碑材專用陶板的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種碑材專用陶板。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)在的碑材普遍采用的是石材,如大理石,花鋼巖等天然石材,一般切割打磨后,雕刻后用油漆或金粉涂描,短時(shí)間色彩鮮艷,但是經(jīng)過幾年的風(fēng)吹雨淋日曬,所涂的油漆金粉會脫落褪色,需要經(jīng)常重新涂描,而且天然石材也不耐自然風(fēng)化,一些古代優(yōu)秀書法名家的碑刻已殘破不堪,字跡不清,失去文化歷史的價(jià)值。最重要的是天然石材的開伐會破壞生態(tài)環(huán)境。因此亟待開發(fā)出能夠替代天然石材的碑材,克服上述采用天然石材作碑材的問題。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的是解決現(xiàn)有技術(shù)中采用天然石材制作成碑材所存在的上述問題,提供一種碑材專用陶板。本實(shí)用新型設(shè)計(jì)一種碑材專用陶板,其特征在于:陶板的橫截面為矩形,其中間設(shè)置有中空腔體。陶板的四面為光面,在陶板的正反兩面有雕刻的圖案和或文字,在所雕刻的圖案和或文字的雕刻面上涂布有釉面,所涂布的釉面經(jīng)過高溫?zé)?。陶板的中空腔體為單一腔體或?yàn)槿舾蓚€(gè)小的中空腔體。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是經(jīng)久耐用,所雕刻的圖案和或文字上涂布的釉面永不褪色,而且生產(chǎn)成本低,生產(chǎn)效率高,生產(chǎn)中對于自然環(huán)境無損壞。
【附圖說明】
[0004]下面結(jié)合附圖和實(shí)例對本實(shí)用新型作詳細(xì)說明。
[0005]附圖1、2、3為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0006]圖中一種碑材專用陶板,其特征在于:陶板I的橫截面為矩形,其中間設(shè)置有中空腔體2。陶板的四面為光面,在陶板的正反兩面有雕刻的圖案和或文字,在所雕刻的圖案和或文字的雕刻面3上涂布有釉面4,所涂布的釉面經(jīng)過高溫?zé)啤L瞻宓闹锌涨惑w為單一腔體或?yàn)槿舾蓚€(gè)小的中空腔體。
[0007]生產(chǎn)時(shí),可以根據(jù)需要設(shè)計(jì)尺寸,如可以用真空擠壓成形技術(shù)生產(chǎn)陶板碑材,厚度米用50--120暈米,寬度500--1200暈米,中間形成空腔,空腔一方面可以減輕重量,另外也可以增強(qiáng)強(qiáng)度,可以制成長條形的坯材,然后燒制,根據(jù)需要在高度上任意切割,由于碑的底面是座落在碑基上的,不用額外的加工,而碑材的上端有中空腔,可以另外設(shè)置陶質(zhì)的碑帽,將碑帽套在碑的上端即可。
[0008]這樣,當(dāng)需要制作碑時(shí),就可以根據(jù)用戶需要,從現(xiàn)成的碑材中切割一定高度的坯料,然后用電腦雕刻機(jī)在碑的正反兩面上進(jìn)行雕刻,然后在雕刻痕跡處涂布上釉,再進(jìn)行一次燒制,釉面牢固地附著在陶面上,永不褪色。
[0009]陶板色彩豐富,強(qiáng)度高,色差小,耐腐蝕,抗自然風(fēng)化,是替代天然石材的最佳產(chǎn)品O
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種碑材專用陶板,其特征在于:陶板的橫截面為矩形,其中間設(shè)置有中空腔體。
2.按權(quán)利要求1所述的一種碑材專用陶板,其特征在于:陶板的四面為光面,在陶板的正反兩面有雕刻的圖案和或文字,在所雕刻的圖案和或文字的雕刻面上涂布有釉面,所涂布的釉面經(jīng)過高溫?zé)啤?br>3.按權(quán)利要求1所述的一種碑材專用陶板,其特征在于:陶板的中空腔體為單一腔體或?yàn)槿舾蓚€(gè)小的中空腔體。
【專利摘要】本實(shí)用新型設(shè)計(jì)一種碑材專用陶板,其特征在于:陶板的橫截面為矩形,其中間設(shè)置有中空腔體。陶板的四面為光面,在陶板的正反兩面有雕刻的圖案和或文字,在所雕刻的圖案和或文字的雕刻面上涂布有釉面,所涂布的釉面經(jīng)過高溫?zé)?。陶板的中空腔體為單一腔體或?yàn)槿舾蓚€(gè)小的中空腔體。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是經(jīng)久耐用,所雕刻的圖案和或文字上涂布的釉面永不褪色,而且生產(chǎn)成本低,生產(chǎn)效率高,生產(chǎn)中對于自然環(huán)境無損壞。
【IPC分類】B44C1-00, E04H13-00
【公開號】CN204552252
【申請?zhí)枴緾N201520071727
【發(fā)明人】杭維農(nóng)
【申請人】杭維農(nóng)
【公開日】2015年8月12日
【申請日】2015年2月2日