識(shí)別關(guān)注對象的特征及處理斷層圖像的方法和設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及識(shí)別關(guān)注對象的特征及處理斷層圖像的方法和設(shè)備。提供一種用于判斷在斷層圖像中被測對象的特征的位置的方法和設(shè)備,該方法包括:在附加圖像中確定關(guān)注對象的特征的特征點(diǎn);基于檢測到的特征點(diǎn)確定在附加圖像中與特征相關(guān)的位置數(shù)據(jù);以及在斷層圖像中識(shí)別關(guān)注對象的特征,其中,使用附加圖像中的所確定的位置數(shù)據(jù)來引導(dǎo)識(shí)別。本發(fā)明還涉及一種計(jì)算機(jī)可讀取的載體介質(zhì),其可以是非易失性的并且在由處理器執(zhí)行的情況下配置計(jì)算機(jī)以執(zhí)行該方法。
【專利說明】識(shí)別關(guān)注對象的特征及處理斷層圖像的方法和設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種用于在使用光學(xué)相干斷層成像(OCT)的攝像系統(tǒng)中確定被測對象的特征在斷層圖像中的位置的方法和設(shè)備。特別地,但非排他地,本發(fā)明涉及在光學(xué)斷層圖像數(shù)據(jù)獲取、特別是OCT掃描期間檢測在眼的特定層之間的邊界以及檢測諸如視盤(盲點(diǎn))或者中央凹等的某些眼特有的特征?!颈尘凹夹g(shù)】
[0002]光學(xué)相干斷層成像(OCT)是一種用于進(jìn)行能夠提供組織結(jié)構(gòu)的圖像的高分辨率截面攝像的技術(shù)。OCT是一種確定樣本在OCT光束的方向上的散射分布的干涉的方法。各個(gè)散射分布被稱作軸向掃描、或者A掃描。跨結(jié)構(gòu)的一系列A掃描使得能夠?qū)νㄟ^組織的前部或者后部的平面進(jìn)行截面的重建。這稱為B掃描。
[0003]利用光學(xué)相干斷層成像結(jié)果(結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù))的層分割和特征識(shí)別(分割/特征)算法是大部分市售的 OCT 裝置(例如 SOCT Copernicus, Optopol ;RS-3000, Nidek; 0CT-2000,Topcon; Cirrus HD-OCT, Carl Zeiss Meditec)提供的基本功能。
[0004]分割/特征算法試圖檢測在特定層之間的邊界以及檢測諸如視盤(盲點(diǎn))或者中央凹等的某些眼特有的特征。在許多情況下,能夠使用健康眼的模型來進(jìn)行精確的層分割。然而,在對某些病變眼攝像的情況下該方法失敗。已知的方法中還存在以下缺陷,即難以對單個(gè)斷層圖像(即,在XZ或者YZ平面中進(jìn)行的單個(gè)B掃描,其中Z軸表示攝像樣本的深度)進(jìn)行精確的層分割和/或特征檢測。這樣的困難是由于缺乏關(guān)于視網(wǎng)膜的被掃描區(qū)域的位置的信息。在這種情況下以及在諸如視網(wǎng)膜中的洞等的某些病變的情況下,可能將假非解剖區(qū)域識(shí)別為視盤區(qū)域。
[0005]為了克服上述不足,能夠通過分析從3D OCT數(shù)據(jù)所重建的眼底狀圖像(即,在XY平面上的投影圖像)的特征來獲得附加信息。關(guān)于視盤的位置的附加信息對于改進(jìn)分割/特征算法的性能非常有用。附加信息可以用于與視盤的位置相關(guān)地確定單個(gè)B掃描的位置,并且基于該信息,調(diào)整和/或修改分割算法的參數(shù)。然而,由于以下原因中的一個(gè)或者多個(gè)而不能進(jìn)行基于3D OCT數(shù)據(jù)量的視盤檢測:
[0006]在視盤附近的斷層圖像的質(zhì)量不足以進(jìn)行成功的檢測;
[0007]檢查區(qū)域不包括視盤;或者
[0008]檢查區(qū)域包括視盤,但是由于3D數(shù)據(jù)的低分辨率(例如,B掃描和/或A掃描的數(shù)量少)而不能檢測。
[0009]因此,對用于與視網(wǎng)膜的例如視盤的某些共同特征相關(guān)地識(shí)別B掃描的位置的改進(jìn)方法存在需求。因此,需要有在分割處理之前找到視盤(或者視網(wǎng)膜的其它特征)的位置的產(chǎn)品或者處理。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0010]為了實(shí)現(xiàn)上述目標(biāo),在第一方面中提供了一種用于在斷層圖像中識(shí)別關(guān)注對象的特征的方法,該方法包括:
[0011]-在附加圖像中確定關(guān)注對象的特征的特征點(diǎn);
[0012]-基于檢測到的特征點(diǎn)確定在附加圖像中與特征相關(guān)的位置數(shù)據(jù);以及
[0013]-在斷層圖像中識(shí)別關(guān)注對象的特征,其中,使用所確定的在附加圖像中的位置數(shù)據(jù)來引導(dǎo)識(shí)別。
[0014]在一個(gè)實(shí)施例中,斷層圖像中的特征和附加圖像中的特征是關(guān)注對象的相同特征。
[0015]優(yōu)選為附加圖像不是斷層圖像。例如,可以通過以掃描激光檢眼鏡、眼底照相機(jī)或者其它視網(wǎng)膜攝像裝置攝像來獲得附加圖像。
[0016]在一個(gè)實(shí)施例中弓丨導(dǎo)識(shí)別包括校正特征的初始識(shí)別。
[0017]優(yōu)選為引導(dǎo)識(shí)別包括使附加圖像的位置數(shù)據(jù)與斷層圖像的位置數(shù)據(jù)相匹配。
[0018]有利地,引導(dǎo)識(shí)別還包括利用匹配后的位置數(shù)據(jù)來確定在斷層圖像中的如下關(guān)注區(qū)域,其中,要在該關(guān)注區(qū)域中搜索在斷層圖像中要識(shí)別的特征。
[0019]在一個(gè)實(shí)施例中,通過利用圖像匹配算法將附加圖像與斷層圖像對齊來進(jìn)行將附加圖像的位置數(shù)據(jù)與斷層圖像的位置數(shù)據(jù)的匹配。
[0020]在其它實(shí)施例中,通過手動(dòng)地將附加圖像與斷層圖像對齊來進(jìn)行將附加圖像的位置數(shù)據(jù)與斷層圖像的位置數(shù)據(jù)的 匹配。
[0021]在其它實(shí)施例中,通過確定在附加圖像與斷層圖像之間的關(guān)系并且利用所確定的關(guān)系來將附加圖像與斷層圖像對齊來進(jìn)行將附加圖像的位置數(shù)據(jù)與斷層圖像的位置數(shù)據(jù)的匹配。
[0022]在其它實(shí)施例中,通過確定在硬件組件之間的關(guān)系并且利用所確定的關(guān)系來將附加圖像與斷層圖像對齊來進(jìn)行將附加圖像的位置數(shù)據(jù)與斷層圖像的位置數(shù)據(jù)的匹配。
[0023]有利地,可以將斷層圖像轉(zhuǎn)換為二維圖像。
[0024]優(yōu)選為,關(guān)注對象為眼并且特征與眼中的視網(wǎng)膜的視盤相關(guān)。
[0025]在一個(gè)實(shí)施例中,將與視盤相關(guān)的特征用于限定對視網(wǎng)膜的層的厚度的校正區(qū)域。
[0026]在其它實(shí)施例中,將與視盤相關(guān)的特征用于限定會(huì)聚視網(wǎng)膜的層的區(qū)域。
[0027]在其它實(shí)施例中,將與視盤相關(guān)的特征用于限定去除牽拉(traction)的假陽性檢測的區(qū)域。
[0028]有利地,根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備適于進(jìn)行用于在斷層圖像中識(shí)別關(guān)注對象的特征的方法。
[0029]根據(jù)本發(fā)明的計(jì)算機(jī)可讀取的介質(zhì)優(yōu)選為包括在執(zhí)行的情況下使得裝置執(zhí)行用于在斷層圖像中識(shí)別關(guān)注對象的特征的方法的指示。計(jì)算機(jī)可讀取的載體介質(zhì)可以是非易失性的。
[0030]在另一方面中提供一種用于處理斷層圖像的方法,該方法包括,在斷層圖像中識(shí)別視盤;在斷層圖像中檢測層邊界;以及,在斷層圖像中,將檢測出的層邊界會(huì)聚到識(shí)別出的視盤周圍的視網(wǎng)膜色素上皮層(RPE)的端部。
[0031]在一個(gè)實(shí)施例中,檢測包括檢測多個(gè)層邊界,并且會(huì)聚包括將除在玻璃體與視網(wǎng)膜神經(jīng)纖維層(RNFL)之間檢測到的任何邊界之外的各個(gè)檢測到的層邊界會(huì)聚到識(shí)別出的視盤周圍的視網(wǎng)膜色素上皮層的端部。
[0032]在另一方面中,提供一種用于處理斷層圖像的方法,該方法包括,在斷層圖像中識(shí)別視盤;以及在斷層圖像中沿著從識(shí)別出的視盤內(nèi)部開始并且朝向斷層圖像的邊緣結(jié)束的路徑檢測視網(wǎng)膜神經(jīng)纖維層。
[0033]在其它方面中,提供了一種用于在斷層圖像中識(shí)別關(guān)注對象的特征的設(shè)備,所述設(shè)備包括:_第一確定部件,用于在附加圖像中確定所述關(guān)注對象的特征的特征點(diǎn);-第二確定部件,基于檢測到的特征點(diǎn)確定所述附加圖像中的與所述特征相關(guān)的位置數(shù)據(jù);以及-識(shí)別部件,用于在所述斷層圖像中識(shí)別所述關(guān)注對象的特征,其中,使用所確定的所述附加圖像中的位置數(shù)據(jù)來引導(dǎo)所述識(shí)別。
[0034]在其它方面中,提供了一種用于處理斷層圖像的設(shè)備,所述設(shè)備包括:_識(shí)別部件,用于在斷層圖像中識(shí)別視盤;-檢測部件,用于在所述斷層圖像中檢測層邊界;以及-會(huì)聚部件,用于在所述斷層圖像中,使檢測到的層邊界會(huì)聚到識(shí)別出的視盤周圍的視網(wǎng)膜色素上皮層的端部。
[0035]在其它方面中,提供了一種用于處理斷層圖像的設(shè)備,所述設(shè)備包括:_識(shí)別部件,用于在斷層圖像中識(shí)別視盤;以及-檢測部件,用于在所述斷層圖像中沿著從識(shí)別出的視盤內(nèi)部開始并且朝向所述斷層圖像的邊緣終止的路徑來檢測視網(wǎng)膜神經(jīng)纖維層。
[0036]可以將通過根據(jù)本發(fā)明的方法和設(shè)備獲得的數(shù)據(jù)用于改進(jìn)進(jìn)一步分析的結(jié)果,例如可以不管OCT而檢測到視盤的位置和形狀以及中央凹的位置。可以減小用于OCT視盤檢測算法的搜索區(qū)域從而改進(jìn)結(jié)果的性 能和質(zhì)量。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0037]現(xiàn)在將以示例方式對附圖進(jìn)行參考,其中:
[0038]圖1示出根據(jù)本發(fā)明的方法的實(shí)施例的具有SLO視盤檢測的流程圖;
[0039]圖2示出具有SLO視盤檢測的用于層分析的方法的流程圖;
[0040]圖3示出在圖1中的步驟S104和S105中所利用的OCT視盤搜索區(qū)域與眼底圖像之間的關(guān)系;
[0041]圖4示出在圖2的步驟S203中將錯(cuò)誤地檢測為層的牽拉去除后的結(jié)果圖像;以及
[0042]圖5示出在圖2的步驟S204中去除從內(nèi)部視盤區(qū)域檢測到的層后的結(jié)果圖像。
【具體實(shí)施方式】
[0043]在第一實(shí)施例中,在OCT數(shù)據(jù)獲取的同時(shí)由第二攝像設(shè)備拍攝視網(wǎng)膜的圖像。在本實(shí)施例中,第二攝像設(shè)備包括掃描激光檢眼鏡(SLO),其獲得視網(wǎng)膜的圖像,但是應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明不限于此??梢允褂眠m合于獲得關(guān)注特征的圖像的任何適合的攝像設(shè)備。例如,對于用以識(shí)別視盤的視網(wǎng)膜攝像,可以使用適合于視網(wǎng)膜攝像的眼底照相機(jī)或者其它類似
>j-U ρ?α裝直。
[0044]基于所拍攝的圖像來獲得所拍攝的視網(wǎng)膜的特定特征的位置。
[0045]參考圖1,示出本發(fā)明的實(shí)施例的流程圖??偟膩碚f,首先在附加圖像上檢測視盤位置。這可以通過應(yīng)用諸如邊緣檢測濾波器、檢測圓形區(qū)域的變換等的常見圖像處理技術(shù)來實(shí)現(xiàn)。[0046]這生成包括諸如視盤中心的坐標(biāo)以及表示視盤邊界的多邊形等的視盤位置的一組數(shù)據(jù)。
[0047]第二,將附加圖像與OCT掃描區(qū)域?qū)R以使得在附加圖像上可見的視網(wǎng)膜特征的位置與那些元素在OCT圖像上的位置對齊??梢酝ㄟ^準(zhǔn)備OCT數(shù)據(jù)的二維投影并且使用任何適合的數(shù)學(xué)優(yōu)化技術(shù)來進(jìn)行這樣的操作,以找到這兩個(gè)圖像的最佳匹配。在找到這樣的最佳匹配變換的情況下,將從附加圖像提取的數(shù)據(jù)變換到OCT數(shù)據(jù)的空間,由此使其能夠在OCT檢測算法中使用。
[0048]根據(jù)圖1中示出的優(yōu)選實(shí)施例,在步驟SlOl中,通過應(yīng)用一系列圖像濾波器以增強(qiáng)圖像并且去除噪聲(諸如高斯模糊或者中位數(shù))來檢測視網(wǎng)膜圖像上的視盤。隨后,使用諸如Hough變換或者檢測視盤邊緣的定向?yàn)V波器組等的被設(shè)計(jì)用于檢測圖像上的圓形區(qū)域的任何算法。結(jié)果包括在視網(wǎng) 膜圖像上所確定的視盤的中心的坐標(biāo)以及描繪視盤邊界的多邊形。
[0049]在步驟S102中,將在步驟SlOl中所確定的坐標(biāo)匹配或者轉(zhuǎn)換到OCT圖像空間。步驟S102中的匹配處理可以按以下方法之一進(jìn)行:
[0050]通過適當(dāng)?shù)貙R硬件組件,以使得視網(wǎng)膜圖像與OCT掃描區(qū)域的關(guān)系已知。接著,能夠利用在硬件組件之間已知的幾何關(guān)系來將SLO和OCT數(shù)據(jù)集兩者對齊;
[0051]通過確定在視網(wǎng)膜圖像與OCT數(shù)據(jù)之間的關(guān)系(例如,依賴于在視網(wǎng)膜和OCT攝像中的一個(gè)或者兩者中所使用的掃描參數(shù)組的函數(shù))并且進(jìn)行特定計(jì)算以對齊兩個(gè)數(shù)據(jù)集;
[0052]通過利用傳統(tǒng)的圖像匹配算法來將視網(wǎng)膜圖像與OCT投影圖像對齊;
[0053]通過手動(dòng)對齊圖像(例如,通過將視網(wǎng)膜圖像和OCT圖像投影在顯示器上并且讓用戶調(diào)整某一個(gè)所顯示的圖像的參數(shù),直到圖像變得對齊為止)。
[0054]在視網(wǎng)膜圖像上檢測到視盤并且視網(wǎng)膜圖像與OCT數(shù)據(jù)適當(dāng)對齊的情況下,可以執(zhí)行步驟S103并且檢查OCT是否包含視盤區(qū)域。如果是,則可以進(jìn)行在OCT圖像上的視盤檢測。否則,隨后的所有用于特征檢測的算法在層檢測期間可以將視網(wǎng)膜圖像視盤檢測用
作參考。
[0055]根據(jù)優(yōu)選實(shí)施例,將OCT數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為類似眼底圖像的二維圖像,即投影圖像。可以以與在視網(wǎng)膜圖像上檢測視盤相似的方式來執(zhí)行在投影圖像上的視盤檢測(圖1中的步驟S104和S105)。然而,可以以若干方式來利用在視網(wǎng)膜圖像檢測上的視盤檢測以改進(jìn)并且簡化OCT視盤檢測算法。例如:
[0056]可以將視網(wǎng)膜圖像視盤檢測的AABB (軸向?qū)R包圍框)映射到OCT坐標(biāo)系中以限制搜索區(qū)域。這在圖3中示出,其中示出已拍攝了視盤305的視網(wǎng)膜圖像301。將包圍視網(wǎng)膜圖像301中所檢測到的視盤特征的包圍框303映射或者投影到OCT圖像數(shù)據(jù)的相對應(yīng)的區(qū)域304上。由所投影的包圍框區(qū)域303來限制OCT檢測算法搜索視盤的區(qū)域;
[0057]在視網(wǎng)膜圖像檢測表示視盤位于OCT數(shù)據(jù)的邊緣的情況下,OCT視盤檢測算法可以相對應(yīng)地調(diào)整視盤位置以反映這一點(diǎn);
[0058]OCT檢測算法可以將在OCT圖像上檢測到的視盤的形狀與在視網(wǎng)膜圖像上檢測到的視盤的形狀相比較。形狀之間的相關(guān)性或者相似度提供了關(guān)于識(shí)別是否可靠的度量。例如,可以使用用于確定相關(guān)值的任何數(shù)學(xué)運(yùn)算。[0059]需要在步驟S106/S107檢查是否在OCT圖像中檢測到了視盤。由于病變、圖像偽影或者OCT檢測的質(zhì)量差,OCT檢測的結(jié)果可能沒有好到足以在隨后的層檢測處理中使用。在這種情況下,有必要使用視網(wǎng)膜圖像檢測結(jié)果以保留使用某些層檢測改進(jìn)的可能性。
[0060]因此,在SLO上檢測視盤后,例如可以將所提取的SLO位置數(shù)據(jù)用于至少以下目的:
[0061]在OCT檢測失敗(或者不可用)的情況下,在層檢測算法中利用檢測到的SLO視盤位置數(shù)據(jù)而不是OCT檢測;
[0062]從層檢測中排除從SLO圖像所檢測到的視盤區(qū)域(解剖學(xué)上,那里不存在層);
[0063]使層會(huì)聚到RPE邊界在解剖學(xué)上到達(dá)視神經(jīng)并且中斷的點(diǎn);以及
[0064]符合在視盤區(qū)域附近的層厚度上的差異。
[0065]解剖學(xué)上,在視盤區(qū)域內(nèi)部不存在牽拉,因此在那里能夠清楚地確定玻璃體/RNFL邊界的位置。接著,可以使用此信息將牽拉區(qū)別于玻璃體/RNFL層(二者具有相似的梯度)以改進(jìn)分析結(jié)果。
[0066]以下將參考圖2來說明利用在視網(wǎng)膜圖像中的視盤檢測來引導(dǎo)或者輔助層檢測的識(shí)別以及識(shí)別的這些方面。
[0067]在圖2的步驟S201中進(jìn)行初始層檢測。在使用從視網(wǎng)膜圖像所轉(zhuǎn)換的視盤位置信息引導(dǎo)OCT圖像中的層檢測結(jié)果之前 需要這一步。例如,該檢測可以通過以下方法中的一個(gè)或者多個(gè)來進(jìn)行:
[0068]應(yīng)用梯度濾波器以暴露在層之間的亮度差異;以及
[0069]利用邊緣跟蹤算法。
[0070]可以在初始檢測中使用視盤檢測的結(jié)果,以使得算法忽略不能可靠地進(jìn)行層檢測的區(qū)域。
[0071]有時(shí),在初始檢測的處理中,某些層被錯(cuò)誤地檢測-例如,其檢測到的垂直位置可能過低或者過高。由于斷層圖像的質(zhì)量差異以及層的亮度上的相似,因此有時(shí)可能將(如斷層圖像上所見的)較低層檢測為較高層。因而,在步驟S202中,基于在視盤附近的解剖層厚度來校正OCT圖像的所檢測到的層。
[0072]解剖學(xué)上,在眼的不同區(qū)域中,層一般不超過厚度的限定范圍。通過檢查層是否符合適當(dāng)?shù)暮穸确秶⑶以谛枰那闆r下進(jìn)行一些調(diào)整,關(guān)于視盤的信息可以提供校正被錯(cuò)誤地檢測的層的方法。
[0073]在檢測期間,有時(shí)可能將病變檢測為層。例如,牽拉具有與RNFL層非常類似的噪聲特征。因此,會(huì)將牽拉錯(cuò)誤地檢測為RNFL層,造成對其余全部層的錯(cuò)誤檢測。然而,在視盤的附近一般不存在牽拉,因此能夠使用所檢測到的視盤位置將RNFL層區(qū)別于這些病變。通過在圖2的方法的步驟S203中使用視盤位置去除對牽拉的假陽性檢測來利用該屬性。
[0074]在圖4中更詳細(xì)地示出了典型情況,其中圖4示出與所要檢測的RNFL層403幾乎對齊的牽拉401。存在可能將牽拉401誤識(shí)別為RNFL層的一部分的風(fēng)險(xiǎn)。然而,能夠?qū)z測到的視盤的位置用于確定從所檢測到的視盤區(qū)域內(nèi)部開始并且在斷層圖像的邊緣結(jié)束的追蹤路徑402。接著,算法可以嘗試從檢測到的視盤區(qū)域向斷層圖像的邊緣追蹤RNFL層,由此避開了牽拉。作為替代,算法可以對檢測到的邊界片段分配值以選擇有效的層邊界而非牽拉。[0075]按照人眼解剖學(xué),在視盤區(qū)域內(nèi)部不存在視網(wǎng)膜層。在步驟S204中利用了該屬性。算法在檢測層邊界時(shí)可以省略此區(qū)域以避免假陽性檢測。
[0076]在圖5中示出了這一點(diǎn),其中502示出應(yīng)當(dāng)省略層邊界的檢測的檢測到的視盤區(qū)域。
[0077]按照人眼解剖學(xué),全部的視網(wǎng)膜層邊界(除了玻璃體/RNFL以外)會(huì)聚到RPE層在視神經(jīng)頭周圍終止的位置。因此,在步驟S205中,可以使用基于檢測到的視盤位置的信息進(jìn)行必要的調(diào)整,以使得所檢測到(除RNFL層以外)的層適于反映該已知屬性。例如,可以強(qiáng)制使非RNFL層的層邊界在兩側(cè)會(huì)聚到RPE端部。
[0078]在圖5中示出了這一點(diǎn),其中示出跨視盤區(qū)域502連續(xù)的原始檢測到的層邊界503。將校正后的層邊界504強(qiáng)制會(huì)聚到基于檢測到的視盤區(qū)域502而確定的RPE端部505a和505b,從而存在非RNFL邊界被強(qiáng)制會(huì)聚的會(huì)聚區(qū)域501。
[0079]在其它實(shí)施例中,SLO視盤多邊形的形狀可以用于評價(jià)OCT投影圖像的縮放比率。`接著,可以使用OCT投影圖像來檢測視盤。在檢測后,OCT圖像上的視盤具有圓形的形狀的概率高,這實(shí)際上簡化了檢測處理。
[0080]上述實(shí)施例涉及眼的OCT攝像,然而,應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明還適用于具有相似的定義良好的形狀和結(jié)構(gòu)的其它對象的攝像。例如,手指和腳趾或者包括分層的物質(zhì)或組織的任何其它對象。此外,除了層檢測以外,也可以對圖像對象上可見的任何其它特征進(jìn)行這里說明的有利的方法。
[0081]盡管已說明了體現(xiàn)本發(fā)明的啟示的各種實(shí)施例,但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員還能容易地設(shè)計(jì)仍然體現(xiàn)這些啟示的許多其它變形實(shí)施例。
[0082]體現(xiàn)本發(fā)明的方法也可以是計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法。因此,本發(fā)明擴(kuò)展到在由計(jì)算機(jī)或者處理器執(zhí)行的情況下、使得計(jì)算機(jī)或者處理器執(zhí)行以上說明的任何方法的程序。
[0083]這樣的程序可以由其自身提供、或者可以承載在載體介質(zhì)中、由載體介質(zhì)承載或者在載體介質(zhì)上承載。載體介質(zhì)可以是存儲(chǔ)介質(zhì)或者記錄介質(zhì)、特別是計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)。示例包括硬盤驅(qū)動(dòng)器、DVD或者存儲(chǔ)器裝置。
[0084]載體介質(zhì)還可以是諸如信號(hào)等的傳輸介質(zhì)。因此,可以通過包括因特網(wǎng)的網(wǎng)絡(luò)來以信號(hào)的形式發(fā)布、下載或者上傳體現(xiàn)本發(fā)明的程序。
[0085]該程序可以是非易失性的。
【權(quán)利要求】
1.一種用于在斷層圖像中識(shí)別關(guān)注對象的特征的方法,所述方法包括: -在附加圖像中確定所述關(guān)注對象的特征的特征點(diǎn); -基于檢測到的特征點(diǎn)確定所述附加圖像中的與所述特征相關(guān)的位置數(shù)據(jù);以及 -在所述斷層圖像中識(shí)別所述關(guān)注對象的特征,其中,使用所確定的所述附加圖像中的位置數(shù)據(jù)來引導(dǎo)所述識(shí)別。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述斷層圖像中的所述特征和所述附加圖像中的所述特征是所述關(guān)注對象的相同特征。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述附加圖像不是斷層圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,引導(dǎo)所述識(shí)別包括校正所述特征的初始識(shí)別。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,引導(dǎo)所述識(shí)別包括使所述附加圖像的所述位置數(shù)據(jù)與所述斷層圖像的位置數(shù)據(jù)匹配。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其中,引導(dǎo)所述識(shí)別還包括利用匹配后的位置數(shù)據(jù)來確定在所述斷層圖像中的如下關(guān)注區(qū)域,其中,要在該關(guān)注區(qū)域中搜索在所述斷層圖像中要識(shí)別的所述特征。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其中,通過利用圖像匹配算法將所述附加圖像與所述斷層圖像對齊,進(jìn)行所述附加圖像的所述位置數(shù)據(jù)與所述斷層圖像的位置數(shù)據(jù)的匹配。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其中,通過手動(dòng)地將所述附加圖像與所述斷層圖像對齊,進(jìn)行所述附加圖像的所述位 置數(shù)據(jù)與所述斷層圖像的位置數(shù)據(jù)的匹配。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其中,通過確定在所述附加圖像與所述斷層圖像之間的關(guān)系、并且利用所確定的關(guān)系來將所述附加圖像與所述斷層圖像對齊,進(jìn)行所述附加圖像的所述位置數(shù)據(jù)與所述斷層圖像的位置數(shù)據(jù)的匹配。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其中,通過確定在硬件組件之間的關(guān)系、并且利用所確定的關(guān)系來將所述附加圖像與所述斷層圖像對齊,進(jìn)行所述附加圖像的所述位置數(shù)據(jù)與所述斷層圖像的位置數(shù)據(jù)的匹配。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,將所述斷層圖像轉(zhuǎn)換為二維圖像。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述關(guān)注對象為眼,并且所述特征與眼中的視網(wǎng)膜的視盤相關(guān)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其中,使用與視盤相關(guān)的所述特征限定對視網(wǎng)膜的層的厚度的校正區(qū)域。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其中,使用與視盤相關(guān)的所述特征限定使視網(wǎng)膜的層會(huì)聚的區(qū)域。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其中,使用與視盤相關(guān)的所述特征限定用于去除對牽拉的假陽性檢測的區(qū)域。
16.一種用于處理斷層圖像的方法,所述方法包括: -在斷層圖像中識(shí)別視盤; -在所述斷層圖像中檢測層邊界;以及 -在所述斷層圖像中,使檢測到的層邊界會(huì)聚到識(shí)別出的視盤周圍的視網(wǎng)膜色素上皮層的端部。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法,其中,所述檢測包括檢測多個(gè)所述層邊界,并且所述會(huì)聚包括將除在玻璃體與視網(wǎng)膜神經(jīng)纖維層之間檢測到的任何邊界之外的各個(gè)檢測到的層邊界會(huì)聚到識(shí)別出的視盤周圍的視網(wǎng)膜色素上皮層的端部。
18.一種用于處理斷層圖像的方法,所述方法包括: -在斷層圖像中識(shí)別視盤;以及 -在所述斷層圖像中沿著從識(shí)別出的視盤內(nèi)部開始并且朝向所述斷層圖像的邊緣終止的路徑來檢測視網(wǎng)膜神經(jīng)纖維層。
19.一種用于在斷層圖像中識(shí)別關(guān)注對象的特征的設(shè)備,所述設(shè)備包括: -第一確定部件,用于在附加圖像中確定所述關(guān)注對象的特征的特征點(diǎn); -第二確定部件,基于檢測到的特征點(diǎn)確定所述附加圖像中的與所述特征相關(guān)的位置數(shù)據(jù);以及 -識(shí)別部件,用于在所述斷層圖像中識(shí)別所述關(guān)注對象的特征,其中,使用所確定的所述附加圖像中的位置數(shù)據(jù)來引導(dǎo)所述識(shí)別。
20.一種用于處理斷層圖像的設(shè)備,所述設(shè)備包括: -識(shí)別部件,用于在斷層圖像中識(shí)別視盤; -檢測部件,用于在所述斷層圖像中檢測層邊界;以及 -會(huì)聚部件,用于在所述斷層圖像中,使檢測到的層邊界會(huì)聚到識(shí)別出的視盤周圍的視網(wǎng)膜色素上皮層的端部?!?br>
21.一種用于處理斷層圖像的設(shè)備,所述設(shè)備包括: -識(shí)別部件,用于在斷層圖像中識(shí)別視盤;以及 -檢測部件,用于在所述斷層圖像中沿著從識(shí)別出的視盤內(nèi)部開始并且朝向所述斷層圖像的邊緣終止的路徑來檢測視網(wǎng)膜神經(jīng)纖維層。
【文檔編號(hào)】A61B3/12GK103565404SQ201310326084
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2013年7月30日 優(yōu)先權(quán)日:2012年7月30日
【發(fā)明者】L·品特爾, K·彼得羅夫斯基, M·波佩克, W·蘇拉, K·左克夫斯基 申請人:佳能株式會(huì)社