機織物緯斜的檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種機織物緯斜檢測方法，至少包含下述步驟：(a)用攝像器件拍攝待測機織物的圖像；(b)對上述步驟拍攝到的織物圖像進行處理，獲得機織物的緯斜,其中步驟(b)包括計算所拍攝到的織物圖像I的灰度平均值Ga，將所拍攝到的織物圖像I各像素點的灰度減去其灰度平均值Ga得到圖像Ic，對所得到的圖像Ic做Radon變換得到矩陣Rc，在矩陣RC中計算不同傾角的投影輪廓曲線的方差，由投影輪廓曲線方差最大值所對應(yīng)的傾角確定出機織物緯線的傾斜角度；該方法通過圖像處理，分析所獲得的織物圖像，獲得機織物的緯斜。在保持測量精度的同時，不僅提高了檢測速度，而且擴大了檢測方法的適用范圍。
【專利說明】機織物緯斜的檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種機織物緯斜的檢測方法，尤其是采用圖像處理技術(shù)的檢測方法?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]紡織品的緯斜和緯彎是衡量紡織品等級乃至合格與否的重要指標(biāo)。紡織品在印花、染色、掛漿及定型等生產(chǎn)加工過程中，不可避免地產(chǎn)生緯斜和緯彎，這種緯斜和緯彎必須經(jīng)過整緯儀進行整緯處理，而整緯儀動作幅度的大小需根據(jù)緯斜和緯彎的程度而定。因此，紡織品緯斜的檢測就成為整緯儀整緯動作準(zhǔn)確與否極其重要的前提。早期技術(shù)中常用的緯斜檢測方法是旋轉(zhuǎn)掃描法與固定狹縫法。
[0003]旋轉(zhuǎn)掃描法的檢測設(shè)備基本構(gòu)成為光源、光敏器件和旋轉(zhuǎn)狹縫三部分。將旋轉(zhuǎn)狹縫位于紡織品與光敏器件中間，光源用于照射紡織品從而為之提供照明，照射方式根據(jù)紡織品的厚度可以采用透射與反射兩種。紡織品透射或反射的光經(jīng)過旋轉(zhuǎn)狹縫被光敏器件接收后被轉(zhuǎn)化為隨緯線運動同步變化的交流電信號輸出。當(dāng)狹縫與緯線平行時，光敏器件輸出信號的振幅達到最大值。這樣，光敏器件輸出信號的振幅在最大值時旋轉(zhuǎn)狹縫與檢測設(shè)備水平線的傾斜角度就是紡織品緯線在該檢測設(shè)備所處位置的傾斜角度。沿著紡織品緯線的方向安放多個緯斜檢測設(shè)備，整緯儀綜合處理每個緯斜檢測設(shè)備的檢測結(jié)果可以計算出紡織品的纟韋斜和纟韋彎。
[0004]固定狹縫法是旋轉(zhuǎn)掃描法出現(xiàn)前使用的緯斜檢測方法，其性能尚不如旋轉(zhuǎn)掃描法。
[0005]旋轉(zhuǎn)掃描法與固定狹縫法對于高速運動的紡織品檢測效果較好，但是對于低速運動的紡織品檢測效果較差，甚至當(dāng)紡織品靜止時會失去檢測能力。不僅如此，檢測設(shè)備的檢測結(jié)果事實上是紡織品緯線與檢測設(shè)備水平線的傾斜角度，當(dāng)檢測設(shè)備水平線與紡織機械保持水平即檢測設(shè)備水平線與紡織品經(jīng)線垂直時，該角度即代表紡織品的緯斜，檢測設(shè)備的安裝將會引入測量誤差。故檢測設(shè)備對安裝精度要求較高，安裝精度將會直接影響測量精度。
[0006]隨著處理器和攝像器件性能的不斷提高，圖像處理技術(shù)日趨廣泛地應(yīng)用于織物的品質(zhì)分析(如織物密度、織物疵點、緯斜及弓緯等)與質(zhì)量控制流程。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的是提供一種機織物緯斜的檢測方法，其測量精度較高，速度快，測量精度不受紡織品運動速度的限制，而且安裝調(diào)試簡單。
[0008]本發(fā)明的目的是通過下述技術(shù)方案實現(xiàn)的:一種機織物緯斜的檢測方法，至少包含下述步驟:
[0009](a)用攝像器件拍攝待測機織物的圖像；
[0010](b)對上述步驟拍攝到的織物圖像進行處理，獲得機織物的緯斜，
[0011]其中步驟(b)包括計算所拍攝到的織物圖像I的灰度平均值Ga，將所拍攝到的織物圖像I各像素點的灰度減去其灰度平均值Ga得到圖像Ic，對所得到的圖像Ic做Radon變換得到矩陣Re，在矩陣RC中計算不同傾角(積分直線法向與X軸的夾角)的投影輪廓曲線的方差，由投影輪廓曲線方差最大值所對應(yīng)的傾角確定出機織物緯線的傾斜角度。
[0012]所述步驟(b)中織物圖像I的灰度平均值Ga計算過程如下:設(shè)織物圖像I的大小
為MXN，其灰度平均值
【權(quán)利要求】
1.一種機織物緯斜的檢測方法，其特征在于:至少包含下述步驟: (a)用攝像器件拍攝待測機織物的圖像； (b)對上述步驟拍攝到的織物圖像進行處理，獲得機織物的緯斜，其中步驟(b)包括計算所拍攝到的織物圖像I的灰度平均值Ga，將所拍攝到的織物圖像I各像素點的灰度減去其灰度平均值Ga得到圖像Ic，對所得到的圖像Ic做Radon變換得到矩陣Re，在矩陣RC中計算不同傾角的投影輪廓曲線的方差，由投影輪廓曲線方差最大值所對應(yīng)的傾角確定出機織物緯線的傾斜角度； 所述步驟(b)中織物圖像I的灰度平均值Ga計算過程如下:設(shè)織物圖像I的大小為
MXN，其灰度平均
2.如權(quán)利要求1所述一種機織物緯斜的檢測方法，其特征在于:所述步驟(b)中還包括如下步驟:初級檢測以較大的步長在所拍攝到的織物圖像的較小尺寸的子圖像上全局搜索投影輪廓曲線方差的最大值，使用較小步長在全尺寸的織物圖像上小范圍搜索投影輪廓曲線方差的最大值，從中確定出機織物緯線的傾斜角度，分級的級數(shù)可以根據(jù)檢測要求設(shè)定。
【文檔編號】D06H3/12GK103924432SQ201410174967
【公開日】2014年7月16日 申請日期:2014年4月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月28日
【發(fā)明者】趙雪英, 李陽, 宮元九, 尹鳳杰, 竇春軼 申請人:遼寧大學(xué)