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      一種磁控濺射可鋼化雙銀low-e玻璃及制備該玻璃的方法

      文檔序號(hào):1853446閱讀:258來(lái)源:國(guó)知局
      專(zhuān)利名稱:一種磁控濺射可鋼化雙銀low-e 玻璃及制備該玻璃的方法
      一種磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃及制備該玻璃的方法技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃,本發(fā)明還涉及一種磁控濺射法制備可鋼化雙銀LOW-E玻璃的方法。背景技術(shù)
      玻璃是在當(dāng)代的生產(chǎn)和生活中扮演著重要角色,建筑物的門(mén)窗汽車(chē)車(chē)窗和擋風(fēng)玻璃等等許多地方都用到玻璃,給生產(chǎn)和生活帶來(lái)了很多的方便。但是現(xiàn)有的鍍膜玻璃的鍍膜層與玻璃基材的結(jié)合力弱、鍍膜層疏松、不均勻。
      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明目的是克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種透過(guò)率高,鍍膜層與玻璃基材的結(jié)合力強(qiáng)、鍍膜層致密、均勻的磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃,本發(fā)明還提供一種磁控濺射法制備可鋼化雙銀LOW-E玻璃的方法。
      本發(fā)明是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的
      一種磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃,包括有玻璃基片1,其特征在于在玻璃基片的復(fù)合面上由內(nèi)到外依次相鄰地磁控濺射有十三個(gè)膜層,其中第一膜層即最內(nèi)層為SW2 層21,第二層為T(mén)iA層22,第三層為CrNx層23,第四層為ZnO層M,第五層為Ag層25,第六層為NiCrOy層沈,第七層為T(mén)W2層27,第八層為SiSn3O4層觀,第九層為ZnO層四,第十層為Ag層210,第i^一層為NiCrOy層211,第十二層為T(mén)iO2層212,最外層為Si3N4Oy層 213。
      如上所述的磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃,其特征在于所述第一膜層SW2層21 的厚度為23 27nm,第二層TW2層22的厚度為觀 32nm,第三層CrNx層23的厚度為 1. 5 3nm,第四層ZnO層M的厚度為8 12nm,第五層Ag層25的厚度為8 12nm,第六層NiCrOy層沈的厚度為1. 5 3nm,第七層TW2層27的厚度為觀 32nm,第八層SiSn3O4 層觀的厚度為58 62nm,第九層ZnO層四的厚度為8 12nm,第十層Ag層210的厚度為8 12nm,第i^一層NiCrOy層211的厚度為1. 5 3nm,第十二層TiO2層212的厚度為 18 22nm,最外層Si3N4Oy層213的厚度為28 32nm。
      一種磁控濺射法制備上述的可鋼化雙銀LOW-E玻璃的方法,其特征在于包括如下步驟
      (1)磁控濺射S^2層,用交流中頻電源、氮?dú)庾鞣磻?yīng)氣體濺射半導(dǎo)體材料重量比 Si Al (90 98 2 10);
      (2)磁控濺射Ti02層,用交流中頻電源濺射陶瓷鈦靶;
      (3)磁控濺射CrNx層,用氮?dú)庾龇磻?yīng)氣體,用直流電源濺射;
      (4)磁控濺射ZnO層,平滑CrNx層,用中頻交流電源濺射陶瓷Si靶,為Ag層作鋪墊;
      (5)磁控濺射Ag層,交流電源濺射;
      (6)磁控濺射N(xiāo)iCrOy層,用氮?dú)庾龇磻?yīng)氣體,滲少量氧氣,用直流電源濺射;
      (7)磁控濺射Ti02層,用交流中頻電源濺射陶瓷鈦靶;
      (8)磁控濺射aiSn304層,用中頻交流電流濺射SiSn重量比(Zn Sn = 48 52 48 5 ;
      (9)磁控濺射ZnO層,平滑CrNx層,用中頻交流電源濺射陶瓷Si靶,為Ag層作鋪墊;
      (10)磁控濺射^Vg層,交流電源濺射;
      (11)磁控濺射N(xiāo)iCrOy層,用氮?dú)庾龇磻?yīng)氣體,滲少量氧氣,用直流電源濺射;
      (12)磁控濺射Ti02層,用交流中頻電源濺射陶瓷鈦靶;
      (13)磁控濺射Si3N40y層,氮?dú)庾鞣磻?yīng)氣體、用交流中頻電源濺射半導(dǎo)體材料重量比 Si Al (90 98 2 10)。
      如上所述的方法,其特征在于所述第一膜層SiA層21的厚度為23 27nm,第二層 TiO2層22的厚度為觀 32nm,第三層CrNx層23的厚度為1. 5 3nm,第四層ZnO層M的厚度為8 12nm,第五層Ag層25的厚度為8 12nm,第六層NiCrOy層沈的厚度為1. 5 3nm,第七層TW2層27的厚度為觀 32nm,第八層SiSn3O4層觀的厚度為58 62nm,第八層ZnO層四的厚度為8 12nm,第十層Ag層210的厚度為8 12nm,第—^一層NiCrOy層 211的厚度為1.5 3nm,第十二層TiO2層212的厚度為18 22nm,最外層Si3N4Oy層213 的厚度為觀 32nm。
      與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明有如下優(yōu)點(diǎn)
      1、本發(fā)明采用磁控濺射法將鍍膜層濺射在玻璃基材上,鍍膜層
      2、本玻璃利用TiO2膜的高折射率,使鍍膜玻璃顏色呈中性,使之具有較高的可見(jiàn)光透過(guò)率,本玻璃透光率T (透過(guò)透明或半透明體的光通量與其入射光通量的百分率達(dá) 84%,輻射率< 0. 04,并利用TiO2降低銀膜的面電阻,減少銀的消耗。
      3、本玻璃鋼化前后透過(guò)率偏差小于1. 5%,漂移小,ΔΕ < 1. 0,顏色偏差小,按國(guó)標(biāo)法測(cè)耐磨ΔΕ < 2. 0。

      圖1是本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖。
      具體實(shí)施方式
      —種磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃,包括有玻璃基片1,在玻璃基片的復(fù)合面上由內(nèi)到外依次相鄰地磁控濺射有十三個(gè)膜層,其中第一膜層即最內(nèi)層為SiO2層21,第二層為T(mén)W2層22,第三層為CrNx層23,第四層為ZnO層M,第五層為Ag層25,第六層為NiCrOy 層沈,第七層為T(mén)W2層27,第八層為SiSn3O4層觀,第九層為ZnO層四,第十層為Ag層210, 第—^一層為NiCrOy層211,第十二層為T(mén)iO2層212,最外層為Si3N4Oy層213。
      所述第一膜層SW2層21,即二氧化硅層,通過(guò)與TiO2結(jié)合提高折射率,SiO2的厚度為 23 27nm,nm 是納米,Im = 109nm。
      所述第二膜層的TW2層22,即鈦的氧化物——二氧化鈦。采用高折射率η = 2. 5的TW2是為了提高玻璃的透光率,而且玻璃呈中性顏色,使之具有較高的可見(jiàn)光透過(guò)率,并利用TiO2降低銀膜的面電阻,減少銀的消耗。TiO2膜表面非常光滑,因而改善了銀膜的導(dǎo)電率。TiO2層厚度為觀 32nm。
      第三層CrNx層23,即氮化鉻層,提高耐磨性,CrNx層厚度為1. 5 3nm。CrNx厚度為 1. 5 3nm。
      第四層ZnO層24,即氧化鋅層,是減反射的金屬氧化物層,同時(shí)進(jìn)一步提高銀膜的導(dǎo)電率。氧化鋅ZnO可用作助熔劑,降低玻璃的燒結(jié)溫度,用作玻璃涂料,讓可見(jiàn)光通過(guò)的同時(shí)反射紅外線,以達(dá)到保溫或隔熱的效果。ZnO層厚度為8 12nm。
      所述第五層Ag層25,即金屬銀層,金屬銀層提供了較低的輻射率,起環(huán)保節(jié)能的作用;Ag層厚度為8 12nm。
      第六層,即氧化鎳鉻層,氧化鎳鉻層為了進(jìn)一步保護(hù)銀膜,以避免銀膜在反應(yīng)濺射過(guò)程受到浸蝕,還要在薄的銀膜一側(cè)或兩側(cè)增加所謂的“阻擋層”,對(duì)于鍍層具有非常良好的抗化學(xué)和機(jī)械性能。NiCrOy層的厚度為1. 5 3nm。
      第七層TW2層27,即鈦的氧化物——二氧化鈦。TW2層的厚度為觀 32nm。
      第八層SiSn3O4層28,即氧化鋅錫層,ZnSn304的的厚度為58 62nm,
      第九層ZnO層29,即氧化鋅層,是減反射的金屬氧化物層,同時(shí)進(jìn)一步提高銀膜的導(dǎo)電率。氧化鋅ZnO可用作助熔劑,降低玻璃的燒結(jié)溫度,用作玻璃涂料,讓可見(jiàn)光通過(guò)的同時(shí)反射紅外線,以達(dá)到保溫或隔熱的效果。ZnO層的厚度為8 12nm。
      第十層Ag層210,即金屬銀層,金屬銀層提供了較低的輻射率,起環(huán)保節(jié)能的作用;Ag層的厚度為8 12nm。
      第十一層NiCrOy層211,即氧化鎳鉻層,氧化鎳鉻層為了進(jìn)一步保護(hù)銀膜,以避免銀膜在反應(yīng)濺射過(guò)程受到浸蝕,還要在薄的銀膜一側(cè)或兩側(cè)增加所謂的“阻擋層”,對(duì)于鍍層具有非常良好的抗化學(xué)和機(jī)械性能。NiCrOy層的厚度為1. 5 3nm。
      第十二層TW2層212,即鈦的氧化物——二氧化鈦,厚度為18 22nm。
      最外層Si3N40y層29,即氮氧化硅層,氮氧化硅提高鋼化時(shí)抗高溫氧化性,Si3N4Oy 層厚度為觀 32nm。
      一種磁控濺射法制備權(quán)上述的可鋼化雙銀LOW-E玻璃的方法,包括如下步驟
      (14)磁控濺射SiO2層,用交流中頻電源、氮?dú)庾鞣磻?yīng)氣體濺射半導(dǎo)體材料 Si Al (90 98 2 10);
      (15)磁控濺射Ti02層,用交流中頻電源濺射陶瓷鈦靶;
      (16)磁控濺射CrNx層,用氮?dú)庾龇磻?yīng)氣體,用直流電源濺射;
      (17)磁控濺射ZnO層,平滑CrNx層,用中頻交流電源濺射陶瓷Si靴,為Ag層作鋪墊;
      (18)磁控濺射Ag層,交流電源濺射;
      (19)磁控濺射N(xiāo)iCrOy層,用氮?dú)庾龇磻?yīng)氣體,滲少量氧氣,用直流電源濺射;
      (20)磁控濺射Ti02層,用交流中頻電源濺射陶瓷鈦靶;
      磁控濺射aiSn304層,用中頻交流電流濺射SiSn (Zn Sn48 52 48 52);
      (22)磁控濺射ZnO層,平滑CrNx層,用中頻交流電源濺射陶瓷Si靶,為Ag層作鋪墊;
      (23)磁控濺射Ag層,交流電源濺射;
      (24)磁控濺射N(xiāo)iCrOy層,用氮?dú)庾龇磻?yīng)氣體,滲少量氧氣,用直流電源濺射;
      (25)磁控濺射Ti02層,用交流中頻電源濺射陶瓷鈦靶;
      (26)磁控濺射Si3N40y層,氮?dú)庾鞣磻?yīng)氣體、用交流中頻電源濺射半導(dǎo)體材料 Si Al (90 98 2 10)。
      本發(fā)明的優(yōu)選方案
      所述第一膜層SW2層21的厚度為25nm,第二層TW2層22的厚度為30nm,第三層 CrNx層23的厚度為2nm,第四層ZnO層M的厚度為lOnm,第五層Ag層25的厚度為10nm, 第六層NiCrOy層沈的厚度為2nm,第七層TW2層27的厚度為30nm,第八層SiSn3O4層觀的厚度為60nm,第九層ZnO層四的厚度為lOnm,第十層Ag層210的厚度為lOnm,第—^一層 NiCrOy層211的厚度為2nm,第十二層TiO2層212的厚度為20nm,最外層Si3N4Oy層213的厚度為30nm。
      步驟(1)和步驟(13)中半導(dǎo)體材料的配比均為Si Al (90 10),步驟(8)中鋅和錫配比為Zn Sn (50 50)。
      Low-E玻璃也叫做低輻射鍍膜玻璃。
      本發(fā)明采用磁控濺射法將鍍膜層濺射在玻璃基材上,鍍膜層與玻璃基材的結(jié)合力強(qiáng)、鍍膜層致密、均勻。本玻璃利用TiO2膜的高折射率,使鍍膜玻璃顏色呈中性,使之具有較高的可見(jiàn)光透過(guò)率,并利用TiA降低銀膜的面電阻,減少銀的消耗。本玻璃鋼化前后透過(guò)率偏差小于1. 5%,漂移小,ΔΕ < 1. 0,顏色偏差小,按國(guó)標(biāo)法測(cè)耐磨ΔΕ < 2. O。
      本玻璃利用TiO2膜的高折射率,使鍍膜玻璃顏色呈中性,使之具有較高的可見(jiàn)光透過(guò)率,并利用T^2降低銀膜的面電阻,減少銀的消耗。本玻璃透光率τ(透過(guò)透明或半透明體的光通量與其入射光通量的百分率)達(dá)84% ;本玻璃輻射率< 0. 04,輻射率是某物體的雙位面積輻射的熱量同雙位面積黑體在相同溫度、相同條件下輻射熱量之比。輻射率定義是某物體吸收或反射熱量的能力。玻璃的輻射率越接近于零,其絕熱性能就越好。
      權(quán)利要求
      1.一種磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃,包括有玻璃基片(1),其特征在于在玻璃基片的復(fù)合面上由內(nèi)到外依次相鄰地磁控濺射有十三個(gè)膜層,其中第一膜層即最內(nèi)層為SW2 層(21),第二層為T(mén)iO2層(22),第三層為CrNx層(23),第四層為ZnO層(M),第五層為Ag 層(25),第六層為NiCrOy層( ),第七層為T(mén)iO2層(27),第八層為SiSn3O4層( ),第九層為ZnO層( ),第十層為Ag層010),第i^一層為NiCrOy層Oil),第十二層為T(mén)iO2層 (212),最外層為 Si3N4Oy 層(213)。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃,其特征在于所述第一膜層 SiO2層Ql)的厚度為23 27nm,第二層TW2層Q2)的厚度為觀 32nm,第三層CrNx層 (23)的厚度為1.5 3nm,第四層ZnO層Q4)的厚度為8 12nm,第五層Ag層Q5)的厚度為8 12nm,第六層NiCrOy層Q6)的厚度為1. 5 3nm,第七層TW2層、2 )的厚度為 28 32nm,第八層SiSn3O4層Q8)的厚度為58 62nm,第九層ZnO層Q9)的厚度為8 12nm,第十層Ag層QlO)的厚度為8 12nm,第—^一層NiCrOy層Qll)的厚度為1. 5 3nm,第十二層TW2層012)的厚度為18 22nm,最外層Si3N4Oy層Q13)的厚度為洲 32nm。
      3.—種磁控濺射法制備權(quán)利要求1所述的可鋼化雙銀LOW-E玻璃的方法,其特征在于包括如下步驟(1)磁控濺射SiO2層,用交流中頻電源、氮?dú)庾鞣磻?yīng)氣體濺射半導(dǎo)體材料重量比51 Al (90 98 2 10);(2)磁控濺射Ti02層,用交流中頻電源濺射陶瓷鈦靶;(3)磁控濺射CrNx層,用氮?dú)庾龇磻?yīng)氣體,用直流電源濺射;(4)磁控濺射ZnO層,平滑CrNx層,用中頻交流電源濺射陶瓷Si靶,為Ag層作鋪墊;(5)磁控濺射Ag層,交流電源濺射;(6)磁控濺射MCrOy層,用氮?dú)庾龇磻?yīng)氣體,滲少量氧氣,用直流電源濺射;(7)磁控濺射Ti02層,用交流中頻電源濺射陶瓷鈦靶;(8)磁控濺射aiSn304層,用中頻交流電流濺射SiSn重量比(Zn Sn = 48 52 48 5 ;(9)磁控濺射ZnO層,平滑CrNx層,用中頻交流電源濺射陶瓷Si靶,為Ag層作鋪墊;(10)磁控濺射Ag層,交流電源濺射;(11)磁控濺射MCrOy層,用氮?dú)庾龇磻?yīng)氣體,滲少量氧氣,用直流電源濺射;(12)磁控濺射Ti02層,用交流中頻電源濺射陶瓷鈦靶;(13)磁控濺射Si3N40y層,氮?dú)庾鞣磻?yīng)氣體、用交流中頻電源濺射半導(dǎo)體材料重量比 Si Al (90 98 2 10)。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于所述第一膜層SiO2層的厚度為23 27nm,第二層TW2層Q2)的厚度為觀 32nm,第三層CrNx層Q3)的厚度為1. 5 3nm,第四層ZnO層04)的厚度為8 12nm,第五層Ag層Q5)的厚度為8 12nm,第六層NiCrOy 層06)的厚度為1. 5 3nm,第七層TW2層、2 )的厚度為觀 32nm,第八層SiSn3O4層 (28)的厚度為58 62nm,第八層ZnO層Q9)的厚度為8 12nm,第十層Ag層QlO)的厚度為8 12nm,第i^一層NiCrOy層Qll)的厚度為1. 5 3nm,第十二層TiO2層Q12)的厚度為18 22nm,最外層Si3N4Oy層Q13)的厚度為沘 32nm。
      全文摘要
      本發(fā)明公開(kāi)了一種磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃,包括有玻璃基片,其特征在于在玻璃基片的復(fù)合面上由內(nèi)到外依次相鄰地磁控濺射有十三個(gè)膜層,其中第一膜層即最內(nèi)層為SiO2層,第二層為T(mén)iO2層,第三層為CrNx層,第四層為ZnO層,第五層為Ag層,第六層為NiCrOy層,第七層為T(mén)iO2層,第八層為ZnSn3O4層,第九層為ZnO層,第十層為Ag層,第十一層為NiCrOy層,第十二層為T(mén)iO2層,最外層為Si3N4Oy層。本發(fā)明目的是克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種透過(guò)率高,鍍膜層與玻璃基材的結(jié)合力強(qiáng)、鍍膜層致密、均勻的磁控濺射可鋼化雙銀LOW-E玻璃,本發(fā)明還提供一種磁控濺射法制備可鋼化雙銀LOW-E玻璃的方法。
      文檔編號(hào)C03C17/36GK102503174SQ201110348500
      公開(kāi)日2012年6月20日 申請(qǐng)日期2011年11月7日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月7日
      發(fā)明者林改 申請(qǐng)人:中山市格蘭特實(shí)業(yè)有限公司火炬分公司
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