專利名稱：檢具及用其對(duì)spect/ct雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)整的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種多用途檢測(cè)和校正工具，能夠?qū)Χ喾N形位精度如同心度、垂直度、 平行度等進(jìn)行精確測(cè)量，尤其適用于對(duì)如SPECT/CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)一類的具有大的定軸旋轉(zhuǎn)件且該旋轉(zhuǎn)件的形位精度以及該旋轉(zhuǎn)件與其上安裝的功能部件之間、不同功能部件之間相對(duì)位置精度要求項(xiàng)目多、要求高的系統(tǒng)的裝配、校正和硬件調(diào)整。
背景技術(shù)：
通常來(lái)說(shuō)，對(duì)各種形位精度進(jìn)行測(cè)量均有專用的檢具，對(duì)于需要對(duì)多種形位精度進(jìn)行測(cè)量時(shí)，往往需要多種檢具配合使用，不僅工藝繁瑣，且配套工裝成本高，而且采用不同檢具進(jìn)行測(cè)量時(shí)，由于各有各的檢測(cè)方法，很難采用相同的測(cè)量基準(zhǔn)，造成較大的測(cè)量誤差。特別對(duì)于申請(qǐng)人新研制的一種雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)而言，其中可定軸轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)機(jī)架的直徑尺寸較大，為米級(jí)，而對(duì)如此大直徑的工作平面(垂直于其旋轉(zhuǎn)中心軸線的端面)要求其端面跳動(dòng)僅為幾個(gè)微米。并且，安置在這個(gè)工作平面上的SPECT探測(cè)器、X射線光源、X射線探測(cè)器等功能部件之間還要求嚴(yán)格的相對(duì)位置精度?？梢?，該系統(tǒng)不僅要求檢測(cè)或調(diào)整的項(xiàng)目較多，而且要求的精度極高，采用現(xiàn)有技術(shù)條件下的測(cè)量工具和相應(yīng)的檢測(cè)方法，容易引入較大的測(cè)量誤差，且要求測(cè)量工具配套齊全，成本高、操作復(fù)雜。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，本發(fā)明的目的在于提供一種檢具及用其對(duì)SPECT/ CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)的精度進(jìn)行調(diào)整的方法，能夠通過(guò)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的檢具和簡(jiǎn)單的方法對(duì)同心度、垂直度和平行度等形位精度進(jìn)行精確測(cè)量，適用于檢測(cè)或調(diào)整項(xiàng)目較多且要求精度較高的設(shè)備的檢測(cè)和調(diào)整，尤其是對(duì)SPECT/CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)的精度進(jìn)行檢測(cè)、校正、調(diào)整。本發(fā)明的技術(shù)方案是
一種檢具，包括錐柄檢驗(yàn)棒和套在所述錐柄檢驗(yàn)棒的外圓柱面上并與所述錐柄檢驗(yàn)棒滑動(dòng)配合的規(guī)塊，所述錐柄檢驗(yàn)棒可以在一端設(shè)有錐柄或兩端各設(shè)有一個(gè)錐柄。所述規(guī)塊上可以設(shè)有通孔，所述通孔的中心軸線與所述錐柄檢驗(yàn)棒的中心軸線垂直且相交，所述錐柄檢驗(yàn)棒上可以設(shè)有沿其徑向延伸的與所述通孔相對(duì)應(yīng)的貫通孔。所述檢具還可以包括兩個(gè)光闌，所述兩個(gè)光闌可以互相平行的間隔設(shè)置在所述通孔的中心軸線上，優(yōu)選為分別垂直于所述通孔的中心軸線，優(yōu)選為所述兩光闌的中心均與所述通孔的中心軸線相重合。所述兩個(gè)光闌優(yōu)選為按下列兩種方式中的任意一種方式設(shè)置
(1)所述兩個(gè)光闌可以間隔設(shè)置在所述通孔內(nèi)，所述兩個(gè)光闌的中心均位于所述通孔的中心軸線上；(2)所述通孔中可以設(shè)有與其無(wú)間隙配合的準(zhǔn)直棒，所述準(zhǔn)直棒內(nèi)設(shè)有沿其軸向延伸且貫通所述準(zhǔn)直棒的準(zhǔn)直孔，所述準(zhǔn)直孔的中心軸線與所述通孔的中心軸線重合，所述兩個(gè)光闌間隔設(shè)置在所述準(zhǔn)直孔內(nèi)，所述兩個(gè)光闌的中心均位于所述準(zhǔn)直孔的中心軸線上。上述任意一個(gè)技術(shù)方案中的所述錐柄檢驗(yàn)棒除錐柄部分之外均可以為兩段直徑不等的同心圓柱體，或稱為同心臺(tái)階軸，所述規(guī)塊優(yōu)選為與直徑較小的圓柱體滑動(dòng)配合。上述任意一種技術(shù)方案中的所述錐柄的錐度優(yōu)選為莫氏錐度。所述檢具的材料優(yōu)選為40Cr或2Crl3。本發(fā)明還涉及一種采用上述任意一種檢具對(duì)包含旋轉(zhuǎn)機(jī)架的SPECT/CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)的精度進(jìn)行檢測(cè)、校正和/或調(diào)整的方法，其中，所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架上設(shè)有與所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架的旋轉(zhuǎn)中心軸線同軸的檢測(cè)錐孔，所述檢測(cè)錐孔與所述錐柄檢驗(yàn)棒的至少一個(gè)錐柄相匹配，將該錐柄插入檢測(cè)錐孔后，應(yīng)保證所述錐柄檢驗(yàn)棒的中心軸線與所述檢測(cè)錐孔的旋轉(zhuǎn)中心軸線重疊。所述旋轉(zhuǎn)中心軸線與所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架的工作平面垂直，所述的方法包括檢測(cè)所述旋轉(zhuǎn)中心軸線與所述系統(tǒng)的X射線探測(cè)器平面間平行度的方法，具體步驟為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，將千分表支架固定在所述規(guī)塊上，將所述千分表的檢測(cè)桿頭垂直輕壓于所述X射線探測(cè)器平面上，推動(dòng)所述規(guī)塊使其帶動(dòng)所述千分表沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的中心軸線作直線運(yùn)動(dòng)，利用所述千分表檢測(cè)當(dāng)其檢測(cè)桿頭在所述X 射線探測(cè)器平面上沿其運(yùn)動(dòng)軌跡線運(yùn)動(dòng)時(shí)的示數(shù)變動(dòng)量，所述運(yùn)動(dòng)軌跡線平行于所述中心軸線，通過(guò)改變所述千分表的橫向(垂直于所述旋轉(zhuǎn)中心軸線的方向)安裝位置或采用其他方式，即可改變千分表檢測(cè)桿頭在所述X射線探測(cè)器平面上的觸點(diǎn)相對(duì)于所述規(guī)塊上的橫向位置，重復(fù)上述過(guò)程，以讀取兩條或多條互相平行的運(yùn)動(dòng)軌跡線上所述千分表的示數(shù)變動(dòng)量，并依據(jù)所述示數(shù)變動(dòng)量計(jì)算所述平行度的值。通常，所述千分表支架可以使設(shè)于其上的千分表懸停在任意需要的位置，且能夠保持該千分表懸停位置的穩(wěn)固，由此可以在上述檢測(cè)時(shí)方便地改變所述千分表相對(duì)于所述規(guī)塊上的橫向位置。所述精度調(diào)整方法還可以包括調(diào)整所述系統(tǒng)的X射線光源的主光軸垂直于所述X 射線探測(cè)器平面且垂足為指定點(diǎn)的方法，即檢測(cè)/調(diào)整垂直度的方法，相應(yīng)地需要采用帶有所述光闌的檢具，具體步驟為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，開啟所述X射線光源，交替調(diào)節(jié)項(xiàng)目(1 )、(2)使得所述X射線光源所發(fā)射的光束穿過(guò)所述通孔或準(zhǔn)直孔投射于所述X射線探測(cè)器平面上的圓或圓環(huán)重合在所述指定點(diǎn)，所述項(xiàng)目(1)為調(diào)整所述錐柄檢驗(yàn)棒的周向偏角和所述規(guī)塊在所述錐柄檢驗(yàn)棒的軸線方向的相對(duì)位置；所述項(xiàng)目(2)為調(diào)整所述X射線光源的主光軸的偏移角度。所述精度調(diào)整方法還可以包括檢測(cè)所述旋轉(zhuǎn)中心軸線的徑向回轉(zhuǎn)精度的方法，具體步驟為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，固定設(shè)置千分表使其檢測(cè)桿頭沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的徑向分別輕壓在所述錐柄檢驗(yàn)棒的外圓柱面上相距較遠(yuǎn)的兩處，轉(zhuǎn)動(dòng)所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架使其帶動(dòng)所述錐柄檢驗(yàn)棒旋轉(zhuǎn)，分別讀取所述千分表示數(shù)的最大變動(dòng)量， 或者，將所述檢測(cè)桿頭沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的徑向輕壓在所述錐柄檢驗(yàn)棒的靠近其外伸一端的外圓柱面上，讀取所述千分表示數(shù)的最大變動(dòng)量。所述精度調(diào)整方法還可以包括校正所述系統(tǒng)的樣品床的送樣軸線與所述旋轉(zhuǎn)中心軸線同軸的方法，具體過(guò)程為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，使所述樣品床靠近所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架，調(diào)整所述樣品床的送樣軸線使所述樣品床的安裝孔對(duì)準(zhǔn)所述錐柄檢驗(yàn)棒的外伸端的突出端面直到二者重合，所述對(duì)準(zhǔn)的檢測(cè)方式為目測(cè)，或者，使所述錐柄檢驗(yàn)棒的外伸端的錐柄插入所述樣品床的安裝孔。本發(fā)明的有益效果是
本發(fā)明的檢具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作靈活方便，同時(shí)具備測(cè)量同心度、平行度、垂直度功能。 采用該檢具不僅可以簡(jiǎn)化測(cè)量工藝，還可以提高測(cè)量精度，是一種高精度、多功能的專用工具。采用本發(fā)明的方法，只用同一套檢具即可完成對(duì)目標(biāo)設(shè)備的多個(gè)項(xiàng)目的檢測(cè)或調(diào)整，既可用于目標(biāo)設(shè)備的裝配，也可用于目標(biāo)設(shè)備的日常檢修和校準(zhǔn)，操作簡(jiǎn)單，可信度高。


圖1是本發(fā)明的檢具的第一實(shí)施例的主視圖； 圖2是本發(fā)明的檢具的第一實(shí)施例的俯視圖。
具體實(shí)施例方式為了更好的解釋本發(fā)明，以便更好的理解本發(fā)明，接下來(lái)結(jié)合附圖以具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。參見圖1和圖2，本發(fā)明涉及一種檢具，包括錐柄檢驗(yàn)棒1和套在所述錐柄檢驗(yàn)棒的外圓柱面上并與所述錐柄檢驗(yàn)棒相配合的規(guī)塊2。所述規(guī)塊可以與所述錐柄檢驗(yàn)棒軸向滑動(dòng)配合。所述規(guī)塊上可以設(shè)有通孔5，所述通孔的中心軸線與所述錐柄檢驗(yàn)棒的中心軸線垂直且相交，所述錐柄檢驗(yàn)棒上可以設(shè)有沿其徑向延伸的與所述通孔相對(duì)應(yīng)的貫通孔4。所述檢具還可以包括兩個(gè)光闌3，所述兩個(gè)光闌可以互相平行的間隔設(shè)置在所述通孔的中心軸線上，優(yōu)選為分別垂直于所述通孔的中心軸線，所述兩光闌的中心可以均與所述通孔的中心軸線相重合。所述光闌的設(shè)置方式可以為以下兩種
(1)所述兩個(gè)光闌間隔設(shè)置在所述通孔內(nèi)，優(yōu)選為設(shè)置在通孔的兩端或者通孔內(nèi)相距較遠(yuǎn)的兩個(gè)橫截面上，具體可以根據(jù)實(shí)際需要確定，所述兩個(gè)光闌的中心均位于所述通孔的中心軸線上，所述通孔優(yōu)選為圓柱通孔；
(2)所述通孔中設(shè)有與其無(wú)間隙配合的準(zhǔn)直，所述準(zhǔn)直棒插入所述通孔和貫通孔中， 所述準(zhǔn)直棒內(nèi)設(shè)有沿其軸向延伸且貫通所述準(zhǔn)直棒的準(zhǔn)直孔，所述準(zhǔn)直孔優(yōu)選為圓柱孔， 所述準(zhǔn)直孔的中心軸線與所述通孔的中心軸線重合，所述兩個(gè)光闌間隔設(shè)置在所述準(zhǔn)直孔內(nèi)，優(yōu)選為設(shè)置在所述準(zhǔn)直孔的兩端或準(zhǔn)直孔內(nèi)相距較遠(yuǎn)的兩個(gè)橫截面上，具體可以根據(jù)實(shí)際需要確定，所述兩個(gè)光闌的中心均位于所述準(zhǔn)直孔的中心軸線上。所述準(zhǔn)直棒的長(zhǎng)度可以設(shè)置得長(zhǎng)一些，用于檢測(cè)距離較遠(yuǎn)的要素，以擴(kuò)大檢測(cè)所適用的尺寸范圍。例如，所述準(zhǔn)直棒的長(zhǎng)度不小于MOmm，可在一定程度上提高檢具的檢測(cè)精度。所述兩光闌之間的同心度優(yōu)選為不大于0. 001mm。所述通孔和/或貫通孔可以設(shè)置為柱形通孔或帶錐度的錐形通孔，優(yōu)選為所述通孔和/或貫通孔的橫截面為圓形。所述錐柄檢驗(yàn)棒上的所述貫通孔的大小優(yōu)選為不小于所述規(guī)塊上的所述通孔的大小。
所述貫通孔的橫截面可以為長(zhǎng)條形，如矩形，且長(zhǎng)邊的延伸方向與所述錐柄檢驗(yàn)棒的軸線方向平行，當(dāng)所述規(guī)塊相對(duì)所述錐柄檢驗(yàn)棒的軸向位置改變時(shí)，所述規(guī)塊上的通孔與所述錐柄檢驗(yàn)棒上的貫通孔仍是相通的。所述規(guī)塊可以為標(biāo)準(zhǔn)的長(zhǎng)方體規(guī)塊，優(yōu)選為所述長(zhǎng)方體規(guī)塊上各個(gè)相對(duì)的平行平面的平行度誤差和/或各個(gè)相鄰面之間的垂直度誤差不大于0. 001mm。所述規(guī)塊上設(shè)有與所述錐柄檢驗(yàn)棒的外圓柱表面相配合的軸孔，所述軸孔可以為標(biāo)準(zhǔn)圓柱孔，也可以為橢圓柱孔或帶有沿母線延伸的突起或凹陷的導(dǎo)向軸孔，所述錐柄檢驗(yàn)棒的截面為與所述軸孔相配合，以便于所述規(guī)塊能夠沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的軸向作直線運(yùn)動(dòng)，且最好不能相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)。所述軸孔的中心軸線優(yōu)選與其所貫穿的兩平行平面垂直。所述長(zhǎng)方體規(guī)塊的各棱邊可設(shè)有倒角。上述任意一種檢具中，所述錐柄檢驗(yàn)棒除錐柄之外的部分均可以為兩段直徑不等的同心圓柱體，或稱為同心臺(tái)階軸，所述規(guī)塊優(yōu)選與直徑較小的圓柱體滑動(dòng)配合。兩端同心圓柱體連接處的臺(tái)階面6可作為所述規(guī)塊在所述錐柄檢驗(yàn)棒上的一處軸向定位面。所述同心臺(tái)階軸的同軸度以及所述臺(tái)階面與軸線的垂直度優(yōu)選為不大于0. 001mm。所述錐柄檢驗(yàn)棒可以只在一端設(shè)有錐柄，也可以在兩端各設(shè)有一個(gè)錐柄，并分別與兩段同心圓柱體相對(duì)應(yīng)。所述錐柄的錐度優(yōu)選為莫氏錐度，不僅容易實(shí)現(xiàn)精確定位，還可以傳遞一定的扭距，因此無(wú)需配套其他夾緊裝置，可以方便地自由拆裝。所述檢具的材料優(yōu)選為40Cr或2Crl3。本發(fā)明還涉及一種采用上述任意一種檢具對(duì)包含旋轉(zhuǎn)機(jī)架的SPECT/CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)的配合精度進(jìn)行檢測(cè)、校正、調(diào)整的方法。為了說(shuō)明該方法，首先需說(shuō)明該系統(tǒng)的大體組成所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架上設(shè)有與所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架的旋轉(zhuǎn)中心軸線同軸的檢測(cè)錐孔，所述檢測(cè)錐孔所述錐柄檢驗(yàn)棒的至少一個(gè)錐柄相匹配，特別是將該錐柄插入所述檢測(cè)錐孔后，應(yīng)保證所述錐柄檢驗(yàn)棒的中心軸線與所述檢測(cè)錐孔的旋轉(zhuǎn)中心軸線重合，且在重復(fù)使用的過(guò)程中其定心效果保持穩(wěn)定，所述旋轉(zhuǎn)中心軸線與所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架的工作平面垂直，所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架的工作平面上安裝有X射線探測(cè)器和 X射線光源，所述X射線探測(cè)器的平面平行于所述旋轉(zhuǎn)中心軸線，所述X射線光源的主光軸設(shè)置為與所述X射線探測(cè)器的平面垂直。所述方法包括檢測(cè)所述旋轉(zhuǎn)中心軸線與所述系統(tǒng)的X射線探測(cè)器平面間平行度的方法，具體步驟為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，將千分表支架固定在所述規(guī)塊上，將所述千分表的檢測(cè)桿頭垂直輕壓于所述X射線探測(cè)器平面上，推動(dòng)所述規(guī)塊帶動(dòng)所述千分表沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的中心軸線作直線運(yùn)動(dòng)，并保持所述檢測(cè)桿頭與所述X射線探測(cè)器的平面的接觸，讀取所述千分表的示數(shù)變動(dòng)量，通過(guò)改變所述檢測(cè)桿頭在所述X射線探測(cè)器的平面上的接觸點(diǎn)的橫向位置，重復(fù)上述檢測(cè)過(guò)程，讀取兩條或多條互相平行的運(yùn)動(dòng)軌跡線上所述千分表的示數(shù)變動(dòng)量，并依據(jù)所述示數(shù)變動(dòng)量計(jì)算所述平行度的值。通常所述千分表支架可以為萬(wàn)能千分表支架，可以使設(shè)于其上的千分表懸停在任意位置，并能夠保持該千分表懸停位置的穩(wěn)固，由此可以在上述檢測(cè)時(shí)方便地改變所述千分表相對(duì)于所述規(guī)塊上的橫向位置(或所述檢測(cè)桿頭相對(duì)于所述X射線探測(cè)器的平面的橫向位置)。所述示數(shù)變動(dòng)量可以為所述千分表示數(shù)的最大變動(dòng)量，所述平行度的值可以由上述兩個(gè)或多個(gè)最大變動(dòng)量的算術(shù)平均值計(jì)算得到，還可以由上述兩個(gè)或多個(gè)最大變動(dòng)量的差值計(jì)算得到。可以根據(jù)上述測(cè)量結(jié)果對(duì)所述系統(tǒng)進(jìn)行校正、調(diào)試，再對(duì)調(diào)整后的系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)， 直到所測(cè)得的平行度符合要求。所述方法還可以包括調(diào)整所述系統(tǒng)的X射線光源的主光軸垂直于所述X射線探測(cè)器平面且垂足為指定點(diǎn)的方法，即檢測(cè)、調(diào)整所述垂直度的方法，具體步驟為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，開啟所述X射線光源，交替調(diào)節(jié)項(xiàng)目(1)、(2)使得所述X射線光源所發(fā)射的光束穿過(guò)所述通孔或準(zhǔn)直孔投射于所述X射線探測(cè)器平面上的圓或圓環(huán)重合在所述指定點(diǎn)，所述項(xiàng)目(1)為調(diào)整所述錐柄檢驗(yàn)棒的周向偏角和所述規(guī)塊在所述錐柄檢驗(yàn)棒的軸線方向的相對(duì)位置；所述項(xiàng)目(2)為調(diào)整所述X射線光源的主光軸的偏移角度。在CT成像系統(tǒng)中，所述指定點(diǎn)優(yōu)選為所述X射線探測(cè)器平面的十字中心點(diǎn)。通常來(lái)說(shuō)，所述檢具是為配合特定規(guī)格的旋轉(zhuǎn)機(jī)架而設(shè)計(jì)的專用檢具，其目的是通過(guò)一套所述檢具即可完成針對(duì)含有上述特定規(guī)格的旋轉(zhuǎn)機(jī)架的SPECT/CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)的全部精度檢測(cè)或調(diào)整項(xiàng)目。因此，所述檢具的某些結(jié)構(gòu)、尺寸是依據(jù)其所應(yīng)用于的所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架而設(shè)計(jì)的固定結(jié)構(gòu)、尺寸。例如，可以通過(guò)設(shè)計(jì)保證所述錐柄檢驗(yàn)棒插入所述檢測(cè)錐孔后，所述規(guī)塊靠在所述臺(tái)階面上的位置時(shí)，所述通孔的軸線延遲線可相交于所述X射線探測(cè)器平面的水平線上。這樣當(dāng)調(diào)整所述系統(tǒng)的X射線光源的主光軸到所述X射線探測(cè)器平面的垂足位置時(shí)， 只需要通過(guò)對(duì)所述規(guī)塊的軸向位置進(jìn)行微調(diào)即可。所述方法還可以包括檢測(cè)所述旋轉(zhuǎn)中心軸線的徑向回轉(zhuǎn)精度的方法，具體步驟為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，固定設(shè)置千分表使其檢測(cè)桿頭沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的徑向分別輕壓在所述錐柄檢驗(yàn)棒的外圓柱面上相距較遠(yuǎn)的兩處，轉(zhuǎn)動(dòng)所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架使其帶動(dòng)所述錐柄檢驗(yàn)棒旋轉(zhuǎn)，分別讀取所述千分表示數(shù)的最大變動(dòng)量，或者，將所述檢測(cè)桿頭沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的徑向輕壓在所述錐柄檢驗(yàn)棒的靠近其外伸一端的外圓柱面上，讀取所述千分表示數(shù)的最大變動(dòng)量。所述方法還可以包括校正所述系統(tǒng)的樣品床的送樣軸線與所述旋轉(zhuǎn)中心軸線同軸的方法，具體過(guò)程為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，使所述樣品床靠近所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架，調(diào)整所述樣品床的送樣軸線使所述樣品床的安裝孔對(duì)準(zhǔn)所述錐柄檢驗(yàn)棒的外伸端的突出端面直到二者重合，判斷對(duì)準(zhǔn)與否的方式為目測(cè)，或者，使所述錐柄檢驗(yàn)棒的外伸端的錐柄插入所述樣品床的安裝孔?；蛘?，還可以將千分表支架固定在所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架的工作平面上，將其檢測(cè)桿頭垂直輕壓在所述樣品床上設(shè)置的測(cè)量環(huán)的外圓柱表上，轉(zhuǎn)動(dòng)所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架，調(diào)整所述樣品床的安裝位置和送樣軌跡，使所述千分表的示數(shù)的最大變動(dòng)量最小。通過(guò)上述操作，可以控制樣品床的軸線和樣品床的運(yùn)動(dòng)軌跡與所述旋轉(zhuǎn)中心軸線重合。在裝配所述SPECT/CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)的過(guò)程中，優(yōu)選按下列順序進(jìn)行相應(yīng)
8檢測(cè)或調(diào)整
(1)可在裝配好旋轉(zhuǎn)機(jī)架后、安裝功能部件前，先按照上述檢測(cè)所述回轉(zhuǎn)中心軸線的徑向回轉(zhuǎn)精度的方法通過(guò)調(diào)整確定所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架的旋轉(zhuǎn)中心；
(2)安裝功能部件后，按照上述檢測(cè)旋轉(zhuǎn)中心軸線與所述X射線探測(cè)器平面間平行度的方法，調(diào)整所述X射線探測(cè)器平面使所述平行度符合要求；
(3)安裝功能部件后，按照上述調(diào)整X射線光源的主光軸垂直于所述X射線探測(cè)器平面且垂足為指定點(diǎn)的方法，調(diào)整所述主光軸使主光軸與X射線探測(cè)器平面的垂直度符合要求，且垂足位于所述X射線探測(cè)器平面的十字中心。上述檢測(cè)和調(diào)整所述送樣軸線與所述旋轉(zhuǎn)中心軸線同軸的步驟可以在進(jìn)行所述步驟(1)、(2)或(3)中任一步驟之前或之后進(jìn)行。當(dāng)在實(shí)際使用過(guò)程中需要對(duì)所述SPECT/CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)相應(yīng)的配合精度進(jìn)行調(diào)整時(shí)，可以按上述步驟順序執(zhí)行，也可以根據(jù)實(shí)際需要僅執(zhí)行其中的一個(gè)或幾個(gè)步驟，執(zhí)行各步驟的順序可以根據(jù)實(shí)際需要調(diào)整。采用本發(fā)明的專用檢具基本可滿足所述SPECT/CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)的各項(xiàng)檢測(cè)或調(diào)整項(xiàng)目，且利用該檢具并采用上述特定方式的檢測(cè)或調(diào)整，操作簡(jiǎn)單、可信度高、調(diào)整精度好。
權(quán)利要求
1.一種檢具，其特征在于包括錐柄檢驗(yàn)棒和套在所述錐柄檢驗(yàn)棒的外圓柱面上并與所述錐柄檢驗(yàn)棒滑動(dòng)配合的規(guī)塊，所述錐柄檢驗(yàn)棒的一端設(shè)有錐柄或兩端各設(shè)有一個(gè)錐柄。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于所述規(guī)塊上設(shè)有通孔，所述通孔的中心軸線與所述錐柄檢驗(yàn)棒的中心軸線垂直且相交，所述錐柄檢驗(yàn)棒上設(shè)有沿其徑向延伸的與所述通孔相對(duì)應(yīng)的貫通孔，所述檢具還包括兩個(gè)光闌，所述兩個(gè)光闌互相平行的間隔設(shè)置在所述通孔的中心軸線上，優(yōu)選為分別垂直于所述通孔的中心軸線，所述兩光闌的中心均與所述通孔的中心軸線相重合。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢具，其特征在于所述兩個(gè)光闌的設(shè)置方式有以下兩種(1) 所述兩個(gè)光闌間隔設(shè)置在所述通孔內(nèi)，所述兩個(gè)光闌的中心均位于所述通孔的中心軸線上；(2)所述通孔中設(shè)有與其無(wú)間隙配合的準(zhǔn)直棒，所述準(zhǔn)直棒內(nèi)設(shè)有沿其軸向延伸且貫通所述準(zhǔn)直棒的準(zhǔn)直孔，所述準(zhǔn)直孔的中心軸線與所述通孔的中心軸線重合，所述兩個(gè)光闌間隔設(shè)置在所述準(zhǔn)直孔內(nèi)，所述兩個(gè)光闌的中心均位于所述準(zhǔn)直孔的中心軸線上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢具，其特征在于所述錐柄檢驗(yàn)棒除錐柄之外的部分為兩段直徑不等的同心圓柱體，所述規(guī)塊與直徑較小的圓柱體滑動(dòng)配合。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3或4所述的檢具，其特征在于所述錐柄的錐度為莫氏錐度。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢具，其特征在于所述檢具的材料為40Cr或2Crl3。
7.一種利用權(quán)利要求1-6中任意一項(xiàng)權(quán)利要求所述的檢具對(duì)包含旋轉(zhuǎn)機(jī)架的SPECT/ CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)整的方法，其中，所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架上設(shè)有與所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架的旋轉(zhuǎn)中心軸線同軸的檢測(cè)錐孔，所述檢測(cè)錐孔與所述錐柄檢驗(yàn)棒的至少一個(gè)錐柄相匹配，所述旋轉(zhuǎn)中心軸線與所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架的工作平面垂直，所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架上設(shè)有X射線探測(cè)器，所述X射線探測(cè)器的平面平行于所述旋轉(zhuǎn)中心軸線，其特征在于包括檢測(cè)所述旋轉(zhuǎn)中心軸線與所述X射線探測(cè)器的平面間平行度的方法，具體步驟為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，將千分表支架固定在所述規(guī)塊上，將所述千分表的檢測(cè)桿頭垂直輕壓于所述X射線探測(cè)器平面上，推動(dòng)所述規(guī)塊帶動(dòng)所述千分表沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的中心軸線作直線運(yùn)動(dòng)，并保持所述檢測(cè)桿頭與所述X射線探測(cè)器的平面的接觸，讀取所述千分表的示數(shù)變動(dòng)量，通過(guò)改變所述檢測(cè)桿頭在所述X射線探測(cè)器的平面上的接觸點(diǎn)的橫向位置， 重復(fù)上述檢測(cè)過(guò)程，讀取兩條或多條互相平行的運(yùn)動(dòng)軌跡線上所述千分表的示數(shù)變動(dòng)量， 并依據(jù)所述示數(shù)變動(dòng)量計(jì)算所述平行度的值。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于還包括調(diào)整所述系統(tǒng)的X射線光源的主光軸垂直于所述X射線探測(cè)器的平面且垂足為指定點(diǎn)的方法，其中所述X射線光源設(shè)置在所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架上，且其主光軸與所述X射線探測(cè)器的平面垂直，該方法的具體步驟為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，開啟所述X射線光源，交替調(diào)節(jié)項(xiàng)目(1)、(2)使所述X射線光源所發(fā)射的光束穿過(guò)所述通孔或準(zhǔn)直孔投射于所述X射線探測(cè)器平面上的圓或圓環(huán)重合在所述指定點(diǎn)，所述項(xiàng)目(1)為調(diào)整所述錐柄檢驗(yàn)棒的周向偏角和所述規(guī)塊在所述錐柄檢驗(yàn)棒的軸線方向的相對(duì)位置；所述項(xiàng)目(2)為調(diào)整所述X射線光源的主光軸的偏轉(zhuǎn)角度。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于還包括檢測(cè)所述旋轉(zhuǎn)中心軸線的徑向回轉(zhuǎn)精度的方法，具體步驟為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，固定設(shè)置千分表使其檢測(cè)桿頭沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的徑向分別輕壓在所述錐柄檢驗(yàn)棒的外圓柱面上相距較遠(yuǎn)的兩處，轉(zhuǎn)動(dòng)所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架使其帶動(dòng)所述錐柄檢驗(yàn)棒旋轉(zhuǎn)，分別讀取所述千分表示數(shù)的最大變動(dòng)量，或者，將所述檢測(cè)桿頭沿所述錐柄檢驗(yàn)棒的徑向輕壓在所述錐柄檢驗(yàn)棒的靠近其外伸一端的外圓柱面上，讀取所述千分表示數(shù)的最大變動(dòng)量。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于還包括校正所述系統(tǒng)的樣品床的送樣軸線與所述旋轉(zhuǎn)中心軸線同軸的方法，具體過(guò)程為將所述錐柄檢驗(yàn)棒的相應(yīng)錐柄插入所述檢測(cè)錐孔，使所述樣品床靠近所述旋轉(zhuǎn)機(jī)架，調(diào)整所述樣品床的送樣軸線使所述樣品床的安裝孔對(duì)準(zhǔn)所述錐柄檢驗(yàn)棒的外伸端的突出端面直到二者重合，或者，使所述錐柄檢驗(yàn)棒的外伸端的錐柄插入所述樣品床的安裝孔。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種檢具及用其對(duì)SPECT/CT雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)整的方法，所述檢具包括錐柄檢驗(yàn)棒和套在所述錐柄檢驗(yàn)棒的外圓柱面上并與所述錐柄檢驗(yàn)棒滑動(dòng)配合的規(guī)塊，所述錐柄檢驗(yàn)棒的至少一端設(shè)有莫氏錐柄，所述規(guī)塊上設(shè)有通孔，所述通孔的中心軸線與所述錐柄檢驗(yàn)棒的中心軸線垂直且相交，所述錐柄檢驗(yàn)棒上設(shè)有與所述通孔相對(duì)應(yīng)的貫通孔，所述檢具還包括兩個(gè)光闌，所述兩個(gè)光闌垂直于所述通孔的中心軸線間隔設(shè)置，其中心均與該軸線重合。該檢具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作靈活方便，具備測(cè)量同心度、平行度、垂直度等多種功能。采用上述方法可實(shí)現(xiàn)對(duì)雙模態(tài)生物成像系統(tǒng)的同軸度、平行度、垂直度等多個(gè)項(xiàng)目的檢測(cè)、調(diào)整，操作簡(jiǎn)單，可信度高。
文檔編號(hào)A61B6/03GK102252585SQ20111011406
公開日2011年11月23日 申請(qǐng)日期2011年5月4日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月4日
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