成像設備的位置校準和誤差補償裝置及其補償方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種成像設備的位置校準和誤差補償裝置及其補償方法。其特征在于，通過對校準桿裝置進行交角成像，并獲取一對X-ray圖像，計算此對X-ray圖像上校準桿裝置校準球和圖像中心點在圖像上的二維偏差值，將所獲得的一對二維偏差值轉換至以理想定位中心點為原點的三維空間值，得到成像設備位置誤差造成的定位中心點三維空間誤差值。卸下校準桿，重新安裝，重復此過程六次，將獲得誤差統(tǒng)計平均值，作為系統(tǒng)的機械誤差補償值，載入系統(tǒng)的配置文件。在使用系統(tǒng)過程中，系統(tǒng)自動地用此三維誤差值對X-ray圖像進行移動補償，達到因成像設備位置不精確造成的系統(tǒng)誤差的校準目的。
【專利說明】成像設備的位置校準和誤差補償裝置及其補償方法

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種位置誤差校準和補償裝置及其補償方法，具體涉及一種成像設備的位置校準和誤差補償裝置及其補償方法。

【背景技術】
[0002]放射治療在腫瘤治療中占有越來越重要地位，約60-70%的腫瘤癌癥患者需接受放射治療。圖像引導放射治療(IGRT)是近十幾年逐步發(fā)展起來的腫瘤精確放射治療的最新理論和技術，它通過先進的醫(yī)學影像設備及圖像處理方法對患者的病灶在治療前和治療中進行定位跟蹤，實現(xiàn)對腫瘤的精確放射治療，降低對腫瘤周邊正常組織及關鍵器官的損傷，改善病人的治療效果。圖像引導是現(xiàn)代新興放射治療技術的基礎，如立體定向神經(jīng)放射外科手術(SRS)、立體定向體部放射治療(SBRT)、圖像引導調強放射治療(IG-1MRT)。
[0003]圖像引導放療定位系統(tǒng)采用千伏級X射線交角透視成像技術，通過由計算機控制兩組千伏(KV)級X射線球管、X射線高壓發(fā)生器、非晶硅X射線平板探測器和曝光控制盒組成的硬件系統(tǒng)，對患者的內部解剖結構或外部植入金標進行兩個方向的透視成像，取得一對交角X射線數(shù)字圖像。將獲得的X射線數(shù)字圖像和計劃DRR (由治療計劃CT圖像生成)首先進行圖像解剖特征增強處理，然后通過二維-三維(2D-3D)圖像配準，計算出患者(病灶)的位置(等中心點)偏移，由此在治療前通過移動治療床來調整患者擺位，實現(xiàn)對腫瘤的精確定位。
[0004]患者(病灶)的位置(等中心點)的偏移值是根據(jù)取得的一對X射線圖像與CT圖像進行配準計算所得，一對X射線圖像與成像設備的位置、射線源到射線探測器的距離和角度有關。圖像引導放療定位系統(tǒng)對成像設備的位置和成像的幾何結構精度有嚴格的要求，成像設備的位置誤差會引起X射線圖像的偏移誤差，從而影響計算患者(病灶)位置的偏移值。
[0005]為精確校準X射線成像設備的位置和幾何關系，并對成像設備位置的誤差進行精確補償，本發(fā)明提出一種基于圖像配準的成像設備位置校準和誤差補償方法。在用激光束校準懸掛的非晶硅X射線平板探測器和X射線管的位置和幾何的基礎上，再進行基于圖像配準的精確校準和誤差補償。


【發(fā)明內容】

[0006]為了解決現(xiàn)有技術中存在的上述問題，成像設備的位置校準和誤差補償裝置及其補償方法，目的是用校準裝置、處理裝置以及控制裝置實現(xiàn)成像設備的位置校準和誤差補償，精確地校準圖像引導放療定位系統(tǒng)的成像設備位置，計算成像設備位置誤差，并對X射線圖像進行誤差補償。
[0007]本發(fā)明所采用的技術方案是:一種成像設備的位置校準和誤差補償裝置，包括:兩個平板探測器，兩個上述平板探測器呈一角度相對設置；x射線發(fā)生器，用于產(chǎn)生高壓電場及X射線管燈絲電流，并且用于控制X能量參數(shù)；兩個X射線管，用于產(chǎn)生X射線，兩個上述X射線管分別對應設于兩個上述平板探測器的一側，兩X射線管交叉設與平板探測器的底部，且分別與平板探測器相對設置，使得兩X射線管發(fā)射的X射線分別照射到平板探測器上，并且在平板探測器和X射線管之間形成一個交點，校準桿裝置，包括用于標定上述交點的校準球和用于安裝上述校準球的校準桿；處理裝置，用于對上述校準桿裝置進行X-ray圖像的采集和處理；控制裝置，用于控制平板探測器、X射線發(fā)生器以及X射線管的相對位置。
[0008]優(yōu)選的，上述校準桿頂端設為圓錐狀，上述校準球設于上述校準桿頂端的錐尖處。
[0009]本發(fā)明還提供另外一個技術方案，一種成像設備的位置校準和誤差補償裝置的補償方法，所述補償方法包括以下步驟:步驟1.安裝上述校準桿裝置，并且使上述校準球位于上述交點處；步驟2.設定上述X射線發(fā)生器的X能量參數(shù)使其激發(fā)上述X射線管向上述平板探測器發(fā)射X射線；步驟3.通過上述處理裝置采集并預處理一組所述校準桿裝置的第一X-ray圖像，將上述第一 X-ray圖像作為配準的參考圖像；步驟4.拆除上述校準桿裝置，并且重復步驟1-2 ;步驟5.再次通過上述處理裝置采集并預處理一組上述校準桿裝置的第二X-ray圖像，將上述第二 X_ray圖像作為第一浮動圖像；步驟6.通過處理裝置將上述參考圖像與上述第一浮動圖像進行配準計算，得到一組補償二維圖像偏移值(Λ XA,Δ YA)和(Δ ΧΒ、Λ YB);步驟7.通過處理裝置將上述補償二維圖像偏移值轉換成三維偏移值，即為補償定位中心點偏移值(ΛΧ、Λ Y、Λ Z);步驟8.通過處理裝置判定上述補償定位中心點偏移值各維度的絕對值是否同時小于設定的誤差最大允許值，若不滿足，則根據(jù)上述補償定位中心點偏移值通過控制裝置微調上述X射線管和上述平板探測器的位置，重復步驟1-8 ；若滿足，重復至少四次步驟3?步驟8 ;步驟9.通過處理裝置計算步驟8所得的至少四組上述補償二維圖像偏移值(Λ ΧΑ、Λ YA)和(Λ ΧΒ、Λ YB)的平均值，得到平均值為(Λ ΧΑ_mean、A YA_mean)和(Λ XB_mean、A YB_mean),并計算上述步驟7獲得的上述補償定位中心點偏移值的平均值，得到平均值為(Λ Xmean, Δ Ymean, Δ Zmean);步驟10.將上述平均值(Λ XA_mean、A YA_mean)> (Δ XB_mean、A YB_mean)和(Λ Xmean、A Ymean>Δ Zmean為誤差補償值，通過處理裝置載入上述控制裝置。
[0010]優(yōu)選的，上述步驟3中的預處理包括以下步驟:步驟1.通過處理裝置去除上述步驟3采集的上述X-ray圖像的背景；步驟i1.平移上述X_ray圖像使所述校準球的中心在所述X-ray圖像的中心點，通過處理裝置存儲平移后的上述X_ray圖像，將存儲的上述平移后的上述X-ray圖像作為配準的參考圖像。
[0011]優(yōu)選的,上述誤差最大允許值為3mm。
[0012]優(yōu)選的，上述步驟8中重復六次上述步驟3?步驟8，則上述步驟9中計算六對上述補償二維圖像偏移值的平均值。
[0013]優(yōu)選的，上述補償方法還包括設置于步驟10后的驗證步驟，上述驗證步驟包括:步驟a.將步驟10中的上述誤差補償值載入控制裝置中；步驟b.安裝校準桿裝置到上述步驟I相同的位置；步驟c.設定上述X射線發(fā)生器的X能量參數(shù)，采集一對校準桿裝置的X-ray圖像，采用誤差補償值對X_ray圖像進行位移校準，并作為配準的第二浮動圖像；步驟d.通過處理裝置將上述步驟3中的上述參考圖像與所述步驟c中的上述第二浮動圖像進行配準計算，得到一對驗證二維圖像偏移值(Λ XA,Δ YA)和(Λ XB,Δ YB);步驟e.通過處理裝置將上述步驟d得到的驗證二維圖像偏移值轉換成三維偏移值，即為第二定位中心點偏移值(厶乂、厶￥、厶2);步驟1重復至少四次上述步驟b?步驟e;步驟g.通過處理裝置計算上述步驟f所得的至少四對驗證二維圖像偏移值(Λ ΧΑ.ΔΥΑ)和(Λ ΧΒ、Λ YB)的平均值，得到平均值為(Λ XA_mean> Δ YA_mean)和(Λ XB_mean> Δ YB_mean),并計算上述步驟e獲得的所述第二定位中心點偏移值的平均值，得到平均值為(Λ Xmean,Δ Ymean,Δ Zmean);步驟h.通過處理裝置判定上述步驟g獲得的驗證平均定位中心點偏移值，是否滿足校準后的誤差允許值；若不滿足，則根據(jù)所獲得的誤差值補償值，微調X射線管的位置，并重新獲取新的誤差值補償值。
[0014]優(yōu)選的，上述校準后所獲得的最大誤差允許值為0.3mm, S卩| AXmean | < 0.3 mm&& I Δ Ymean | < 0.3 mm && Δ Zmean | < 0.3mmη
[0015]優(yōu)選的，重復六次上述步驟b?步驟e，則上述步驟g中計算上述步驟f得到的六對驗證二維圖像偏移值的平均值。
[0016]采用本技術方案的有益效果是:本發(fā)明公開了一種成像設備的位置校準和誤差補償裝置及其補償方法，通過對金屬校準桿進行交角成像，并獲取一對X-ray圖像，計算此對X-ray圖像上校準球中心和圖像中心點的二維偏差值，將所獲得的偏差值轉換至三維空間值，得到成像設備位置誤差造成的定點中心點三維空間誤差值，通過重復操作獲取多組定點中心點三維空間誤差值，并取此多組誤差值的平均值，作為系統(tǒng)的機械誤差補償值，不斷對成像設備進行補償，根據(jù)補償值不斷地調整系統(tǒng)成像設備的位置，來完成對成像設備位置不精確造成的系統(tǒng)誤差的校準。由于本發(fā)明采用多次校準，并通過校準補償?shù)姆椒炞C，使得校準誤差能控制在誤差允許的范圍內，能確保成像設備的精確位置校準。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017]圖1為本發(fā)明位置校準和誤差補償裝置的補償方法的流程示意圖；
圖2為本發(fā)明位置校準和誤差補償裝置的補償方法中誤差補償流程示意圖；
圖3為本發(fā)明位置校準和誤差補償裝置的補償方法的校準桿成像幾何空間示意圖。
[0018]圖中，1.平板探測器2.校準桿裝置。

【具體實施方式】
[0019]下面結合附圖詳細說明本發(fā)明的具體實施例。
[0020]實施例1
一種成像設備的位置校準和誤差補償裝置，包括兩個平板探測器I，兩個所述平板探測器I呈一角度相對設置；x射線發(fā)生器，用于產(chǎn)生高壓電場及X射線管燈絲電流，并且用于控制X能量參數(shù)；兩個X射線管，用于產(chǎn)生X射線，兩個上述X射線管分別對應設于兩個上述平板探測器I的一側，上述兩個X射線管發(fā)射的X射線交叉形成一個交點；校準桿裝置2，包括用于標定所述交點的校準球和用于安裝所述校準球的校準桿；處理裝置，用于對所述校準桿裝置進行X-ray圖像的采集和處理；控制裝置，用于控制平板探測器1、X射線發(fā)生器以及X射線管的相對位置。
[0021]成像設備的位置校準和誤差補償裝置的補償方法，包括步驟1.將校準桿裝置安裝在兩X射線管發(fā)射的兩條X射線照射到各自所對應的平板探測器中時交叉形成的交點處；步驟2.設定X射線發(fā)生器的X能量參數(shù)，采集一對校準桿裝置的X-ray圖像后拆卸校準桿裝置；步驟3.預處理所采集的校準桿裝置的X-ray圖像，并作為配準的參考圖像；步驟4.再次將校準桿裝置安裝到與步驟I中相同的地方；步驟5.設定所述X線發(fā)生器的X能量參數(shù)，再次采集一對X-ray圖像，并作為配準的浮動圖像后拆卸所述校準桿裝置；步驟6.將參考圖像與浮動圖像進行配準計算，得到一對二維圖像偏移值(Λ ΧΑ、Λ YA)和(Λ ΧΒ、Δ YB);步驟7.將二維圖像偏移值轉換成三維偏移值，即為定位中心點偏移值(Λ Χ、Λ Y、ΛΖ);步驟8.判定定位中心點偏移值各維度的絕對值是否同時小于3_，即判定是否I Λ X< 3 mm && Δ Y | < 3 mm && Δ Z 〈3 mm,若不滿足,則根據(jù)上述計算的補償定位中心點偏移值，微調X射線管和平板探測器的位置；若不滿足，重復步驟1-8，若滿足，則轉步驟9;步驟9.重復六次步驟4?步驟8;步驟10.計算步驟9所得的六對二維圖像偏移值(Λ ΧΑ、Λ YA)和(Λ ΧΒ、Λ YB)的平均值，得到平均值為(Λ XAjnean、Λ YAjnean)和(Δ XB_mean、A YB_mean)，并計算步驟7獲得的定位中心點偏移值的平均值，得到平均值為(Δ Xmean、A Ymean、A Zmean);步驟 11.將上述平均值(Λ XA_mean>Δ YA_mean)、(Δ ΧΒ_mean、A YB_mean)和(Λ Xmean> Δ Ymean> Δ Zmean)作為誤差補償值，載入所述控制裝置中。
[0022]下面介紹本實施例的校準及驗證的操作流程:
如圖1所示為獲取誤差補償值流程，首先開啟處理裝置，運行校準軟件mipTCP，選擇Calibrat1n System入口，進入Calibrat1n System界面；開啟成像硬件設備電源；點擊Initialize Hardware按鈕,開始初始化硬件設備；點擊Set X-Ray Parameters按鈕,將曝光參數(shù)設置為與獲取參考圖像時一致的參數(shù)；點擊Posit1ning按鈕，開始曝光采集X-Ray圖，并計算偏移量；重復曝光X-Ray圖，計算偏移量。
[0023]首先開啟安裝有校準軟件的處理裝置，運行校準軟件mipTCP，第I步.設置試驗次數(shù)變量η = O ;第2步.安裝校準桿裝置；第3步.按“Posit1ning”按鈕,曝光采圖，并計算校準桿上校準球的中心的三維偏移量Λ X (η),ΔΥ(η),ΔΖ (η)，以及兩X射線管分別在左、右方向和上、下方向上的調整值，記錄三維偏移量和X射線管調整值；第4步.拆卸校準桿；第5步，變量η自動加1，若η〈6，則轉向第2步；第6步，用每次檢驗得出的數(shù)據(jù)Δ X (η), Λ Y (η)以及Λ Z (η),計算并記錄平均值Λ Xmean、A Ymean、A Zmean ;第 7 步，判斷是否 I AXmeanI < 3 mm && Δ Ymean〈 3 mm && | Δ Zmean < 3mm,若不滿足，則根據(jù)兩X射線管分別根據(jù)左、右方向和上、下方向上的平均調整值，用內六角扳手和榔頭調整X射線管的位置，并設置重復驗證次數(shù)η = O,再轉第I步；第8步,按“Save Correct1ns”按鈕，保存Λ Xmean、Λ Ymean、Λ Zmean至配置文件內；第9步,再次設置重復試驗次數(shù)變量η = O ;第10步,安裝校準桿；第11步,按“Posit1ning”按鈕,系統(tǒng)自動用所得的誤差補償值Λ Xmean、Λ Ymean、Λ Zmean對X射線圖像進行位移的補償校準，對校準后的圖像進行配準計算,記錄計算的鋼球中心三維偏移量Λ Xcal (η), Λ Ycal (η), Δ Zcal (η),以及兩X射線管分別在左、右方向和上、下方向上的調節(jié)值，作為數(shù)據(jù)記錄;第12步，拆卸校準桿；第13步，設置η = η + I,若重復驗證次數(shù)η不足6次，則轉第10步；第14步，用每次檢驗得出的數(shù)據(jù)Λ Xcal (η), Δ Ycal (η), Δ Zcal (η),計算平均值Λ Xcal、Λ Ycal 以及Λ Zcal,作數(shù)據(jù)記錄；第15步，再判斷是否滿足I AXcalI〈 0.3 mm && | Δ Ycal 〈 0.3 mm &&
Δ Zcal < 0.3mm,若不滿足，則根據(jù)AXmean、AYmean、AZmean,用內六角扳手和榔頭微調X射線管的位置，并設置重復驗證次數(shù)η = 0，再轉第I步；第16步，系統(tǒng)機械校準及驗證結束。
[0024]下面介紹本實施例中的驗證方法:
驗證方法如下:第I步.將上述基于圖像配準的成像設備位置校準和誤差補償方法獲得的誤差補償值載入系統(tǒng)配置文件；第2步.安裝校準桿；第3步.在上述X射線能量參數(shù)下，拍攝一對校準桿的X-ray圖像，系統(tǒng)自動用所得的誤差補償值對X射線圖像進行位移的補償校準，補償后的X射線圖像作為浮動圖像；第4步.將浮動圖像與參考圖像進行配準計算，得到一對二維圖像的偏移值(Λ XA,Δ YA)和(Λ ΧΒ、Λ YB);第5步.將一對二維圖像的偏移值，轉換直三維空間坐標系下的三維偏移值，即定位中心點的偏移值(Λ Χ、Λ Υ、Λ Ζ)；第6步.重復步驟I?步驟5六次；第7步.計算獲得的六對二維圖像的偏移值(Λ ΧΑ、Δ YA)和(Λ XB、Λ YB)的平均值(Λ XA_mean、A YA_mean)和(Λ XB_mean、A YB_mean),計算六次獲得的定位中心點的偏移值的平均值(Λ Xcal、Λ Ycal、AZcal);第8步.若| AXcal〈0.3 mm && I Δ Ycal |〈 0.3 mm &&| Δ Zcal < 0.3 mm，則驗證了誤差補償值是正確有效的。
[0025]采用本技術方案的有益效果是:本發(fā)明公開了一種成像設備的位置校準和誤差補償裝置及其補償方法，通過對金屬校準桿進行交角成像，并獲取一對X-ray圖像，計算此對X-ray圖像上校準球中心和圖像中心點的二維偏差值，將所獲得的偏差值轉換至三維空間值，得到成像設備位置誤差造成的定點中心點三維空間誤差值，通過重復操作獲取多組定點中心點三維空間誤差值，并取此多組誤差值的平均值，作為系統(tǒng)的機械誤差補償值，不斷對成像設備進行補償，根據(jù)補償值不斷地調整系統(tǒng)成像設備的位置，來完成對成像設備位置不精確造成的系統(tǒng)誤差的校準。由于本發(fā)明采用多次校準，并通過校準補償?shù)姆椒炞C，使得校準誤差能控制在誤差允許的范圍內，能確保成像設備的精確位置校準。
[0026]以上所述的僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明創(chuàng)造構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。
【權利要求】
1.成像設備的位置校準和誤差補償裝置，其特征在于，包括: 兩個平板探測器，兩個所述平板探測器呈一角度相對設置； X射線發(fā)生器，用于產(chǎn)生高壓電場及X射線管燈絲電流，并且用于控制X能量參數(shù)；兩個X射線管，用于產(chǎn)生X射線，兩個所述X射線管分別對應設于兩個所述平板探測器的一側，所述兩個X射線管發(fā)射的X射線交叉形成一個交點； 校準桿裝置，包括用于標記所述交點的校準球和用于安裝所述校準球的校準桿； 處理裝置，用于對所述校準桿裝置進行X-ray圖像的采集和處理； 控制裝置，用于控制平板探測器、X射線發(fā)生器以及X射線管的相對位置。
2.根據(jù)權利要求1所述的成像設備的位置校準和誤差補償裝置，其特征在于，所述校準桿頂端設為圓錐狀，所述校準球設于所述校準桿頂端的錐尖處。
3.成像設備的位置校準和誤差補償裝置的補償方法，其特征在于，采用如權利要求1所述的裝置，所述補償方法包括以下步驟: 步驟1.安裝所述校準桿裝置，并且使所述校準球位于所述交點處； 步驟2.設定所述X射線發(fā)生器的X能量參數(shù)使其激發(fā)所述X射線管向所述平板探測器發(fā)射X射線； 步驟3.通過所述處理裝置采集并預處理一組所述校準桿裝置的第一 x-ray圖像，將所述第一 X-ray圖像作為配準的參考圖像； 步驟4.拆除所述校準桿裝置，并且重復步驟1-2 ； 步驟5.再次通過所述處理裝置采集并預處理一組所述校準桿裝置的第二 X-ray圖像，將所述第二 X-ray圖像作為第一浮動圖像； 步驟6.通過處理裝置將所述參考圖像與所述第一浮動圖像進行配準計算，得到一組補償二維圖像偏移值(Λ XA,Δ YA)和(Λ XB,Δ YB)； 步驟7.通過處理裝置將所述補償二維圖像偏移值轉換成三維偏移值，即為補償定位中心點偏移值(ΛΧ、Λ Y、Λ Z)； 步驟8.通過處理裝置判定上述補償定位中心點偏移值各維度的絕對值是否同時小于設定的誤差最大允許值，若不滿足，則根據(jù)所述補償定位中心點偏移值通過控制裝置微調所述X射線管和所述平板探測器的位置，重復步驟1-8 ;若滿足，重復至少四次步驟3?步驟8; 步驟9.通過處理裝置計算步驟8所得的至少四組所述補償二維圖像偏移值(Λ ΧΑ、Δ YA)和(Λ XB,Δ YB)的平均值，得到平均值為(Λ XA_mean、A YA_mean)和(Λ XB_mean、Δ YB_mean),并計算上述步驟7獲得的所述補償定位中心點偏移值的平均值，得到平均值為(Δ Xmean、A Ymean >Δ Zmean)； 步驟 10.將上述平均值(Λ XA_mean、Δ YA_mean)、(Δ XB_mean、Δ YB_mean)和(Δ Xmean、Λ Ymean、Λ Zmean)作為誤差補償值,通過處理裝置載入所述控制裝置。
4.根據(jù)權利要求3所述的補償方法，其特征在于，所述步驟3中的預處理包括以下步驟: 步驟1.通過處理裝置去除所述步驟3采集的所述X-ray圖像的背景； 步驟i1.平移所述X-ray圖像使所述校準球的中心在所述X_ray圖像的中心點，通過處理裝置存儲平移后的所述X-ray圖像，將存儲的所述平移后的所述X_ray圖像作為配準的參考圖像。
5.根據(jù)權利要求3所述的補償方法，其特征在于，所述誤差最大允許值為3mm。
6.根據(jù)權利要求3所述的補償方法，其特征在于，所述步驟8中重復六次上述步驟3?步驟8，則所述步驟9中計算六對所述補償二維圖像偏移值的平均值。
7.根據(jù)權利要求3所述的補償方法，其特征在于，所述補償方法還包括設置于步驟10后的驗證步驟，所述驗證步驟包括: 步驟a.將步驟10中的所述誤差補償值載入控制裝置中； 步驟b.安裝校準桿裝置到所述步驟I相同的位置； 步驟c.設定所述X射線發(fā)生器的X能量參數(shù)，采集一對校準桿裝置的第三X-ray圖像，采用誤差補償值對第三X-ray圖像進行位移校準，并作為配準的第二浮動圖像； 步驟d.通過處理裝置將所述步驟3中的所述參考圖像與所述步驟c中的所述第二浮動圖像進行配準計算，得到一對驗證二維圖像偏移值(Λ ΧΑ,Δ YA)和(Λ XB,Δ YB)； 步驟e.通過處理裝置將所述步驟d得到的驗證二維圖像偏移值轉換成三維偏移值，即為第二定位中心點偏移值(Λ Χ、Λ Υ、Λ Z); 步驟f.重復至少四次上述步驟b?步驟e ； 步驟g.通過處理裝置計算上述步驟f所得的至少四對驗證二維圖像偏移值(ΛΧΑ、Δ YA)和(Λ XB,Δ YB)的平均值，得到平均值為(Λ XA_mean、A YA_mean)和(Λ XB_mean、Δ YB_mean)，并計算上述步驟e獲得的所述第二定位中心點偏移值的平均值，得到平均值為(Δ Xmean、A Ymean>Δ Zmean)； 步驟h.通過處理裝置判定上述步驟g獲得的驗證平均定位中心點偏移值，是否滿足校準后的誤差允許值；若不滿足，則根據(jù)所獲得的誤差值補償值，通過控制裝置微調所述X射線管和所述平板探測器的位置，并重新獲取新的誤差值補償值。
8.根據(jù)權利要求7所述的補償方法，其特征在于，所述步驟h中的最大誤差允許值為0.3mm, BP | Λ Xmean |〈 0.3 mm && | Λ Ymean |〈 0.3 mm && | Λ Zmean |〈 0.3mm η
9.根據(jù)權利要求7所述的補償方法，其特征在于，所述步驟f為重復六次上述步驟b?步驟e，所述步驟g計算所述步驟f得到的六對驗證二維圖像偏移值的平均值。
【文檔編號】A61B6/00GK104414662SQ201310396578
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年9月4日 優(yōu)先權日:2013年9月4日
【發(fā)明者】黎維娟, 安陸軍 申請人:江蘇瑞爾醫(yī)療科技有限公司