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      一種表面深度測(cè)量裝置的制造方法

      文檔序號(hào):8759182閱讀:224來源:國知局
      一種表面深度測(cè)量裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001 ] 本發(fā)明涉及深度測(cè)量領(lǐng)域,涉及一種表面深度測(cè)量裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]在許多領(lǐng)域如材料與制造領(lǐng)域中,材料表面平整度是其性能高低的重要因素,而在激光外科手術(shù)中,操作人員希望實(shí)時(shí)獲取某一參數(shù)(功率、脈寬、脈沖數(shù)等)的激光對(duì)某特定生物組織的消融深度。目前,在樣品表面深度方向的測(cè)量儀器有觸針式儀器、體式顯微鏡、傳統(tǒng)干涉儀等,觸針式儀器需要與待測(cè)對(duì)象進(jìn)行接觸容易造成測(cè)量對(duì)象的破壞,影響測(cè)量精度,體式顯微鏡則需要將待測(cè)對(duì)象進(jìn)行解剖后進(jìn)行橫截面的顯微測(cè)量,都屬于接觸式或者破壞性測(cè)量。傳統(tǒng)干涉儀是通過觀察干涉條紋的變化計(jì)算得到深度值,對(duì)環(huán)境要求高,且在觀察條紋移動(dòng)時(shí)顯得十分不便。在對(duì)活體進(jìn)行激光手術(shù)過程中,接觸式測(cè)量慢且精度不高,操作不方便;采用離體生物切片的辦法縱向切開樣品組織進(jìn)行測(cè)量,不可能進(jìn)行活體測(cè)量,特別是在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中面對(duì)的對(duì)象都是病人,測(cè)量的方法應(yīng)是非接觸式、無損且快速。
      [0003]故現(xiàn)有技術(shù)有待改進(jìn)和發(fā)展。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種非接觸式、無損且快速的表面深度測(cè)量裝置。
      [0005]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:一種表面深度測(cè)量裝置,包括:
      [0006]掃描裝置,用于掃描待測(cè)物體表面深度;
      [0007]成像裝置,用于將掃描裝置測(cè)量的數(shù)據(jù)處理成圖像;
      [0008]顯示裝置,用于輸出物體表面待測(cè)深度;
      [0009]還包括用于將掃描成像圖上單位像素點(diǎn)代表的空氣中光程進(jìn)行標(biāo)定的標(biāo)定裝置;
      [0010]用于存儲(chǔ)掃描成像圖中單位像素所代表空氣中單位光程的存儲(chǔ)裝置;
      [0011]用于把測(cè)量待測(cè)物體表面深度在掃描成像圖中的像素值的測(cè)量裝置;
      [0012]用于計(jì)算待測(cè)物體表面深度的計(jì)算裝置。
      [0013]本發(fā)明通過掃描裝置將待測(cè)對(duì)象通過成像裝置直接成像,通過測(cè)量裝置測(cè)量成像的長度,計(jì)算裝置根據(jù)標(biāo)定裝置已經(jīng)標(biāo)定的單位像素所代表的光程,計(jì)算出待測(cè)對(duì)象的實(shí)際深度。使用時(shí),只需要移動(dòng)掃描裝置,成像裝置自動(dòng)成像,計(jì)算裝置自動(dòng)計(jì)算,整個(gè)過程操作簡單,方便,且不需要對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行破壞,測(cè)量精度可達(dá)10 y mo
      [0014]所述掃描裝置是光纖傳感器。
      [0015]所述成像裝置是邁克爾遜成像裝置。
      [0016]本發(fā)明的有益效果:無需直接接觸、無損快速、操作方便且測(cè)量精度高。
      【附圖說明】
      [0017]圖1是本發(fā)明的原理示意圖;
      [0018]圖2是本發(fā)明實(shí)施例掃描裝置;
      [0019]圖3是本發(fā)明實(shí)施例標(biāo)定偽彩圖;
      [0020]圖4是本發(fā)明實(shí)施例實(shí)測(cè)物體表面深度偽彩圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0021]實(shí)施例:
      [0022]參考圖1,標(biāo)定裝置的數(shù)據(jù)輸出到存儲(chǔ)裝置并保存?zhèn)溆?;掃描裝置的數(shù)據(jù)經(jīng)成像裝置處理成偽彩圖后,經(jīng)測(cè)量裝置進(jìn)行對(duì)物體表面深度在偽彩圖上的長度進(jìn)行測(cè)量,并將測(cè)量結(jié)果輸出到計(jì)算裝置,計(jì)算裝置調(diào)取存儲(chǔ)裝置中的已標(biāo)定數(shù)據(jù),結(jié)合測(cè)量裝置的數(shù)據(jù)計(jì)算出待測(cè)對(duì)象的實(shí)際深度并輸出的顯示裝置顯示。
      [0023]請(qǐng)參考圖2,低相干光纖式邁克爾遜干涉儀構(gòu)成本發(fā)明的掃描裝置,干涉儀的光源1發(fā)出的光經(jīng)過光纖耦合器2分為參考臂光和樣品臂光兩束,其中參考臂光束經(jīng)過透鏡3與反射鏡4返回光纖耦合器2,樣品臂光通過二維振鏡5進(jìn)行樣品橫向掃描并經(jīng)過物鏡6后照射到樣品7上,經(jīng)過樣品表面反射返回光纖耦合器2,樣品臂光與參考臂光在等光程處發(fā)生干涉產(chǎn)生干涉信號(hào),干涉信號(hào)從耦合器射出后由光電探測(cè)器接8收并轉(zhuǎn)換成電信號(hào),經(jīng)過放大、濾波處理經(jīng)計(jì)算機(jī)9上安裝的matlab軟件處理成待測(cè)對(duì)象的偽彩圖。
      [0024]本裝置的工作原理:兩束低相干涉光只有在等光程處才發(fā)生干涉產(chǎn)生干涉信號(hào),因此可以利用此原理對(duì)處于空氣中物體的表面輪廓進(jìn)行掃描成像。請(qǐng)參考圖3,圖3是處于空氣中的玻璃輪廓低相干涉所形成的偽彩圖,圖中清晰顯示玻璃的上下表面輪廓處各有兩個(gè)亮度條。此時(shí)其上下表面亮度變化處縱坐標(biāo)的深度值約為155單位點(diǎn),每單位所代表物體的實(shí)際深度可通過標(biāo)準(zhǔn)物體進(jìn)行掃描標(biāo)定所得。如圖3中的載玻片,光在載波片上下表面?zhèn)鞑ミ^程中的光程差L等于載玻片的實(shí)際厚度t乘以載玻片折射率n所得的值,即L=t*n,則表明每個(gè)單位點(diǎn)所代表在空氣中的光程為x=L/N=T*n/N =1500um/155=9. 8um。
      [0025]本裝置的工作過程:
      [0026](1)標(biāo)定:已知折射率為n=l. 5、厚度t為1mm的載玻片,用低相干光纖式邁克爾遜干涉儀掃描得到其偽彩圖(圖3),通過從圖中可以直觀看出載玻片上下表面對(duì)應(yīng)的像素點(diǎn)差為N=155點(diǎn);光在載波片上下表面?zhèn)鞑ミ^程中的光程差L等于載玻片的實(shí)際厚度t乘以載玻片折射率n所得的值,SP
      [0027]L=t*n,則表明圖像中縱坐標(biāo)每個(gè)單位所代表在空氣中的光程為x=L/N=T*n/N=1500um/155=9. 8um.
      [0028](2)掃描待測(cè)物體:用步驟(1)標(biāo)定后低相干光纖式邁克爾遜干涉儀對(duì)待測(cè)對(duì)象進(jìn)行掃描,掃描后的數(shù)據(jù)傳送到matlab軟件中。
      [0029](3)成像:matlab軟件對(duì)數(shù)據(jù)處理后得到待測(cè)對(duì)象表面輪廓的偽彩圖,請(qǐng)參考圖4。
      [0030](4)測(cè)量:通過坐標(biāo)截圖或其它方式計(jì)算待測(cè)對(duì)象在圖像的深度值,對(duì)應(yīng)圖4中為100。
      [0031](5)計(jì)算:根據(jù)步驟(1)中標(biāo)定的數(shù)據(jù),圖像中每單位所代表物體的實(shí)際深度為9.8 um,乘以待測(cè)深度在圖像中的深度值100,得到待測(cè)物體表面深度為980 um。
      [0032](6)顯示:通過計(jì)算機(jī)屏幕直接顯示或輸出到其它顯示設(shè)備。
      [0033]上列詳細(xì)說明是針對(duì)本發(fā)明可行實(shí)施例的具體說明,該實(shí)施例并非用以限制本發(fā)明的專利范圍,凡未脫離本發(fā)明所為的等效實(shí)施或變更,均應(yīng)包含于本案的專利范圍中。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種表面深度測(cè)量裝置,包括: 掃描裝置,用于掃描待測(cè)物體表面深度; 成像裝置,用于將掃描裝置測(cè)量的數(shù)據(jù)處理成圖像; 顯示裝置,用于輸出物體表面待測(cè)深度; 其特征在于:還包括用于將掃描成像圖上單位像素點(diǎn)代表的空氣中光程進(jìn)行標(biāo)定的標(biāo)定裝置; 用于存儲(chǔ)掃描成像圖中單位像素所代表空氣中單位光程的存儲(chǔ)裝置; 用于把測(cè)量待測(cè)物體表面深度在掃描成像圖中的像素值的測(cè)量裝置; 用于計(jì)算待測(cè)物體表面深度的計(jì)算裝置。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的表面深度測(cè)量裝置,其特征在于,所述掃描裝置是光纖傳感器。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的表面深度測(cè)量裝置,其特征在于,所述成像裝置是邁克爾遜成像裝置。
      【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種表面深度測(cè)量裝置,包括:掃描裝置,用于掃描待測(cè)物體表面深度;成像裝置,用于將掃描裝置測(cè)量的數(shù)據(jù)處理成圖像;顯示裝置,用于輸出物體表面待測(cè)深度;還包括用于將掃描成像圖上單位像素點(diǎn)代表的空氣中光程進(jìn)行標(biāo)定的標(biāo)定裝置;用于存儲(chǔ)掃描成像圖中單位像素所代表空氣中單位光程的存儲(chǔ)裝置;用于把測(cè)量待測(cè)物體表面深度在掃描成像圖中的像素值的測(cè)量裝置;用于計(jì)算待測(cè)物體表面深度的計(jì)算裝置。本實(shí)用新型的有益效果:無需直接接觸、無損快速、操作方便且測(cè)量精度高。
      【IPC分類】A61B5-107
      【公開號(hào)】CN204468088
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520132397
      【發(fā)明人】陳霞
      【申請(qǐng)人】莆田市荔城區(qū)聚慧科技咨詢有限公司
      【公開日】2015年7月15日
      【申請(qǐng)日】2015年3月9日
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