專利名稱：一種具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種豆?jié){機(jī)，尤其涉及一種豆?jié){機(jī)用制漿電路。
背景技術(shù)：
目前，市場上銷售的豆?jié){機(jī)的制漿電路一般不具有電壓檢測功能。市電電壓都會(huì)上下波動(dòng)，而豆?jié){機(jī)也一般能在額定電壓士20%的范圍內(nèi)正常工作，制成豆?jié){。但是，不同工作電壓，制得的豆?jié){的口味有很大不同如果電壓值過高，物料被粉碎過細(xì)，豆?jié){偏濃，熬煮時(shí)容易糊鍋；如果電壓值偏低，粉碎效果差，豆渣較多，豆?jié){偏稀。總之，這些豆?jié){機(jī)制漿效果不穩(wěn)定。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路。為了解決以上技術(shù)問題，本實(shí)用新型的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路， 包括控制芯片、整流電路和用于檢測電源電壓的電壓檢測電路，所述整流電路的輸入端與電源連接，其中，所述電壓檢測電路包括第一光耦、第一限流電路和第一采樣電路，所述第一光耦為線性光耦，所述第一光耦的輸入端通過第一限流電路連接所述整流電路的輸出端，所述第一光耦的輸出端連接所述第一采樣電路的輸入端，所述第一采樣電路的輸出端連接所述控制芯片。優(yōu)選地，所述第一光耦為光敏三極管輸出型光耦，所述第一光耦的光敏三極管的集電極連接到高電平，所述第一光耦的光敏三極管的發(fā)射極連接到所述第一采樣電路的輸入端。優(yōu)選地，所述第一采樣電路包括電阻R2，所述電阻R2的一端同時(shí)連接所述第一光耦的光敏三極管的發(fā)射極和控制芯片，所述電阻R2的另一端接地。優(yōu)選地，所述第一限流電路包括限流電阻R1，所述限流電阻Rl的一端連接到所述整流電路輸出端的其中一個(gè)端口，所述限流電阻Rl的另一端連接到所述第一光耦的輸入端的其中一個(gè)端口。優(yōu)選地，所述豆?jié){機(jī)用制漿電路包括基準(zhǔn)電路，所述基準(zhǔn)電路包括與所述第一光耦相同型號(hào)的第二光耦。優(yōu)選地，所述第一光耦和第二光耦封裝到一起。優(yōu)選地，所述第二光耦的發(fā)光二極管的正極連接到高電平，所述第二光耦的發(fā)光二極管的負(fù)極連接下拉電阻R3，所述第二光耦的光敏三極管的集電極連接到高電平，所述第二光耦的光敏三極管的發(fā)射極連接第二采樣電路的輸入端，所述第二采樣電路的輸出端連接所述控制芯片。優(yōu)選地，所述第二采樣電路包括電阻R4，所述電阻R4的一端接地，所述電機(jī)R4的另一端同時(shí)連接所述第二光耦的光敏三極管的發(fā)射極和控制芯片。[0012]優(yōu)選地，所述第一光耦為光敏二極管輸出型光耦。優(yōu)選地，所述豆?jié){機(jī)用制漿電路還包括加熱電路和粉碎電路。通過設(shè)置用于檢測電源電壓值的電壓檢測電路，豆?jié){機(jī)的制漿電路可以實(shí)時(shí)檢測電源的電壓值，根據(jù)電壓值對制漿程序進(jìn)行調(diào)整，從而使豆?jié){機(jī)的制漿效果穩(wěn)定，制得的豆?jié){口感穩(wěn)定。如果電源電壓值超出了預(yù)設(shè)的范圍，就啟用控制芯片內(nèi)的電源自適應(yīng)補(bǔ)償程序調(diào)整制漿工藝，根據(jù)實(shí)際電壓與額定電壓的偏離值，設(shè)置相適應(yīng)的補(bǔ)償參數(shù)，確保電源電壓變化時(shí)制得口味一致的豆?jié){。當(dāng)電機(jī)和加熱部件通過繼電器控制時(shí)，電源自適應(yīng)補(bǔ)償程序可以為調(diào)整打漿次數(shù)和時(shí)間，調(diào)整加熱的時(shí)間，當(dāng)檢測到的電壓值低于額定電壓時(shí)適當(dāng)延長加熱和粉碎的時(shí)間，當(dāng)檢測到的電壓值低于額定電壓時(shí)減少加熱和粉碎時(shí)間。當(dāng)電機(jī)和加熱部件采用可控硅控制時(shí)，不管電壓怎么變化，可以通過調(diào)節(jié)電流值使加熱部件和電機(jī)在額定功率下工作。從而確保電源電壓變化時(shí)制得口味一致的豆?jié){。通過設(shè)置包括第二光耦的基準(zhǔn)電路，將第一光耦和第二光耦封裝到一起并且兩個(gè)光耦型號(hào)相同，使第一光耦和第二光耦的電流傳輸比盡可能相同，從而可以提高電壓檢測精度。

圖1是本實(shí)用新型的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路實(shí)施例1的示意圖；圖2是本實(shí)用新型的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路實(shí)施例2的示意圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例1 如圖1所示，本實(shí)用新型的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，包括控制芯片MCU、整流電路和用于檢測電源電壓的電壓檢測電路。所述整流電路為由二極管D1、D2、 D3、D4構(gòu)成的整流橋。所述整流電路的輸入端與電源連接，其中，所述電壓檢測電路包括第一光耦U1、第一限流電路和第一采樣電路，所述第一光耦Ul為線性光耦，所述第一光耦Ul 的輸入端通過第一限流電路連接所述整流電路的輸出端，所述第一光耦Ul的輸出端連接所述第一采樣電路的輸入端，所述第一采樣電路的輸出端連接所述控制芯片MCU。所述第一光耦Ul為光敏三極管輸出型光耦，所述第一光耦Ul的光敏三極管的集電極連接到高電平 VCC，所述第一光耦Ul的光敏三極管的發(fā)射極連接到所述第一采樣電路的輸入端。所述第一采樣電路包括電阻R2，所述電阻R2的一端同時(shí)連接所述第一光耦的光敏三極管的發(fā)射極和控制芯片，所述電阻R2的另一端接地。需要強(qiáng)調(diào)的是，電阻R2的連接到所述發(fā)射極和控制芯片的一端，對于第一光耦Ul而言是第一采樣電路的輸入端；電阻R2的連接到所述發(fā)射極和控制芯片的一端，對于控制芯片MCU而言是第一采樣電路的輸出端。所述第一限流電路包括限流電阻R1，所述限流電阻Rl的一端連接到所述整流電路輸出端的其中一個(gè)端口，所述限流電阻Rl的另一端連接到所述第一光耦的輸入端的其中一個(gè)端口。在本實(shí)施例中，限流電阻Rl的一端連接整流電路輸出端的一個(gè)端口，另一端連接第一光耦Ul的發(fā)光二極管的負(fù)極。所述豆?jié){機(jī)用制漿電路包括基準(zhǔn)電路，所述基準(zhǔn)電路包括與所述第一光耦Ul 相同型號(hào)的第二光耦U2。所述第二光耦U2的發(fā)光二極管的正極連接到高電平，所述第二光耦U2的發(fā)光二極管的負(fù)極連接下拉電阻R3，所述第二光耦U2的光敏三極管的集電極連接到高電平，所述第二光耦的光敏三極管的發(fā)射極連接第二采樣電路的輸入端，所述第二采樣電路的輸出端連接所述控制芯片MCU。所述第二采樣電路包括電阻R4，所述電阻R4的一端接地，所述電機(jī)R4的另一端同時(shí)連接所述第二光耦U2的光敏三極管的發(fā)射極和控制芯片MCU。所述第一光耦Ul和第二光耦U2封裝到一起。當(dāng)然，本實(shí)施例的豆?jié){機(jī)的制漿電路還包括加熱電路和粉碎電路。所述加熱電路包括加熱部件和用于控制所述加熱部件的第一開關(guān)，所述第一開關(guān)由控制芯片控制，所述第一開關(guān)可以是可控硅或者繼電器。所述粉碎電路包括電機(jī)和用于控制電機(jī)的第二開關(guān)，所述第二開關(guān)由控制芯片控制，所述第二開關(guān)可以是可控硅或者繼電器。當(dāng)然，所述加熱部件和電機(jī)也可以由現(xiàn)有技術(shù)中的任何其它控制電路來控制其工作狀態(tài)，使其工作或者停止工作，或者調(diào)整其工作功率。本實(shí)用新型的豆?jié){機(jī)用制漿電路通過檢測a、b兩點(diǎn)的電壓值，可以較為精確的計(jì)算出電源電壓Uac，用于調(diào)節(jié)豆?jié){機(jī)的制漿程序，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)電路結(jié)構(gòu)很容易理解其工作原理，在此不再贅述。 當(dāng)然，需要說明的是，只需檢測a點(diǎn)的電壓值，根據(jù)光耦的電流傳輸比即能技術(shù)出電源的電壓值；而加入基準(zhǔn)電路后，同時(shí)檢測a、b兩點(diǎn)的電壓值能夠更加精確計(jì)算出電源的電壓值。通過設(shè)置用于檢測電源電壓值的電壓檢測電路，豆?jié){機(jī)的制漿電路可以實(shí)時(shí)檢測電源的電壓值，根據(jù)電壓值對制漿程序進(jìn)行調(diào)整，從而使豆?jié){機(jī)的制漿效果穩(wěn)定，制得的豆?jié){口感穩(wěn)定。如果電源電壓值超出了預(yù)設(shè)的范圍，就啟用控制芯片內(nèi)的電源自適應(yīng)補(bǔ)償程序調(diào)整制漿工藝，根據(jù)實(shí)際電壓與額定電壓的偏離值，設(shè)置相適應(yīng)的補(bǔ)償參數(shù)，確保電源電壓變化時(shí)制得口味一致的豆?jié){。當(dāng)電機(jī)和加熱部件通過繼電器控制時(shí)，電源自適應(yīng)補(bǔ)償程序可以為調(diào)整打漿次數(shù)和時(shí)間，調(diào)整加熱的時(shí)間，當(dāng)檢測到的電壓值低于額定電壓時(shí)適當(dāng)延長加熱和粉碎的時(shí)間，當(dāng)檢測到的電壓值低于額定電壓時(shí)減少加熱和粉碎時(shí)間。當(dāng)電機(jī)和加熱部件采用可控硅控制時(shí)，不管電壓怎么變化，可以通過調(diào)節(jié)電流值使加熱部件和電機(jī)在額定功率下工作。從而確保電源電壓變化時(shí)制得口味一致的豆?jié){。通過設(shè)置包括第二光耦的基準(zhǔn)電路，將第一光耦和第二光耦封裝到一起并且兩個(gè)光耦型號(hào)相同，使第一光耦和第二光耦的電流傳輸比盡可能相同，從而可以提高電壓檢測精度。實(shí)施例2 本實(shí)施例與實(shí)施例1的區(qū)別在于限流電阻Rl的一端連接整流電路輸出端的一個(gè)端口，另一端連接第一光耦Ul的發(fā)光二極管的正極。當(dāng)然，所述限流電路也可以采用其它形式的限流電路。實(shí)施例3 如圖2所示，本實(shí)施例與實(shí)施例1的區(qū)別在于所述第一采樣電路包括相互串聯(lián)電阻R2和R5。電阻R5的一端連接第一光耦Ul的光敏三極管的發(fā)射極，另一端連接電阻R2。 電阻R2的一端接地，另一端連接控制芯片MCU和電阻R5。需要強(qiáng)調(diào)的是，電阻R5的連接到所述發(fā)射極的一端是第一采樣電路的輸入端；電阻R2的連接到所述控制芯片MCU的一端是第一采樣電路的輸出端。當(dāng)然，第二采樣電路也可作出與第一采樣電路相似的變形。實(shí)施例4 本實(shí)施例與實(shí)施例1的區(qū)別在于所述第一光耦和第二光耦采用光敏二極管輸出型光耦。[0029]當(dāng)然，所述第一光耦和第二光耦也可采用其它類型的線性光耦。通過設(shè)置用于檢測電源電壓值的電壓檢測電路，豆?jié){機(jī)的制漿電路可以實(shí)時(shí)檢測電源的電壓值，根據(jù)電壓值對制漿程序進(jìn)行調(diào)整，從而使豆?jié){機(jī)的制漿效果穩(wěn)定，制得的豆?jié){口感穩(wěn)定。如果電源電壓值超出了預(yù)設(shè)的范圍，就啟用控制芯片內(nèi)的電源自適應(yīng)補(bǔ)償程序調(diào)整制漿工藝，根據(jù)實(shí)際電壓與額定電壓的偏離值，設(shè)置相適應(yīng)的補(bǔ)償參數(shù)，確保電源電壓變化時(shí)制得口味一致的豆?jié){。通過設(shè)置包括第二光耦的基準(zhǔn)電路，將第一光耦和第二光耦封裝到一起并且兩個(gè)光耦型號(hào)相同，使第一光耦和第二光耦的電流傳輸比盡可能相同，從而可以提高電壓檢測精度。
權(quán)利要求1.一種具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，包括控制芯片、整流電路和用于檢測電源電壓的電壓檢測電路，所述整流電路的輸入端與電源連接，其特征在于，所述電壓檢測電路包括第一光耦、第一限流電路和第一采樣電路，所述第一光耦為線性光耦，所述第一光耦的輸入端通過第一限流電路連接所述整流電路的輸出端，所述第一光耦的輸出端連接所述第一采樣電路的輸入端，所述第一采樣電路的輸出端連接所述控制芯片。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，其特征在于，所述第一光耦為光敏三極管輸出型光耦，所述第一光耦的光敏三極管的集電極連接到高電平， 所述第一光耦的光敏三極管的發(fā)射極連接到所述第一采樣電路的輸入端。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，其特征在于，所述第一采樣電路包括電阻R2，所述電阻R2的一端同時(shí)連接所述第一光耦的光敏三極管的發(fā)射極和控制芯片，所述電阻R2的另一端接地。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，其特征在于，所述第一限流電路包括限流電阻R1，所述限流電阻Rl的一端連接到所述整流電路輸出端的其中一個(gè)端口，所述限流電阻Rl的另一端連接到所述第一光耦的輸入端的其中一個(gè)端口。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，其特征在于，所述豆?jié){機(jī)用制漿電路包括基準(zhǔn)電路，所述基準(zhǔn)電路包括與所述第一光耦相同型號(hào)的第二光華禹。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，其特征在于，所述第一光耦和第二光耦封裝到一起。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，其特征在于，所述第二光耦的發(fā)光二極管的正極連接到高電平，所述第二光耦的發(fā)光二極管的負(fù)極連接下拉電阻R3，所述第二光耦的光敏三極管的集電極連接到高電平，所述第二光耦的光敏三極管的發(fā)射極連接第二采樣電路的輸入端，所述第二采樣電路的輸出端連接所述控制芯片。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，其特征在于，所述第二采樣電路包括電阻R4，所述電阻R4的一端接地，所述電阻R4的另一端同時(shí)連接所述第二光耦的光敏三極管的發(fā)射極和控制芯片。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，其特征在于，所述第一光耦為光敏二極管輸出型光耦。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，其特征在于，所述豆?jié){機(jī)用制漿電路還包括加熱電路和粉碎電路。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種具有電壓檢測功能的豆?jié){機(jī)用制漿電路，包括控制芯片、整流電路和用于檢測電源電壓的電壓檢測電路，所述整流電路的輸入端與電源連接，其中，所述電壓檢測電路包括第一光耦、第一限流電路和第一采樣電路，所述第一光耦為線性光耦，所述第一光耦的輸入端通過第一限流電路連接所述整流電路的輸出端，所述第一光耦的輸出端連接所述第一采樣電路的輸入端，所述第一采樣電路的輸出端連接所述控制芯片。該制漿電路具有電壓檢測功能，制漿效果較為穩(wěn)定。
文檔編號(hào)A47J31/44GK202234828SQ201120308129
公開日2012年5月30日 申請日期2011年8月23日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月23日
發(fā)明者余青輝, 王旭寧 申請人:九陽股份有限公司