在紗線質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)器中監(jiān)測(cè)紗線質(zhì)量的方法及執(zhí)行該方法的光學(xué)檢測(cè)器的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種用于借助于線性光學(xué)傳感器在紗線質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)器中監(jiān)測(cè)紗線質(zhì)量的方法，線性光學(xué)傳感器包括一行或兩行個(gè)體矩形形狀的光學(xué)元件，光學(xué)元件在其輸出端處提供與光學(xué)元件的輻照程度成比例的模擬信號(hào)。在質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)器的所有操作模式下被輻照并且未被紗線遮蔽的所有個(gè)體光學(xué)元件的模擬信號(hào)針對(duì)每個(gè)個(gè)體光學(xué)元件被感測(cè)并且根據(jù)預(yù)定義的標(biāo)準(zhǔn)被存儲(chǔ)在電子存儲(chǔ)器中作為個(gè)體光學(xué)元件的初始值、運(yùn)行值或工作值（Fc1、Fc2、Fc3），這些值隨后出于評(píng)估傳感器的正確功能和消除制造和運(yùn)行缺陷和故障的目的而彼此比較。本發(fā)明還涉及一種用于執(zhí)行上述方法的光學(xué)檢測(cè)器。
【專利說(shuō)明】
在紗線質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)器中監(jiān)測(cè)紗線質(zhì)量的方法及執(zhí)行該方 法的光學(xué)檢測(cè)器
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明設(shè)及一種用于借助于線性光學(xué)傳感器在紗線質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)器中監(jiān)測(cè)紗 線質(zhì)量的方法，該線性光學(xué)傳感器包括一行或兩行個(gè)體矩形形狀的光學(xué)元件，該光學(xué)元件 在其輸出端處提供與光學(xué)元件的福照程度成比例的模擬信號(hào)。
[0002] 本發(fā)明還設(shè)及一種用于執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的方法的光學(xué)檢測(cè)器，該光學(xué)檢測(cè)器包括 具有彼此緊鄰布置在一行或兩行中的多個(gè)光學(xué)元件的傳感器，用于通過(guò)借助于單個(gè)福射源 將紗線圖像垂直地投影到傳感器的個(gè)體光學(xué)元件上來(lái)監(jiān)測(cè)在紡織機(jī)器上的移動(dòng)紗線的參 數(shù)。
【背景技術(shù)】
[0003] 紗線質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)器在紗線的生產(chǎn)期間被用在紡織機(jī)器上，并且原則上不可能 保護(hù)它們免于被灰塵或紗線殘余物污染，W及因此有必要清潔光學(xué)檢測(cè)器。在移動(dòng)紗線經(jīng) 過(guò)評(píng)估細(xì)紗質(zhì)量的檢測(cè)器的通過(guò)期間，灰塵和/或紗線碎片從移動(dòng)紗線中被釋放并附著于 光學(xué)檢測(cè)器的傳感器的個(gè)體光學(xué)元件的表面，從而惡化其響應(yīng)于來(lái)自該源的福射的能力。
[0004] 現(xiàn)今，對(duì)紡織機(jī)器的重要要求是最大效率和最小停機(jī)時(shí)間。因此，合乎期望的是， 實(shí)現(xiàn)最長(zhǎng)可能的免維護(hù)運(yùn)行時(shí)間段和盡可能少地清潔檢測(cè)器。
[0005] 光學(xué)檢測(cè)器的另一負(fù)面因素是在一時(shí)間段內(nèi)福射源的老化，運(yùn)設(shè)及發(fā)光強(qiáng)度的改 變，并且因此，設(shè)及光學(xué)元件的輸出模擬信號(hào)的值的改變。
[0006] 在紗線質(zhì)量的常規(guī)光學(xué)檢測(cè)器中，通過(guò)測(cè)量被紗線經(jīng)過(guò)測(cè)量孔徑的通過(guò)影響的、 落在光學(xué)接收器上的光量來(lái)測(cè)量光學(xué)紗線直徑。來(lái)自發(fā)射器的光被兩個(gè)光學(xué)接收器接收， 光經(jīng)過(guò)紗線傳遞到第一個(gè)光學(xué)接收器并且直接傳遞到第二個(gè)光學(xué)接收器，如圖1中所示。將 傳感器校準(zhǔn)，使得紗線接收器和參考接收器可W提供相同的輸出模擬值，并且通過(guò)隨后連 接運(yùn)些接收器W形成橋接電路，實(shí)現(xiàn)對(duì)光學(xué)接收器的不同靈敏度的補(bǔ)償。橋接連接還應(yīng)當(dāng) 自動(dòng)補(bǔ)償由源的老化所引起的光強(qiáng)度的微小改變，因?yàn)閮蓚€(gè)光學(xué)接收器的輸出值都應(yīng)當(dāng)相 等地改變。
[0007] 不同于紗線質(zhì)量的常規(guī)光學(xué)檢測(cè)器，例如，當(dāng)光電二極管被用作接收元件并且輸 出是一個(gè)模擬值時(shí)，線性光學(xué)傳感器包括一行或兩行個(gè)體光學(xué)元件，每個(gè)光學(xué)元件的輸出 是模擬值。
[000引例如，CZ 304683描述了一種用于通過(guò)電子清潔器借助于包括具有一行或兩行矩 形形狀的光學(xué)元件的傳感器的光學(xué)檢測(cè)器來(lái)監(jiān)測(cè)紗線質(zhì)量的至少一個(gè)參數(shù)和/或傳感器參 數(shù)的方法，該矩形形狀的光學(xué)元件在其輸出端處提供與其福照強(qiáng)度成比例的模擬信號(hào)，該 福照強(qiáng)度的大小在每個(gè)測(cè)量周期期間被監(jiān)測(cè)。出于監(jiān)測(cè)紗線和/或傳感器的特定參數(shù)的目 的，在光學(xué)元件的第一行中和/或在光學(xué)元件的第二行中，創(chuàng)建有效區(qū)，該有效區(qū)由形成連 接的行或單獨(dú)的組的傳感器的選定光學(xué)元件構(gòu)成。在特定行中的有效區(qū)包括比該特定行中 的光學(xué)元件的總數(shù)目更低數(shù)目的光學(xué)元件，并且僅該特定有效區(qū)的光學(xué)元件的輸出信號(hào)被 包括在特定參數(shù)的評(píng)估中。雖然在監(jiān)測(cè)檢測(cè)器參數(shù)期間，有效區(qū)被形成W用于檢測(cè)由灰塵 引起的光學(xué)元件的污染和/或用于監(jiān)測(cè)源的老化和/或環(huán)境光的影響，但是不可能使用運(yùn)些 有效區(qū)用于單獨(dú)監(jiān)測(cè)個(gè)體光學(xué)元件，因?yàn)楣鈱W(xué)元件可W具有不同的靈敏度，并可能對(duì)于相 同能量的下落光生成不同的模擬值。
[0009] CZ 304758描述了一種通過(guò)紗線的電子清潔器借助于包括傳感器的光學(xué)檢測(cè)器來(lái) 監(jiān)測(cè)紗線質(zhì)量的方法，傳感器具有帶有模擬輸出端的一行或兩行矩形形狀的光學(xué)元件，每 個(gè)光學(xué)元件包括光電二極管和其輸出信號(hào)的放大器，該放大器具有可調(diào)整的放大率，放大 率的大小根據(jù)相應(yīng)光學(xué)元件的所需的靈敏度而改變。因此，光學(xué)元件的輸出信號(hào)的大小被 保持在連接的模數(shù)轉(zhuǎn)換器的工作范圍的中屯、（即最佳設(shè)置)附近，最佳設(shè)置是運(yùn)樣的：使得 在光學(xué)元件的最大工作福照處光學(xué)元件的輸出信號(hào)剛好低于模數(shù)轉(zhuǎn)換器的飽和，通過(guò)該方 式實(shí)現(xiàn)輸出信號(hào)的最大動(dòng)態(tài)特性，并且由此也實(shí)現(xiàn)最高分辨率。然而，甚至無(wú)論是直接來(lái)自 生產(chǎn)還是在日常運(yùn)行期間，該系統(tǒng)并不反映個(gè)體光學(xué)元件的不同靈敏度。
[0010] CZ 304682公開(kāi)了一種CMOS光學(xué)傳感器，該光學(xué)傳感器包括用于借助于將移動(dòng)紗 線垂直投影到傳感器的光學(xué)元件上來(lái)檢測(cè)移動(dòng)紗線的參數(shù)的裝置的多個(gè)光學(xué)元件。傳感器 的光學(xué)元件垂直于紗線移動(dòng)的方向布置在兩行中，并且每個(gè)光學(xué)元件具有矩形形狀，W及 在該光學(xué)元件的輸出端處存在模擬信號(hào)。第一行的光學(xué)元件W其較長(zhǎng)的側(cè)邊被定向在紗線 移動(dòng)的方向上，而第二行的元件W其較長(zhǎng)的側(cè)邊垂直于紗線移動(dòng)的方向來(lái)定向。兩行光學(xué) 元件都可W布置在具有模數(shù)轉(zhuǎn)換器的共同半導(dǎo)體襯底上，該模數(shù)轉(zhuǎn)換器與該兩行光學(xué)元件 匹配，并且模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出端連接到布置在相同半導(dǎo)體襯底上的光學(xué)傳感器的可編程器 件的輸入端。上述傳感器無(wú)論是直接來(lái)自生產(chǎn)或還是在日常運(yùn)行期間都沒(méi)有解決個(gè)體光學(xué) 元件的不同靈敏度，。
[0011] 上述解決方案的缺點(diǎn)是下述事實(shí):個(gè)體光學(xué)元件可能在靈敏度上不同，并可能對(duì) 于相同能量的下落光生成不同的模擬值。補(bǔ)償該負(fù)面現(xiàn)象也是必要的。在具有多個(gè)光學(xué)元 件的解決方案中，不可能如在常規(guī)的光學(xué)檢測(cè)器中一樣簡(jiǎn)單地執(zhí)行模擬校準(zhǔn)和橋接連接， 并且因此有必要找到另一解決方案，其是本發(fā)明的目標(biāo)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0012] 本發(fā)明的目標(biāo)是通過(guò)一種根據(jù)本發(fā)明的用于監(jiān)測(cè)紗線質(zhì)量的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)的，本發(fā) 明的原理在于，在質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)器的所有模式下被福射源福照和未被紗線遮蔽的所有個(gè) 體光學(xué)元件的模擬信號(hào)根據(jù)電子存儲(chǔ)器中預(yù)定義的標(biāo)準(zhǔn)針對(duì)每個(gè)個(gè)體光學(xué)元件被感測(cè)并 存儲(chǔ)作為個(gè)體光學(xué)元件的初始值、運(yùn)行值或工作值，運(yùn)些值隨后與評(píng)估傳感器的正確功能 和消除生產(chǎn)和運(yùn)行缺陷和故障的目標(biāo)比較。
[0013] 每個(gè)個(gè)體光學(xué)元件的值針對(duì)每個(gè)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)多次并在不同時(shí)間點(diǎn)被存儲(chǔ)。
[0014] 來(lái)自在運(yùn)行模式下被福照的未被污染和未被遮蔽的光學(xué)傳感器，針對(duì)所有個(gè)體光 學(xué)元件的初始值在檢測(cè)器的生產(chǎn)期間或在該生產(chǎn)的完成之后或在安裝在機(jī)器上之前或在 紗線質(zhì)量評(píng)估的首次啟動(dòng)之前被存儲(chǔ)。
[0015] 在紗線質(zhì)量評(píng)估的首次啟動(dòng)之前，并且更進(jìn)一步在沒(méi)有紗線情況下光學(xué)檢測(cè)器的 運(yùn)行期間，即，每當(dāng)紡紗運(yùn)行被中斷時(shí)，來(lái)自被福照和未被遮蔽的光學(xué)傳感器的所有個(gè)體光 學(xué)元件的運(yùn)行值被存儲(chǔ)，由此在比較初始值和運(yùn)行值的基礎(chǔ)上，功能的長(zhǎng)期改變W及光學(xué) 傳感器的故障和缺陷被檢測(cè)到。
[0016] 在出于評(píng)估至少部分被遮蔽的每個(gè)個(gè)體光學(xué)元件的部分陰影的大小的目的而存 儲(chǔ)運(yùn)行值之后，模擬信號(hào)的當(dāng)前值與運(yùn)行值比較，通過(guò)該方式消除了光學(xué)元件的參數(shù)的長(zhǎng) 期改變，即光學(xué)元件的著塵(dusting)或福射源的老化。
[0017] 在評(píng)估紗線質(zhì)量期間，來(lái)自當(dāng)前被完全福射和未被紗線遮蔽的光學(xué)傳感器的每個(gè) 光學(xué)元件的相應(yīng)光學(xué)元件的工作值被存儲(chǔ)。
[0018] 在存儲(chǔ)工作值W便評(píng)估被至少部分遮蔽的每個(gè)個(gè)體光學(xué)元件的部分陰影的大小 之后，所針對(duì)的工作值已經(jīng)被存儲(chǔ)的光學(xué)元件上的模擬信號(hào)的當(dāng)前值與存儲(chǔ)的工作值相比 較，并且在其他光學(xué)元件上的模擬信號(hào)的當(dāng)前值與運(yùn)行值比較，由此消除由于在紗線質(zhì)量 的評(píng)估期間的著塵而導(dǎo)致的光學(xué)檢測(cè)器參數(shù)的改變。
[0019] 個(gè)體光學(xué)元件的工作值和個(gè)體光學(xué)元件的遮蔽的大小W相互并可調(diào)整的時(shí)間同 步被存儲(chǔ)，該時(shí)間同步由控制信號(hào)源控制。
[0020] 根據(jù)本發(fā)明的線性光學(xué)檢測(cè)器的原理在于：用于消除制造公差W及運(yùn)行缺陷和故 障的電子存儲(chǔ)器和與其匹配的電路W及用于計(jì)算針對(duì)光學(xué)檢測(cè)器的傳感器的個(gè)體光學(xué)元 件的部分陰影的寬度的電路形成在共同半導(dǎo)體襯底上，該半導(dǎo)體襯底布置在光學(xué)檢測(cè)器 中。
[0021] 運(yùn)些電路包括:用于記錄初始值的電路；用于記錄運(yùn)行值的電路；用于記錄針對(duì)光 學(xué)檢測(cè)器的傳感器的個(gè)體光學(xué)元件的工作值的電路W及用于計(jì)算部分陰影的寬度(包括計(jì) 算校正值，該校正值能夠?qū)崿F(xiàn)綜合補(bǔ)償制造和運(yùn)行缺陷和故障，諸如檢測(cè)器的污染、福射源 的老化和個(gè)體光學(xué)元件的不同靈敏度)的電路。
【附圖說(shuō)明】
[0022] 將通過(guò)附圖來(lái)解釋本發(fā)明，其中，圖1表示根據(jù)【背景技術(shù)】的紗線質(zhì)量的常規(guī)光學(xué)傳 感器的圖，圖2示出未被紗線遮蔽的個(gè)體非飽和完全福照的光學(xué)元件（左邊)和被紗線部分 遮蔽的光學(xué)元件(右邊）的模擬信號(hào)之間的差異，圖3再次示出針對(duì)未被紗線遮蔽且未被污 染的、被完全福照的個(gè)體光學(xué)元件（左邊)和針對(duì)未被紗線遮蔽、但被部分污染的被完全福 照的相同光學(xué)元件(右邊）的模擬信號(hào)的大小，圖4圖示被紗線部分遮蔽且未被污染的個(gè)體 光學(xué)元件的模擬信號(hào)的大小（左邊）W及右邊被紗線部分遮蔽的相同光學(xué)元件的模擬信號(hào) 的大小，圖5表示對(duì)檢測(cè)器的污染、福射源的老化和個(gè)體光學(xué)元件的不同靈敏度的綜合補(bǔ)償 的連接圖，并且圖6示出測(cè)量期間雙線性光學(xué)檢測(cè)器的個(gè)體光學(xué)元件的模擬值。
【具體實(shí)施方式】
[0023] 圖2示出非飽和和完全福照的光學(xué)元件，其中黑顏色對(duì)應(yīng)于落在光學(xué)元件上的能 量的量。由于它是具有模擬輸出的光學(xué)元件的事實(shí)，該光學(xué)元件必須即使在福射源的最大 照度期間也不飽和。M是模擬信號(hào)的最大值，該最大值可W由光學(xué)元件在其輸出端處提供， 如果光學(xué)元件被使得它將會(huì)處于所謂的飽和中的運(yùn)樣強(qiáng)的光照亮的話。Fv是由未被紗線遮 蔽的個(gè)體完全福照的光學(xué)元件提供的模擬信號(hào)的結(jié)果值。右邊的附圖圖示被紗線部分遮蔽 的相同光學(xué)元件，其中攻是由紗線部分遮蔽期間模擬信號(hào)的輸出值。通過(guò)差Fv-化來(lái)確定由 紗線對(duì)光學(xué)元件的部分遮蔽引起的能量損失。
[0024] 然而，必須考慮個(gè)體光學(xué)元件是不相同的，并且可能具有不同的靈敏度值，并且甚 至下落能量在所有光學(xué)元件中不一定是相同的。因此，針對(duì)個(gè)體光學(xué)元件的值Ex和性也 是不同的，并且運(yùn)些差異必須被補(bǔ)償W便獲得正確測(cè)量結(jié)果。
[0025] 如果我們針對(duì)個(gè)體光學(xué)元件選擇值M作為參考值而不是來(lái)自圖2的值Fv,則我們將 犯嚴(yán)重錯(cuò)誤并且測(cè)量將不準(zhǔn)確。因此，每個(gè)光學(xué)元件必須預(yù)先被校準(zhǔn)，運(yùn)意味著對(duì)于每個(gè)光 學(xué)元件有必要確定參考值。：，參考值四是完全福照的光學(xué)元件的模擬信號(hào)的結(jié)果值。作為 參考值Fv，可W使用初始、運(yùn)行或工作值(Fc 1、Fc2、Fc3 )。
[0026] 由紗線對(duì)光學(xué)元件的部分遮蔽引起的能量損失是由差Fv-化確定的。然而，在確定 遮蔽的程度期間，感興趣的不是每個(gè)光學(xué)元件的能量的絕對(duì)損失，而是相對(duì)損失AFi。對(duì)于 個(gè)體光學(xué)元件而言，它適用于：
如果光學(xué)元件的寬度是g，則該特定光學(xué)元件的紗線的部分陰影的寬度町可W根據(jù)下 述公式來(lái)確定：
然后確定紗線的陰影的整個(gè)大小為來(lái)自完全或部分遮蔽的光學(xué)元件的所有部分陰影 的總和：
圖3示出被福射源完全福照并且未被紗線遮蔽的相同光學(xué)元件的模擬值，其中左邊該 圖圖示針對(duì)未污染的光學(xué)元件的輸出模擬值西并且右邊該圖圖示針對(duì)被部分污染的光學(xué) 元件的輸出模擬值其是較低的，因?yàn)橛捎诨覊m而落在光學(xué)元件上的光能量已經(jīng)存在減 少。如果該值未被補(bǔ)償，則能量損失將意味著在該光學(xué)元件前面的紗線的部分陰影的不正 確評(píng)估。
[0027] 圖4圖示相同的情況，但除此之外，光學(xué)元件被紗線遮蔽，其中左邊該圖圖示針對(duì) 部分遮蔽和清潔的光學(xué)元件的輸出模擬值扭并且右邊該圖圖示針對(duì)部分遮蔽和部分污染 的光學(xué)元件的輸出模擬值
[0028] 由紗線在清潔、未污染的光學(xué)元件上的部分遮蔽引起的能量損失通過(guò)差Fv-巧來(lái) 確定，并且在污染的光學(xué)元件上的部分遮蔽引起的能量損失通過(guò)差Fvz-Fpz來(lái)確定。針對(duì)清 潔光學(xué)元件的能量和針對(duì)污染的光學(xué)元件的能量的絕對(duì)差是不相同的，但對(duì)于相對(duì)損失而 言，其適用于
并且對(duì)于部分陰影的寬度：
如果我們將值西而不是^視為部分污染的光學(xué)元件中的參考值，則我們將犯嚴(yán)重錯(cuò) 誤并且部分陰影的評(píng)估寬度將比實(shí)際上的更大。
[0029] 甚至未被紗線遮蔽但是它們被污染的光學(xué)元件將會(huì)呈現(xiàn)特定寬度的部分陰影，并 且將會(huì)引起測(cè)量錯(cuò)誤。
[0030] 如果我們針對(duì)由福射源福照且未被紗線遮蔽的每個(gè)個(gè)體光學(xué)元件根據(jù)預(yù)定義標(biāo) 準(zhǔn)測(cè)量輸出模擬值(Fcl、Fc2、Fc3)并將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，則我們可W使用它作為參考值 Ex用于確定光學(xué)元件的遮蔽的大小。如果輸出模擬值在給定的時(shí)間段內(nèi)被記錄，則該時(shí)間 段內(nèi)的最大值被存儲(chǔ)作為輸出值，即
[0031] 部分陰影的寬度的計(jì)算然后由W下公式和圖5中所示的連接圖來(lái)確定，
其中西是存儲(chǔ)的參考值，扭是當(dāng)前測(cè)量值，g是光學(xué)元件的寬度?？蒞根據(jù)定義的標(biāo)準(zhǔn) 使用初始值(Fcl)、運(yùn)行值(Fc2)或工作值(Fc3)作為參考值。
[0032] 根據(jù)圖5中的連接圖，參考值Fv被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元！中。從存儲(chǔ)單元！，將參考值 饋送到差分構(gòu)件少在該差分構(gòu)件馬中參考值西與當(dāng)前測(cè)量值攻比較。將來(lái)自i分構(gòu)件卻勺結(jié) 果值饋送到乘法器或，在該乘法器為中該結(jié)果值乘W相應(yīng)光學(xué)元件的寬度g。將來(lái)自乘法器為 的結(jié)果值饋送到除、^器|中，在該除法器1中該來(lái)自乘法器卻勺結(jié)果值除自存儲(chǔ)單元U勺 參考值。:。結(jié)果是部分陰影的寬度些。
[0033] 對(duì)檢測(cè)器的污染、福射源的老化和光學(xué)元件的不同靈敏度的綜合補(bǔ)償通過(guò)值化1、 Fc2或Fc3被感測(cè)、記錄并存儲(chǔ)在參考值西中的時(shí)間點(diǎn)并且通過(guò)該過(guò)程發(fā)生所按照的標(biāo)準(zhǔn)來(lái) 確定。
[0034] 重要值是初始值其在檢測(cè)器的生產(chǎn)過(guò)程期間針對(duì)每個(gè)光學(xué)元件被記錄和存 儲(chǔ)在檢測(cè)器中。在上述公式中應(yīng)用該值導(dǎo)致光學(xué)元件的不同靈敏度的消除，W及導(dǎo)致落在 傳感器上的福射的非均一性、生產(chǎn)公差等的消除。初始值也可W W后例如在機(jī)器上安裝檢 測(cè)器期間被存儲(chǔ)在檢測(cè)器中；然而，最遲，在檢測(cè)器所位于的工作站處首次啟動(dòng)紗線生產(chǎn)之 前被存儲(chǔ)在檢測(cè)器中。
[0035] 另一值是運(yùn)行值其在運(yùn)行期間但在預(yù)定義的時(shí)間點(diǎn)處針對(duì)所有光學(xué)元件被 存儲(chǔ)在檢測(cè)器中。預(yù)定義的時(shí)間點(diǎn)主要是檢測(cè)器不被紗線遮蔽并且未評(píng)估紗線疵點(diǎn)（例如， 在紗線斷頭后）的時(shí)間。應(yīng)用運(yùn)行值M(Fv=Fc2)可W補(bǔ)償長(zhǎng)期改變，諸如福射源的老化、緩 慢污染等。
[0036] 通過(guò)比較初始值^和運(yùn)行值也可W檢測(cè)檢測(cè)器的功能和運(yùn)些改變的程度， 并且如果必要的話，報(bào)告檢測(cè)器的缺陷。此外，通過(guò)比較初始值M和運(yùn)行值M，可W區(qū)分 改變的類型。
[0037] 在大多數(shù)情況下，福射源的老化W與所有光學(xué)元件的初始值g過(guò)相關(guān)的運(yùn)行值^ 的一致減小來(lái)表明自身，而傳感器的個(gè)體光學(xué)元件上的污染（由于其非均一性)通過(guò)與初始 值M相關(guān)的運(yùn)行值M的不均勻減小來(lái)表明自身。
[0038] 在源老化的情況下，在個(gè)體光學(xué)元件的值中存在小的變化A化i，而如果光學(xué)元件 被污染，則存在高的變化。
[0039] 另一參考值是工作值其在運(yùn)行期間（在檢測(cè)器評(píng)估紗線質(zhì)量的時(shí)間段(運(yùn)意 味著當(dāng)傳感器被紗線遮蔽時(shí)）期間）被記錄和存儲(chǔ)在檢測(cè)器中。在該模式下，從被福照和未 被紗線遮蔽的光學(xué)元件定期地或在一個(gè)單個(gè)步驟中讀出工作值M。因此，如果紗線穿過(guò)檢 測(cè)器，則僅在其上沒(méi)有紗線圖像的光學(xué)元件被重復(fù)地補(bǔ)償(Fv=化3)，并在紗線斷頭后所有 光學(xué)元件再次被自動(dòng)補(bǔ)償。
[0040] 優(yōu)選地，出于該目的而使用兩行光學(xué)元件。在其中第一行的光學(xué)元件更加狹窄的 配置中，可W相當(dāng)明確地確定紗線的位置和寬度，即遮蔽和未被遮蔽的光學(xué)元件。在此基礎(chǔ) 上并且在傳感器的已知配置的基礎(chǔ)上，可W確定哪些光學(xué)元件在測(cè)量時(shí)間段期間被紗線陰 影影響或曾經(jīng)被紗線陰影影響，并且對(duì)于該光學(xué)元件而言，運(yùn)行值M要被存儲(chǔ)。
[0041] 檢測(cè)器的補(bǔ)償模式可W例如W運(yùn)樣方式工作:使得在傳感器未被紗線遮蔽(例如 在紗線斷頭后）W及在它未評(píng)估紗線疵點(diǎn)的時(shí)間段期間，運(yùn)行值^￡巧皮記錄和存儲(chǔ)，W及隨 后它被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元！中作為參考值Ex (Fv=Fc2)。從那刻起，由運(yùn)行值些蘭補(bǔ)償檢測(cè)器。 在檢測(cè)器評(píng)估紗線質(zhì)量的時(shí)間段(運(yùn)意味著當(dāng)傳感器被紗線遮蔽時(shí))期間，來(lái)自被福照和未 被紗線遮蔽的元件的工作值被讀出并隨后存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元！中作為相應(yīng)光學(xué)元件的參 考值^}^巧巾=。〇3)。在被紗線完全或部分遮蔽的光學(xué)元件的情況下，最后的運(yùn)行值些#産續(xù) 被用作參考值El。
[0042] 工業(yè)適用性 根據(jù)本發(fā)明的方法和線性光學(xué)檢測(cè)器兩者都可W用于監(jiān)測(cè)紗線質(zhì)量或紡織機(jī)器上的 另一織物形成。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種用于借助于線性光學(xué)傳感器在紗線質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)器中監(jiān)測(cè)紗線質(zhì)量的方法， 所述線性光學(xué)傳感器包括一行或兩行個(gè)體矩形形狀的光學(xué)元件，所述光學(xué)元件在其輸出端 處提供與光學(xué)元件的輻照程度成比例的模擬信號(hào)，其特征在于:在質(zhì)量的光學(xué)檢測(cè)器的所 有模式下被輻射源輻照并且未被紗線遮蔽的所有個(gè)體光學(xué)元件的模擬信號(hào)針對(duì)每個(gè)個(gè)體 光學(xué)元件被感測(cè)并且根據(jù)預(yù)定義的標(biāo)準(zhǔn)被存儲(chǔ)在電子存儲(chǔ)器中作為個(gè)體光學(xué)元件的初始 值(Fcl)、運(yùn)行值(Fc2)或工作值(Fc3)。2. 根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其特征在于:在檢測(cè)器的生產(chǎn)期間或在該生產(chǎn)的完成之后或 在安裝在機(jī)器上之前或在紗線質(zhì)量的評(píng)估的首次啟動(dòng)之前，針對(duì)來(lái)自運(yùn)行中被輻照、未污 染和未遮蔽的光學(xué)傳感器的每個(gè)個(gè)體光學(xué)元件的初始值(Fcl)被存儲(chǔ)。3. 根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其特征在于:每當(dāng)紡紗運(yùn)行被中斷，在評(píng)估紗線質(zhì)量的首次 啟動(dòng)之前并且然后在監(jiān)測(cè)紗線質(zhì)量的首次啟動(dòng)之后針對(duì)每個(gè)個(gè)體運(yùn)行中被輻照的光學(xué)元 件的運(yùn)行值(Fc2)被存儲(chǔ)。4. 根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其特征在于：在存儲(chǔ)運(yùn)行值(Fc2)后，通過(guò)比較運(yùn)行值(Fc2) 與初始值(Fcl)來(lái)檢測(cè)光學(xué)檢測(cè)器的參數(shù)的長(zhǎng)期改變和/或缺陷或故障。5. 根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其特征在于:在存儲(chǔ)運(yùn)行值(Fc2)后，模擬信號(hào)的當(dāng)前值亞與 運(yùn)行值(Fc2)比較，以便評(píng)估至少部分被遮蔽的每個(gè)個(gè)體光學(xué)元件的部分陰影的大小，從而 消除光學(xué)檢測(cè)器的參數(shù)的長(zhǎng)期改變。6. 根據(jù)權(quán)利要求5的方法，其特征在于:在紗線質(zhì)量的評(píng)估期間，來(lái)自光學(xué)傳感器的每 個(gè)當(dāng)前充分輻射和未遮蔽的光學(xué)元件的工作值(Fc3)被存儲(chǔ)。7. 根據(jù)權(quán)利要求6的方法，其特征在于:在存儲(chǔ)工作值(Fc3)后，光學(xué)檢測(cè)器的功能的改 變和/或缺陷或故障通過(guò)比較工作值(Fc3)與運(yùn)行值(Fc2)在特定光學(xué)元件上被檢測(cè)。8. 根據(jù)權(quán)利要求6的方法，其特征在于:在存儲(chǔ)工作值(Fc3)后，為了評(píng)估至少部分被遮 蔽的每個(gè)個(gè)體光學(xué)元件的部分陰影的大小，所針對(duì)的工作值(Fc3)已經(jīng)被存儲(chǔ)的光學(xué)元件 上的模擬信號(hào)的當(dāng)前值(Fp)與存儲(chǔ)的工作值(Fc3)比較，而在其他光學(xué)元件上，所述當(dāng)前值 (Fp)與運(yùn)行值(Fc2)比較，通過(guò)該方式消除在紗線質(zhì)量的評(píng)估期間（著塵）的光學(xué)檢測(cè)器的 參數(shù)的改變。9. 一種用于執(zhí)行根據(jù)前述權(quán)利要求的任何一項(xiàng)的方法的光學(xué)檢測(cè)器，包括具有彼此緊 鄰布置在一行或兩行中的多個(gè)光學(xué)元件的傳感器，用于借助于通過(guò)使用單個(gè)輻射源將紗線 圖像垂直地投影到傳感器的個(gè)體光學(xué)元件上來(lái)監(jiān)測(cè)在紡織機(jī)器上的移動(dòng)紗線的參數(shù)，其特 征在于：用于消除制造公差以及運(yùn)行缺陷和故障的電子存儲(chǔ)器和與其匹配的電路以及用于 計(jì)算針對(duì)光學(xué)檢測(cè)器的傳感器的個(gè)體光學(xué)元件的部分陰影的寬度的電路形成在共同半導(dǎo) 體襯底上，所述半導(dǎo)體襯底布置在光學(xué)檢測(cè)器中。
【文檔編號(hào)】D01H1/16GK105821537SQ201511002179
【公開(kāi)日】2016年8月3日
【申請(qǐng)日】2015年12月29日
【發(fā)明人】P.考薩里克, Z.伯蘭
【申請(qǐng)人】里特捷克有限公司