專利名稱：顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及圖像質(zhì)量分析方法和系統(tǒng)，更確切地說，本發(fā)明涉及顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
針對與陰極射線管、液晶顯示器、等離子顯示板、有機(jī)EL(電致發(fā)光)顯示裝置等有關(guān)的技術(shù)，已經(jīng)開發(fā)了多種改進(jìn)的顯示裝置。特別是，因?yàn)橐壕э@示器具有能耗低、重量輕、厚度薄和有害的電磁輻射低等優(yōu)點(diǎn)，所以液晶顯示器被大家公認(rèn)為將作為下一代顯示裝置。
在現(xiàn)有技術(shù)中，對上述液晶顯示裝置等平板顯示裝置的圖像質(zhì)量分析包括接通液晶板和用操作者的肉眼分析液晶顯示器的圖像質(zhì)量水平。之所以要對這種顯示裝置進(jìn)行圖像質(zhì)量分析，是因?yàn)榇嬖趫D像滯留、斑點(diǎn)和模糊。例如，在確定顯示裝置圖像滯留量級的過程中，當(dāng)長時間地將圖1所示特定的像圖輸出到顯示裝置，而后改變其驅(qū)動模式時，需判斷滯留了多少特定的像圖。圖1是表示用來評價現(xiàn)有技術(shù)中常規(guī)顯示裝置圖像質(zhì)量的像圖實(shí)例圖形。
然而，由于操作者的技術(shù)熟練程度不同，所以這種借助操作者肉眼進(jìn)行的圖像質(zhì)量分析會在檢查結(jié)果之間出現(xiàn)差異。此外，即使是在同一個操作者進(jìn)行的分析中，由于操作者在不同時間點(diǎn)的實(shí)際狀態(tài)不同，所以精確程度也有可能不一致。因此，通過操作者肉眼對圖像質(zhì)量進(jìn)行的分析不能提供客觀的數(shù)值。而且，操作者的主觀性可能會介入到分析中。特別是，在檢查顯示裝置圖像質(zhì)量的一致性時，既使是在同一個操作者進(jìn)行的分析中，也會因操作者觀察屏幕的視角和照射條件不同而在評價圖像質(zhì)量一致性時出現(xiàn)明顯差別。此外，人對顯示裝置中模糊、形成斑點(diǎn)等缺陷的認(rèn)識水平也會隨屏幕中顯示的圖像亮度和周圍照射條件的不同而改變。通常，當(dāng)顯示圖像的亮度較高時，既使是顯示裝置中存在明顯缺陷(例如，因驅(qū)動器IC的缺陷而導(dǎo)致出現(xiàn)模糊)，也不會完全感覺到模糊缺陷、斑點(diǎn)形成等。
正如從以上的描述中可以看出的那樣，由于操作者的主觀性介入到對顯示裝置圖像質(zhì)量的評價中，所以很難在顯示裝置的制造商和購買者之間給出客觀和公正的評價標(biāo)準(zhǔn)。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明涉及提供一種圖像質(zhì)量分析方法和系統(tǒng)，所述方法和系統(tǒng)基本上克服了因現(xiàn)有技術(shù)的局限和缺點(diǎn)而引導(dǎo)致的一個或多個問題。
本發(fā)明的目的是提供一種圖像質(zhì)量分析方法和系統(tǒng)，通過所述方法和系統(tǒng)可以用客觀的數(shù)值量化分析顯示裝置的圖像質(zhì)量水平，從而可以進(jìn)行客觀評價。
本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在下面的說明中給出，其中一部分特征和優(yōu)點(diǎn)可以從說明中明顯得出或是通過本發(fā)明的實(shí)踐而得到。通過在文字說明部分、權(quán)利要求書以及附圖中特別指出的結(jié)構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)和獲得本發(fā)明的目的和其它優(yōu)點(diǎn)。
為了得到這些和其它優(yōu)點(diǎn)并根據(jù)本發(fā)明的目的，作為概括性的和廣義的描述，本發(fā)明所述顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法包括的步驟有在第一時間周期內(nèi)向顯示裝置輸出像圖；把顯示像圖的屏顯示區(qū)分成多個分區(qū)；產(chǎn)生與多個分區(qū)在第一時間周期內(nèi)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第一測量數(shù)據(jù)；在第二時間周期內(nèi)向顯示裝置輸出像圖；產(chǎn)生與多個分區(qū)在第二時間周期內(nèi)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第二測量數(shù)據(jù)；對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理；以及根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的像圖，用第一測量數(shù)據(jù)和第二測量數(shù)據(jù)量化檢測像圖的圖像滯留輸出水平。
根據(jù)另一方面，所述顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法包括的步驟有在第一時間周期內(nèi)向顯示裝置輸出具有第一亮度的第一像圖；把顯示參考像圖的屏顯示區(qū)分成多個分區(qū)；產(chǎn)生與多個分區(qū)在第一時間周期內(nèi)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第一測量數(shù)據(jù)；在第二時間周期內(nèi)向顯示裝置輸出具有第二亮度的第二像圖，所述第二亮度低于第一亮度；產(chǎn)生與多個分區(qū)在第二時間周期內(nèi)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第二測量數(shù)據(jù)；對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理；并根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的像圖，用第一測量數(shù)據(jù)和第二測量數(shù)據(jù)量化評價顯示裝置的圖像缺陷。
根據(jù)另一方面，用于對等待圖像質(zhì)量分析的顯示裝置進(jìn)行圖像質(zhì)量分析的系統(tǒng)，包括圖像采集部分，該部分檢測將在顯示裝置的屏顯示區(qū)上顯示的圖像光學(xué)數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)處理器，其利用由圖像采集部分測得的光學(xué)數(shù)據(jù)生成與顯示裝置的圖像質(zhì)量對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)；和圖像質(zhì)量等級檢測器，用于對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理，和利用從數(shù)據(jù)處理器針對輸出到顯示裝置中的多個圖像而生成的測量數(shù)據(jù)量化評價顯示裝置的圖像質(zhì)量等級。
很顯然，上面對本發(fā)明的一般性描述和下面的詳細(xì)說明都是示例性和解釋性的，其意在對本發(fā)明的權(quán)利要求作進(jìn)一步解釋。


本申請所包含的附圖用于進(jìn)一步理解本發(fā)明，其與說明書相結(jié)合并構(gòu)成說明書的一部分，所述附圖表示本發(fā)明的實(shí)施例并與說明書一起解釋本發(fā)明的原理。附圖中圖1a-1f是表示按照現(xiàn)有技術(shù)對顯示裝置進(jìn)行圖像質(zhì)量評價時使用的像圖實(shí)例的視圖；圖2是表示按照本發(fā)明示例性實(shí)施例所述顯示裝置圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的示意圖；圖3是用于說明通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法對顯示裝置圖像滯留量級進(jìn)行量化評價過程的流程圖；圖4表示通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法檢測圖像滯留量級時使用的參考像圖；圖5表示通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法檢測圖像滯留量級時使用的圖像滯留測量用像圖；圖6是表示在長時間輸出圖像滯留測量用像圖之后，通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，檢測圖像滯留量級時使用的反復(fù)輸出的參考像圖的視圖；圖7表示的是通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，由用第一和第二測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的數(shù)據(jù)顯示的屏輸出狀態(tài)；圖8-11表示的是通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，在對圖像滯留進(jìn)行量化評價的基礎(chǔ)上完成的數(shù)據(jù)抽取和屏顯示狀態(tài)；圖12是用于說明通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，量化分析線圖像滯留和面圖像滯留的數(shù)據(jù)檢測位置的視圖；圖13表示的是通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置圖像質(zhì)量分析方法，進(jìn)行圖像滯留檢查的每個顯示裝置的線圖像滯留的量化分析結(jié)果；圖14表示的是通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的圖像質(zhì)量分析方法，得到的經(jīng)圖像滯留檢查的每一個顯示裝置的面圖像滯留的量化分析結(jié)果；圖15是用于說明通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的圖像質(zhì)量分析方法，量化評價顯示裝置模糊度等級的過程流程圖；圖16是表示屏輸出狀態(tài)的視圖，所述狀態(tài)由用第一和第二測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示，所述的第一和第二測量數(shù)據(jù)與根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的圖像質(zhì)量分析方法進(jìn)行模糊缺陷檢查的顯示裝置的圖像質(zhì)量相對應(yīng)；圖17是用于說明通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置圖像質(zhì)量分析方法量化分析模糊缺陷的數(shù)據(jù)檢測位置的視圖；圖18是用于說明通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的圖像質(zhì)量分析方法量化顯示裝置斑點(diǎn)缺陷過程的流程圖；圖19是表示屏輸出狀態(tài)的示意圖，所述屏輸出狀態(tài)由用顯示裝置的第一和第二圖像質(zhì)量測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示，所述的顯示裝置是根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的圖像分析方法進(jìn)行斑點(diǎn)缺陷檢查的顯示裝置。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在將詳細(xì)說明本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，所述實(shí)施例的實(shí)例示于附圖中。
圖2是表示按照本發(fā)明所述顯示裝置的圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的示意圖。參照圖2，按照本發(fā)明所述顯示裝置的圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)包括圖像采集部分221，其檢測從需要進(jìn)行圖像質(zhì)量分析的顯示裝置210輸出的將在屏顯示區(qū)上顯示的圖像光學(xué)數(shù)據(jù)，所述顯示裝置例如可以是液晶顯示裝置，等離子顯示板，有機(jī)EL顯示裝置等；數(shù)據(jù)處理部分222，其利用由圖像采集部分221測得的光學(xué)數(shù)據(jù)生成與顯示裝置210的圖像質(zhì)量對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)；和圖像質(zhì)量等級檢測部分223，用于將屏顯示區(qū)上顯示的像圖標(biāo)準(zhǔn)化，和根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的像圖，用由數(shù)據(jù)處理部分222針對輸出到顯示裝置210的多個圖像產(chǎn)生的測量數(shù)據(jù)量化檢測顯示裝置210的圖像質(zhì)量等級。在此，用包含2-CCD(電荷耦合器件)亮度計(jì)和色度計(jì)等的圖像采集部分221檢測來自顯示裝置210的每個檢測區(qū)(例如，每個象素單元)的亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)。
采用上述結(jié)構(gòu)的顯示裝置圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)，可以對顯示裝置的圖像滯留、模糊缺陷(或模糊特征中的非均勻性)、斑點(diǎn)缺陷(或在顯示圖像中形成的斑點(diǎn))等進(jìn)行量化分析。
現(xiàn)在，將接著說明對顯示裝置中每個有缺陷的特征進(jìn)行圖像質(zhì)量分析的方法。圖3是用于說明通過本發(fā)明所述顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法對顯示裝置圖像滯留程度進(jìn)行量化評價過程的流程圖；首先，將參考像圖輸出到顯示裝置，將顯示參考像圖的屏顯示區(qū)分成多個分區(qū)，相對于多個分區(qū)中的每個區(qū)生成第一測量數(shù)據(jù)(步驟310)。此時，可以用通過像圖發(fā)生器等的各種方式將像圖輸出到顯示裝置(即使是在相同像圖的情況下，每個像圖的亮度也可以不同)。在此，將以對整個屏來說用半灰度像圖形式輸出的像圖為例進(jìn)行說明。
就相對于多個分區(qū)中每個區(qū)生成的測量數(shù)據(jù)而言，亮度或色度數(shù)據(jù)是主要可獲得的數(shù)據(jù)。此時，利用圖像采集部分，例如2-CCD亮度計(jì)和色度計(jì)可以從顯示裝置中檢測到基本的光學(xué)亮度和色度數(shù)據(jù)?？梢杂孟铝信c檢測位置相關(guān)的矩陣式表示從顯示裝置屏區(qū)測得的亮度數(shù)據(jù)L11L12...L1nL21L22...L2n.........Lm1Lm2...Lmn]]>而且，可以用下列與檢測位置相關(guān)的矩陣式表示從顯示裝置屏區(qū)測得的色度數(shù)據(jù)。(x,y)11(x,y)12...(x,y)1n(x,y)21(x,y)22...(x,y)2n.........(x,y)m1(x,y)m2(x,y)mn]]>
此外，參照通過圖像采集裝置測得的光學(xué)亮度/色度數(shù)據(jù)，可以計(jì)算人能感覺到的代表色感差的色差(□Euv)數(shù)據(jù)而且可以用算出的色差數(shù)據(jù)對顯示裝置進(jìn)行圖像質(zhì)量分析。此時，當(dāng)獲得色差數(shù)據(jù)時，可以選擇一個特定的點(diǎn)，例如屏顯示區(qū)中的中點(diǎn)，作為參考點(diǎn)。而且，當(dāng)從顯示裝置計(jì)算對應(yīng)于圖像質(zhì)量的測量數(shù)據(jù)時，可以將屏顯示區(qū)分成多個象素單元并且根據(jù)象素單元計(jì)算測量數(shù)據(jù)。此外，可以根據(jù)各象素單元的基本象素，相對于預(yù)定等間隔定位的每個象素單元計(jì)算象素單元的測量數(shù)據(jù)。
正如現(xiàn)在將要說明的那樣，通過利用圖像采集部分測得的亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)可以產(chǎn)生色差(□Euv)數(shù)據(jù)。在產(chǎn)生色差數(shù)據(jù)的過程中，參照VESA FPDM(平板顯示器測量)V.2.0提出以下公式。L*=116×(Y′Yn)1/3-16]]>ΔL*＝L1*-L2*u*＝13×L*×(u’-u’w)v*＝13×L*×(v’-v’w)Δu*＝u1*-u2*，Δv*＝v1*-v2*，ΔEuv＝[(ΔL*)2+(Δu*)2+(Δv*)2]參照上面生成的顯示裝置亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)，可以用下列矩陣形式表示從屏顯示區(qū)產(chǎn)生的色差(□Euv)ΔEuv11ΔEuv12...ΔEuv1nΔEuv21ΔEuv12...ΔEuv1n.........ΔEuvm1ΔEuvm2...ΔEuvmn]]>
在本發(fā)明所述的顯示裝置圖像質(zhì)量分析方法中，可以利用亮度數(shù)據(jù)、色度數(shù)據(jù)(兩者均可以從屏顯示區(qū)測出)、和色差數(shù)據(jù)(根據(jù)亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)算出)進(jìn)行量化的質(zhì)量分析。
現(xiàn)在將說明利用從顯示裝置的屏顯示區(qū)測得的亮度數(shù)據(jù)檢測圖像滯留量級的方法。
原則上，即使是在所用數(shù)據(jù)不是亮度數(shù)據(jù)的情況下，也可以通過采取與下述過程類似的過程來量化評價圖像滯留量級。當(dāng)用與圖像質(zhì)量對應(yīng)的第一測量數(shù)據(jù)，例如步驟301中產(chǎn)生的亮度數(shù)據(jù)顯示輸出到屏顯示區(qū)中的圖像時，能夠出現(xiàn)如圖4中所示的圖像。
圖4是表示利用本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置圖像質(zhì)量分析方法檢測圖像滯留量級時使用的參考像圖。在本發(fā)明的示例性實(shí)施例中，用全屏半灰度輸出作為參考像圖。由于在待測顯示裝置中產(chǎn)生線性缺陷而在圖4的左側(cè)出現(xiàn)了垂直線。
此時，可以用以下的矩陣式表示從顯示裝置屏區(qū)測得的第一測量數(shù)據(jù)L11L12...L1nL21L22...L2n.........Lm1lm2...Lmn]]>在步驟301中測出參考像圖的第一測量數(shù)據(jù)之后，根據(jù)上述的預(yù)定時間把測量圖像滯留用的像圖輸出到顯示裝置(步驟302)。
在此，作為在示例性實(shí)施例中測量圖像滯留用的像圖，使用的是圖5中所示具有8×6棋盤形式的圖像。這種圖像便于攫取圖像滯留的特征。此外，8×6棋盤形式的圖像可以在形成每個棋盤圖案的相鄰位置之間形成明顯的亮度差。為了攫取顯示裝置中產(chǎn)生的圖像滯留程度，需長時間(在該示例性實(shí)施例中約為2小時)輸出測量圖像滯留用的像圖。
在步驟302之后，再次將參考像圖輸出到顯示裝置，并產(chǎn)生與多個分區(qū)中每個區(qū)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第二測量數(shù)據(jù)(步驟303)。在此，當(dāng)用產(chǎn)生的第二測量數(shù)據(jù)，例如，亮度數(shù)據(jù)顯示輸出到屏顯示區(qū)上的圖像時，將出現(xiàn)如圖6所示的圖像。
圖6是表示在長時間輸出圖像滯留測量用的像圖之后，通過本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，檢測圖像滯留程度時使用的反復(fù)輸出的參考像圖的視圖。在本發(fā)明的示例性實(shí)施例中，與步驟301中使用的參考像圖相類似，用全屏半灰度輸出作為參考像圖。由于在待測顯示裝置中產(chǎn)生線性缺陷，所以在圖6的左側(cè)出現(xiàn)垂直線。
此時，可以下面的矩陣式表示從顯示裝置屏區(qū)測得的第二測量數(shù)據(jù)IS11IS12...IS1nIS21IS22...IS2n.........ISm1ISm2...ISmn]]>此外，所選擇的檢測第二測量數(shù)據(jù)的特定象素單元的位置應(yīng)與檢測第一測量數(shù)據(jù)的特定象素單元的位置相同。即，調(diào)節(jié)數(shù)據(jù)檢測位置，使得檢測第一測量數(shù)據(jù)L11，L12…的特定象素單元的位置分別等同于檢測第二測量數(shù)據(jù)IS11，IS12…的特定象素單元的位置。
然后，利用測得的第一測量數(shù)據(jù)L11，L12…和測得的第二測量數(shù)據(jù)IS11，IS12…，對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理并且根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化的像圖量化檢測圖像滯留測量用的像圖的圖像滯留的輸出量級(步驟304)。當(dāng)檢測圖像滯留測量用像圖的圖像滯留輸出量級時，完成對線圖像滯留和面圖像滯留的量化圖像質(zhì)量評價。
在描述線圖像滯留和面圖像滯留的量化圖像質(zhì)量評價之前，將先描述分別在步驟301和步驟304中產(chǎn)生的第一測量數(shù)據(jù)L11，L12…和第二測量數(shù)據(jù)IS11，IS12…的標(biāo)準(zhǔn)化過程。在此，標(biāo)準(zhǔn)化過程是通過選擇第一測量數(shù)據(jù)L11，L12…和第二測量數(shù)據(jù)IS11，IS12…之一，并用選定的測量數(shù)據(jù)除另一測量數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)的。在本實(shí)施例中，以用第一測量數(shù)據(jù)除第二測量數(shù)據(jù)為例進(jìn)行說明。用下列矩陣式表示通過這種標(biāo)準(zhǔn)化過程產(chǎn)生的數(shù)據(jù)IS11L11IS12L12...IS13L13IS21L21IS22L22...IS2nL2n.........ISm1Lm1ISm2Lm2ISmnLmn]]>另一方面，根據(jù)上述數(shù)據(jù)顯示的顯示裝置的屏顯示區(qū)出現(xiàn)了如圖7所示的情形。在此，圖7表示的是借助本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，由用第一和第二測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的數(shù)據(jù)顯示的屏輸出狀態(tài)。由此，可從圖4，6和7獲得以下結(jié)果。
當(dāng)對圖4和6中所示的屏顯示區(qū)進(jìn)行相互比較時，可以看出，它們的視覺差很小。如上所述，圖4表示的是用在輸出參考像圖的狀態(tài)下，但在不輸出測量圖像滯留用的像圖(例如，棋盤圖形)的狀態(tài)下測得的數(shù)據(jù)顯示的屏輸出狀態(tài)，而圖6表示的是在長時間輸出測量圖像滯留用的像圖之后，用在輸出參考像圖的狀態(tài)下測得的數(shù)據(jù)顯示的屏輸出狀態(tài)。如上所述，在圖4和6所述屏輸出狀態(tài)之間的小視覺差反映了不管是否存在測量圖像滯留用的像圖輸出，屏輸出狀態(tài)都沒有變化。也就是說，這意味著，受檢查的顯示裝置具有很好的圖像質(zhì)量特性，所以不致產(chǎn)生圖像滯留。
然而，與從圖4和6得出的結(jié)果不同的是，當(dāng)以圖7為基礎(chǔ)確定圖像質(zhì)量等級時，得出的結(jié)論是受檢查的顯示裝置具有產(chǎn)生嚴(yán)重圖像滯留的較差的圖像質(zhì)量特性。換句話說，通過本發(fā)明所述顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，由于可以檢測到不能由人的肉眼識別出的圖像滯留，所以能夠更精確地評價顯示裝置出現(xiàn)的圖像滯留。對此，將參照圖7進(jìn)行說明。
可以看出，圖7中所示的屏輸出狀態(tài)類似于在步驟302中輸出的測量圖像滯留用的像圖(棋盤形)。在步驟302中輸出的測量圖像滯留用的像圖(棋盤形)保持了在步驟303中產(chǎn)生的第二測量數(shù)據(jù)中的圖像滯留狀態(tài)，由此需檢測其余的圖像滯留。在此，應(yīng)注意的是，通過用參考像圖完成標(biāo)準(zhǔn)化過程可以得到良好的顯示裝置圖像質(zhì)量評價方法。
另一方面，圖8-11表示的是通過本發(fā)明所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，在對圖像滯留進(jìn)行量化評價的基礎(chǔ)上進(jìn)行數(shù)據(jù)抽取和展示屏顯示狀態(tài)的視圖。如圖8-11所示，可以分別獲得因圖像滯留而致的強(qiáng)等級效應(yīng)(圖8)、中等級效應(yīng)(圖9)、弱等級效應(yīng)(圖10)、和極弱等級效應(yīng)(圖11)所對應(yīng)的數(shù)據(jù)。參照圖12，下面將說明線圖像滯留和面圖像滯留的量化圖像質(zhì)量評價。
圖12是用于說明采用本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置圖像分析方法，量化分析線圖像滯留和面圖像滯留的數(shù)據(jù)檢測位置的視圖。在該示例性實(shí)施例中，作為步驟302中測量圖像滯留用的像圖，使用的是具有8×6棋盤形的圖像。因此，如圖8(a)和圖8(b)中所示，在檢測圖像滯留的亮度數(shù)據(jù)中出現(xiàn)周期性改變的情況，而且在屏顯示中交替出現(xiàn)亮區(qū)和暗區(qū)。
參照圖12，當(dāng)用8×6的棋盤形作為測量圖像滯留用的像圖時，相對一條水平線產(chǎn)生七條邊界線。借此，通過在這七條邊界線的基礎(chǔ)上從兩個區(qū)中抽取數(shù)據(jù)便可以完成對線圖像滯留和面圖像滯留的量化評價。此時，當(dāng)對線圖像滯留進(jìn)行量化評價時，在產(chǎn)生線圖像滯留的邊界線中部的兩個區(qū)中獲取與圖像質(zhì)量相應(yīng)的測量數(shù)據(jù)。對于獲得的測量數(shù)據(jù)而言，如果把較大值的數(shù)據(jù)設(shè)為Nmax，而將較小值的數(shù)據(jù)設(shè)為Nmin，則可以將線圖像滯留程度量化表示成ISVL=(Nmax-NminNmax)×100]]>將上述線圖像滯留的量化評價分析結(jié)果示于表1和圖13中。在此，圖13表示的是用本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的顯示裝置圖像質(zhì)量分析方法進(jìn)行圖像滯留檢查的每個顯示裝置的線圖像滯留的量化分析結(jié)果。
表1

此外，當(dāng)量化評價線圖像滯留時，通過使用Nmax值和Nmin值可以將圖像滯留的程度表示成一個值與另一個值的比值或是兩個值之間的差值?？梢杂酶鞣N方式定義量化的量級，例如ISVL＝(Nmax-Nmin)ISVL=(NmaxNmin)]]>ISVL=(NminNmax)]]>此外，當(dāng)量化評價面圖像滯留時，在產(chǎn)生面圖像滯留的邊界線中部的兩個區(qū)域中獲取多個測量數(shù)據(jù)。然后，用得到的多個測量數(shù)據(jù)計(jì)算各平均值(雖然在圖12中以邊界線為基礎(chǔ)標(biāo)記了四個數(shù)據(jù)檢測位置，但是很顯然，實(shí)際上可以檢測更多數(shù)據(jù))。
如果把具有較大值的區(qū)域中的平均值設(shè)為N_平均_max而把具有較小值的區(qū)域中的平均值設(shè)為N_平均_min，則可以用下列公式表示面圖像滯留的量化量級。 將上述面圖像滯留的量化評價分析結(jié)果示于表2和圖14中。圖14表示的是用本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的圖像質(zhì)量分析方法得到的經(jīng)圖像滯留檢查的每個顯示裝置的面圖像滯留量化分析結(jié)果。
表2

此外，當(dāng)量化評價面圖像滯留時，通過使用N_平均_max值和N_平均_min值可以將面圖像滯留的量化量級表示成一個值與另一個值的比值或是兩個值之間的差?？梢杂靡韵赂鞣N方式定義量化量級ISVF＝(N_平均_max-N_平均_min)


通過上述步驟，可以量化評價顯示裝置的線圖像滯留和面圖像滯留。另一方面，通過本發(fā)明所述的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，還可以對除了上述顯示裝置圖像滯留之外的屏缺陷程度進(jìn)行量化和評價。在此，除了圖像滯留之外的屏問題包括模糊缺陷和斑點(diǎn)缺陷。圖15是用于說明借助本發(fā)明示例性實(shí)施例所述的圖像質(zhì)量分析方法量化評價顯示裝置模糊缺陷程度的過程流程圖。
下面，將參照圖15描述對模糊缺陷程度進(jìn)行量化的方法，該方法是本發(fā)明所述顯示裝置圖像質(zhì)量分析方法的另一分析實(shí)例。首先，將具有預(yù)定亮度的參考像圖輸出到顯示裝置，將顯示參考像圖的屏顯示區(qū)分成多個分區(qū)，產(chǎn)生與多個分區(qū)中每個區(qū)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第一測量數(shù)據(jù)(步驟1501)。此時，可以用通過像圖發(fā)生器等各種方式將像圖輸出到顯示裝置(即使在相同像圖的情況下，每個像圖的亮度也可以不同)。在此，以全屏白電平形式輸出的像圖為例進(jìn)行說明。此外，對相對于多個分區(qū)中每個區(qū)產(chǎn)生的測量數(shù)據(jù)而言，亮度數(shù)據(jù)或色度數(shù)據(jù)都是主要可獲得的數(shù)據(jù)。此外，通過例如2-CCD亮度計(jì)和色度計(jì)的圖像采集，可以從顯示裝置中檢測到基本光學(xué)亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)。
在此，可以用下列與檢測位置相關(guān)的矩陣式來表示從顯示裝置的屏區(qū)測得的亮度數(shù)據(jù)L11L12...L1nL21L22...L2n.........Lm1lm2...Lmn]]>而且，可以用下列與檢測位置相關(guān)的矩陣式來表示從顯示裝置的屏區(qū)測得的色度數(shù)據(jù)(x,y)11(x,y)12...(x,y)1n(x,y)21(x,y)22...(x,y)2n.........(x,y)m1(x,y)m2(x,y)mn]]>參照通過圖像采集部分檢測到的光學(xué)亮度/色度數(shù)據(jù)，計(jì)算由人感覺到的表示色感差的色差(□Euv)數(shù)據(jù)，而且可以用算出的色差數(shù)據(jù)完成對顯示裝置圖像質(zhì)量的分析。當(dāng)?shù)玫缴顢?shù)據(jù)時，可以選擇一個特定點(diǎn)，例如屏顯示區(qū)域中的中點(diǎn)，作為參考點(diǎn)。此外，當(dāng)從顯示裝置計(jì)算測量數(shù)據(jù)時，將屏顯示區(qū)分成多個象素單元，并相對于象素單元計(jì)算測量數(shù)據(jù)。此外，就多個象素單元的測量數(shù)據(jù)而言，可以根據(jù)各象素單元的基本象素，相對于以一預(yù)定等間隔定位的每個象素單元計(jì)算測量數(shù)據(jù)。
參照上面產(chǎn)生的顯示裝置亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)，可以用以下的矩陣式表示屏顯示區(qū)產(chǎn)生的色差(□Euv)數(shù)據(jù)ΔEuv11ΔEuv12ΔEuv1nΔEuv21ΔEuv22ΔEuv2n.........ΔEuvm1ΔEuvm2ΔEuvmn]]>借助于所述顯示裝置的示例性圖像質(zhì)量分析方法，可以利用亮度數(shù)據(jù)、色度數(shù)據(jù)(這兩種數(shù)據(jù)均可以從屏顯示區(qū)測得)和色差數(shù)據(jù)(根據(jù)亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)算出)實(shí)現(xiàn)量化的圖像質(zhì)量分析。
另一方面，在步驟1501中，可以用下列與檢測位置相關(guān)的矩陣式來表示從接收參考像圖的顯示裝置屏區(qū)測得的第一測量數(shù)據(jù)R11R12...R1nR21R22...R2n.........Rm1Rm2...Rmn]]>此外，在步驟1501之后，輸出測量模糊缺陷用的像圖，該模型與參考像圖相比具有相對很弱的亮度，把接收測量模糊缺陷用像圖的屏顯示區(qū)分成多個分區(qū)，相對多個分區(qū)中的每個區(qū)域產(chǎn)生第二測量數(shù)據(jù)(步驟1502)。將參考像圖和測量模糊缺陷用的像圖設(shè)成具有相同的圖形。測量模糊缺陷用的像圖使用具有較低亮度的像圖。在此，將以把半灰度像圖輸出到整個屏的情況作為基礎(chǔ)進(jìn)行說明。
在步驟1502中，用下列與檢測位置有關(guān)的矩陣式表示從接收測量模糊缺陷用像圖的顯示裝置屏區(qū)測得的第二測量數(shù)據(jù)D11D12...D1nD21D22...D2n.........Dm1Dm2...Dmn]]>在此，選擇檢測第二測量數(shù)據(jù)的特定象素單元的位置，使之等于檢測第一測量數(shù)據(jù)的特定象素單元的位置。即，調(diào)整數(shù)據(jù)檢測位置，使得檢測第一測量數(shù)據(jù)R11，R12…的特定象素單元的位置分別等于檢測第二測量數(shù)據(jù)D11，D12的特定象素單元的位置。
然后，利用測得的第一測量數(shù)據(jù)R11，R12…和測得的第二測量數(shù)據(jù)D11，D12，對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理，并且根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化像圖對顯示裝置的模糊缺陷進(jìn)行量化檢測(步驟1503)。
在此，在用測得的第一測量數(shù)據(jù)和測得的第二測量數(shù)據(jù)對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理的過程中，選擇第一測量數(shù)據(jù)和第二測量數(shù)據(jù)之一的數(shù)據(jù)，并用選定的數(shù)據(jù)除以另一數(shù)據(jù)。下面將以第一測量數(shù)據(jù)除第二測量數(shù)據(jù)為例進(jìn)行說明。
用下列矩陣式表示通過這種標(biāo)準(zhǔn)化過程產(chǎn)生的數(shù)據(jù)D11R11D12R12...D13R13D21R21D22R22...D2nR2n.........Dm1Rm1Dm2Rm2...DmnRmn]]>另一方面，在圖16中示出了用上述標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)顯示的顯示裝置的屏顯示區(qū)。在此，圖16是表示由利用第一和第二測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的數(shù)據(jù)顯示的屏輸出狀態(tài)，所述的第一和第二測量數(shù)據(jù)是用于通過圖像質(zhì)量分析方法檢查模糊缺陷的數(shù)據(jù)。
圖16示出了檢測模糊缺陷的實(shí)例，從圖中可以看出，模糊缺陷出現(xiàn)在屏上部的水平方向上。為了量化分析該模糊缺陷，需從產(chǎn)生模糊缺陷的邊界線中部的兩個區(qū)上獲取測量數(shù)據(jù)。
在此，如果把得到的圖像質(zhì)量測量數(shù)據(jù)中的較大值設(shè)為Nmax，而把得到的測量數(shù)據(jù)中的較小值設(shè)為Nmin，則可以用下列公式表示模糊缺陷的量化量級D11D12...DinD21D22...D2n.........Dm1Dm2...Dmn]]>需進(jìn)行數(shù)據(jù)檢測以完成該模糊缺陷的量化分析。借助圖17可以容易地發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)抽取區(qū)。在此，圖17是用于說明通過圖像質(zhì)量分析方法量化分析模糊缺陷的數(shù)據(jù)檢測位置的視圖。
參照圖17，當(dāng)在水平線上產(chǎn)生模糊缺陷時，圖17示出了與垂直線圖像質(zhì)量相應(yīng)的測量數(shù)據(jù)分析結(jié)果。當(dāng)從分析結(jié)果中發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生模糊缺陷的位置(中間突變的位置)時，相對于這一作為邊界線的位置得到量化分析用的數(shù)據(jù)。此外，當(dāng)對模糊缺陷進(jìn)行量化評價時，在產(chǎn)生模糊缺陷的邊界區(qū)中部的兩個區(qū)域中獲取多個測量數(shù)據(jù)。利用得到的多個測量數(shù)據(jù)計(jì)算各平均值。
如果把具有較大值的區(qū)域中的平均值設(shè)為N_平均_max而把具有較小值的區(qū)域中的平均值設(shè)為N_平均_min，則可以用下列公式表示模糊缺陷的量化量級。

將上述模糊缺陷的量化評價分析結(jié)果示于表3中。
表3

此外，當(dāng)對模糊缺陷進(jìn)行量化分析時，通過使用Nmax值和Nmin值可以將模糊缺陷的量化量級表示成一個值與另一個值的比值或是兩個值之間的差值。可以用以下各種方式定義表示這種量化量級的公式Max_模糊＝(Nmax-Nmin) 此外，當(dāng)量化評價模糊缺陷時，通過使用N_平均_max值和N_平均_min值可以將模糊缺陷的量化量級表示成一個值與另一個值的比值或是兩個值之間的差值?？梢杂靡韵赂鞣N方式定義量化量級平均_模糊＝((N_平均_max)-(N_平均_min)) 通過上述過程，可以量化評價顯示裝置的模糊缺陷。
圖18是用于說明通過圖像質(zhì)量分析方法量化評價顯示裝置斑點(diǎn)缺陷過程的流程圖。下面，將參照圖18說明本發(fā)明所述顯示裝置圖像質(zhì)量分析方法的另一個分析實(shí)例，即斑點(diǎn)缺陷程度量化方法。
首先，將具有預(yù)定亮度的參考像圖輸出到顯示裝置，將顯示參考像圖的屏顯示區(qū)分成多個分區(qū)，產(chǎn)生與多個分區(qū)中每個區(qū)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第一測量數(shù)據(jù)(步驟1801)。可以通過像圖發(fā)生器等各種方式將像圖輸出到顯示裝置(即使在相同像圖的情況下，每個像圖的亮度也可以不同)。在此，以全屏白電平形式輸出的像圖為例進(jìn)行說明。
當(dāng)相對于多個分區(qū)中的每個區(qū)產(chǎn)生測量數(shù)據(jù)時，亮度數(shù)據(jù)或色度數(shù)據(jù)都是主要可獲得的數(shù)據(jù)。此時，可以通過例如2-CCD亮度計(jì)和色度計(jì)的圖像采集從顯示裝置中測到基本光學(xué)亮度和色度數(shù)據(jù)。
此外，隨著相對于多個分區(qū)中的每一個區(qū)產(chǎn)生測量數(shù)據(jù)，可以獲得由亮度和色度數(shù)據(jù)計(jì)算出的色差數(shù)據(jù)。當(dāng)從顯示裝置計(jì)算測量數(shù)據(jù)時，把屏顯示區(qū)分成多個象素單元并且根據(jù)這些象素單元計(jì)算測量數(shù)據(jù)。此外，可以根據(jù)各象素單元的基本象素，針對以預(yù)定等問隔定位的每個象素單元計(jì)算測量數(shù)據(jù)。
在步驟1801中，可以用與檢測位置有關(guān)的下列矩陣式來表示從接收參考像圖的顯示裝置屏區(qū)測得的第一測量數(shù)據(jù)R11R12...R1nR21R22...R2n.........Rm1Rm2...Rmn]]>在步驟1801之后，輸出測量斑點(diǎn)用的像圖，其相比于參考像圖具有相對很弱亮度的像圖，把接收測量斑點(diǎn)用像圖的屏顯示區(qū)分成多個分區(qū)，相對多個分區(qū)中的每個區(qū)域產(chǎn)生第二測量數(shù)據(jù)(步驟1802)。
此時，參考像圖和測量斑點(diǎn)用的像圖具有相同圖形。測量斑點(diǎn)用的像圖使用了具有較低亮度的像圖。在此，將以把半灰度像圖輸出到整個屏的情況為例進(jìn)行說明。
在步驟1802中，用下列與檢測位置有關(guān)的矩陣式表示與從接收測量斑點(diǎn)用像圖的顯示裝置的屏區(qū)測得的圖像質(zhì)量相對應(yīng)的第二測量數(shù)據(jù)M11M12...M1nM21M22...M2n.........Mm1Mm2...Mmn]]>
在此，選擇檢測第二測量數(shù)據(jù)的特定象素單元的位置，使之等于檢測第一測量數(shù)據(jù)的特定象素單元的位置。即，調(diào)整數(shù)據(jù)檢測位置，使得檢測第一測量數(shù)據(jù)R11，R12…的特定象素單元的位置分別等于檢測第二測量數(shù)據(jù)M11，M12的特定象素單元的位置。
然后，利用測得的第一測量數(shù)據(jù)R11，R12…和測得的第二測量數(shù)據(jù)M11，M12，對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理，并且根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化像圖對顯示裝置的斑點(diǎn)缺陷進(jìn)行量化檢測(步驟1803)。在用測得的第一測量數(shù)據(jù)和測得的第二測量數(shù)據(jù)對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理的過程中，選擇第一測量數(shù)據(jù)和第二測量數(shù)據(jù)之一的數(shù)據(jù)，并用選定的數(shù)據(jù)除另一數(shù)據(jù)。下面將以第一測量數(shù)據(jù)除第二測量數(shù)據(jù)為例進(jìn)行說明。
用下列矩陣式表示通過這種標(biāo)準(zhǔn)化過程產(chǎn)生的數(shù)據(jù)M11R11M12R12...M13R13M21R21M22R22...M2nR2n.........Mm1Rm2Mm2Rm2MmnRmn]]>另一方面，在圖19中示出了用上述標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)顯示的顯示裝置的屏顯示區(qū)。在此，圖19是表示由用顯示裝置的第一和第二測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示屏輸出狀態(tài)的示意圖，所述的顯示裝置通過圖像質(zhì)量分析方法進(jìn)行斑點(diǎn)缺陷的檢查。
圖19示出了檢測斑點(diǎn)缺陷的實(shí)例，從圖中可以看出，斑點(diǎn)缺陷出現(xiàn)在屏的中部。為了量化分析該斑點(diǎn)缺陷，需從產(chǎn)生斑點(diǎn)缺陷的邊界線中部的兩個區(qū)(內(nèi)區(qū)和外區(qū))上獲取測量數(shù)據(jù)。
當(dāng)量化評價斑點(diǎn)缺陷時，需從產(chǎn)生斑點(diǎn)缺陷的邊界線中部的兩個區(qū)域上獲取多個測量數(shù)據(jù)。然后，用得到的多個測量數(shù)據(jù)計(jì)算每個平均值。如果把具有較大值的區(qū)域中的平均值設(shè)為N_平均_max而把具有較小值的區(qū)域中的平均值設(shè)為N_平均_min，則可以用下列公式表示斑點(diǎn)缺陷的量化量級。 此外，當(dāng)量化評價斑點(diǎn)缺陷時，可以用N_平均_max值和N_平均_min值將斑點(diǎn)缺陷的量化量級表示成一個值與另一個值的比值或是兩個值之間的差值?？梢杂靡韵赂鞣N方式定義表示這種量化量級的公式平均_mura＝((N_平均_max)-(N_平均_min)) 通過上述過程，可以量化評價顯示裝置的斑點(diǎn)缺陷。如上所述，按照本發(fā)明所述顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法和系統(tǒng)，可以通過用客觀數(shù)值對顯示裝置的圖像質(zhì)量進(jìn)行量化評價而實(shí)現(xiàn)對顯示裝置的客觀評價。此外，按照本發(fā)明所述顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法和系統(tǒng)，可以通過用數(shù)值對顯示裝置圖像質(zhì)量的一致性做出量化評價，從而在顯示裝置的制造商和購買者之間提供客觀的和公正的評價標(biāo)準(zhǔn)。此外，應(yīng)該認(rèn)識到，可以將本發(fā)明的圖像質(zhì)量分析方法和系統(tǒng)與其他分析技術(shù)結(jié)合使用，所述分析技術(shù)包括在本申請中以參考的形式加以引用的第2002-27645號韓國專利申請中公開的技術(shù)。
對于熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，很顯然，在不脫離本發(fā)明的構(gòu)思和范圍的基礎(chǔ)上，可以對本發(fā)明的圖像質(zhì)量分析方法和系統(tǒng)做出各種改進(jìn)和變型。因此，本發(fā)明意在覆蓋那些落入所附權(quán)利要求及其等同物范圍內(nèi)的改進(jìn)和變型。
權(quán)利要求
1.一種用于顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，包括以下步驟在第一時間周期內(nèi)向顯示裝置輸出像圖；把顯示像圖的屏顯示區(qū)分成多個分區(qū)；產(chǎn)生在第一時間周期內(nèi)與多個分區(qū)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第一測量數(shù)據(jù)；在第二時間周期內(nèi)向顯示裝置輸出像圖；產(chǎn)生在第二時間周期內(nèi)與多個分區(qū)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第二測量數(shù)據(jù)；對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理；和根據(jù)用第一測量數(shù)據(jù)和第二測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的像圖，量化檢測像圖的圖像滯留輸出量級。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中，輸出到顯示裝置的像圖包括顯示裝置的全屏半灰度輸出。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)產(chǎn)生第一和第二測量數(shù)據(jù)時，將屏顯示區(qū)分成多個象素單元，而且相對于象素單元產(chǎn)生第一和第二測量數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)產(chǎn)生第一和第二測量數(shù)據(jù)時，將屏顯示區(qū)分成多個象素單元，而且根據(jù)各象素單元的基本象素，相對于位于預(yù)定等間隔位置上的每個象素單元產(chǎn)生第一和第二測量數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中產(chǎn)生的第一和第二測量數(shù)據(jù)包括用亮度計(jì)從多個分區(qū)中的每個區(qū)內(nèi)測得的亮度數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中亮度計(jì)包括兩維CCD亮度計(jì)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中產(chǎn)生的第一和第二測量數(shù)據(jù)包括用色度計(jì)從多個分區(qū)中的每個區(qū)內(nèi)測得的色度數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中色度計(jì)包括兩維CCD色度計(jì)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中產(chǎn)生的第一和第二測量數(shù)據(jù)包括根據(jù)亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)算出的色差數(shù)據(jù)，所述亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)是分別用亮度計(jì)和色度計(jì)從多個分區(qū)中的每個區(qū)內(nèi)測得的。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中確定圖像滯留用的像圖包括具有n×m棋盤形狀的像圖。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中具有n×m棋盤形狀的像圖在形成棋盤圖案的相鄰位置之間產(chǎn)生亮度差。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)將屏顯示區(qū)上顯示的像圖標(biāo)準(zhǔn)化時，選擇第一和第二測量數(shù)據(jù)中的一個，用選定的一個數(shù)據(jù)除第一和第二測量數(shù)據(jù)中的另一個數(shù)據(jù)，并將除得的結(jié)果作為屏上的圖像進(jìn)行顯示。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)量化檢測像圖的圖像滯留輸出量級時，至少完成對線圖像滯留的量化評價和對面圖像滯留的量化評價中的一個評價。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中在進(jìn)行線圖像滯留的量化評價時，在產(chǎn)生線圖像滯留的邊界線中部兩個區(qū)域上獲取測量數(shù)據(jù)，把得到的測量數(shù)據(jù)中具有最大值的數(shù)據(jù)設(shè)定為Nmax，而將得到的測量數(shù)據(jù)中具有最小值的數(shù)據(jù)設(shè)定為Nmin，并按照下式確定線圖像滯留的量化量級(Nmax-NminNmax)×100]]>
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)進(jìn)行線圖像滯留量化評價時，在產(chǎn)生線圖像滯留的邊界線中部兩個區(qū)域上獲取測量數(shù)據(jù)，把得到的測量數(shù)據(jù)中具有最大值的數(shù)據(jù)設(shè)定為Nmax，而將得到的測量數(shù)據(jù)中具有最小值的數(shù)據(jù)設(shè)定為Nmin，確定Nmax和Nmin中的一個與Nmax和Nmin中的另一個的比值或是Nmax和Nmin之間的差值以便量化評價線圖像滯留。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)量化評價面圖像滯留時，在產(chǎn)生面圖像滯留的邊界線中部兩個區(qū)域上獲取多個測量數(shù)據(jù)，計(jì)算得到的多個測量數(shù)據(jù)中每一個的平均值，把具有最大值的區(qū)域中的平均值設(shè)定為N_平均_max而把具有最小值的區(qū)域中的平均值設(shè)定為N_平均_min，并按照下式來確定面圖像滯留的量化量級
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)量化評價面圖像滯留時，在產(chǎn)生面圖像滯留的邊界線中部兩個區(qū)域上獲取多個測量數(shù)據(jù)，計(jì)算得到的多個測量數(shù)據(jù)中每一個的平均值，把具有最大值的區(qū)域中的平均值設(shè)定為N_平均_max而把具有最小值的區(qū)域中的平均值設(shè)定為N_平均_min，確定N_平均_max和N_平均_min中的一個與N_平均_max和N_平均_min中的另一個的比值或是N_平均_max和N_平均_min之間的差值以便量化評價面圖像滯留。
18.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中顯示裝置包括液晶顯示裝置。
19.一種用于顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法，包括以下步驟在第一時間周期內(nèi)向顯示裝置輸出具有第一亮度的第一像圖；把顯示參考像圖的屏顯示區(qū)分成多個分區(qū)；產(chǎn)生在第一時間周期內(nèi)與多個分區(qū)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第一測量數(shù)據(jù)；在第二時間周期內(nèi)向顯示裝置輸出具有第二亮度的第二像圖，所述第二亮度低于第一亮度；產(chǎn)生在第二時間周期內(nèi)與多個分區(qū)的圖像質(zhì)量對應(yīng)的第二測量數(shù)據(jù)；對屏顯示區(qū)上顯示的像圖進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理；并根據(jù)用第一測量數(shù)據(jù)和第二測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的像圖，量化評價顯示裝置的圖像缺陷。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中圖像缺陷包括模糊缺陷和斑點(diǎn)缺陷中的至少一種。
21.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中第一像圖和第二像圖具有相同的圖形，第一像圖的亮度高于第二像圖。
22.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中第一像圖包括全屏輸出的白電平，第二像圖包括全屏輸出的半灰度。
23.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)產(chǎn)生第一和第二測量數(shù)據(jù)時，將屏顯示區(qū)分成多個象素單元，而且相對于各象素單元產(chǎn)生第一和第二測量數(shù)據(jù)。
24.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)產(chǎn)生第一和第二測量數(shù)據(jù)時，將屏顯示區(qū)分成多個象素單元，而且根據(jù)各象素單元的基本象素，相對于以預(yù)定等間隔定位的每個象素單元產(chǎn)生第一和第二測量數(shù)據(jù)。
25.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中產(chǎn)生的第一和第二測量數(shù)據(jù)包括用亮度計(jì)從多個分區(qū)測得的亮度數(shù)據(jù)。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中亮度計(jì)包括兩維CCD亮度計(jì)。
27.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)將屏顯示區(qū)上顯示的像圖標(biāo)準(zhǔn)化時，選擇第一和第二測量數(shù)據(jù)中的一個，用選定的一個數(shù)據(jù)除第一和第二測量數(shù)據(jù)中的另一個數(shù)據(jù)，并將除得的結(jié)果作為屏上的圖像進(jìn)行顯示。
28.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)量化評價圖像缺陷時，在產(chǎn)生模糊缺陷的邊界線中部兩個區(qū)域上獲取測量數(shù)據(jù)，而且如果把得到的測量數(shù)據(jù)中具有最大值的數(shù)據(jù)設(shè)定為Nmax，把得到的測量數(shù)據(jù)中具有最小值的數(shù)據(jù)設(shè)定為Nmin，則按照下式確定圖像缺陷的量化量級(Nmax-NminNmax)×100]]>
29.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)對圖像缺陷進(jìn)行量化評價時，在產(chǎn)生圖像缺陷的邊界線中部兩個區(qū)域上獲取測量數(shù)據(jù)，把得到的測量數(shù)據(jù)中具有最大值的數(shù)據(jù)設(shè)定為Nmax，而將得到的測量數(shù)據(jù)中具有最小值的數(shù)據(jù)設(shè)定為Nmin，確定Nmax和Nmin中的一個與Nmax和Nmin中的另一個的比值或是Nmax和Nmin之間的差值用以確定圖像缺陷的量化量級。
30.根據(jù)權(quán)利要求29所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中圖像缺陷包括模糊缺陷。
31.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)量化評價圖像缺陷時，在產(chǎn)生圖像缺陷的邊界線中部兩個區(qū)域上獲取多個測量數(shù)據(jù)，計(jì)算得到的多個測量數(shù)據(jù)中每一個的平均值，把具有最大值的區(qū)域中的平均值設(shè)定為N_平均_max而把具有最小值的區(qū)域中的平均值設(shè)定為N_平均_min，并且按照下式來確定圖像缺陷的量化量級
32.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中當(dāng)量化評價圖像缺陷時，在產(chǎn)生圖像缺陷的邊界線中部兩個區(qū)域上獲取多個測量數(shù)據(jù)，計(jì)算得到的多個測量數(shù)據(jù)中每一個的平均值，把具有最大值的區(qū)域中的平均值設(shè)定為N_平均_max而把具有最小值的區(qū)域中的平均值設(shè)定為N_平均_min，確定N_平均_max和N_平均_min中的一個與N_平均_max和N_平均_min中另一個的比值或是N_平均_max和N_平均_min之間的差值用以確定圖像缺陷的量化量級。
33.根據(jù)權(quán)利要求19所述的圖像質(zhì)量分析方法，其中顯示裝置包括液晶顯示裝置。
34.一種用于需進(jìn)行圖像質(zhì)量分析的顯示裝置的圖像質(zhì)量分析的系統(tǒng)，包括圖像采集部分，該部分檢測將在顯示裝置的屏顯示區(qū)上顯示的圖像的光學(xué)數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)處理器，其利用由圖像采集部分測得的光學(xué)數(shù)據(jù)生成與顯示裝置的圖像質(zhì)量對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)；和圖像質(zhì)量等級檢測器，用于將屏顯示區(qū)上顯示的像圖標(biāo)準(zhǔn)化，和根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化了的像圖，利用由數(shù)據(jù)處理器針對輸出到顯示裝置的多個像圖生成的測量數(shù)據(jù)量化評價顯示裝置的圖像質(zhì)量等級。
35.根據(jù)權(quán)利要求34所述的圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)，其中圖像采集部分包括CCD亮度計(jì)/色度計(jì)。
36.根據(jù)權(quán)利要求34所述的圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)，其中從數(shù)據(jù)處理器產(chǎn)生的測量數(shù)據(jù)包括亮度數(shù)據(jù)。
37.根據(jù)權(quán)利要求34所述的圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)，其中從數(shù)據(jù)處理器產(chǎn)生的測量數(shù)據(jù)包括色度數(shù)據(jù)。
38.根據(jù)權(quán)利要求34所述的圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)，其中從數(shù)據(jù)處理器產(chǎn)生的測量數(shù)據(jù)包括至少根據(jù)亮度數(shù)據(jù)和色度數(shù)據(jù)算出的色差數(shù)據(jù)。
39.根據(jù)權(quán)利要求34所述的圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)，其中顯示裝置包括液晶顯示裝置。
40.根據(jù)權(quán)利要求34所述的圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)，其中由圖像質(zhì)量等級檢測器測出的圖像質(zhì)量等級包括對顯示裝置的圖像滯留、圖像缺陷中至少一種進(jìn)行量化圖像評價。
41.根據(jù)權(quán)利要求40所述的圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)，其中圖像缺陷至少包括模糊缺陷和斑點(diǎn)缺陷。
全文摘要
本發(fā)明提供一種顯示裝置的圖像質(zhì)量分析方法和圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)。圖像質(zhì)量分析方法和圖像質(zhì)量分析系統(tǒng)用于對顯示裝置的圖像質(zhì)量進(jìn)行量化測定，由此可以提供客觀和公正的評價標(biāo)準(zhǔn)。
文檔編號G02F1/13GK1460967SQ03124119
公開日2003年12月10日 申請日期2003年4月29日 優(yōu)先權(quán)日2002年5月18日
發(fā)明者李敦珪, 金日鎬 申請人:Lg.菲利浦Lcd株式會社