專利名稱：輸入裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及設(shè)有多級通過電阻值的變化而得到輸出的輸入鍵的檢測裝置，特別涉及為了把握輸入裝置的動作狀態(tài)而能夠縮短多個輸入鍵的輸出檢測時間的輸入裝置。
背景技術(shù)：
作為具備多個輸入鍵的輸入裝置，有根據(jù)付與前述輸入鍵按壓力的變化而得到進行模擬性變化的輸出的裝置。
根據(jù)付與輸入鍵按壓力的變化而使輸出可變的輸入鍵，例如在電路板上被設(shè)有的電阻器且與在該電阻器上能夠彈性變形的觸點相對的構(gòu)件，前述的觸點由比前述電阻器的電阻率小的材料形成。當操作輸入鍵將前述觸點按壓到前述電阻器時，按照前述觸點和電阻器的接觸面積的變化電阻值發(fā)生變化，由此輸入鍵的電壓變化。
并且，通過在一定的時間周期檢測多個前述輸入鍵的電壓，對于輸入裝置整體能夠把握前述輸入鍵的動作狀態(tài)。
圖9所示為以往的輸入裝置的前述輸出動作的動作圖。在圖9所示的輸出檢測動作例中，例示由12個輸入鍵K1到K12形成的輸入裝置進行說明。圖9所示動作圖的縱軸表示前述輸入鍵K1到K12的電壓值V(輸出)、橫軸表示輸出檢測用的選擇保持時間T。圖9，所示為朝向紙面上方電壓值變大、朝向紙面右方經(jīng)過時間變長。
如圖9所示，前述的輸入裝置，根據(jù)輸入鍵K1的電壓開始輸出檢測，經(jīng)過預定的選擇保持時間T10后根據(jù)輸入鍵K2的電壓進行輸出檢測。其后，每經(jīng)過選擇保持時間T10根據(jù)從K3到K12的電壓來依次檢測輸出。
圖9所示例中表示，由于輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12全部為相同值，但是由于比輸入鍵K4及K7的電壓高，所以表示輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12不動作。另一方面，輸入鍵K4及K7與輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12相比電壓低。這表示輸入鍵K4及K7在動作狀態(tài)。所以，在圖9所示例中，表示輸入鍵K4及K7在動作狀態(tài)。
另一方面，正在動作的輸入鍵K4及K7的接下來被輸出檢測的輸入鍵K5及K8，到選擇保持時間T10的途中電壓變?yōu)榈椭担菚倪x擇保持時間T10的途中開始電壓逐漸變高，穩(wěn)定為與輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12相同電壓上。由此，輸入鍵K5及K8并非在動作狀態(tài)，之前由于受輸出檢測的輸入鍵K4或是K7的電壓變化的影響(變鈍なまっている)，所以在選擇保持時間T10中的一部分時間內(nèi)電壓被提到即將被輸出檢測的輸入鍵K4或是K7的電壓上，并且經(jīng)過前述一段時間后電壓穩(wěn)定，能夠輸出原來的電壓。
這樣，通過對輸入鍵K1至K12根據(jù)每次的預定選擇保持時間T10檢測出基于電壓的輸出，由此通過調(diào)查輸入鍵K1至K12部哪一個正在動作，而能夠把握前述輸入裝置的動作狀態(tài)。
如此，通過在預定的時間周期內(nèi)把握多個輸入鍵的動作狀態(tài)，把握輸入裝置整體的動作狀態(tài)的輸入裝置，在下面的專利文獻1中被公開。
專利文獻1特開2003-271291號公報如圖9所示的以往的輸入裝置中，在預定的選擇保持時間T10內(nèi)對動作狀態(tài)中前述的輸入鍵K4或K7進行前述輸出檢測。另外，在動作狀態(tài)中的前述輸入鍵K4或是K7的接下來被進行輸出檢測的前述輸入鍵K5及K8沒有在動作狀態(tài)，但是由于受之前被輸出檢測的輸入鍵K4或是K7的電壓變化的影響(？？)，有必要確保因為到電壓穩(wěn)定為止待機一定時間所用的待機時間，所以這些輸入鍵K5及K8也在前述選擇保持時間T10進行前述輸入檢測。
但是，圖9所示的以往的輸入裝置中，由于不能識別K1～K12的哪一個鍵為動作狀態(tài)、或是K1～K12的哪一個鍵在動作狀態(tài)，但是接下來的前述輸出檢測進行沒進行，所以包含動作狀態(tài)或是動作狀態(tài)接下來進行輸出檢測的以外的檢測輸出，全部的輸入鍵K1到K12一律用相同的選擇保持時間T10來輸出檢測。
所以，前述輸入鍵K1～K12的全部輸出檢測非?；ㄙM時間，不能進行高速輸出。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是解決前述以往課題，其目的是縮短在進行多個輸入鍵的輸出檢測時的時間、以提供能夠進行高速輸出檢測的輸入裝置。
本發(fā)明的輸入裝置，具有多個輸入鍵；電壓設(shè)定部，向各輸入鍵的一端供給共同的基準電位；切換裝置，按順序選擇多個輸入鍵的另一端，切換至比前述基準電位低的電位上；以及檢測裝置，將在任意被選擇的輸入鍵被切換到導通狀態(tài)時的前述基準電位的變化作為輸出進行檢測，其特征在于，由前述切換裝置選擇了任意的輸入鍵時，在保持該選擇的選擇保持時間內(nèi)，由檢測裝置至少2次檢測前述輸出，并在該檢測輸出沒有發(fā)生變化時或沒有預定量以上的變化的切換狀態(tài)時，在經(jīng)過該輸入鍵的選擇保持時間后切換到選擇下一個輸入鍵；設(shè)有控制裝置，該控制裝置當至少2次檢測的前述輸出在發(fā)生變化或超過了預定量的變化時，將對該輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定成為比前述切換狀態(tài)長。
此時，在前述控制裝置中，設(shè)定基準選擇保持時間和比所述基準選擇保持時間短的縮短保持時間；在至少2次檢測的前述輸出沒變化或沒有超過預定量以上變化時，將所述輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定為前述縮短保持時間；在至少2次檢測的前述輸出有變化或超過預定量已變化時，將所述輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定為前述基準選擇保持時時間。
另外，也可以構(gòu)成為，在選擇任意的輸入鍵時，當至少2次檢測出的前述輸出發(fā)生變化或超過預定量已變化時，將所述輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定為前述基準選擇保持時間，并且將對于接下來選擇的至少一個輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定成前述基準選擇保持時間。
另外，前述輸入鍵也可以構(gòu)成為，被切換為導通狀態(tài)和非導通狀態(tài)，并且通過該輸入鍵的電流量按照導通狀態(tài)下的操作力的大小而變化；前述檢測裝置可檢測電流量已變化時的前述基準電位的變化量。
發(fā)明效果本發(fā)明的輸入裝置，在進行用于把握多個輸入鍵的動作狀態(tài)用的輸出檢測時，對于不在動作狀態(tài)且動作狀態(tài)的輸入鍵的接下來被輸出檢測的輸入鍵以外的輸入鍵，用于進行輸出檢測的選擇時間要比處于動作狀態(tài)的輸入鍵的選擇保持時間短，對進行處于動作狀態(tài)的輸入鍵的接下來的輸出檢測的輸入鍵的電壓穩(wěn)定為止所必要的待機時間，不需要所有被進行的輸入鍵一律確保所需待機時間。
所以，由于能夠大幅減少全部輸入鍵的輸出檢測所需時間，能夠進行高速輸出檢測。


圖1是表示本發(fā)明的輸入裝置的實施方式即接觸式輸入裝置的分解立體圖。
圖2是表示圖1所示輸入裝置的電路連接的電路組成圖。
圖3是表示圖1所示輸入裝置的輸出檢測動作例的動作圖。
圖4是表示圖3所示動作例的說明圖。
圖5是表示圖3所示動作例的說明圖。
圖6是表示圖3所示動作例的說明圖。
圖7是表示圖3所示動作例的說明圖。
圖8是表示圖3所示動作例的說明圖。
圖9是表示以往輸入裝置的輸出檢測動作例的動作圖。
具體實施例方式
圖1所示為本發(fā)明實施方式的輸入裝置的分解立體圖，圖2是圖1所示輸入裝置的電路連接的回路組成圖。
圖1所示的輸入裝置1是例如可以作為游戲控制器而被使用。
如圖1所示，輸入裝置1具有沿X方向細長延伸的彈性構(gòu)件3。彈性構(gòu)件3的背面?zhèn)仍O(shè)置有隔板層疊體20等。
前述輸入裝置1，配置為從構(gòu)成電子器件的筐體讓前述彈性構(gòu)件3的表面操作面10露出。在此實施方式中，前述彈性構(gòu)件3和操作面10是作為操作構(gòu)件發(fā)揮作用的，前述的彈性構(gòu)件3是由例如硅膠等能夠變形的軟質(zhì)材料形成。并且，前述操作面10是將由低摩擦阻力的材料構(gòu)成的涂料等噴涂在前述彈性構(gòu)件3的表面上而形成的。另外，作為該彈性構(gòu)件3，并不僅限定于硅膠，也可以是其它的橡膠系列的彈性構(gòu)件。
如圖1所示，前述彈性構(gòu)件3的Z2側(cè)的面(背面)上，設(shè)置著加強構(gòu)件4。該加強構(gòu)件4被形成為膠片狀薄板，具有比前述操作面10向一側(cè)方(圖示Y1方向)突出的凸緣部4b。前述凸緣部4b在沒有圖示的筐體的內(nèi)面被卡合，使前述彈性構(gòu)件3不會從前述筐體脫落而擔當著防脫落和防水的功能。
如圖1所示，在此實施方式中，前述加強構(gòu)件4的下方側(cè)(圖示Z2側(cè))的面上，在下方側(cè)突出的12個半球狀的突起5a、5b、5c、5d、5e、5f、5g、5h、5i、5j、5k、5l沿著前述加強構(gòu)件4的延伸縱向(X1-X2方向)等間隔地被設(shè)置成直線狀。但是，前述突起5a、5b、5c、5d、5e、5f、5g、5h、5i、5j、5k、5l也可以構(gòu)成為在后述上側(cè)薄板21的上面(圖1所示的Z1側(cè)的面)沿縱向以一定的等間距間隔被形成直線狀。更進一步的說前述突起的數(shù)不僅限于12個，也可以為12個以上。并且，前述突起沒有必要為半球狀，也可以是圓錐狀(コ一ン)或是圓柱形狀。
如圖1所示，前述隔板層疊體20被形成為具有上側(cè)薄板21和下側(cè)薄板22。前述上側(cè)薄板21及下側(cè)薄板22，都是被形成為沿縱向(X1-X2的方向)延伸為帶狀形狀。
前述上側(cè)薄板21和下側(cè)薄板22為對置位置關(guān)系，相互粘結(jié)固定。前述上側(cè)薄板21及下側(cè)薄板22都是由具有PET樹脂或聚酰亞胺樹脂(ポリイミド)等柔軟性的素材形成。
在前述上側(cè)薄板21的下面形成有接點(觸點)21a、21b、21c、21d、21e、21f、21g、21h、21i、21j、21k、21l在下側(cè)薄板22的上面形成有電阻22a、22b、22c、22d、22e、22f、22g、22h、22i、22j、22k、22l。
前述接點21a、21b、21c、21d、21e、21f、21g、21h、21i、21j、21k、21l和電阻22a、22b、22c、22d、22e、22f、22g、22h、22i、22j、22k、22l在與前述突起5a、5b、5c、5d、5e、5f、5g、5h、5i、5j、5k、5l對置位置上被分別形成。
前述電阻22a、22b、22c、22d、22e、22f、22g、22h、22i、22j、22k、22l由例如碳膜形成，前述接點21a、21b、21c、21d、21e、21f、21g、21h、21i、21j、21k、21l由能夠彈性變形的材料即橡膠等能夠混入碳粉的物質(zhì)形成。與前述電阻22a、22b、22c、22d、22e、22f、22g、22h、22i、22j、22k、22l相比，前述接點21a、21b、21c、21d、21e、21f、21g、21h、21i、21j、21k、21l的電阻率被設(shè)定的低。
并且如圖2所示，相互對置的一對接點21a和電阻22a形成輸入鍵K1。同樣，接點21b和電阻22b形成輸入鍵K2，接點21c和電阻22c形成輸入鍵K3，接點21d和電阻22d形成輸入鍵K4，接點21e和電阻22e形成輸入鍵K5，接點21f和電阻22f形成輸入鍵K6，接點21g和電阻22g形成輸入鍵K7，接點21h和電阻22h形成輸入鍵K8，接點21i和電阻22i形成輸入鍵K9，接點21j和電阻22j形成輸入鍵K10，接點21k和電阻22k形成輸入鍵K11，接點211和電阻221形成輸入鍵K12。如此，前述輸入裝置1中能形成多個輸入鍵K1～K12，形成圖1所示的實施方式中共12個輸入鍵。
各個輸入鍵K1～K12相對于前述隔板層疊體20沿縱方向等間距間隔地被配置。本實施方式中沒有特別的限定輸入鍵K1～K12的間隔及前述突起5a、5b、5c、5d、5e、5f、5g、5h、5i、5j、5k、5l的間隔，可以根據(jù)需要任意設(shè)定。
如圖1所示，引出圖形27a、27b、27c、27d、27e、27f、27g、27h、27i、27j、27k、27l分別被連接到設(shè)置于前述下側(cè)薄板22上的電阻22a～22l，前述各個引出圖形27a～27l從引出部22A向外部引出。
如圖1所示，前述各電阻22a～22l通過連接圖形26被連接，該連接圖形26的一方端部與形成在前述下側(cè)薄板22上形成的電阻R連接，另一方的端部從前述引出部22A向外部引出。前述電阻R與引出圖形27連接，該引出圖形27從前述引出部22A向外部引出。
如圖2所示，前述引出圖形27與電源(Vcc)33相連接。并且，前述連接圖形26的另一方的端部與A/D轉(zhuǎn)換器29相連接，還與本發(fā)明的控制裝置CPU30相連接。另外，前述連接圖形26在前述電阻22l與前述A/D轉(zhuǎn)換器29之間通過電壓穩(wěn)定用的電容器31接地。前述電源(Vcc)33為本發(fā)明的電壓設(shè)定部，具有向構(gòu)成前述輸入鍵K1～K12的前述電阻22a～22l的一端供給基準電位的功能。
并且，前述引出圖形27a、27b、27c、27d、27e、27f、27g、27h、27i、27j、27k、27l被連接至設(shè)置在CPU30上的切換裝置28。前述切換裝置28是通過電壓穩(wěn)定用電容器32來接地的。
前述輸入裝置1中，對于前述各個輸入鍵K1～K12，從前述電源(Vcc)33供給共同的基準電位。在前述操作面10的表面上操作者用手指或筆等操作體按壓時，比如說讓操作體與輸入鍵K1～K12中的輸入鍵K3相對置。
此時，彈性構(gòu)件3上以前述輸入鍵K3為中心產(chǎn)生局部撓性變形。并且，伴隨彈性構(gòu)件3的變形被按壓下的突起5c使上側(cè)薄板21產(chǎn)生局部的撓性變形，上側(cè)薄板21的接點21c和下側(cè)薄板22的電阻22c的接觸面積發(fā)生變化。結(jié)果，對應該接觸面積的變化，則前述電阻22c的電阻值發(fā)生變化，從而前述輸入鍵K3的電壓發(fā)生變化。
與此相同，前述輸入鍵K1～K12中，通過改變由前述操作體按壓的地方，能夠使前述輸入鍵K1～K12發(fā)生電壓變化。
前述輸入鍵K1～K12沒有被按壓或是按壓力弱時，前述輸入鍵K1～K12中從前述電源(Vcc)33被供給基準電位，但當前述輸入鍵K1～K12被按壓、或是付與更加強的按壓力時，則由來自前述電源(VCC)33的電流大多流向?qū)诒话磯旱那笆鲚斎腈IK1～K12的前述引出圖形27a、27b、27c、27d、27e、27f、27g、27h、27i、27j、27k、27l中，所以被按壓的前述輸入鍵K1～K12的電壓(電位)變低。由于產(chǎn)生以下電壓變化即，如果讓前述接點21a～21l和前述電阻22a～22l的接觸面積變大則電壓(電位)變低、如果讓接觸面積變小則電壓(電位)變高，所以對應供給前述輸入鍵K1～K12按壓力的變化能夠得出模擬變化的輸出。根據(jù)該電壓變化的輸出被傳送給前述CPU30，且前述CPU30還是有作為檢測前述輸出的檢測裝置的功能。
前述切換裝置28是，依次選擇前述引出圖形27a～27l其中之一的另一端，將選擇的前述引出圖形27a～27l切換為比前述基準電位低的電位，切換與前述CPU30相連接的引出圖形27a～27l的裝置。圖2所示狀態(tài)中如實線表示的前述引出圖形27a與CPU30相接。并且如用虛線所示的將前述引出圖形27b～27l依次與前述CPU30相連接前述A/D轉(zhuǎn)換器29，將根據(jù)前述輸入鍵K1～K12的電壓變化的輸出信號即模擬信號變換為數(shù)字信號，并向前述CPU30傳送。前述CPU30，根據(jù)來自前述A/D轉(zhuǎn)換器29的數(shù)字信號，檢測前述輸入鍵K1～K12的輸出，并把握動作狀態(tài)。這樣檢測出的前述輸入鍵K1～K12的輸出信號如在游戲機主體上設(shè)置的表示部上被變換表示的預定的畫像等。
在前述輸入裝置1中驅(qū)動切換裝置28，與前述CPU連接的前述輸入鍵K1～K12、即根據(jù)選擇從前述輸入鍵K1～K12的前述引出圖形27a～271將前述輸入鍵K1～K12按一定的時間一個一個地依次連接到CPU30上，通過依次將從各輸入鍵K1～K12的輸出傳送到前述CPU30上，在一定的時間周期把握前述輸入鍵K1～K12的整體動作狀態(tài)。
圖3是表示前述輸入裝置1的前述輸出的檢測動作例的動作圖。圖3表示的動作圖的縱軸表示前述輸入鍵K1至K12的電壓值V(電位，即輸出)，橫軸表示輸出檢測用選擇保持時間T。圖3中，朝向紙面上方電壓值變大，朝向紙面右方向表示時間的經(jīng)過。
圖3所示的輸出動作例中，在前述輸入裝置1中，通過前述切換裝置28將從輸入鍵K1的前述引出圖形27a連接到前述CPU30上。該連接是在保持前述輸入鍵K1的選擇的選擇保持時間即縮短保持時間T1期間被進行的。
并且，在該縮短保持時間T1期間檢測上述輸入鍵K1的電壓變化，并檢測前述輸入鍵K1是否為按壓狀態(tài)。在前述縮短保持時間T1經(jīng)過后將從輸入鍵K2的前述引出圖形27b連接到前述CPU30上，在前述縮短保持時間T1期間檢測前述輸入鍵K2的電壓變化，并檢測前述輸入鍵K2是否在按壓狀態(tài)。其后，每經(jīng)過預定的縮短時間T1或是后期基準選擇時間T2就根據(jù)輸入鍵K3到K12的電壓來順序檢測輸出。
在圖3所示的輸出檢測動作例中表示，輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12全部為相同值、并且由于成為比輸入鍵K4及K7的電壓高的值、所以輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12為非導通狀態(tài)不動作。
另一方面，輸入鍵K4及K7，其保持前述輸入鍵K4及K7的選擇的選擇保持時間即基準選擇保持時間T2的經(jīng)過中，與輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12相比較、電壓漸漸變低。這表示輸入鍵K4及K7，通過前述接點21d和前述電阻22d相接觸，使前述輸入鍵K4及K5變?yōu)閷顟B(tài)，并進行動作。所以，圖3所示的輸出檢測動作例表示輸入鍵K4及K7處于動作狀態(tài)中。由于，前述各個輸入鍵K1～K12能夠進行導通狀態(tài)和非導通狀態(tài)的切換。
并且，在圖3所示的輸出檢測動作例中，前述輸入鍵K4的電壓變得比前述輸入鍵K7的電壓低。這樣，前述輸入鍵K4的前述接點21d和前述電阻22d的接觸面積比前述輸入鍵K7的前述接點21g和前述電阻22g的接觸面積大。這樣，由前述接觸體按壓處于導通狀態(tài)的前述輸入鍵K4的力(操作力)比由前述接觸體按壓處于導通狀態(tài)的前述輸入鍵K7的力(操作力)大。如此，前述輸入裝置1是，通過變化按壓前述輸入鍵K1～K12的力(操作力)所流過的電流來改變輸出電壓(電位)；依據(jù)付與前述輸入鍵K1～K12按壓力(操作力)、能夠檢測模擬變化的輸出。
如圖3所示，動作的輸入鍵K4及K7的接下來被輸出檢測的輸入鍵K5及K8，雖然直到基準選擇保持時間T2的中途電壓變?yōu)榈椭?，但是從基準保持時間T2的中途開始漸漸變高，降到與輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12相同的電壓。這樣，輸入鍵K5及K8不是動作狀態(tài)，但是由于影響之前被輸出檢測的輸入鍵K4及K7的電壓變化(變鈍)，所以在基準選擇保持時間T2中的一部分時間內(nèi)，將電壓拖曳至即將被檢測之前述輸入鍵K4或K7的電壓，在經(jīng)過一段時間后電壓穩(wěn)定，原本的電壓被輸出。
這樣，對于輸入鍵K1至K12由每經(jīng)過預定的保持時間T1或是基準選擇時間T2根據(jù)電壓的變化檢測輸出，由此來調(diào)查輸入鍵K1至K12中哪個鍵在動作，以把握前述輸入裝置1的動作狀態(tài)。
如圖3所示，前述輸入裝置1中，沒有處于動作狀態(tài)的前述輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12的縮短時間要比處于動作狀態(tài)中的前述輸入鍵K4和K7的基準保持選擇時間T2及處于動作狀態(tài)的前述輸入鍵K4及K7的各接下來被輸出檢測的前述輸入鍵K5和K8的基準選擇保持時間T2短。
如圖3所示的關(guān)于輸出檢測動作例的前述縮短保持時間T1及基準選擇保持時間T2，利用圖4至圖8來進行詳細說明。
圖4為圖3所示輸入檢測動作例中說明輸入鍵K1的輸出檢測動作用的動作圖。圖4表示的也是朝向紙面上方電壓值變大，朝向紙面右方向表示時間的經(jīng)過。如圖4所示，本發(fā)明的輸入裝置1中設(shè)定了進行前述輸出檢測用的基準選擇保持時間T2。如圖4所示，用T2a表示前述基準選擇保持時間T2的開始時刻，用T2c表示終了時刻。
前述輸入鍵K1的輸出檢測動作在最初前述基準選擇保持時間T2的開始時刻T2a測定前述輸入鍵K1的電壓Va(檢測輸出)。這個被測定的電壓Va通過前述A/D轉(zhuǎn)換器29傳送給前述CPU30。
接著，從前述開始時刻T2a開始，在經(jīng)過了前述基準選擇保持時間T2的1/2時的時刻T2b檢測前述輸入鍵K1的電壓Vb(檢測輸出)。這個被測定的Vb也通過前述A/D轉(zhuǎn)換器29傳送給前述CPU30。
并且，當判斷前述電壓Va和前述電壓Vb為相同電壓沒發(fā)生變化時(切換狀態(tài))，將前述輸入鍵K1的輸出檢測在經(jīng)過了前述基準選擇保持時間T2的1/2后的時刻T2b終了。如圖4所示，前述輸入鍵K1，由于電壓Va和前述電壓Vb為相同值，所以前述CPU將前述輸出檢測在前述經(jīng)過了的時刻T2b終了。如圖4所示，從前述開始時刻T2a開始到所述經(jīng)過的時刻T2b為止的時間的1/2T2為圖3所示的前述縮短保持時間T1。
并且，在前述經(jīng)過了的時刻(終了前述輸出檢測的時刻)T2b的前述電壓Vb作為有效值使用，根據(jù)該電壓Vb，例如游戲機主體上設(shè)置的表示部上能夠被表示預定畫像。
如圖3所示，前述輸入鍵K2、K3、K6、K9、K10、K11、K12也根據(jù)和前述輸入鍵K1相同的輸出檢測動作處理來進行前述輸出檢測。
圖5是圖3所示輸入檢測動作例中用于說明輸入鍵K4的輸出檢測動作的動作圖。圖5也表示為朝向紙面上方電壓值變大，朝向紙面右方向表示時間的經(jīng)過。如上所述，本發(fā)明的輸入裝置1，被設(shè)定了前述進行輸出檢測用的基準選擇保持時間T2。如圖5所示，用T2a表示前述基準選擇保持時間T2的開始時刻，用T2c表示終了時刻。
前述輸入鍵K4的輸出動作也是先測定在前述基準選擇保持時間T2的開始時刻T2a時的前述輸入鍵K4的電壓Va(檢測輸出)。這個被測定的電壓Va通過前述A/D轉(zhuǎn)換器29傳送給前述CPU30。
接下來，測定的從前述開始時刻T2a開始經(jīng)過了前述基準選擇鍵保持時間T2的1/2(經(jīng)過前述縮短保持時間T1)時T2b前述輸入鍵K4的電壓Vb。該被測電壓Vb(檢測輸出)也通過前述A/D轉(zhuǎn)換器29傳送給前述CPU30。
如圖5所示，前述輸入鍵K4中前述電壓Vb變得比前述電壓Va低。即，前述電壓Va和前述電壓Vb發(fā)生變化即判斷為動作狀態(tài)。如此，前述電壓Vb的值比前述電壓低、當前述電壓Va和Vb發(fā)生變化的時候，使前述輸入鍵K4的輸出檢測在前述基準選擇保持時間T2的前述終了時刻T2c終了。即，本發(fā)明的輸入裝置，由前述CPU30上將前述電壓Va和前述電壓Vb為相同電壓不發(fā)生變化時(切換狀態(tài))的縮短保持時間T1設(shè)定比前述基準選擇時間T2的短。
并且，在前述輸出檢測的終了時刻T2c的前述電壓Vc作為有效值使用，根據(jù)該電壓Vc能夠表示例如游戲機主體上設(shè)置的表示部上被表示的預定畫像。
圖6是圖3所示的輸出動作例中說明輸入鍵K7的輸出檢測動作用的動作圖。圖6也是朝向紙面上方電壓值變大，朝向紙面右方表示時間的經(jīng)過。如上所述的那樣，本發(fā)明的輸入裝置1設(shè)置進行前述輸出檢測用的基準選擇保持時間T2。如圖6所示，前述基準選擇保持時間T2的開始時刻用T2a表示，終了時刻用T2c表示。
前述輸入鍵K7的輸出檢測動作也是先測定在前述基準選擇保持時間T2的開始時刻T2a時的前述輸入鍵K7的電壓Va(檢測輸出)。該被測定的電壓Va是通過前述A/D轉(zhuǎn)換器29傳送給前述CPU30。
然后，從前述開始時刻T2a開始，測定在經(jīng)過了前述基準選擇保持時間T2的1/2(經(jīng)過前述縮短保持時間T1)時T2b的前述輸入鍵K7的電壓Vb。該被測定的電壓Vb(檢測輸出)也是通過前述A/D轉(zhuǎn)換器29傳送給前述CPU30。
如圖6所示，前述輸入鍵K7中，前述電壓Vb比前述電壓Va低。即，前述電壓Va和Vb發(fā)生變化，判定為動作狀態(tài)。如此，前述電壓Vb的值比前述電壓Va的值低、前述電壓Va和前述電壓Vb被判斷為發(fā)生變化時，將前述輸入鍵K7的輸出檢測在前述基準選擇保持時間T2的前述終了時刻T2c終了。即，本發(fā)明的輸入裝置1中，由前述CPU30，在前述電壓Va和前述電壓Vb為相同值且沒有變化(切換狀態(tài))時的縮短時間設(shè)定的比前述基準選擇保持時間T2短。
并且，在前述輸出終了時刻T2c時的前述電壓Vc作為有效值使用，根據(jù)該電壓Vc表示例如在游戲機主體上設(shè)置的表示部上被表示的預定畫面。
圖7是圖3所示的輸出檢測動作例中用于說明輸入鍵5的輸出檢測動作的動作圖。圖7也表示為朝向紙面上方電壓值變大，朝向紙面右方表示時間的經(jīng)過。如上所述，本發(fā)明的輸入裝置1中設(shè)定用于進行檢測前述輸出的基準選擇保持時間T2，在圖7中，前述基準選擇保持時間T2的開始時刻用T2a表示，終了時刻用T2c表示。
前述輸入鍵K5，由于要進行如上所述的處于動作狀態(tài)的前述輸入鍵K4的接下來的前述輸出檢測，影響輸入鍵K4的電壓變化(變鈍)。因此，基準選擇保持時間T2中的一段時間T2a到T2d之間，電壓被拖曳至即將被輸出檢測之前的前述輸入鍵K4的電壓，但經(jīng)過前述一段時間T2a到T2d后電壓穩(wěn)定，輸出原來的電壓。
前述輸入鍵K5，輸出原來的電壓所需要的時間，即前述從T2a到T2d的一段時間，由于根據(jù)即將被輸出檢測之前的前述輸入鍵K4的電壓等變化，所以不能同樣的規(guī)定前述一部分時間即從T2a到T2d。因此，如圖7所示，處于動作狀態(tài)的輸入鍵K4的接下來被輸出檢測的前述輸入鍵K5，與前述基準選擇保持時間T2期間的電壓變化無關(guān)，在輸出檢測開始時刻T2a到終了時刻T2c之間，即在前述基準選擇保持時間T2進行輸出檢測。
并且，在前述輸出檢測終了時刻T2c時的前述電壓Vc作為有效值使用，根據(jù)該電壓Vc表示例如在游戲機主體上設(shè)置的表示部上被表示的預定畫面。
圖8是圖3所示的輸出檢測動作例中用于說明輸入鍵K8的輸出檢測動作的動作圖。圖8也是朝向紙面上方電壓值變大，朝向紙面右方表示時間的經(jīng)過。如上所述，本發(fā)明的輸入裝置1中設(shè)定了用于進行前述輸出檢測的基準選擇保持時間T2，在圖8中，前述基準選擇保持時間T2的開始時刻用T2a表示，終了時刻用T2c表示。
前述輸入鍵K8，由于進行如前所述的動作狀態(tài)中出現(xiàn)的前述輸入鍵K7的接下來的前述輸出檢測，影響輸入鍵K7的電壓變化(變鈍)。因此，基準選擇保持時間T2中的一段時間即T2a到T2e之間，電壓即將被拖曳至被輸出檢測出之前的前述輸入鍵K7的電壓，經(jīng)過前述一段的時間T2a到T2e后電壓穩(wěn)定，輸出原本的電壓。
前述輸入鍵K8輸出原本電壓所需時間，即前述一段的時間T2a到T2e根據(jù)即將被輸出檢測出之前的前述輸入鍵K7的電壓等發(fā)生變化，所以不能一律地預定前述一段時間T2a到T2e。所以如圖8所示，處于動作狀態(tài)的輸入鍵K7的接下來被輸出檢測的前述輸入鍵K8與前述的基準選擇保持時間T2之間的電壓變化無關(guān)，在輸出檢測的開始時刻T2a到終了時刻T2c之間，即在前述基準選擇保持時間T2進行輸出檢測。
本發(fā)明的輸入裝置1中，如圖3所示，在進行為了把握前述輸入鍵K1至K12的動作狀態(tài)的前述輸出檢測時，不處在動作狀態(tài)，并且將動作狀態(tài)的接下來被輸出檢測的輸入鍵K5及K8以外的輸入鍵K1、K2、K3、K6、K9、K10、K11及K12的輸出檢測時間，在基準選擇保持時間T2的1/2的時間T1時刻進行，并且沒有必要在所有的輸入鍵K1～K12全都確保處于動作狀態(tài)的輸入鍵的接下來被進行輸出檢測的輸入鍵的電壓穩(wěn)定為止的必要待機時間。
所以，如圖9所示的以往的輸入裝置的輸出檢測動作處理，考慮前述待機時間，對全部的輸入鍵K1～K12的全部一律確保前述待機時間相比較，全部的前述輸入鍵K1～K12的全體輸出檢測所要時間能夠大幅減少，所以能高速進行前述輸入鍵K1～K12全部的輸出檢測。
而且，圖3至圖8中，比較了前述基準選擇保持時間T2的開始時刻T2a的電壓Va和經(jīng)過了前述基準選擇保持時間T2的1/2的T2b時刻的電壓Vb，本發(fā)明不僅限于此，例如前述基準選擇保持時間T2的開始時刻T2a的電壓Va和經(jīng)過了前述基準選擇保持時間T2的1/3時的電壓相比較等，與前述開始時刻T2a的電壓相比較的電壓可以是從前述開始時刻T2a開始的經(jīng)過任意時間的電壓。
并且，在圖3至圖8中進行了前述開始時刻T2a和前述經(jīng)過了的T2b時刻的兩次檢測輸出，本發(fā)明不僅限于此，也可以在前述基準選擇保持時間T2內(nèi)，進行3次或3次以上的檢測，與這些輸出(電壓)相比，檢測輸出的變化。
另外，在圖4中，將前述電壓Va和前述電壓Vb不發(fā)生變化時作為例進行了說明，即使是本發(fā)明中前述電壓Va和前述電壓Vb發(fā)生了變化，沒有在預定量以上變化時，將輸出檢測在前述縮短保持時間T1終了，發(fā)生預定量以上變化時，如圖5及圖6所示，也可以構(gòu)成為使輸出檢測在前述基準選擇保持時間T2完成。
另外，在圖3所示的實施方式中，只有處于工作狀態(tài)的輸入鍵K4及K7的接下來被輸出檢測的一個的輸入鍵K5及K8能在前述基準選擇保持時間T2進行輸出檢測，本發(fā)明中也可以構(gòu)成為在前述基準選擇保持時間T2輸出檢測處于動作狀態(tài)的輸入鍵K1～K12的接下來被輸出檢測的兩個以上的輸入鍵K1～K12。
另外，在圖3所示的輸出檢測動作例中，使前述輸入鍵K4及K7處于動作狀態(tài)作為例進行說明，本發(fā)明并不僅限于此，也可以是前述輸入鍵K1～K12中輸入鍵K1～K12的任意的哪一個為動作狀態(tài)，根據(jù)圖3所示的相同考慮方法進行輸出檢測動作處理。
而且，前述基準選擇保持時間T2可以任意設(shè)定，將前述輸入裝置1作為游戲機控制器使用時，前述基準選擇保持時間T2可以設(shè)定為例如400μsec。但是，并不僅限于前述輸入裝置1作為游戲機控制器使用。在這種場合也可以任意設(shè)定前述基準選擇保持時間T2。
而且，圖1至圖3中，以形成輸入裝置1的K1～K12的12個輸入鍵K1～K12為例進行了說明，本發(fā)明不僅限定前述輸入鍵K1～K12的個數(shù)。
權(quán)利要求
1.一種輸入裝置，具有多個輸入鍵；電壓設(shè)定部，向各輸入鍵的一端供給共同的基準電位；切換裝置，按順序選擇多個輸入鍵的另一端，切換至比前述基準電位低的電位上；以及檢測裝置，將在任意被選擇的輸入鍵被切換到導通狀態(tài)時的前述基準電位的變化作為輸出進行檢測，其特征在于，由前述切換裝置選擇了任意的輸入鍵時，在保持該選擇的選擇保持時間內(nèi)，由檢測裝置至少2次檢測前述輸出，并在該檢測輸出沒有發(fā)生變化時或沒有預定量以上的變化的切換狀態(tài)時，在經(jīng)過該輸入鍵的選擇保持時間后切換到選擇下一個輸入鍵；設(shè)有控制裝置，該控制裝置當至少2次檢測的前述輸出在發(fā)生變化或超過了預定量的變化時，將對該輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定成為比前述切換狀態(tài)長。
2.如權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于，在前述控制裝置中，設(shè)定基準選擇保持時間和比所述基準選擇保持時間短的縮短保持時間；在至少2次檢測的前述輸出沒變化或沒有超過預定量以上變化時，將所述輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定為前述縮短保持時間；在至少2次檢測的前述輸出有變化或超過預定量已變化時，將所述輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定為前述基準選擇保持時時間。
3.如權(quán)利要求2所述的輸入裝置，其特征在于，在選擇任意的輸入鍵時，當至少2次檢測出的前述輸出發(fā)生變化或超過預定量已變化時，將所述輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定為前述基準選擇保持時間，并且將對于接下來選擇的至少一個輸入鍵的選擇保持時間設(shè)定成前述基準選擇保持時間。
4.如權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于，前述輸入鍵，被切換為導通狀態(tài)和非導通狀態(tài)，并且通過該輸入鍵的電流量按照導通狀態(tài)下的操作力的大小而變化；前述檢測裝置可檢測電流量已變化時的前述基準電位的變化量。
全文摘要
本發(fā)明提供一種輸出檢測多個輸入鍵時能夠縮短輸出檢測時間、進行高速輸出檢測的輸入裝置。在選擇切換裝置(28a)中選擇任意的輸入鍵(K1～K12)時，在保持該選擇的選擇保持時間(T1)內(nèi)根據(jù)檢測裝置(30)至少兩次檢測電壓(Va、Vb)，當該檢測電壓(Va、Vb)不發(fā)生變化時或不發(fā)生預定量以上的變化的切換狀態(tài)時，經(jīng)過該輸入鍵(K1～K12)的選擇保持時間(T1)后，進行向下一個輸入鍵(K1～K12)的選擇切換，在至少兩次檢測出的前述電壓(Va、Vb)變化或是超過預定量變化的時候，將對該輸入鍵(K1～K12)的選擇保持時間(T2)設(shè)定為比切換狀態(tài)長的控制裝置(30)。
文檔編號A63F13/02GK1904809SQ200610109088
公開日2007年1月31日 申請日期2006年7月28日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月29日
發(fā)明者坂倉洋大郎 申請人:阿爾卑斯電氣株式會社