專利名稱：檢測(cè)試片的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種檢測(cè)試片，尤指一種具有采集導(dǎo)引功能的檢測(cè)試片，以運(yùn)用于一兼具采樣及檢測(cè)功能的檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
隨著生物檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，原本需要到特定場(chǎng)所(如醫(yī)院、檢驗(yàn)室或?qū)嶒?yàn)室)，并藉助精密儀器及醫(yī)療專業(yè)人才(如醫(yī)師、檢驗(yàn)師或研究員)才能檢測(cè)的檢驗(yàn)項(xiàng)目，如今病人已能在家進(jìn)行不需專業(yè)人員的居家檢測(cè)。舉例來(lái)說(shuō)，許多糖尿病患者每天都需要監(jiān)視其血液的血糖含量。目前已經(jīng)有數(shù)種系統(tǒng)可供民眾方便監(jiān)視其血液的血糖含量。此種系統(tǒng)通常包括一讓使用者采集血液樣本的檢測(cè)試片；以及一用以讀取該檢測(cè)試片以決定該血液的血糖含量的測(cè)量計(jì)?，F(xiàn)在普遍使用電化學(xué)技術(shù)于測(cè)量血液的血糖含量，此技術(shù)通常于該檢測(cè)試片上提供含有特定酵素試劑(例如葡萄糖氧化酵素及介質(zhì))的一反應(yīng)區(qū)。當(dāng)使用者將血液樣本吸取于該反應(yīng)區(qū)時(shí)，該測(cè)量計(jì)則會(huì)施加一電壓至該檢測(cè)試片，該特定酵素試劑便會(huì)與血液樣本中的血糖產(chǎn)生電化學(xué)反應(yīng)，該測(cè)量計(jì)測(cè)量所生成的電流，并且依照該電流來(lái)計(jì)算血糖含量。而采集血液樣本與檢測(cè)血液樣本分別利用不同的裝置進(jìn)行，采集血液樣本為一檢測(cè)試片搭配一附有采血針的采血裝置進(jìn)行采集；檢測(cè)血液樣本則透過(guò)上述測(cè)量計(jì)進(jìn)行檢測(cè)。使用者必須先使用采血裝置刺破受測(cè)部位，并擠壓受測(cè)部位，再將血液吸取至該檢測(cè)試片的該反應(yīng)區(qū)，然后將該檢測(cè)試片插入該測(cè)量計(jì)進(jìn)行檢測(cè)，由于采血裝置通常會(huì)重復(fù)使用，如此一來(lái)該采血裝置與使用者的接觸位置就很容易發(fā)生血液感染的問(wèn)題，進(jìn)而造成使用者間的交互感染。目前已有結(jié)合該采血裝置及該測(cè)量計(jì)的檢測(cè)裝置，但該等檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)過(guò)于復(fù)雜，難以操作，而且維修困難，舉例來(lái)說(shuō)，美國(guó)專利第6506168號(hào)提供了一種結(jié)合該采血裝置及該測(cè)量計(jì)的檢測(cè)裝置，由其圖4可知，該專利所揭露的檢測(cè)試片于采樣時(shí)需進(jìn)行移動(dòng)，以確保取得血液，因此需額外的推進(jìn)裝置；另外，為了提升采集血液的能力，還需要提供一真空環(huán)境，使得整個(gè)該檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，且易于故障，顯非理想的設(shè)計(jì)。為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種檢測(cè)試片，易于檢體的采集，且運(yùn)用于一兼具采樣及檢測(cè)功能的檢測(cè)裝置時(shí)，該檢測(cè)裝置不需要太過(guò)復(fù)雜的裝置，且可以避免交互感染的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的，在于提供一種檢測(cè)試片，該檢測(cè)試片是利用電化學(xué)反應(yīng)檢測(cè)，其于一采樣穿孔的周?chē)O(shè)置至少一內(nèi)采樣區(qū)，可采集并導(dǎo)引檢體進(jìn)入至少一反應(yīng)區(qū)產(chǎn)生電化學(xué)反應(yīng)。本發(fā)明的目的，在于提供一種檢測(cè)試片，其于一采樣穿孔的周?chē)O(shè)置至少一抵壓凸出件，可抵壓一待測(cè)者的一受測(cè)部位，以加速檢體從受測(cè)部位滲出而進(jìn)入至少一反應(yīng)區(qū)產(chǎn)生電化學(xué)反應(yīng)，運(yùn)用于一兼具采樣及檢測(cè)功能的檢測(cè)裝置，能達(dá)到避免檢測(cè)上交互感染的問(wèn)題。本發(fā)明的技術(shù)方案一種檢測(cè)試片,是包含一檢測(cè)區(qū)，該檢測(cè)區(qū)是具有一采樣穿孔；至少一該采樣通道，是對(duì)應(yīng)該采樣穿孔；至少一反應(yīng)區(qū)，位于該采樣通道內(nèi)；以及一內(nèi)采樣區(qū)，位于該采樣穿孔的周?chē)?，該?nèi)采樣區(qū)的端邊是設(shè)有一內(nèi)采樣缺口，連通該采樣穿孔與該采樣通道；以及一電路系統(tǒng)，其電性連接該反應(yīng)區(qū)。本發(fā)明中，更包含—基板，該基板具有一基板穿孔；一間隔層，覆蓋于該基板，該間隔層具有一通道間隔，該通道間隔是對(duì)應(yīng)該基板穿孔；以及一上蓋片，覆蓋于該間隔層，該上蓋片具有一上蓋穿孔；其中該基板穿孔、該通道間隔與該上蓋穿孔的重復(fù)孔位是形成該采樣穿孔；該通道間隔與該基板、該上蓋片間是形成該采樣通道。本發(fā)明中，其中該內(nèi)采樣區(qū)為至少一內(nèi)采樣凸部，位于該采樣穿孔與該采樣通道之間，該內(nèi)采樣凸部是從該采樣通道對(duì)應(yīng)該采樣穿孔的端邊向該采樣穿孔延伸凸出，該內(nèi)采樣凸部為該基板上的一基板內(nèi)凸部或/及該上蓋片上的一上蓋內(nèi)凸部所形成。本發(fā)明中，其中該內(nèi)采樣凸部的前端是與該采樣穿孔的中心距離為0. 2mm 2_。本發(fā)明中，其中該上蓋穿孔是與該基板穿孔為大小不同的孔位，該上蓋穿孔與該基板穿孔間的區(qū)域是形成一內(nèi)采樣區(qū)。本發(fā)明中，其中該采樣穿孔的孔距為0. 4mm 4mm。本發(fā)明中，其中該內(nèi)采樣區(qū)更包含有至少一內(nèi)采樣凸部，位于該采樣穿孔與該采樣通道之間，該內(nèi)采樣凸部是從該采樣通道對(duì)應(yīng)該采樣穿孔的端邊向該采樣穿孔延伸凸出，該內(nèi)采樣凸部為該基板上的一基板內(nèi)凸部或該上蓋片上的一上蓋內(nèi)凸部所形成。本發(fā)明中，該采樣穿孔的周?chē)窃O(shè)有至少一抵壓凸出件。本發(fā)明中，更包含至少一定位件，其中該定位件為一穿孔、一切口或一凸塊。本發(fā)明中，其進(jìn)一步包含至少一外采樣區(qū)，該外采樣區(qū)是位于該檢測(cè)試片的外側(cè)，該外采樣區(qū)是連通于該采樣通道。本發(fā)明還同時(shí)公開(kāi)了一種檢測(cè)試片，是包含一檢測(cè)區(qū)，該檢測(cè)區(qū)是具有一采樣穿孔；至少一采樣通道，是對(duì)應(yīng)該采樣穿孔；至少一反應(yīng)區(qū)，位于該采樣通道內(nèi)；以及至少一抵壓凸出件，設(shè)于該采樣穿孔的周?chē)?；以?
一電路系統(tǒng)，其電性連接該反應(yīng)區(qū)。
本發(fā)明中，更包含一基板，具有一基板穿孔一間隔層，覆蓋于該基板，該間隔層具有一通道間隔，該通道間隔是對(duì)應(yīng)該基板穿孔；以及一上蓋片，覆蓋于該間隔層，該上蓋片具有一上蓋穿孔；其中該基板穿孔、該通道間隔與該上蓋穿孔的重復(fù)孔位是形成該采樣穿孔，該通道間隔與該基板、該上蓋片間是形成該采樣通道。本發(fā)明中，其中該抵壓凸出件是設(shè)于該基板穿孔、該通道間隔或該上蓋穿孔的周?chē)１景l(fā)明中,其中該采樣穿孔的孔距為0. 4mm 4mm。本發(fā)明中，其中該抵壓凸出件的高度為0. Olmm 2mm。本發(fā)明中，其中該采樣通道與該采樣穿孔之間是設(shè)有至少一內(nèi)采樣凸部，該內(nèi)采樣凸部是從該采樣通道對(duì)應(yīng)該采樣穿孔的端邊向該采樣穿孔延伸凸出，該內(nèi)采樣凸部的端邊是設(shè)有一內(nèi)采樣缺口，該內(nèi)采樣凸部為該基板上的一基板內(nèi)凸部或/及該上蓋片上的一上蓋內(nèi)凸部所形成。本發(fā)明中，其中該內(nèi)采樣凸部的前端是與該采樣穿孔的中心距離為0. 2mm 2mm。本發(fā)明中，更包含至少一定位件，該定位件為一穿孔、一切口或一凸塊。本發(fā)明中，其進(jìn)一步包含有至少一外采樣區(qū)，該外采樣區(qū)是位于該檢測(cè)試片的外偵牝該外采樣區(qū)是連通于該采樣通道。本發(fā)明具有的有益效果該檢測(cè)試片易于檢體的采集及便于配合一兼具采樣及檢測(cè)功能的檢測(cè)裝置而能避免檢測(cè)上的交互感染。


圖I :本發(fā)明的第一實(shí)施例的檢測(cè)試片的立體圖；圖2 :本發(fā)明沿圖1AA’剖線的剖面圖；圖3 :本發(fā)明采樣穿孔的各式態(tài)樣結(jié)構(gòu)示意圖；圖4 :本發(fā)明采樣穿孔的放大示意圖；圖5 :本發(fā)明第一實(shí)施例的分解圖；圖6、圖6A :本發(fā)明的試片各層變化例不意圖(一)；圖7、圖7A :本發(fā)明的試片各層變化例示意圖(二)；圖8、圖8A :本發(fā)明的試片各層變化例不意圖(二)；圖9、圖9A :本發(fā)明的試片各層變化例示意圖(四)；圖10、圖IOA :本發(fā)明的試片各層變化例示意圖(五)；圖11、圖IlA :本發(fā)明的試片各層變化例示意圖(六)；圖12 :本發(fā)明的試片使用示意圖；圖13 :本發(fā)明的使用狀態(tài)局部剖視示意圖；圖14 :本發(fā)明的使用狀態(tài)局部剖視上視示意圖；圖15 :本發(fā)明變化例的檢測(cè)試片的立體圖；圖16 :本發(fā)明變化例的使用狀態(tài)局部剖視示意圖17 :本發(fā)明變化例的使用狀態(tài)局部剖視上視示意圖；圖18 :本發(fā)明另一變化例的使用狀態(tài)剖視示意圖。圖號(hào)簡(jiǎn)單說(shuō)明I檢測(cè)試片111電路連接部
2檢測(cè)裝置112檢測(cè)電極3受測(cè)部位113導(dǎo)線4檢體121基板穿孔10檢測(cè)區(qū)122基板內(nèi)凸部11電路系統(tǒng)123基板外凸部12基板124基板定位件13間隔層131通道間隔14上蓋片132隔層定位件21采樣模塊141上蓋穿孔22檢測(cè)模塊142上蓋內(nèi)凸部23采血針143上蓋外凸部101采樣穿孔144上蓋定位件102內(nèi)采樣區(qū)211采樣部102A內(nèi)采樣凸部211A采樣開(kāi)口102B內(nèi)采樣缺口211B采樣抵壓凸件103外采樣區(qū)211C抵壓缺口103A外采樣凸部211D試片定位件103B外采樣缺口212桿部104反應(yīng)區(qū)221試片插槽105采樣通道222電性連接器106定位件A圓形穿孔107握持部C穿孔中心108抵壓凸出件
具體實(shí)施例方式為使對(duì)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)特征及所達(dá)成的功效有更進(jìn)一步的了解與認(rèn)識(shí)，用以較佳的實(shí)施例及附圖配合詳細(xì)的說(shuō)明，說(shuō)明如下請(qǐng)參閱圖I及圖2，是本發(fā)明的第一實(shí)施例的檢測(cè)試片的立體圖及AA’方向剖面圖。如圖所示，本實(shí)施例提供一種檢測(cè)試片1，本實(shí)施例的檢測(cè)試片I是利用電化學(xué)感測(cè)方式進(jìn)行檢測(cè)。檢測(cè)試片I具有一檢測(cè)區(qū)10及一電路系統(tǒng)11，檢測(cè)區(qū)10主要是用來(lái)采集一檢體4(例如血液)并進(jìn)行其檢測(cè)，所以于該檢測(cè)區(qū)10具有一采樣穿孔101、二反應(yīng)區(qū)104及二采樣通道105，采樣穿孔101為一貫穿孔，供一采血針23穿過(guò)并采集一待測(cè)者的血液檢體4。二反應(yīng)區(qū)104位于采樣通道105內(nèi)。該采樣穿孔101的周?chē)O(shè)有一內(nèi)采樣區(qū)102，該內(nèi)采樣區(qū)102包括有一內(nèi)采樣凸部102A，該內(nèi)采樣凸部102A是從采樣通道105的端邊凸伸臨近該采樣穿孔101的中心部位，內(nèi)采樣凸部102A相對(duì)采樣穿孔101的端壁具有一內(nèi)采樣缺口 102B，該內(nèi)采樣缺口 102B是連通該采樣通道105，使該采樣通道105的通道得以延伸接近該采樣穿孔101的中心部位，以便利采血，換言之，內(nèi)采樣凸部102A是位于該采樣穿孔101與該采樣通道105之間，且該內(nèi)采樣缺口 102B及反應(yīng)區(qū)104是透過(guò)采樣通道105連接，采樣穿孔101所采集的檢體4從內(nèi)采樣缺口 102B進(jìn)入，并透過(guò)采樣通道105傳送至二反應(yīng)區(qū)104，檢體4于反應(yīng)區(qū)104內(nèi)進(jìn)行電化學(xué)反應(yīng)，以產(chǎn)生兩組檢測(cè)訊號(hào)。請(qǐng)參閱圖3，該采樣穿孔101是可為圖示的各種構(gòu)成態(tài)樣，又如圖4所示，該內(nèi)采樣凸部102A的構(gòu)成類似檢測(cè)試片I本身為一圓形穿孔A(或其它形狀如多邊形、橢圓形等，此以圓孔為例作說(shuō)明)側(cè)邊凸伸入，而形成位于該圓形穿孔A范圍內(nèi)的該內(nèi)采樣凸部102A，該圓形穿孔A所剩穿孔部份即為該采樣穿孔101 ;而該內(nèi)采樣凸部102A的內(nèi)采樣缺口 102B與采樣穿孔101的中心部位僅距X距離，較該圓形穿孔A的邊界更鄰近采樣穿孔101的中 心部位C (半徑Y(jié))，即該內(nèi)采樣凸部102A前端的內(nèi)采樣缺口 102B是與采樣穿孔101的其它部位(非處于該內(nèi)采樣凸部102A上)較鄰近該穿孔中心C，如此藉該內(nèi)采樣缺口 102B使吸取導(dǎo)引血液的效果更佳，而該X的較佳距離為0. 2mm 2mm。其它實(shí)施方式中，該檢測(cè)試片I于該檢測(cè)區(qū)10的外側(cè)是進(jìn)一步設(shè)有一外采樣區(qū)103，該外采樣區(qū)103包括有一外采樣凸部103A，外采樣凸部103A的側(cè)壁是設(shè)有一連通該采樣通道105的外采樣缺口 103B，該外采樣凸部103A是作為另種采集方式，可使血液經(jīng)該外采樣缺口 103B、采樣通道105而至該反應(yīng)區(qū)104，具有單獨(dú)采集檢測(cè)的效果。另，該檢測(cè)試片I于該樣穿孔101的周?chē)m當(dāng)位置是設(shè)有至少一定位件106，該定位件106是可為一穿孔、切口或一凸塊，用以配合對(duì)應(yīng)使用的檢測(cè)裝置2，以達(dá)到該檢測(cè)試片I的定位。該電路系統(tǒng)11是具有二組電路連接部111及二組檢測(cè)電極112，該電路連接部111位于該檢測(cè)試片I相對(duì)該檢測(cè)區(qū)10的另一端，并連接該檢測(cè)電極112，用與一檢測(cè)裝置2電性組接，以傳輸檢測(cè)訊號(hào)至檢測(cè)裝置2進(jìn)行分析。該檢測(cè)電極112是設(shè)于該反應(yīng)區(qū)104，使反應(yīng)區(qū)104藉由該檢測(cè)電極112傳送檢測(cè)訊號(hào)至檢測(cè)裝置2，該組檢測(cè)電極112至少具有一工作電極及一參考電極，該檢測(cè)電極112是以導(dǎo)線113連接該電路連接部111。上述內(nèi)采樣缺口 102B、反應(yīng)區(qū)104、采樣通道105及檢測(cè)電極112的數(shù)量為二個(gè)(或組)，僅為本發(fā)明的一較佳實(shí)施例，該等數(shù)量可為一或二個(gè)(或組)以上，于此不再贅述。請(qǐng)一并參閱圖5，是本發(fā)明的第一實(shí)施例的檢測(cè)試片的分解圖。用以詳細(xì)揭露檢測(cè)試片I的結(jié)構(gòu)，檢測(cè)試片I包含一基板12、一間隔層13及一上蓋片14,基板12位于檢測(cè)試片I的檢測(cè)區(qū)10具有一基板穿孔121，該基板穿孔121的周?chē)哂卸磻?yīng)區(qū)104，基板穿孔121兩側(cè)設(shè)置有對(duì)應(yīng)二反應(yīng)區(qū)104的基板內(nèi)凸部122，每一基板內(nèi)凸部122是由基板穿孔121的邊緣向基板穿孔121延伸凸出，即凸伸接近該基板穿孔121的中心部位。再者，該基板12上是設(shè)置有該電路連接部111、檢測(cè)電極112及導(dǎo)線113，另該基板12兩側(cè)是各設(shè)有一基板外凸部123。該間隔層13覆蓋于基板12，裸露出該檢測(cè)試片I的檢測(cè)區(qū)10及電路連接部111，該間隔層13具有一檢測(cè)用的通道間隔131，該通道間隔131是與基板12的基板穿孔121、基板內(nèi)凸部122對(duì)應(yīng)。當(dāng)間隔層13覆蓋于基板12時(shí)，該通道間隔131是形成該檢測(cè)試片I (基板12與上蓋片14間)的該檢測(cè)區(qū)10。該上蓋片14覆蓋于間隔層13上，該上蓋片14具有一與該基板穿孔121相對(duì)的上蓋穿孔141，該上蓋穿孔141具有二側(cè)與基板內(nèi)凸部122對(duì)應(yīng)的上蓋內(nèi)凸部142 ;另該上蓋片14兩側(cè)對(duì)應(yīng)該基板外凸部123是設(shè)有一上蓋外凸部143，用以組合形成該外采樣凸部103A，而上蓋外凸部143與基板外凸部123間是形成該外采樣缺口 103B。本實(shí)施例的檢測(cè)試片I由基板12、間隔層13及上蓋片14堆棧而成，該基板穿孔121、通道間隔131及上蓋穿孔141的重復(fù)孔位部分形成檢測(cè)試片I的采樣穿孔101。該通道間隔131使該二基板內(nèi)凸部122及上蓋內(nèi)凸部142間形成該二內(nèi)采樣區(qū)102。該通道間隔131于該基板12及上蓋片14間形成該采樣穿孔101 二側(cè)的采樣通道105，用以連接內(nèi)采樣區(qū)102、采樣穿孔101及二反應(yīng)區(qū)104。再者，前述該檢測(cè)試片I的定位件106若為穿孔時(shí)，則該基板12、間隔層13、上蓋片14是分別對(duì)應(yīng)設(shè)有穿孔狀的基板定位件124、隔層定位件132、上蓋定位件144 ;若該定位件106為切口時(shí)，則該切口是設(shè)于基板12、間隔層13或上蓋片14的側(cè)邊(未圖示);若該定位件106為凸塊時(shí)，則該凸塊是設(shè)于基板12或上蓋片14上(未圖示)。當(dāng)采樣穿孔101采集血液時(shí)，由于該內(nèi)采樣區(qū)102接近采樣穿孔101，使檢體4(或血液)能夠快速接觸該內(nèi)采樣缺口 102B，該血液再利用毛細(xì)現(xiàn)象透過(guò)該采樣通道105進(jìn)入二反應(yīng)區(qū)104，并使該反應(yīng)區(qū)104產(chǎn)生電流訊號(hào)而繼透過(guò)該檢測(cè)電極112、導(dǎo)線113傳輸至該電路連接部111。請(qǐng)參閱圖6至圖11，用以說(shuō)明該檢測(cè)試片I的各層組合變化例，如圖6、圖6A所示，該上蓋片14及基板12分別設(shè)有上蓋穿孔141、上蓋內(nèi)凸部142及基板穿孔121、基板內(nèi)凸部122，該上蓋內(nèi)凸部142及基板內(nèi)凸部122為大小相同對(duì)稱且組合成該內(nèi)采樣區(qū)102。如圖7、圖7A所示，該上蓋內(nèi)凸部142及基板內(nèi)凸部122為大小不同而組合成該內(nèi)采樣區(qū)102。如圖8、圖8A所不，該基板12的基板穿孔121是呈一圓孔而不具該基板內(nèi)凸部122,而該上蓋片14的上蓋內(nèi)凸部142是單獨(dú)形成該內(nèi)采樣區(qū)102。如圖9、圖9A所示，該上蓋片14的上蓋穿孔141是呈一圓孔而不具該上蓋內(nèi)凸部142，而該基板12的基板內(nèi)凸部122是單獨(dú)形成該內(nèi)采樣區(qū)102。如圖10、圖IOA所示，該上蓋片14的上蓋穿孔141是呈一小圓孔而不具該上蓋內(nèi)凸部142，而該基板12的基板內(nèi)凸部122以及該上蓋穿孔141與該基板穿孔121間的區(qū)域是共同形成該內(nèi)采樣區(qū)102。如圖11、圖IlA所示，該上蓋片14的上蓋穿孔141是呈一小圓孔而不具該上蓋內(nèi)凸部142，而該基板12的基板穿孔121是呈一較大圓孔而不具該基板內(nèi)凸部122，其中該上蓋穿孔141是與該基板穿孔121為大小不同的孔位，該上蓋穿孔141與該基板穿孔121間的區(qū)域是形成該內(nèi)采樣區(qū)102。在前述變化例中，該內(nèi)采樣凸部102A為該基板12上的一基板內(nèi)凸部122與該上蓋片14上的一上蓋內(nèi)凸部142各別或搭配組合所形成；該內(nèi)采樣區(qū)102是可為該內(nèi)采樣凸部102A與由不同孔位大小的該基板穿孔121與該上蓋穿孔141間的區(qū)域各別或搭配組合所形成；該采樣穿孔101為該基板穿孔121及上蓋穿孔141的重復(fù)孔位部分所形成，其孔距為0. 4mm 4mm。請(qǐng)參閱圖12、圖13，是本發(fā)明的第一實(shí)施例的使用狀態(tài)圖。如圖所示，第一實(shí)施例所提供的檢測(cè)試片I主要用于一兼具有采樣及檢測(cè)功能的檢測(cè)裝置2。檢測(cè)裝置2具有一采樣模塊21及一檢測(cè)模塊22，采樣模塊21位于檢測(cè)模塊22的一側(cè)，并供應(yīng)一采血針23。 檢測(cè)模塊22具有一試片插槽221，試片插槽221為半開(kāi)放式插槽，其供檢測(cè)試片I的電路連接部111插設(shè)定位，而檢測(cè)試片I是以具電路連接部111的一端由采樣模塊21往檢測(cè)模塊22方向插設(shè)入該試片插槽221。試片插槽221內(nèi)具有一電性連接器222,使檢測(cè)試片I的電路連接部111插入接觸試片插槽221的電性連接器222。又，為便利該檢測(cè)試片I的組裝拆卸操作，該檢測(cè)試片I鄰近該檢測(cè)區(qū)10的前端是可加以延長(zhǎng)而形成一握持部107。該檢測(cè)裝置2的采樣模塊21具有一采樣部211及一桿部212，桿部212供采血針23的裝卸設(shè)置，并利用彈力使采血針23自動(dòng)彈伸出采樣部211，并刺破待測(cè)者的受測(cè)部位3以采得檢體4 (如血液)。采樣部211的下方具有一采樣開(kāi)口 211A，采樣開(kāi)口 21IA是供采血針23穿過(guò)。再者，該采樣部211底部于采樣開(kāi)口 211A周?chē)窃O(shè)置至少一試片定位件211D,試片定位件21ID是對(duì)應(yīng)該檢測(cè)試片I的定位件106，如圖所示，該試片定位件21ID及定位件106是呈凸塊與穿孔的對(duì)應(yīng)實(shí)施例。
又如圖13、圖14所示，該檢測(cè)裝置2 (采樣部211)底部是可進(jìn)一步設(shè)有成對(duì)的采樣抵壓凸件211B，采樣抵壓凸件211B設(shè)置于采樣開(kāi)口 211A周?chē)摬蓸拥謮和辜?11B是可為條狀、弧條狀等凸件，本實(shí)施例的采樣抵壓凸件211B間具有二抵壓缺口 211C，二抵壓缺口 21IC對(duì)應(yīng)檢測(cè)試片I的采樣穿孔101兩側(cè)的二內(nèi)采樣凸部102A。當(dāng)檢測(cè)試片I的電路連接部111插設(shè)于試片插槽221后，位于檢測(cè)試片I的檢測(cè)區(qū)10向采樣部211的采樣開(kāi)口 211A靠近，使位于采樣開(kāi)口 211A周?chē)脑嚻ㄎ患?11D插設(shè)于檢測(cè)試片I的定位件106，用以定位檢測(cè)試片I的檢測(cè)區(qū)10于檢測(cè)裝置2下方，使采樣開(kāi)口 211A準(zhǔn)確地對(duì)應(yīng)檢測(cè)試片I的采樣穿孔101，以供采血針23準(zhǔn)確地穿過(guò)進(jìn)行穿刺采樣。而該檢測(cè)試片I前端的握持部107為凸伸出該檢測(cè)裝置2前端(或兩側(cè))，使便利該檢測(cè)試片I的裝設(shè)及取下操作。檢測(cè)時(shí)，由于該采樣抵壓凸件211B是穿過(guò)采樣穿孔101凸出，用以抵壓待測(cè)者的受測(cè)部位3，使受測(cè)部位3受擠壓，當(dāng)采血針23刺破待測(cè)者的受測(cè)部位3時(shí)可加快檢體4滲出速度，并提供足夠的檢體量，此時(shí)檢體4將迅速地由采樣穿孔101兩側(cè)的二內(nèi)采樣缺口 102B進(jìn)入該采樣通道105，當(dāng)檢體4流到二反應(yīng)區(qū)104后，檢測(cè)裝置2提供一電壓產(chǎn)生一檢測(cè)訊號(hào)，該檢測(cè)訊號(hào)透過(guò)檢測(cè)試片I的電路連接部111傳送至檢測(cè)模塊22，檢測(cè)模塊22分析檢測(cè)訊號(hào)以得到檢體4的濃度及相關(guān)狀態(tài)的數(shù)據(jù)。請(qǐng)參閱圖15至圖18，用以說(shuō)明檢測(cè)試片I的變化實(shí)施例，該檢測(cè)試片I于該采樣穿孔101的周?chē)窃O(shè)有一抵壓凸出件108，該抵壓凸出件108是可呈一環(huán)狀凸體(或其它形狀)，使用時(shí)該抵壓凸出件108向下接觸抵壓待測(cè)者的受測(cè)部位3，待采血針23穿過(guò)采樣穿孔101后，促使受測(cè)部位3的檢體4快速滲出，以提供足夠的檢體量。該抵壓凸出件108可設(shè)于該基板穿孔121、該通道間隔131 (未圖示)或該上蓋穿孔141的周?chē)?，其中該抵壓凸出?08的高度為0. Olmm 2mm。前述圖15至圖17中，該檢測(cè)試片I的抵壓凸出件108是設(shè)于該上蓋片14上而由該上蓋片14向外凸出，使用時(shí)是將該檢測(cè)試片I翻轉(zhuǎn)，使該抵壓凸出件108抵壓受測(cè)部位3 ;而在圖18中，該檢測(cè)試片I的抵壓凸出件108是設(shè)于該基板12上而由該基板12向外凸出，同樣可達(dá)到檢測(cè)試片I對(duì)受測(cè)部位3進(jìn)行抵壓采樣的作用。上述可知，本發(fā)明提供一種檢測(cè)試片，該檢測(cè)試片是利用電化學(xué)檢測(cè)，其于采樣穿孔設(shè)置可采集導(dǎo)引檢體的內(nèi)采樣區(qū)，內(nèi)采樣區(qū)上的內(nèi)采樣缺口易于吸取并導(dǎo)引檢體進(jìn)入反應(yīng)區(qū)產(chǎn)生電化學(xué)反應(yīng)。該檢測(cè)試片更可于采樣穿孔的周?chē)O(shè)置抵壓凸出件，抵壓凸出件可抵壓待測(cè)者的受測(cè)部位，以加速檢體從受測(cè)部位滲出而進(jìn)入反應(yīng)區(qū)產(chǎn)生電化學(xué)反應(yīng)。本發(fā)明更提供一種搭配本發(fā)明的檢測(cè)試片的檢測(cè)裝置，該檢測(cè)裝置同時(shí)兼具采樣及檢測(cè)的功能，其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，有效降低成本；另外，由于使用時(shí)采樣部與受測(cè)者間隔有該檢測(cè)試片，而檢測(cè)試片可為一次性使用，通過(guò)一次性使用技術(shù)手段去避免使用者間的交互感染，以提供公共衛(wèi)生的使用。
綜上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用來(lái)限定本發(fā)明實(shí)施的范圍，凡依本發(fā)明權(quán)利要求范圍所述的形狀、構(gòu)造、特征及精神所為的均等變化與修飾，均應(yīng)包括于本發(fā)明的權(quán)利要求范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)試片，其特征在于，是包含 一檢測(cè)區(qū)，該檢測(cè)區(qū)是具有 一采樣穿孔； 至少一采樣通道，是對(duì)應(yīng)該采樣穿孔； 至少一反應(yīng)區(qū)，位于該采樣通道內(nèi)；以及 一內(nèi)采樣區(qū)，位于該采樣穿孔的周?chē)搩?nèi)采樣區(qū)的端邊設(shè)有一內(nèi)采樣缺口，連通該采樣穿孔與該采樣通道；以及 一電路系統(tǒng)，其電性連接該反應(yīng)區(qū)。
2.如權(quán)利要求I所述的檢測(cè)試片，其特征在于，更包含 一基板，該基板具有一基板穿孔； 一間隔層，覆蓋于該基板，該間隔層具有一通道間隔，該通道間隔是對(duì)應(yīng)該基板穿孔；以及 一上蓋片，覆蓋于該間隔層，該上蓋片具有一上蓋穿孔； 其中該基板穿孔、該通道間隔與該上蓋穿孔的重復(fù)孔位是形成該采樣穿孔；該通道間隔與該基板、該上蓋片間是形成該采樣通道。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該內(nèi)采樣區(qū)為至少一內(nèi)采樣凸部，位于該采樣穿孔與該采樣通道之間，該內(nèi)采樣凸部是從該采樣通道對(duì)應(yīng)該采樣穿孔的端邊向該采樣穿孔延伸凸出，該內(nèi)采樣凸部為該基板上的一基板內(nèi)凸部或/及該上蓋片上的一上蓋內(nèi)凸部所形成。
4.如權(quán)利要求3所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該內(nèi)采樣凸部的前端是與該采樣穿孔的中心距離為O. 2mm 2mm。
5.如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該上蓋穿孔是與該基板穿孔為大小不同的孔位，該上蓋穿孔與該基板穿孔間的區(qū)域是形成一內(nèi)采樣區(qū)。
6.如權(quán)利要求5所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該采樣穿孔的孔距為O.4mm 4mm ο
7.如權(quán)利要求5所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該內(nèi)采樣區(qū)更包含有至少一內(nèi)采樣凸部，位于該采樣穿孔與該采樣通道之間，該內(nèi)采樣凸部是從該采樣通道對(duì)應(yīng)該采樣穿孔的端邊向該采樣穿孔延伸凸出，該內(nèi)采樣凸部為該基板上的一基板內(nèi)凸部或該上蓋片上的一上蓋內(nèi)凸部所形成。
8.如權(quán)利要求I所述的檢測(cè)試片，其特征在于，該采樣穿孔的周?chē)窃O(shè)有至少一抵壓凸出件。
9.如權(quán)利要求I所述的檢測(cè)試片，其特征在于，更包含至少一定位件，其中該定位件為一穿孔、一切口或一凸塊。
10.如權(quán)利要求I所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其進(jìn)一步包含至少一外采樣區(qū)，該外采樣區(qū)是位于該檢測(cè)試片的外側(cè)，該外采樣區(qū)是連通于該采樣通道。
11.一種檢測(cè)試片，其特征在于，是包含 一檢測(cè)區(qū)，該檢測(cè)區(qū)是具有 一采樣穿孔； 至少一采樣通道，是對(duì)應(yīng)該采樣穿孔；至少一反應(yīng)區(qū)，位于該采樣通道內(nèi)；以及 至少一抵壓凸出件，設(shè)于該采樣穿孔的周?chē)灰约? 一電路系統(tǒng)，其電性連接該反應(yīng)區(qū)。
12.如權(quán)利要求11所述的檢測(cè)試片，其特征在于，更包含 一基板，具有一基板穿孔； 一間隔層，覆蓋于該基板，該間隔層具有一通道間隔，該通道間隔是對(duì)應(yīng)該基板穿孔；以及 一上蓋片，覆蓋于該間隔層，該上蓋片具有一上蓋穿孔； 其中該基板穿孔、該通道間隔與該上蓋穿孔的重復(fù)孔位是形成該采樣穿孔，該通道間隔與該基板、該上蓋片間是形成該采樣通道。
13.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該抵壓凸出件是設(shè)于該基板穿孔、該通道間隔或該上蓋穿孔的周?chē)?br> 14.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該采樣穿孔的孔距為0.4mm 4mm n
15.如權(quán)利要求11所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該抵壓凸出件的高度為0. Olmm 2mm。
16.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該采樣通道與該采樣穿孔之間是設(shè)有至少一內(nèi)采樣凸部，該內(nèi)采樣凸部是從該采樣通道對(duì)應(yīng)該采樣穿孔的端邊向該采樣穿孔延伸凸出，該內(nèi)采樣凸部的端邊是設(shè)有一內(nèi)采樣缺口，該內(nèi)采樣凸部為該基板上的一基板內(nèi)凸部或/及該上蓋片上的一上蓋內(nèi)凸部所形成。
17.如權(quán)利要求16所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其中該內(nèi)采樣凸部的前端是與該采樣穿孔的中心距離為0. 2mm 2mm。
18.如權(quán)利要求11所述的檢測(cè)試片，其特征在于，更包含至少一定位件，該定位件為一穿孔、一切口或一凸塊。
19.如權(quán)利要求11所述的檢測(cè)試片，其特征在于，其進(jìn)一步包含有至少一外采樣區(qū)，該外采樣區(qū)是位于該檢測(cè)試片的外側(cè)，該外采樣區(qū)是連通于該采樣通道。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種檢測(cè)試片，該檢測(cè)試片包含一檢測(cè)區(qū)，該檢測(cè)區(qū)是具有一采樣穿孔；至少一該采樣通道，是對(duì)應(yīng)該采樣穿孔；至少一反應(yīng)區(qū)，位于該采樣通道內(nèi)；以及至少一內(nèi)采樣區(qū)，位于該采樣穿孔的周?chē)搩?nèi)采樣區(qū)的端邊是設(shè)有一內(nèi)采樣缺口，連通該采樣穿孔與該采樣通道；以及一電路系統(tǒng)，其電性連接該反應(yīng)區(qū)，以達(dá)到易于檢體采集的效果；其中該檢測(cè)試片更包含有至少一抵壓凸出件，設(shè)于該采樣穿孔的周?chē)?，以提供受測(cè)部位的擠壓效果，同時(shí)可以避免采樣檢測(cè)上交互感染的問(wèn)題。
文檔編號(hào)A61B5/157GK102613978SQ201110035608
公開(kāi)日2012年8月1日 申請(qǐng)日期2011年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月31日
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