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      顯示裝置的驅(qū)動(dòng)器電路的制作方法

      文檔序號(hào):2519486閱讀:307來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:顯示裝置的驅(qū)動(dòng)器電路的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一個(gè)用于驅(qū)動(dòng)顯示裝置的裝置,且涉及包含驅(qū)動(dòng)器電路的顯示裝置。本發(fā)明還涉及測(cè)試驅(qū)動(dòng)器電路的方法。
      有源矩陣顯示器尤其重要,因?yàn)檫@種顯示裝置使圖像能夠快速變化,例如在顯示鼠標(biāo)的指針時(shí)。按照有源矩陣LCD技術(shù),圖像的點(diǎn)或像素受到有源驅(qū)動(dòng)。最常用的型式使用薄膜晶體管(TFT-LCD)。由硅制成并直接集成在每個(gè)像素中的晶體管使得圖像信號(hào)能夠存儲(chǔ)在像素中。在顯示信息時(shí),為了實(shí)現(xiàn)不同的灰度值或色彩,有必要分別利用在一個(gè)大的電壓范圍內(nèi)的不同電壓來(lái)驅(qū)動(dòng)顯示器或顯示裝置。驅(qū)動(dòng)器電路被用來(lái)進(jìn)行顯示裝置或顯示器的這種驅(qū)動(dòng)。
      有源矩陣顯示器(TFT顯示器)典型地包括一塊玻璃,該玻璃上帶有可外饋的以及驅(qū)動(dòng)器電路被連接到此的連接。這種驅(qū)動(dòng)器電路將要在顯示器上被顯示的圖像信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換。圖像信息以數(shù)字信號(hào)的形式存儲(chǔ)在內(nèi)存中。這種數(shù)字信號(hào)必須被轉(zhuǎn)換成模擬信號(hào),以便于通過(guò)模擬電壓可以將相應(yīng)的光強(qiáng)度顯示出來(lái)。對(duì)這種轉(zhuǎn)換所必需的數(shù)-模轉(zhuǎn)換器必須將數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換成范圍在不足20mV至10V以上的電壓。
      顯示單元以模塊的形式進(jìn)行銷售,該模塊由有源矩陣TFT顯示器和驅(qū)動(dòng)器電路構(gòu)成。在這方面,驅(qū)動(dòng)器集成電路的質(zhì)量非常重要。由于這種驅(qū)動(dòng)器電路必須驅(qū)動(dòng)顯示裝置的幾百個(gè)端子,所以對(duì)這種驅(qū)動(dòng)器電路的測(cè)試也很復(fù)雜。這些驅(qū)動(dòng)器電路的測(cè)試工作對(duì)于顯示裝置的質(zhì)量以及成品的價(jià)格有決定性的影響。因此,測(cè)試時(shí)間應(yīng)當(dāng)盡可能短。使用復(fù)雜的精密測(cè)試儀器進(jìn)行測(cè)試也會(huì)對(duì)成品的價(jià)格有負(fù)面影響。顯示模塊的高成品率以及由此成品的低成本只有在每個(gè)驅(qū)動(dòng)器電路都確保高質(zhì)量的情況下才能實(shí)現(xiàn)。
      因?yàn)轵?qū)動(dòng)器電路基本上包括大量的數(shù)-模轉(zhuǎn)換器,所以只有對(duì)數(shù)-模轉(zhuǎn)換器進(jìn)行了認(rèn)真的測(cè)試后,驅(qū)動(dòng)器電路的質(zhì)量才能得以保證。因?yàn)閿?shù)字圖像信號(hào)的數(shù)-模轉(zhuǎn)換,數(shù)字邏輯的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法不能用于本驅(qū)動(dòng)器電路。因?yàn)橛斜匾a(chǎn)生并測(cè)試在很寬范圍的很多不同電壓值,所以對(duì)驅(qū)動(dòng)器電路的測(cè)試非常復(fù)雜。
      驅(qū)動(dòng)器電路典型地被提供有多個(gè)模擬電壓,選擇單元依據(jù)數(shù)字圖像信號(hào)從所述電壓中進(jìn)行選擇,所選電壓隨后被施加在驅(qū)動(dòng)器電路的相應(yīng)輸出端以進(jìn)行放大。例如,一個(gè)驅(qū)動(dòng)器電路配有64個(gè)承載模擬電壓的導(dǎo)線且配有400個(gè)輸出級(jí),這樣必須測(cè)試至少25,600個(gè)單獨(dú)的模擬電壓值。
      每個(gè)單獨(dú)模擬電壓值的測(cè)試都非常耗時(shí),因?yàn)閷?duì)每個(gè)單獨(dú)電壓值都必須進(jìn)行編程和直接測(cè)試。每個(gè)可選擇的模擬電壓值都必須在驅(qū)動(dòng)器電路的每個(gè)輸出端進(jìn)行測(cè)試。驅(qū)動(dòng)器電路具有的大量輸出端使同時(shí)并行測(cè)量400個(gè)且甚至可能更多的模擬輸出成為必需。在全部電壓范圍的精度為0.2%的條件下測(cè)試大量的模擬輸出,這使采用非常昂貴的測(cè)試裝置成為必需。這種功能測(cè)試導(dǎo)致了很高的測(cè)試成本,并且很明顯測(cè)試歷時(shí)很長(zhǎng)。如上所述的功能測(cè)試也可能涉及晶片制造過(guò)程中出現(xiàn)的且無(wú)法檢測(cè)到或不能可靠地檢測(cè)到的缺陷。象例如在承載模擬電壓的導(dǎo)線和輸出導(dǎo)線之間的泄漏電流只有當(dāng)一個(gè)M導(dǎo)線的數(shù)-模轉(zhuǎn)換器上承載了一個(gè)與輸出導(dǎo)線上的電壓偏離很大的電壓時(shí),一些嚴(yán)重的缺陷,才能被檢測(cè)到。眾所周知,所謂的功能測(cè)試不象采用缺陷-定向測(cè)試的測(cè)試方法和測(cè)試裝置那樣具有決定意義。
      該目的是通過(guò)以下途徑實(shí)現(xiàn)的,即驅(qū)動(dòng)顯示器裝置的裝置配有M導(dǎo)線,所述M導(dǎo)線被耦合到至少一個(gè)多路復(fù)用裝置上并被耦合到能夠中斷向M導(dǎo)線饋送電壓的第一開(kāi)關(guān)裝置,并配有被耦合到M導(dǎo)線的至少一個(gè)第二開(kāi)關(guān)裝置,以使M導(dǎo)線的至少一個(gè)可以被切換成一個(gè)可選擇的電勢(shì)。
      按照本發(fā)明的裝置的基本想法是提供一個(gè)缺陷-定向測(cè)試以及與此目的相適應(yīng)的方法。使用添加到驅(qū)動(dòng)裝置或驅(qū)動(dòng)器電路上的附加測(cè)試硬件,消除了大量單獨(dú)的模擬測(cè)量,而缺陷錯(cuò)誤的覆蓋范圍仍然保持一樣高或者甚至?xí)U(kuò)大。
      為此,在M導(dǎo)線中插入一個(gè)第一開(kāi)關(guān)裝置。第一開(kāi)關(guān)裝置中斷了電壓供給,使一個(gè)已有的電壓不再受到驅(qū)動(dòng)并且一直保持,直到任何泄漏電流或寄生電容引起放電為止。M導(dǎo)線上的模擬電壓可以通過(guò)多路復(fù)用裝置進(jìn)行選擇。多路復(fù)用裝置由數(shù)字信號(hào)驅(qū)動(dòng)。這些數(shù)字信號(hào)包含要被顯示的圖像信息并影響作為一個(gè)理想開(kāi)關(guān)的多路復(fù)用裝置,使M導(dǎo)線上的一個(gè)所選電壓施加到一個(gè)輸出N上。
      按照本發(fā)明,還裝備有一個(gè)第二開(kāi)關(guān)裝置,借此將多路復(fù)用裝置所選擇的電壓切換成一個(gè)可選擇的測(cè)試參考電勢(shì)。該可選或可定義的測(cè)試參考電勢(shì)優(yōu)選為地。第二開(kāi)關(guān)裝置將由多路復(fù)用裝置接通的電壓連接到一個(gè)可選測(cè)試參考電勢(shì)上。通過(guò)控制多路復(fù)用裝置第二開(kāi)關(guān)裝置使得在第一開(kāi)關(guān)裝置斷開(kāi)后就不再被驅(qū)動(dòng)的M導(dǎo)線能夠被接通到第二開(kāi)關(guān)裝置,然后所述第二開(kāi)關(guān)裝置將所選的M導(dǎo)線切換為固定電勢(shì)。在通常情況下,該電勢(shì)可以在所選的導(dǎo)線上進(jìn)行調(diào)整并可以簡(jiǎn)單且容易地進(jìn)行監(jiān)控。如果在所選的導(dǎo)線上未出現(xiàn)該固定電勢(shì),則假定為是驅(qū)動(dòng)器電路出現(xiàn)了故障。這就使驅(qū)動(dòng)器電路的功能性測(cè)試變得很簡(jiǎn)單。任何不同的在M導(dǎo)線之間的泄露電流都能被簡(jiǎn)單地檢測(cè)到,因?yàn)?,?dāng)一個(gè)特定的M1導(dǎo)線被選擇并被接通到第二開(kāi)關(guān)裝置時(shí),存在的任何泄露電流都能通過(guò)第二導(dǎo)線散失掉,以至于在對(duì)輸出N或所選的M1導(dǎo)線以及以故障方式被連接到那里的另外導(dǎo)線進(jìn)行監(jiān)控的過(guò)程中探檢測(cè)不到必要的電平。
      在根據(jù)本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)器電路的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施方案中,M導(dǎo)線被耦合到AN輸出級(jí)。AN輸出級(jí)不僅包括多路復(fù)用裝置,而且還包括一個(gè)放大器單元。該放大器具有可變?cè)鲆?,并在輸入端被配置為高電阻,以使其?duì)應(yīng)的輸出可以由對(duì)應(yīng)的數(shù)值來(lái)驅(qū)動(dòng)。第二開(kāi)關(guān)裝置優(yōu)選地被放置在至少一個(gè)輸出級(jí)中。這樣就可以獲得當(dāng)前的多路復(fù)用裝置被有效地利用。
      在本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施方案中的開(kāi)關(guān)裝置被做成使M導(dǎo)線可單獨(dú)中斷。這樣本測(cè)試就具有了進(jìn)一步的自由度。
      根據(jù)本發(fā)明的驅(qū)動(dòng)器電路能夠檢測(cè)到M導(dǎo)線中單獨(dú)的導(dǎo)線之間的泄露電流。多路復(fù)用裝置的不正確選擇也可以被檢測(cè)到,比如,當(dāng)M1導(dǎo)線待選時(shí),卻選擇了M2導(dǎo)線。
      在多路復(fù)用裝置中的一個(gè)開(kāi)關(guān)具有過(guò)高的正向阻抗情況下,也可檢測(cè)到導(dǎo)線M的電壓沒(méi)有被接通或經(jīng)過(guò)延時(shí)后才被接通。而且一M導(dǎo)線和一輸出N之間的泄露電流也可以被檢測(cè)到。至于泄露電流發(fā)生,只有當(dāng)對(duì)應(yīng)的多路復(fù)用裝置也已經(jīng)選擇了對(duì)應(yīng)的M導(dǎo)線時(shí),測(cè)試才被證實(shí)會(huì)是困難的。測(cè)試的覆蓋范圍可以通過(guò)進(jìn)行這種額外的測(cè)試得到擴(kuò)大。
      根據(jù)本發(fā)明M導(dǎo)線由一個(gè)電壓來(lái)驅(qū)動(dòng),該電壓代表著,例如,一個(gè)數(shù)字信號(hào)1。第一開(kāi)關(guān)裝置將M導(dǎo)線與電源電壓分隔開(kāi),以便被設(shè)置成一個(gè)三態(tài)條件。
      由于在至少一些輸出級(jí)當(dāng)中插入了第二開(kāi)關(guān)裝置,所有M導(dǎo)線都可以接連被切換到一個(gè)測(cè)試參考電勢(shì)。當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)裝置斷開(kāi)后,M導(dǎo)線在給定的一時(shí)間段內(nèi)保持其電壓值,直到內(nèi)部的寄生電容引起放電為止。因此,在這段時(shí)間內(nèi)在輸出N上可以測(cè)量到與導(dǎo)線M上所存在的電壓值相同的電壓值。由于所有的第二開(kāi)關(guān)裝置隨后的閉合,所以有M導(dǎo)線的至少一些能被切換到測(cè)試參考電勢(shì),以便檢查M導(dǎo)線,檢查M導(dǎo)線中的哪一個(gè)被切換到了零電勢(shì)。如果在一個(gè)被切換到測(cè)試參考電勢(shì)的導(dǎo)線和一個(gè)未被驅(qū)動(dòng)的導(dǎo)線M之間存在泄露電流,則未被驅(qū)動(dòng)的導(dǎo)線M也被切換到測(cè)試參考電勢(shì)。
      在測(cè)試這種驅(qū)動(dòng)器電路的一個(gè)優(yōu)選裝置中,M導(dǎo)線在測(cè)試模式下全部彼此相互連接,以使它們被公用的相等的電壓所驅(qū)動(dòng)。當(dāng)在所有這些導(dǎo)線上的電壓都形成后,第一開(kāi)關(guān)裝置被斷開(kāi),所有導(dǎo)線都承載著相同的電壓。在未配有第二開(kāi)關(guān)裝置的輸出級(jí)中,調(diào)整于M導(dǎo)線上的電壓可以在輸出N上測(cè)試。在配有第二開(kāi)關(guān)裝置且第二開(kāi)關(guān)裝置處于閉合狀態(tài)的輸出級(jí)的輸出N上,可以測(cè)試這些輸出是否連接到了測(cè)試參考電勢(shì)上。同時(shí),在其它未配有第二開(kāi)關(guān)裝置的輸出級(jí)上,也可以測(cè)試這些輸出級(jí)的輸出是否連接到了測(cè)試參考電勢(shì)。在此基礎(chǔ)上,可以推斷出在相應(yīng)所選的導(dǎo)線M之間可能存在著短路。
      根據(jù)本發(fā)明的裝置的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)在于用于顯示裝置的驅(qū)動(dòng)器電路可以進(jìn)行實(shí)際上完全的數(shù)字化測(cè)試,因而測(cè)試時(shí)間大為縮短。與模擬測(cè)量相比較,同時(shí)數(shù)字測(cè)試所需的測(cè)試和測(cè)量設(shè)備簡(jiǎn)單得多。因?yàn)檫@種數(shù)字測(cè)試信號(hào),所以多種測(cè)試狀態(tài)都能夠?qū)崿F(xiàn),因而可獲得廣泛的缺陷覆蓋范圍。因?yàn)闇y(cè)試手段的數(shù)字化特性,所以整個(gè)測(cè)試的裝置都很堅(jiān)固,能夠抵抗電磁輻射的干擾。
      該目的也可以通過(guò)包括驅(qū)動(dòng)器電路的顯示裝置來(lái)實(shí)現(xiàn),其中該驅(qū)動(dòng)器電路中N個(gè)輸出連接到顯示裝置的N個(gè)端子上。
      此外,該目的還可以通過(guò)一種測(cè)試驅(qū)動(dòng)器電路的方法得以實(shí)現(xiàn),其中驅(qū)動(dòng)器電路在M導(dǎo)線被提供至少一個(gè)電壓,其中,M導(dǎo)線被耦合到第一開(kāi)關(guān)裝置而且供給到M導(dǎo)線的電壓用第一開(kāi)關(guān)裝置進(jìn)行中斷,其中M導(dǎo)線中的一個(gè)通過(guò)耦合到M導(dǎo)線上的至少一個(gè)多路復(fù)用裝置來(lái)選擇,而且其中所選導(dǎo)線上的電壓通過(guò)第二開(kāi)關(guān)裝置被切換到測(cè)試參考電勢(shì)上。
      圖2為所描述的電路布置的一個(gè)更為具體的表示。導(dǎo)線M1至MI由一臺(tái)電壓發(fā)生器7提供一個(gè)或更多的電壓。導(dǎo)線M1至Mi被傳導(dǎo)到所有輸出級(jí)A1至AN。在輸出級(jí)中,導(dǎo)線M1至Mi被連接到多路復(fù)用裝置4上。多路復(fù)用裝置4根據(jù)數(shù)字信號(hào)E1至EN將相應(yīng)的電壓施加到輸出級(jí)AN上。第一開(kāi)關(guān)裝置2能夠接連地分開(kāi)中斷導(dǎo)線M1至Mi。它還可以互連導(dǎo)線M1至Mi,以保證電壓能夠被施加到所有的導(dǎo)線M1至Mi上。
      圖3為一個(gè)有源矩陣TFT顯示器,該顯示器包括一塊帶有可外饋的端子13的顯示玻璃10。端子13由源(source)驅(qū)動(dòng)器11和柵(gate)驅(qū)動(dòng)器12驅(qū)動(dòng)。源驅(qū)動(dòng)器典型地具有幾百個(gè)輸出,通過(guò)這幾百個(gè)輸出在顯示玻璃10的端子13上可以調(diào)整一個(gè)模擬電壓值。
      權(quán)利要求
      1.一種驅(qū)動(dòng)顯示裝置的裝置,該裝置配有M導(dǎo)線,該M導(dǎo)線被耦合到至少一個(gè)多路復(fù)用裝置(4)上且被耦合到至少一個(gè)第一開(kāi)關(guān)裝置(2)上,該第一開(kāi)關(guān)裝置能夠中斷向M導(dǎo)線的電壓供給,該裝置還配有至少一個(gè)第二開(kāi)關(guān)裝置(3),該第二開(kāi)關(guān)裝置被耦合到M導(dǎo)線上,并由此M導(dǎo)線的至少一個(gè)可以被切換到一個(gè)可選電勢(shì)。
      2.如權(quán)利要求1中所述的裝置,其特征在于所述M導(dǎo)線被耦合到AN輸出級(jí)上,該AN輸出級(jí)配有至少一個(gè)多路復(fù)用裝置(4)和至少一個(gè)放大器單元(5),而且至少有一個(gè)輸出級(jí)(AN)配有一個(gè)第二開(kāi)關(guān)裝置(3),用于將所述輸出級(jí)(AN)切換到一個(gè)可選電勢(shì)上。
      3.如權(quán)利要求1中所述的裝置,其特征在于所有輸出級(jí)AN中都配有第二開(kāi)關(guān)裝置(3)。
      4.如權(quán)利要求1中所述的裝置,其特征在于可由一個(gè)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行控制的多路復(fù)用裝置(4)被安排成將存在于所述M導(dǎo)線上的電壓接通到輸出級(jí)AN上。
      5.如權(quán)利要求1中所述的裝置,其特征在于所述輸出級(jí)(AN)中的第二開(kāi)關(guān)裝置(3)將多路復(fù)用裝置(4)所選擇的導(dǎo)線M切換到一個(gè)測(cè)試參考電勢(shì)上。
      6.如權(quán)利要求1中所述的裝置,其特征在于在測(cè)試模式下第一開(kāi)關(guān)裝置(2)將M導(dǎo)線連接到一個(gè)公用電勢(shì)上,并將它們從該電勢(shì)上分開(kāi)。
      7.如權(quán)利要求1中所述的裝置,其特征在于電壓發(fā)生器產(chǎn)生至少一個(gè)用于供給M導(dǎo)線的電壓。
      8.如權(quán)利要求1中所述的裝置,其特征在于開(kāi)關(guān)裝置(2,3)可以分開(kāi)控制。
      9.一種顯示裝置,其包含如權(quán)利要求1到8所述的驅(qū)動(dòng)器電路,其中輸出級(jí)AN被連接到顯示裝置的N個(gè)端子上。
      10.一種測(cè)試驅(qū)動(dòng)器電路的方法,其中,驅(qū)動(dòng)器電路在M導(dǎo)線上被供給至少一個(gè)電壓,其中所述M導(dǎo)線被耦合到第一開(kāi)關(guān)裝置(2)上,且供給M導(dǎo)線的電壓被第一開(kāi)關(guān)裝置(2)中斷,其中M導(dǎo)線中的一個(gè)是由耦合到M導(dǎo)線上的至少一個(gè)多路復(fù)用裝置所選定的,且其中所選導(dǎo)線上的供給的電壓被第二開(kāi)關(guān)裝置(3)切換到一個(gè)測(cè)試參考電勢(shì)上。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及一種驅(qū)動(dòng)顯示裝置的裝置,且涉及包括驅(qū)動(dòng)器電路的顯示裝置。本發(fā)明還涉及測(cè)試驅(qū)動(dòng)器電路的方法。這種類型的驅(qū)動(dòng)器電路對(duì)顯示裝置的質(zhì)量有決定性的影響。因此,為了確保好的質(zhì)量,對(duì)驅(qū)動(dòng)器電路必須進(jìn)行廣泛的測(cè)試,即用盡可能短的時(shí)間和盡可能少的測(cè)試。為了使這種測(cè)試成為可能,給驅(qū)動(dòng)顯示裝置的裝置配備了M導(dǎo)線,該M導(dǎo)線被耦合到A
      文檔編號(hào)G09G3/36GK1365092SQ021009
      公開(kāi)日2002年8月21日 申請(qǐng)日期2002年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2001年1月9日
      發(fā)明者G·普蘭格 申請(qǐng)人:皇家菲利浦電子有限公司
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