一種平板探測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于醫(yī)療器械領(lǐng)域，尤其涉及一種平板探測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前的DR平板探測(cè)器（Digital Radiography,數(shù)字化X射線攝影探測(cè)器）在X射線通過(guò)人體后，在TFT陣列基板上變成電信號(hào)，該電信號(hào)經(jīng)處理后在顯示器上予以顯示。由于由球管發(fā)出的X射線呈現(xiàn)出錐形射線束，探測(cè)器對(duì)其中的散射X射線基本沒(méi)有任何的濾除能力，此種成像系統(tǒng)工作時(shí)，散射的X射線也直接透過(guò)人體在TFT陣列基板上成像，給TFT陣列基板成像帶來(lái)高噪聲，同時(shí)給圖像處理帶來(lái)巨大挑戰(zhàn)。
[0003]如圖I所示，現(xiàn)有的平板探測(cè)器只有一層TFT陣列基板，在成像過(guò)程中并不能避免散射X射線在TFT陣列基板上的成像。在曝光期間，X光透過(guò)人體后經(jīng)過(guò)閃爍體轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光，平板探測(cè)器的TFT陣列基板開(kāi)始對(duì)可見(jiàn)光進(jìn)行積分，之后數(shù)據(jù)讀出電路將TFT陣列基板上各像元的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行讀出，再把圖像傳給工作站。由于散射X射線透過(guò)人體直接在TFT陣列基板上成像，該種架構(gòu)的平板探測(cè)器對(duì)散射X射線沒(méi)有濾除功能。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種平板探測(cè)裝置，旨在解決散射的X射線給TFT陣列基板成像帶來(lái)高噪聲、現(xiàn)有平板探測(cè)器對(duì)散射的X射線沒(méi)有濾除功能的問(wèn)題。
[0005]本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種平板探測(cè)裝置，包括：至少兩層TFT陣列基板、濾線柵、與各TFT陣列基板相連接的時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路；
[0006]所述濾線柵設(shè)置于每相鄰兩層TFT陣列基板之間，用于來(lái)濾除散射的X射線；
[0007]所述時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路，用于控制所述TFT陣列基板工作及進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。
[0008]進(jìn)一步地，所述時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路包括：
[0009]時(shí)序控制電路，用于控制TFT各行像元工作的門電路控制芯片；
[0010]數(shù)據(jù)讀出電路，用于控制各層TFT陣列基板的讀數(shù)據(jù)芯片；
[0011]數(shù)據(jù)傳輸電路，用于控制數(shù)據(jù)傳輸。
[0012]進(jìn)一步地，所述TFT陣列基板包括閃爍體、感光元件和TFT陣列。
[0013]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，有益效果在于：本實(shí)用新型在兩層TFT陣列基板中間加入濾線柵，散射的X射線在穿過(guò)頂層TFT陣列基板后能夠被濾線柵濾除，本實(shí)用新型可以在頂層TFT陣列基板上生成帶散射的X射線的成像圖，底層為濾除散射的X射線的成像圖，通過(guò)后端的數(shù)據(jù)處理，采用現(xiàn)代的數(shù)據(jù)處理技術(shù)和方法，有效提升和改進(jìn)X射線的成像質(zhì)量，并降低圖像噪聲，大大降低針對(duì)對(duì)象的誤診率。
【附圖說(shuō)明】
[0014]圖1是現(xiàn)有技術(shù)提供的平板探測(cè)器的電路架構(gòu)圖。
[0015]圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種平板探測(cè)裝置的TFT陣列基板層疊示意圖。
[0016]圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種平板探測(cè)裝置的工作示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0018]如圖2所示，為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種平板探測(cè)裝置，包括:兩層TFT陣列基板1、一層濾線柵2、與TFT陣列基板相連接的時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路3，TFT陣列基板I上包括閃爍體(圖中未示出)、感光元件(圖中未示出)及TFT陣列(圖中未示出)，時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路3包括:用于控制TFT像元各行打開(kāi)的GATE IC (門電路控制芯片)的時(shí)序控制電路(圖中未示出)，用于控制各層TFT陣列基板的READ IC(讀數(shù)據(jù)芯片)的數(shù)據(jù)讀出電路(圖中未示出)、及用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)傳輸電路(圖中未示出)，所述數(shù)據(jù)傳輸電路可通過(guò)網(wǎng)絡(luò)傳輸或者光傳輸。
[0019]因?yàn)榍蚬馨l(fā)出的X射線束呈錐形，透過(guò)人體后含大量散射的X射線，本使用新型的工作原理如圖3所示，X射線通過(guò)閃爍體轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光在頂層的TFT陣列基板I上成像，未被吸收的X射線到達(dá)濾線柵層2，經(jīng)過(guò)濾線柵2濾除散射X射線，垂直方向的X射線透過(guò)濾線柵2在底層的TFT陣列基板I上成像。這樣，在頂層的TFT陣列基板I的成像為帶散射X線的成像，底層為濾除散射后的X射線的成像，通過(guò)后端的數(shù)據(jù)處理，采用現(xiàn)代的數(shù)據(jù)處理技術(shù)和方法，與現(xiàn)有平板探測(cè)器相比，可以有效提升和改進(jìn)X射線的成像質(zhì)量，降低圖像噪聲，大大降低針對(duì)對(duì)象的誤診率。
[0020]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種平板探測(cè)裝置，其特征在于，包括:至少兩層TFT陣列基板、濾線柵、與各TFT陣列基板相連接的時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路； 所述濾線柵設(shè)置于每相鄰兩層TFT陣列基板之間，用于來(lái)濾除散射的X射線； 所述時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路，用于控制所述TFT陣列基板工作及進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。
2.如權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)裝置，其特征在于，所述時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路包括: 時(shí)序控制電路，用于控制TFT各行像元工作的門電路控制芯片； 數(shù)據(jù)讀出電路，用于控制各層TFT陣列基板的讀數(shù)據(jù)芯片； 數(shù)據(jù)傳輸電路，用于控制數(shù)據(jù)傳輸。
3.如權(quán)利要求1所述的平板探測(cè)裝置，其特征在于，所述TFT陣列基板包括閃爍體、感光元件和TFT陣列。
【專利摘要】本實(shí)用新型適用于醫(yī)療器械領(lǐng)域，提供了一種平板探測(cè)裝置，包括：至少兩層TFT陣列基板、濾線柵、與各TFT陣列基板相連接的時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路；所述濾線柵設(shè)置于每相鄰兩層TFT陣列基板之間；所述時(shí)序控制及數(shù)據(jù)讀出電路，用于控制所述TFT陣列基板工作及進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。本實(shí)用新型在兩層TFT陣列基板中間加入濾線柵，散射的X射線透過(guò)人體后，在穿過(guò)頂層TFT陣列基板后能夠被濾線柵濾除，本實(shí)用新型可以在頂層TFT陣列基板上生成帶散射的X射線的成像圖，底層為濾除散射的X射線的成像圖，通過(guò)后端的數(shù)據(jù)處理，采用現(xiàn)代的數(shù)據(jù)處理技術(shù)和方法，有效提升和改進(jìn)X射線的成像質(zhì)量，并降低圖像噪聲。
【IPC分類】A61B6-00
【公開(kāi)號(hào)】CN204581311
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520200307
【發(fā)明人】郭子兵, 沈愛(ài)祥, 姜維
【申請(qǐng)人】深圳市安健科技有限公司
【公開(kāi)日】2015年8月26日
【申請(qǐng)日】2015年4月3日