本技術屬于裂隙燈顯微鏡，特別涉及一種裂隙燈顯微鏡校準裝置。

背景技術：

1、裂隙燈顯微鏡是一種檢測人眼眼部結構的重要醫(yī)療儀器，一般包括用于產生裂隙光的光源系統(tǒng)、供醫(yī)務人員觀察的顯微鏡系統(tǒng)、供病患者的頭部放置和固定的腮托架。裂隙燈顯微鏡是將具有高亮度的裂隙光帶，以一定角度照入眼的被檢部位，從而獲得活體透明組織的光學切片，進而通過雙目立體顯微鏡觀察，看清被檢組織細節(jié)，即可觀察眼睛各部位的健康狀況，廣泛應用于角膜、虹膜、晶體、前房、青光眼、白內障的檢測與診斷，對眼部疾病的早期診斷起到尤為重要的作用。

2、裂隙燈顯微鏡通常有雙目顯微鏡、照明光源、裂隙調節(jié)機構、運動基座(移動控制機構)等部分組成。

3、為保證裂隙燈顯微鏡具有精確的檢查結果，對裂隙燈顯微鏡的精度要求有以下幾個方面：裂隙燈顯微鏡視角放大率允差、左右觀察系統(tǒng)顯微鏡視角放大率允差、左右觀察系統(tǒng)的焦距差、裂隙像尺寸和分辨率等應符合yy?0065-2016《眼科儀器?裂隙燈顯微鏡》中表1的光學性能要求。

技術實現(xiàn)思路

1、針對現(xiàn)有技術存在的上述不足，本實用新型的目的就在于提供一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，該校準裝置能對裂隙燈顯微鏡視角放大率、左右觀察系統(tǒng)顯微鏡視角放大率、左右觀察系統(tǒng)的焦距差、裂隙像尺寸和分辨率等光學性能進行有效校準檢測。

2、本實用新型的技術方案是這樣實現(xiàn)的：

3、一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，包括設于裂隙燈顯微鏡雙目顯微鏡目鏡側的觀察單元和設于雙目顯微鏡物鏡側的物像單元。

4、所述觀察單元包括底座和兩個帶測微目鏡的望遠鏡，兩望遠鏡左右設置在支撐架上，支撐架通過位移調節(jié)機構ⅰ設置在底座上，便于通過位移調節(jié)機構ⅰ實現(xiàn)升降、左右及前后移動；左望遠鏡內帶有十字分劃板ⅰ，右望遠鏡內帶有十字刻線；支撐架上設有瞳距調節(jié)機構，用于調節(jié)兩望遠鏡的瞳距；兩望遠鏡目鏡上分別設有視度調節(jié)環(huán)。

5、所述物像單元包括固定支架和用于放置十字分劃板ⅱ或分辨率板的放置框，所述放置框通過位移調節(jié)機構ⅱ設置在固定支架上，便于通過位移調節(jié)機構ⅱ實現(xiàn)升降、左右及前后移動；所述放置框后側設有背景燈；固定支架上設有固定件，便于將固定支架固定在裂隙燈顯微鏡腮托架上。

6、進一步地，所述底座由水平設置的橫板和豎直設置在橫板兩端的豎板構成，且豎板位于橫板下方，從而構成u形結構。

7、所述位移調節(jié)機構ⅰ包括xy軸位移平臺和升降部件構成，所述升降部件包括豎直設于橫板上的導向套、設于導向套內的升降桿和絲桿ⅰ，絲桿ⅰ上端穿過橫板插入升降桿中，升降桿具有與絲桿ⅰ配合的螺紋，并在絲桿ⅰ下端設有升降旋鈕，并在升降桿和導向套側壁上設有供升降鎖緊件穿過的通孔，升降鎖緊件外側設有升降鎖緊旋鈕；所述xy軸位移平臺位于升降桿上方，所述支撐架位于xy軸位移平臺上方，所述xy軸位移平臺具有左右微調旋鈕、左右微調鎖緊旋鈕、前后微調旋鈕和前后微調鎖緊旋鈕。

8、進一步地，所述支撐架為水平設置的平板，所述瞳距調節(jié)機構包括兩個滑塊、兩個用于固定兩望遠鏡的固定塊和一個絲桿ⅱ，兩個滑塊并排放置在支撐架上，兩固定塊設于兩滑塊內側上方；兩個滑塊上設有與絲桿ⅱ配合的螺紋孔，絲桿ⅱ依次穿過兩滑塊上的螺紋孔且絲桿ⅱ兩端伸出對應滑塊一定長度，并在絲桿ⅱ兩端對應的平板上設有限位板，在兩限位板外側對應的絲桿ⅱ上設有瞳距調節(jié)旋鈕，便于通過旋轉瞳距調節(jié)旋鈕以調節(jié)兩望遠鏡的瞳距。

9、進一步地，固定塊上設有供望遠鏡通過的通孔，并在固定塊上設有若干固定孔，便于通過螺釘將望遠鏡固定在固定塊上。

10、進一步地，平板與絲桿ⅱ平行的兩側邊緣設有導向槽，對應地，兩滑塊上設有與導向槽對應的導向凸起，兩滑塊的導向凸起放置在對應的導向槽內，便于旋轉瞳距調節(jié)旋鈕調節(jié)兩望遠鏡的瞳距時保證兩滑塊做直線運動。

11、進一步地，固定塊通過旋轉塊設置在滑塊上方，旋轉塊通過旋轉柱可旋轉設置在滑塊上方，并在旋轉柱對應的滑塊側面設有固定孔，便于旋轉鎖緊件插入固定孔，并在旋轉鎖緊件外端設有旋轉鎖緊旋鈕，便于通過旋轉旋轉鎖緊旋鈕控制旋轉柱轉動，從而控制旋轉塊轉動。

12、進一步地，所述位移調節(jié)機構ⅱ為xyz軸位移平臺，所述xyz軸位移平臺具有左右微調旋鈕、左右微調鎖緊旋鈕、前后微調旋鈕、前后微調鎖緊旋鈕、上下微調旋鈕和上下微調鎖緊旋鈕。

13、進一步地，所述固定支架設有與裂隙燈顯微鏡腮托架對應的兩v形缺口，所述固定件包括在v形缺口外側對應的固定支架上設置的固定桿，固定桿一端可旋轉設于v形缺口一側，v形缺口另一側對應的固定支架上設有螺紋固定孔，固定桿另一端設有與螺紋固定孔對應的貫穿孔，螺栓穿過貫穿孔插入螺紋固定孔，從而將固定桿另一端固定在固定支架上，進而將固定支架設置在裂隙燈顯微鏡腮托架上。

14、進一步地，十字分劃板ⅰ分度值0.1mm，測量范圍為（-8.5~+8.5）mm，最大允許范圍為±5μm；十字分劃板ⅱ分度值0.1?mm，測量范圍為（-18~+18）mm，最大允許范圍為±5μm。

15、與現(xiàn)有技術相比，本實用新型具有如下有益效果：

16、1、本實用新型能對裂隙燈顯微鏡視角放大率、左右觀察系統(tǒng)顯微鏡視角放大率、左右觀察系統(tǒng)的焦距差、裂隙像尺寸和分辨率等光學性能進行有效校準檢測，且本實用新型采用xy軸位移平臺對支撐架進行微調，采用xyz軸位移平臺對觀察單元的十字分劃板ⅱ或分辨率板進行微調，調節(jié)方便且精度高，從而有利于提高校準精度。

17、2、使用本實用新型進行校準校測時，安裝快捷方便，有利于提高檢測效率。

技術特征：

1.一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，其特征在于，包括設于裂隙燈顯微鏡雙目顯微鏡目鏡側的觀察單元和設于雙目顯微鏡物鏡側的物像單元；

2.根據(jù)權利要求1所述的一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，其特征在于，所述底座由水平設置的橫板和豎直設置在橫板兩端的豎板構成，且豎板位于橫板下方，從而構成u形結構；

3.根據(jù)權利要求1或2所述的一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，其特征在于，所述支撐架為水平設置的平板，所述瞳距調節(jié)機構包括兩個滑塊、兩個用于固定兩望遠鏡的固定塊和一個絲桿ⅱ，兩個滑塊并排放置在支撐架上，兩固定塊設于兩滑塊內側上方；兩個滑塊上設有與絲桿ⅱ配合的螺紋孔，絲桿ⅱ依次穿過兩滑塊上的螺紋孔且絲桿ⅱ兩端伸出對應滑塊一定長度，并在絲桿ⅱ兩端對應的平板上設有限位板，在兩限位板外側對應的絲桿ⅱ上設有瞳距調節(jié)旋鈕，便于通過旋轉瞳距調節(jié)旋鈕以調節(jié)兩望遠鏡的瞳距。

4.根據(jù)權利要求3所述的一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，其特征在于，固定塊上設有供望遠鏡通過的通孔，并在固定塊上設有若干固定孔，便于通過螺釘將望遠鏡固定在固定塊上。

5.根據(jù)權利要求3所述的一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，其特征在于，平板與絲桿ⅱ平行的兩側邊緣設有導向槽，對應地，兩滑塊上設有與導向槽對應的導向凸起，兩滑塊的導向凸起放置在對應的導向槽內，便于旋轉瞳距調節(jié)旋鈕調節(jié)兩望遠鏡的瞳距時保證兩滑塊做直線運動。

6.根據(jù)權利要求3所述的一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，其特征在于，固定塊通過旋轉塊設置在滑塊上方，旋轉塊通過旋轉柱可旋轉設置在滑塊上方，并在旋轉柱對應的滑塊側面設有固定孔，便于旋轉鎖緊件插入固定孔，并在旋轉鎖緊件外端設有旋轉鎖緊旋鈕，便于通過旋轉旋轉鎖緊旋鈕控制旋轉柱轉動，從而控制旋轉塊轉動。

7.根據(jù)權利要求1所述的一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，其特征在于，所述位移調節(jié)機構ⅱ為xyz軸位移平臺，所述xyz軸位移平臺具有左右微調旋鈕、左右微調鎖緊旋鈕、前后微調旋鈕、前后微調鎖緊旋鈕、上下微調旋鈕和上下微調鎖緊旋鈕。

8.根據(jù)權利要求1所述的一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，其特征在于，所述固定支架設有與裂隙燈顯微鏡腮托架對應的兩v形缺口，所述固定件包括在v形缺口外側對應的固定支架上設置的固定桿，固定桿一端可旋轉設于v形缺口一側，v形缺口另一側對應的固定支架上設有螺紋固定孔，固定桿另一端設有與螺紋固定孔對應的貫穿孔，螺栓穿過貫穿孔插入螺紋固定孔，從而將固定桿另一端固定在固定支架上，進而將固定支架設置在裂隙燈顯微鏡腮托架上。

9.根據(jù)權利要求1所述的一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，其特征在于，十字分劃板ⅰ分度值0.1mm，測量范圍為-8.5mm~+8.5mm，最大允許范圍為±5μm；十字分劃板ⅱ分度值0.1?mm，測量范圍為-18mm~+18mm，最大允許范圍為±5μm。

技術總結
本技術公開了一種裂隙燈顯微鏡校準裝置，包括分別設于裂隙燈顯微鏡雙目顯微鏡目鏡側和物鏡側的的觀察單元和物像單元；觀察單元包括底座和兩個帶測微目鏡的望遠鏡，兩望遠鏡左右設置在支撐架上，支撐架通過位移調節(jié)機構Ⅰ設置在底座上，左望遠鏡內帶有十字分劃板Ⅰ，右望遠鏡內帶有十字刻線；支撐架上設有瞳距調節(jié)機構；兩望遠鏡目鏡上分別設有視度調節(jié)環(huán)；物像單元包括固定支架和用于放置十字分劃板Ⅱ或分辨率板的放置框，放置框通過位移調節(jié)機構Ⅱ設置在固定支架上；放置框后側設有背景燈；固定支架上設有固定件。該校準裝置能對裂隙燈顯微鏡視角放大率、左右觀察系統(tǒng)顯微鏡視角放大率、左右觀察系統(tǒng)的焦距差等光學性能進行有效校準檢測。

技術研發(fā)人員：宋發(fā)仁,宋海龍,董廣新,劉偉,何蒙曦,郭書林
受保護的技術使用者：重慶市計量質量檢測研究院
技術研發(fā)日：20240308
技術公布日：2024/12/10