500mg/dL。
      圖11-15表明,在用25kGy的γ放射滅菌后,批次1的測試條在精確度方面沒有變差。對于所有5個葡萄糖濃度,對于批次1的測試條,在滅菌后,精確度基本上類似或更好。這表明使用活性試劑層820和非活性試劑層818有助于補償在滅菌處理期間產(chǎn)生的亞鐵氰化物的背景水平。
      圖11-13表明,在用25kGy的γ放射滅菌后,批次2的測試條在精確度方面變差了。該對照實驗證實了,當使用本發(fā)明的背景降低方法時,精確度沒有變差。因為批次2的測試條不具有非活性試劑層818,所以不能實行本發(fā)明的背景降低方法。在滅菌后,批次2的測試條之所以沒有發(fā)生精確度變差,是因為測量的是較高的葡萄糖濃度(300和500mg/dL),其中滅菌對精確度的影響不顯著。在這種情況下,通過葡萄糖氧化酶產(chǎn)生的亞鐵氰化物的量顯著高于在水合測試條之前產(chǎn)生的亞鐵氰化物的量(例如通過滅菌處理產(chǎn)生的)。
      實施例3稱為批次3的另一批測試條是按照類似于測試條800的方式制備的,但是第二個工作電極806沒有用活性試劑層820或非活性試劑層818涂布。在該實施例中,測量批次1-3來評估在干擾化合物例如尿酸和龍膽酸存在下的總準確度。
      在三個龍膽酸濃度,在血液中測量批次1、批次2和批次3的測試條,這三個龍膽酸濃度是0、25和50mg/dL。對于每個龍膽酸濃度,測量兩個葡萄糖濃度,即70和240mg/dL。圖16和17表明,當在25和50mg/dL龍膽酸濃度測量時,批次1和批次3的測試條在偏差方面具有不顯著的改變(<10mg/dL或10%)。相反,當在25和50mg/dL龍膽酸濃度測量時,批次2的測試條在偏差方面具有顯著改變(>10mg/dL或10%)。這表明,使用未用酶涂布的第二個工作電極806使得能在高濃度龍膽酸存在下有效地校正葡萄糖信號。
      在三個尿酸濃度,在血液中測量批次1、批次2和批次3的測試條,這三個尿酸濃度是0、10和20mg/dL。對于每個尿酸濃度,測量兩個葡萄糖濃度,即70和240mg/dL。圖18和19表明,當在10和20mg/dL尿酸濃度測量時,批次1和批次3的測試條在偏差方面具有不顯著的改變(<10mg/dL或10%)。相反,當在10和20mg/dL尿酸濃度測量時,批次2的測試條在偏差方面具有顯著改變(>10mg/dL或10%)。這表明,使用未用酶涂布的第二個工作電極806使得能在高濃度尿酸存在下有效地校正葡萄糖信號。
      權利要求
      1.降低電化學傳感器中的干擾的方法,所述方法包括測量在第一個工作電極上的第一個電流,所述第一個工作電極被活性試劑層覆蓋;測量在第二個工作電極上的第二個電流,所述第二個工作電極被非活性試劑層覆蓋;和使用所述第一個工作電極的活性區(qū)域面積與所述第二個工作電極的非活性區(qū)域面積的比例來計算代表葡萄糖濃度的校正電流值。
      2.降低電化學傳感器中的干擾的方法,所述方法包括測量在第一個工作電極上的第一個電流,所述第一個工作電極被活性試劑層覆蓋;測量在第二個工作電極上的第二個電流,其中所述活性試劑層布置在所述第二個工作電極的活性區(qū)域上,并且所述第二個工作電極的非活性區(qū)域被非活性試劑層覆蓋;和使用在所述第一個和第二個工作電極上的活性區(qū)域面積與在所述第二個工作電極上的非活性區(qū)域面積的比例來計算代表葡萄糖濃度的校正電流值。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及降低電化學傳感器(800)中的干擾的方法,其中所述方法包括下列步驟測量在第一個工作電極(808)上的第一個電流的步驟,所述第一個工作電極(808)被活性試劑層(820)覆蓋;測量在第二個工作電極(806)上的第二個電流的步驟,所述第二個工作電極(806)被非活性試劑層(818)覆蓋;以及使用第一個工作電極(808)的活性區(qū)域面積與第二個工作電極(806)的非活性區(qū)域面積的比例來計算代表葡萄糖濃度的校正電流值的步驟。本發(fā)明還涉及降低電化學傳感器(1000)中的干擾的方法,其中所述方法包括下列步驟測量在第一個工作電極(100)上的第一個電流的步驟,所述第一個工作電極(100)被活性試劑層(820)覆蓋;測量在第二個工作電極(102)上的第二個電流的步驟,其中活性試劑層(820)布置在第二個工作電極(102)的活性區(qū)域(102a)上,并且第二個工作電極(102)的非活性區(qū)域(102i)被非活性試劑層(818)覆蓋;以及使用在第一個和第二個工作電極上的活性區(qū)域面積與在第二個工作電極上的非活性區(qū)域面積的比例來計算代表葡萄糖濃度的校正電流值的步驟。
      文檔編號C12Q1/00GK1902481SQ200480039546
      公開日2007年1月24日 申請日期2004年10月29日 優(yōu)先權日2003年10月31日
      發(fā)明者O·W·H·達維斯, R·馬沙爾, D·E·H·巴斯基費爾德, L·懷特, E·萊珀 申請人:生命掃描蘇格蘭有限公司
      網(wǎng)友詢問留言 已有0條留言
      • 還沒有人留言評論。精彩留言會獲得點贊!
      1