專利名稱：一種開方對線校對檢具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及太陽能硅片制造領(lǐng)域，具體涉及一種開方對線校對檢具。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中在太陽能應(yīng)用領(lǐng)域需要用到太陽能硅片，硅片是利用鋼線切割晶棒形成的。在對晶棒開方的過程中，需要用到鋼線切割，通常會由于人為的因素導(dǎo)致鋼線對線不準，對產(chǎn)品質(zhì)量帶來一定的影響。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一種開方對線校對檢具，能夠有效防止人為因素導(dǎo)致的鋼線對線不準的發(fā)生，提高產(chǎn)品質(zhì)量。為解決上述現(xiàn)有的技術(shù)問題，本實用新型采用如下方案一種開方對線校對檢具， 包括方形框架，所述方形框架的四邊上分別設(shè)有若干并列的校對塊，所述方形框架的任一邊上的校對塊均與對邊的校對塊對稱，所述方形框架的四角均設(shè)有一個定位銷。作為優(yōu)選，所述方形框架的任一邊上均設(shè)有并列的5個校對塊。校對方便。作為優(yōu)選，所述定位銷的直徑為12cm。定位準。有益效果本實用新型采用上述技術(shù)方案提供一種開方對線校對檢具，能夠有效防止人為因素導(dǎo)致的鋼線對線不準的發(fā)生，提高產(chǎn)品質(zhì)量。

圖1為本實用新型的主視圖；圖2為本實用新型的俯視圖。
具體實施方式
如圖1和圖2所示，一種開方對線校對檢具，包括方形框架1，所述方形框架1的四邊上分別設(shè)有若干并列的校對塊2，所述方形框架1的任一邊上的校對塊2均與對邊的校對塊2對稱，所述方形框架1的四角均設(shè)有一個定位銷3。所述方形框架1的任一邊上均設(shè)有并列的5個校對塊2。所述定位銷3的直徑為12cm。實際使用時，將校對檢具放置于工作臺面上，利用定位銷3定位，對鋼線進行對線校對，有效防止了人為因素導(dǎo)致的鋼線對線不準的發(fā)生，提高了產(chǎn)品質(zhì)量。
權(quán)利要求1.一種開方對線校對檢具，包括方形框架(1)，其特征在于所述方形框架(1)的四邊上分別設(shè)有若干并列的校對塊(2)，所述方形框架(1)的任一邊上的校對塊(2)均與對邊的校對塊(2)對稱，所述方形框架(1)的四角均設(shè)有一個定位銷(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種開方對線校對檢具，其特征在于所述方形框架(1)的任一邊上均設(shè)有并列的5個校對塊(2)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種開方對線校對檢具，其特征在于所述定位銷(3)的直徑為12cm。
專利摘要本實用新型提供一種開方對線校對檢具，包括方形框架，所述方形框架的四邊上分別設(shè)有若干并列的校對塊，所述方形框架的任一邊上的校對塊均與對邊的校對塊對稱，所述方形框架的四角均設(shè)有一個定位銷。能夠有效防止人為因素導(dǎo)致的鋼線對線不準的發(fā)生，提高產(chǎn)品質(zhì)量。
文檔編號B28D5/04GK201970409SQ201020645109
公開日2011年9月14日 申請日期2010年12月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月3日
發(fā)明者張敏 申請人:湖州晶能電子科技有限公司