專利名稱：客觀自動測聽方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種基于聽性誘發(fā)電位(AEP)評估的自動客觀聽力測試方 法和裝置，該方法和裝置縮短測試時間，并且使可能由自動測試和時間縮短 引起的聽力測試的不準(zhǔn)確性和誤差最小。
背景技術(shù)：
聽性腦干反應(yīng)(ABR)測聽法是最廣泛使用的客觀聽力測試方法。 對于ABR測聽法，電極被放置在對象的頭上，并且測試刺激重復(fù)地呈現(xiàn) 至少1500次以上。在對數(shù)據(jù)取平均之后，通過波V的有無來確定病人的聽力。
盡管ABR測聽法通常使用短聲(Click),但是這種刺激不適于估計特定 頻率，如250Hz、 500Hz、 1000Hz、 2000Hz、 4000Hz和8000Hz處的聽力閾 值(hearing threshold )。 出于這樣的原因，使用短音(tone-pip )或短純音 (tone-burst)刺激來估計特定頻率的閾值，短音(或短純音)刺激具有非常 短的持續(xù)時間并且能夠以個別頻率被呈現(xiàn)。在這種情況下，目前使用術(shù)語"短 音(或短純音)ABR測聽法"。

發(fā)明內(nèi)容
在傳統(tǒng)的短音ABR測聽法中，由于對每一特定頻率的閾值應(yīng)該分別進(jìn)行 估計，所以需要花費(fèi)大約1.5-2小時來測試聽力閾值。此外，由于用戶對對 象的聽力閾值的確定依賴于對波V峰的視覺辨別，而當(dāng)刺激強(qiáng)度越接近于聽 力閾值時，波V峰的幅度越來越減小，所以難以避免用戶的主觀判斷的千擾。
傳統(tǒng)短音ABR測聽法的最嚴(yán)重的問題在于，聽力測試需要非常長的時 間。需要花費(fèi)很長時間來手動地根據(jù)頻率和強(qiáng)度設(shè)置分別呈現(xiàn)的測試刺激。 此外，每一測試刺激應(yīng)該被呈現(xiàn)1500次以上，以便獲得顯著的信噪比。最重 要的是，由于刺激強(qiáng)度越接近聽力閾值，波V的幅度越小，所以用戶需要花 費(fèi)很長時間來確定是否存在波V峰。
4為了解決傳統(tǒng)方法的上述問題，本發(fā)明提供一種排除手動操作以及用戶
的主觀判斷的自動短音(或短純音)ABR測聽方法。本發(fā)明的另一目的在于 提供一種通過計算波V和SN10之間的間距來確定客觀聽力閾值的方法。本 發(fā)明的另 一 目的在于提供一種即使在使取平均的數(shù)量最少之后仍獲得極好的 信噪比的方法。最后，本發(fā)明提供一種執(zhí)行上述目的的裝置。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，提供一種客觀自動聽力測試方法和裝置，包括以下 步驟(a)在開始測試之前由用戶任意設(shè)置測試條件；(b)將在開始測試之 前從放置在對象的頭上的電極匯集的對象的自發(fā)EEG轉(zhuǎn)換為實(shí)時圖形圖像； (c )將對象的自發(fā)EEG中的周期偽跡的FFT分析數(shù)據(jù)定量可視化；(d )由 用戶基于FFT分析數(shù)據(jù)任意對顯著的周期偽跡進(jìn)行濾波；(e )在預(yù)測試時， 根據(jù)測試條件按照步驟(a)中設(shè)置的隨機(jī)時間間隔將標(biāo)準(zhǔn)測試刺激(例如， 2KHz,卯dBHL)呈現(xiàn)給對象，追蹤波V峰，并設(shè)置時間區(qū)間，即包含波V 峰的A區(qū)間和包含SN10峰的B區(qū)間；(f)設(shè)置測試刺激的初始強(qiáng)度，該初 始強(qiáng)度是A區(qū)間和B區(qū)間之間的電位差不超過在步驟(a)中預(yù)先設(shè)定的臨 界值時的最小強(qiáng)度；(g)在主測試時，呈現(xiàn)每一頻率的測試刺激，搜索A區(qū) 間和B區(qū)間之間的電位差不超過在步驟(a)中預(yù)先設(shè)定的臨界值時的最小強(qiáng) 度，并確定每一頻率的客觀聽力閾值。
步驟(a)是為了設(shè)置測試條件。該步驟包括以下步驟選擇測試頻率的 數(shù)量；設(shè)置陷波濾波器的濾波頻率以消除從電源匯集的電背景噪聲；分別設(shè) 置高通濾波器和低通濾波器的頻率以消除來自大腦的低頻偽跡和高頻電諧
的時間范圍；設(shè)置電位變化的時間范圍和臨界強(qiáng)度值，這種設(shè)置是將測試期 間的突發(fā)電位變化歸類為偽跡所需的，也是將具有該突發(fā)電位變化的時程從 取平均處理中排除所需的；設(shè)置臨界值，該臨界值表示包含波V的正峰的區(qū) 間A與包含SN10的負(fù)峰的區(qū)間B之間的顯著電位差異；為用戶界面中可見 的坐標(biāo)以及圖形圖像設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)。
步驟(b)與傳統(tǒng)方法相同，用于將在開始測試之前從放置在對象的頭上 的電極匯集的對象的自發(fā)EEG轉(zhuǎn)換為實(shí)時圖形圖像。
步驟(c )是對象的自發(fā)EEG中的周期偽跡的FFT分析數(shù)據(jù)的定量可視 化。在該步驟中，由于少量的陷波濾波器(通常用于消除電諧波)不能完全 消除從電諧波匯集的微小偽跡，所以需要大量陷波濾波器來完全消除微小跡。為了對從電諧波匯集的微小偽跡進(jìn)行準(zhǔn)確濾波，需要匯集電位的實(shí)時頻譜分析，最好使用FFT分析。步驟(d)是由用戶基于步驟(c)的FFT分析數(shù)據(jù)對顯著的周期偽跡進(jìn) 行任意濾波。在該步驟中，最好考慮電諧波的頻率和強(qiáng)度謹(jǐn)慎地使用陷波濾 波器，與相應(yīng)諧波偽跡的頻率相同的頻率被應(yīng)用為陷波濾波器的頻率。步驟(e)是預(yù)測試。在該步驟中，在搜索波V峰之后，確定包含波V 峰的A區(qū)間和包含SN10峰的B區(qū)間。詳細(xì)地講，步驟(e )包括以下步驟 根據(jù)測試條件按照步驟(a)中設(shè)置的隨機(jī)時間間隔將標(biāo)準(zhǔn)測試刺激(例如， 2KHz, 90dBHL,標(biāo)準(zhǔn)刺激可以由用戶任意設(shè)置)呈現(xiàn)給對象；根據(jù)在步驟 (a)中設(shè)定的具有突發(fā)電位改變的時程的標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)時計算并通報取平均所包 括(接受)的時程的數(shù)量以及取平均處理所排除(拒絕)的時程的數(shù)量；對 似乎沒有突發(fā)電位變化的接受的時程取平均；通過應(yīng)用在步驟(a)中確定的 頻率來對平均后的數(shù)據(jù)進(jìn)行帶通濾波，以消除來自大腦的低頻偽跡以及高頻 電諧波；通過應(yīng)用與測試刺激的頻率相同的頻率，對伴隨呈現(xiàn)的刺激產(chǎn)生的 刺激偽跡進(jìn)行陷波濾波；根據(jù)取平均的數(shù)量以及在步驟(a)中設(shè)定的坐標(biāo)標(biāo) 準(zhǔn)，在坐標(biāo)上對平均后的EEG數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時成像；在搜索誘發(fā)波V的正峰之 后，設(shè)置時間區(qū)間，即包含波V正峰的A區(qū)間和包含SNIO負(fù)峰的B區(qū)間。 用于設(shè)置A區(qū)間和B區(qū)間的條件語句的例子如下"如果位于平均后的EEG 區(qū)間的6ms和9ms之間的波V峰的產(chǎn)生時間被設(shè)為X,貝'j A區(qū)間為 (X-0.5)ms (X+0,5)ms， B區(qū)間為(X+l,5)ms (X+3.5)ms"。步驟(f)設(shè)置用于主測試的測試刺激的初始強(qiáng)度。通過逐漸降低預(yù)測試 中的刺激強(qiáng)度(例如，90、 85、 80、 75 dBHL或dBnHL)， A區(qū)間和B區(qū)間 之間的電位差不超過在步驟(a)中預(yù)先設(shè)定的臨界值時的最小強(qiáng)度被找出并 被設(shè)為Y。主測試的初始刺激強(qiáng)度被設(shè)置為Y+ZdB (Z可以是5、 10、 15、 30等)。最后，步驟(g)是主測試。在將每一頻率的測試刺激呈現(xiàn)給對象，并搜 索A區(qū)間和B區(qū)間之間的電位差不超過在步驟(a)中預(yù)先設(shè)定的臨界值時 的每一頻率的最小強(qiáng)度之后，確定每一刺激頻率的客觀聽力閾值。應(yīng)用于步 驟(g)的詳細(xì)方法和處理與應(yīng)用于步驟(e)的詳細(xì)方法和處理相同


6圖1是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的用于執(zhí)行客觀自動聽力測試的裝置的構(gòu)造圖。
圖2是示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的客觀自動聽力測試的整個過程的流程圖。
具體實(shí)施方式
以下將參照附圖描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。
本發(fā)明提供一種不需要手動操作以及用戶的主觀判斷的自動短音(或短纟屯音)ABR測試方法和裝置，該方法和裝置基于波V和SN10之間的間距(gap )來確定客觀聽力閾值，并且僅通過取平均的最小數(shù)量獲得極好的信噪比。
首先描述用于執(zhí)行客觀自動聽力測試的裝置，并且在本說明書中描述在不需要手動操作和用戶的主觀判斷的情況下執(zhí)行自動短音ABR測試，基于波V和SN10之間的間距(gap )來確定客觀聽力閾值，并且僅通過取平均的最小數(shù)量獲得極好的信噪比的實(shí)施例。
圖1是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的執(zhí)行客觀自動聽力測試的裝置的構(gòu)造圖。
參照圖1,首先示出用于EEG分析和聽力闊值確定的部件100。如果誘發(fā)EEG分析數(shù)據(jù)指示聽力閾值沒有被確定，則接下來呈現(xiàn)刺激(102)。
關(guān)于刺激呈現(xiàn)方法，在本發(fā)明中呈現(xiàn)用戶和對象都不可預(yù)見的刺激。這通過刺激呈現(xiàn)部件的隨機(jī)處理來實(shí)現(xiàn)，并且與傳統(tǒng)方法完全不同。用于客觀聽力測試的短音(或短純音)刺激通常使用的頻率如下250Hz、 500Hz、1000Hz、 2000Hz和8000Hz。可通過應(yīng)用再分頻率間隔來增加短音刺激的數(shù)量。
為了測試，可以使用從最大13dBSPL到最小的寬范圍的刺激強(qiáng)度。測試刺激不是直接通過揚(yáng)聲器被呈現(xiàn)給對象的耳朵，而是在經(jīng)過觸發(fā)器
部件104之后被呈現(xiàn)給對象的耳朵。觸發(fā)器部件將刺激起始時間(onset time)
的同步信號(114)發(fā)送給EEG分析部件100,同時通過揚(yáng)聲器106將刺激呈
現(xiàn)給對象，該同步信號是定義取平均的起始時間所需的。
關(guān)于放置到對象上的電極的位置，在執(zhí)行客觀自動聽力測試的本發(fā)明的
優(yōu)選實(shí)施例中，推薦將電極放置在對象的額葉(frontal lobe )的上部。額葉是使電極放置所伴隨的困難最小的合適點(diǎn)。此外，即使在本發(fā)明中為提高信噪比而建議的不同方法被應(yīng)用于聽力測試時，仍可以在沒有任何劣化的情況下
從額葉提取具有極好信噪比的誘發(fā)EEG。
從對象的額葉匯集的EEG通過電極連接部件110被發(fā)送給EEG采樣部件U2。
由EEG采樣部件提取的EEG數(shù)據(jù)以及由觸發(fā)器部件輸入的刺激起始時間的同步信號被同時發(fā)送給EEG分析和聽力閾值確定部件100。在實(shí)時分析之后，對象在每一刺激頻率下的最終聽力閾值被確定。
圖2是示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的客觀自動聽力測試的整個過程的流程圖。
參照圖2，在執(zhí)行客觀自動聽力測試之前，設(shè)置測試條件(200 )。測試條件設(shè)置包括以下步驟選擇測試頻率的數(shù)量；設(shè)置陷波濾波器(notch filter )的濾波頻率以消除從電源匯集的電偽跡(artifact);分別設(shè)置高通濾波器和低通濾波器的頻率以消除來自大腦的低頻偽跡和高頻電諧波(harmonic);設(shè)置取平均的數(shù)量；設(shè)置對連續(xù)呈現(xiàn)的刺激之間的時間間隔(即，刺激間隔，ISI)進(jìn)行隨機(jī)化的時間范圍；設(shè)置電位變化的時間范圍和臨界強(qiáng)度值，這是將測試期間的突發(fā)電位變化歸類為偽跡所需的，也是將具有該突發(fā)電位變化的時程(epoch )從取平均處理中排除所需的；設(shè)置臨界值，該臨界值表示包含波V的正峰的區(qū)間A與包含SN10的負(fù)峰的區(qū)間B之間的顯著的電位差；以及為用戶界面中可見的坐標(biāo)以及圖形圖像設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)。
在設(shè)置測試條件之后，在測試之前從附著于對象頭部的電極匯集的對象的自發(fā)EEG可被轉(zhuǎn)換為實(shí)時圖形圖像。這一步驟202與傳統(tǒng)的方法相同。
接下來，步驟204是對象的自發(fā)EEG中的周期偽跡的FFT分析數(shù)據(jù)的定量可視化。在該步驟中，由于少量的陷波濾波器(通常用于消除電諧波)不能完全消除從電諧波匯集的微小偽跡，所以需要很多陷波濾波器來完全消除微小偽跡。為了對從電諧波匯集的微小偽跡進(jìn)行準(zhǔn)確濾波，需要匯集電位(influx potential )的實(shí)時頻語分析，最好使用FFT分析。
基于FFT分析數(shù)據(jù)，由用戶對顯著的周期偽跡進(jìn)行任意濾波(206 )。在這一步驟中，最好考慮電諧波的頻率和強(qiáng)度使用陷波濾波器，并且與相應(yīng)諧波偽跡的頻率相同的頻率被應(yīng)用為陷波濾波器的頻率。
可通過主測試之前的預(yù)測試來提高聽力測試的準(zhǔn)確性和可靠性。在該步驟中， 一旦用戶按下開始按鈕，則呈現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)測試刺激(208 )。盡管通常使用2KHz、 90dBHL (或60dBnHL )短音刺激作為標(biāo)準(zhǔn)測試刺激，但是也可由用戶任意設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)測試刺激。包含標(biāo)準(zhǔn)測試刺激的所有測試刺激按照測試條件設(shè)置步驟中設(shè)定的隨機(jī)時間間隔被呈現(xiàn)給對象。
在標(biāo)準(zhǔn)測試刺激被呈現(xiàn)給對象時，使取平均的最終數(shù)據(jù)失真的突發(fā)電位變化連同由短音刺激引起的誘發(fā)電位一起產(chǎn)生。在總體平均(ensembleaveraging)處理期間，最好完全消除包含該突發(fā)電位變化的時程(210 )。根據(jù)在測試條件設(shè)置步驟中設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)(包括時間段和臨界強(qiáng)度)來實(shí)現(xiàn)時程的消除。
通過傳統(tǒng)方法對沒有突發(fā)電位變化的時程取平均(212)。
通過對平均后的數(shù)據(jù)進(jìn)行帶通濾波，波形急劇或平穩(wěn)變化，并且來自大腦的低頻偽跡以及高頻電諧波被消除(214 )。
由于伴隨呈現(xiàn)的刺激產(chǎn)生的刺激偽跡會反映到最終的平均數(shù)據(jù)中，所以包括應(yīng)用與測試刺激的頻率相同的頻率的陷波濾波步驟(216 )。
從最終的平均數(shù)據(jù)中找出波V的峰(218)。
在搜索到波V峰之后，設(shè)置包含波V的正峰的A區(qū)間和包含SN10的負(fù)峰的B區(qū)間(220)。用于設(shè)置A區(qū)間和B區(qū)間的條件語句的例子如下"如果位于平均EEG區(qū)間的6ms和9ms之間的波V峰的產(chǎn)生時間被設(shè)為X,則A區(qū)間為(X-0.5)ms (X+0.5)ms， B區(qū)間為(X+1.5)ms (X+3.5)ms"。
通過逐漸降低刺激強(qiáng)度(例如，90、 85、 80、 75 dBHL)或者逐漸增加刺激強(qiáng)度(例如，95、 100、 105dBHL), A區(qū)間和B區(qū)間之間的電位差不超過先前設(shè)定的臨界值時的最小強(qiáng)度被找出并被設(shè)為Y。主測試的初始刺激強(qiáng)度被設(shè)為Y+ZdB (222 )。
在主測試224 232中，在將每一頻率的測試刺激呈現(xiàn)給對象并搜索每一頻率的最小強(qiáng)度(在該最小強(qiáng)度處，A區(qū)間和B區(qū)間之間的電位差不超過先前設(shè)定的臨界值)之后，確定每一刺激頻率的客觀聽力閾值。除了測試刺激頻率不同之外，應(yīng)用于主測試的詳細(xì)方法和處理與預(yù)測試相同。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性如上所述，根據(jù)客觀自動聽力測試方法和裝置的優(yōu)選實(shí)施例，用戶可在不需要手動操作以及用戶的主觀判斷的情況下，通過自動執(zhí)行短音(或短純
9音)ABR測試來縮短測試時間。此外，根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例'盡管使取平均的數(shù)量最少，但是可通過應(yīng)用基于波V和SN10之間的間距的客觀聽力閾值決策方法獲得具有極好信噪比的可靠的聽力測試數(shù)據(jù)。
權(quán)利要求
1、一種客觀自動聽力測試方法和裝置，包括以下步驟(a)在開始測試之前由用戶任意設(shè)置測試條件；(b)將在開始測試之前從放置在對象的頭上的電極匯集的對象的自發(fā)EEG轉(zhuǎn)換為實(shí)時圖形圖像；(c)將對象的自發(fā)EEG中的周期偽跡的FFT分析數(shù)據(jù)定量可視化；(d)由用戶基于FFT分析數(shù)據(jù)任意對顯著的周期偽跡進(jìn)行濾波；(e)在預(yù)測試時，根據(jù)測試條件按照步驟(a)中設(shè)置的隨機(jī)時間間隔將標(biāo)準(zhǔn)測試刺激(例如，2KHz，90dBHL)呈現(xiàn)給對象，搜索波V峰，并設(shè)置時間段，即包含波V峰的A區(qū)間和包含SN10峰的B區(qū)間；(f)設(shè)置測試刺激的初始強(qiáng)度，該初始強(qiáng)度是A區(qū)間和B區(qū)間之間的電位差不超過在步驟(a)中預(yù)先設(shè)定的臨界值時的最小強(qiáng)度；(g)在主測試時，呈現(xiàn)每一頻率的測試刺激，搜索A區(qū)間和B區(qū)間之間的電位差不超過在步驟(a)中預(yù)先設(shè)定的臨界值時的最小強(qiáng)度，確定每一頻率的客觀聽力閾值。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法和裝置，其中，步驟(a)包括以下步驟 選擇測試頻率的數(shù)量；設(shè)置陷波濾波器的濾波頻率以';肖除從電源匯集的電偽跡； 分別設(shè)置高通濾波器和低通濾波器的頻率以消除來自大腦的低頻偽跡和 高頻電諧波；設(shè)置取平均的數(shù)量；設(shè)置對連續(xù)呈現(xiàn)的刺激之間的時間間隔進(jìn)行隨機(jī)化的時間范圍；設(shè)置電位變化的時間范圍和臨界強(qiáng)度值，這種設(shè)置是將測試期間的突發(fā)電位變化歸類為偽跡所需的，也是將具有該突發(fā)電位變化的時程從取平均處理中排除所需的；設(shè)置臨界值，該臨界值表示包含波V的正峰的區(qū)間A與包含SN10的負(fù) 峰的區(qū)間B之間的顯著電位差；為用戶界面中可見的坐標(biāo)以及圖形圖像設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法和裝置，其中，步驟(c)和(d)包括以 下步驟將對象的自發(fā)EEG中的周期偽跡的FFT分析數(shù)據(jù)定量可視化，并對自 發(fā)EEG的實(shí)時FFT分析數(shù)據(jù)中出現(xiàn)的顯著周期偽跡進(jìn)行濾波，其中，通過將 相應(yīng)周期偽跡的頻率應(yīng)用為陷波濾波器的頻率來任意執(zhí)行所述濾波步驟。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法和裝置，其中，步驟(e)包括以下步驟 根據(jù)測試條件按照步驟(a)中設(shè)定的隨機(jī)時間間隔將標(biāo)準(zhǔn)測試刺激(例如，2KHz， 90dBHL,標(biāo)準(zhǔn)刺激可以由用戶任意設(shè)置)呈現(xiàn)給對象；根據(jù)在步驟(a)中設(shè)定的時程標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)時計算并通報取平均所包括的時程的數(shù)量以及取平均處理所排除的時程的數(shù)量； 對似乎沒有突發(fā)電位變化的時程取平均；通過應(yīng)用在步驟(a)中確定的頻率來對平均后的數(shù)據(jù)進(jìn)行帶通濾波，以 消除來自大腦的低頻偽跡以及高頻電諧波被；通過應(yīng)用與測試刺激的頻率相同的頻率，對伴隨呈現(xiàn)的刺激產(chǎn)生的刺激 偽跡進(jìn)行陷波濾波；根據(jù)取平均的數(shù)量以及在步驟(a)中設(shè)定的坐標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)，在坐標(biāo)上對平均 EEG數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時成像；在搜索到誘發(fā)波V的正峰之后，設(shè)置時間段，即包含波V正峰的A區(qū) 間和包含SN10負(fù)>%的B區(qū)間，其中，用于設(shè)置A區(qū)間和B區(qū)間的條件語句的例子如下"如果位于平 均EEG區(qū)間的6ms和9ms之間的波V峰的產(chǎn)生時間被設(shè)為X,貝1] A區(qū)間為 (X-0.5)ms (X+0.5)ms， B區(qū)間為(X+1.5)ms (X+3.5)ms"。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法和裝置，其中，通過逐漸降低刺激強(qiáng)度(例 如，90、 85、 80、 75 dBHL )或者逐漸增加刺激強(qiáng)度(例如,95、 100、 105 dBHL)， A區(qū)間和B區(qū)間之間的電位差不超過先前設(shè)定的臨界值時的最小強(qiáng)度被找出 并被設(shè)為Y,并且在步驟(f)中，主測試的初始刺激強(qiáng)度被設(shè)置為Y+ZdB。
6、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的方法和裝置，其中，在步驟(g)中，在將每 一頻率的測試刺激呈現(xiàn)給對象，并搜索A區(qū)間和B區(qū)間之間的電位差不超過 先前設(shè)定的臨界值時的每一頻率的最小強(qiáng)度之后，確定每一刺激頻率的客觀 聽力閾值。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種基于聽性誘發(fā)電位(AEP)評估的自動客觀聽力測試方法，該方法縮短測試時間，并且使可能由自動測試和時間縮短引起的聽力測試的不準(zhǔn)確性和誤差最小。該方法包括以下步驟在預(yù)測試時，將標(biāo)準(zhǔn)測試刺激呈現(xiàn)給對象；搜索波V峰和SN10峰；在主測試時，將每一頻率的測試刺激呈現(xiàn)給對象，搜索最小強(qiáng)度，并確定每一頻率的客觀聽力閾值。
文檔編號A61B5/05GK101516263SQ200780034899
公開日2009年8月26日 申請日期2007年7月31日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月20日
發(fā)明者郭尚燁 申請人:韓國Earlogic株式會社;郭尚燁