專利名稱：電子部件用托盤及其識別方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子部件用托盤、和電子部件用托盤的識別方法。
背景技術(shù)：
歷來，把半導體器件等的電子部件進貨給顧客之際，有時使用電子部件用托盤(以下稱為“托盤”)。近年，因為環(huán)境保護等，使用過的托盤被再利用。
具體地說，把用過的托盤從顧客處回收，將能夠使用的托盤按電子部件制造商選擇，返回給各電子部件制造商。電子部件制造商把電子部件再次收置于所返回的托盤，把電子部件進貨給顧客。通過品名或制造商名等的刻印，樹脂注入口痕跡的配置等的外觀，托盤被分選。
可是，目前，雖然托盤制造商不同，但是不僅形狀，而且品名、制造商名、和樹脂注入口痕跡的配置等與標準的托盤(以下稱為“標準托盤”)相同或類似的類似的托盤(以下稱為“類似托盤”)大量存在。
此一類似托盤的構(gòu)成材料是不明的，例如，有可能含有對環(huán)境造成惡劣影響的有害物質(zhì)等。因此，在所返回的托盤中混有類似托盤的狀態(tài)下、再次將電子部件收置于托盤而進貨給顧客，這一點是不佳的。由于所混有的類似托盤，有可能導致喪失顧客的信賴。
因為上述原因，有必要識別在所返回的托盤中是否具有類似托盤。但是，如上所述由于制造商名等也相同或類似，所以根據(jù)外觀識別是困難的。
這里，公開了把具有儲存關(guān)于托盤的ID、制造商名、件號、電子部件的品名、數(shù)量、以及批號的信息的超微芯片(mu-chip)的電子標簽埋入托盤的技術(shù)(例如，參照特開2004-284601號公報)。但是，由于為要把電子標簽埋入托盤很費事，此外成本很高，所以并不實用。
此外，公開了在托盤的側(cè)面上附加用來識別電子部件的種類等的標識的技術(shù)(例如，參照特開平9-188383號公報)。但是，此一標識不是用來識別類似托盤的，是在堆積托盤的狀態(tài)下，用于容易理解哪種托盤適用于哪種電子部件的。此外，在連該標識也模仿的場合類似托盤的識別變得困難。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決上述問題而作成的。也就是說，目的在于提供一種可以容易地識別是否為類似的電子部件用托盤的電子部件用托盤以及電子部件用托盤的識別方法。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施形態(tài)的電子部件用托盤，具有用來收置電子部件的托盤主體，和配置于前述托盤主體、表示此一托盤主體的質(zhì)量的標識。
根據(jù)本發(fā)明的另一個實施形態(tài)的、帶有標識的電子部件用托盤的識別方法，包括測定前述電子部件用托盤的質(zhì)量的步驟，和判定前述所測定的質(zhì)量是否在基于前述標識所確定的允許范圍內(nèi)的步驟。


圖1是根據(jù)實施形態(tài)的標準的電子部件用托盤的示意的俯視圖。
圖2是根據(jù)實施形態(tài)的標準的電子部件用托盤的示意的垂直剖視圖。
圖3是根據(jù)實施形態(tài)的電子部件用托盤的識別裝置的框圖。
圖4是根據(jù)實施形態(tài)的電子部件用托盤的識別方法的流程圖。
具體實施例方式
下面，參照附圖就實施形態(tài)進行說明。圖1是根據(jù)本實施形態(tài)的標準的電子部件用托盤的示意的俯視圖，圖2是根據(jù)本實施形態(tài)的標準的電子部件用托盤的示意的垂直剖視圖。
如圖1和圖2中所示，標準托盤1具有矩形的托盤主體2。托盤主體2例如，通過注射模塑成形樹脂等成形。
在托盤主體2的表面?zhèn)龋纬墒罩冒雽w器件等電子部件E的多個凹處(pocket)3。凹處3網(wǎng)格狀地配置多個。
在不同的凹處3之間，形成連接凹處3彼此的多個格狀物4。如圖2中所示，一部分(例如幾處)格狀物4的壁厚成為比其他格狀物4的壁厚要厚些。再者，只要是一部分格狀物4的壁厚與其他格狀物4的壁厚不同就可以了，也可以為另一部分格狀物4的壁厚比其他格狀物4的壁厚要薄些。在格狀物4上面的預定的部位處，形成作為樹脂注入口使用的樹脂注入口痕跡5。
在托盤主體2的外周部的里面，形成凹部。在此一凹部中形成用來提高標準托盤1的強度的加強筋6。如圖2中所示，一部分(例如幾處)的加強筋6的壁厚成為比其他加強筋6的壁厚要厚些。再者，只要是一部分的加強筋6的壁厚與其他加強筋6的壁厚不同就可以了，也可以使另一部分的加強筋6的壁厚比其他加強筋6的壁厚要薄些。
托盤主體2的外周緣部2a向下突出。如圖2中所示，外周緣部2a的一部分的壁厚成為比外周緣部2a的其他部分的壁厚要厚些。再者，只要是外周緣部2a的一部分的壁厚與外周緣部2a的其他部分的壁厚不同就可以了，也可以使外周緣部2a的另一部分的壁厚比外周緣部2a的其他部分的壁厚要薄些。
在托盤主體2的長度方向的兩端部，形成在搬送標準托盤1之際可對其保持的保持部7、8。如圖2中所示，保持部7的壁厚成為比保持部8的壁厚要厚些。再者，只要是保持部7的壁厚與保持部8的壁厚不同就可以了，也可以使保持部7的壁厚比保持部8的壁厚要薄些。
在保持部7的表面上，刻印著例如品名9、制造商名10、以及表示標準托盤1的質(zhì)量的標識11等。此一標識11是把質(zhì)量編碼化而成的。作為標識11，例如，可以舉出包括字母等文字、數(shù)字、標志、和圖案等至少一種的標識。此外，也可以把條形碼等一維代碼、QR碼等二維代碼用作標識。進而，也可以代替光學性標識，用磁性標識，例如磁性碼。
具體地說，例如，在標準托盤1的質(zhì)量為100g的場合，也可以將把“100g”這個質(zhì)量編碼化的“BAA”(這里，A表示0，B表示1)這樣的標識11附加于保持部7。再者，也可以不把標識11編碼化，例如把“100”這樣的直接表示標準托盤1的質(zhì)量的數(shù)字附加于保持部7。此外，表示標準托盤1的質(zhì)量的標識11只要是附加于標準托盤1的某部位就可以了。例如標識11也可以附加于刻印標簽(tab)。此外，也可以取代向標準托盤1的刻印，把標識11印刷于標準托盤1。進而也可以把打印標識11等的薄片粘貼于標準托盤1。
以下，就類似托盤的識別方法進行說明。再者，類似托盤，是指與標準托盤1形狀相同并且與標準托盤1的品名、制造商名、標識等完全相同或類似的托盤。
首先，對附加于托盤的編碼化了的標識進行譯碼，求出托盤的質(zhì)量。進而，設(shè)定包括此一質(zhì)量，且可以看成標準托盤1的允許范圍。例如，在根據(jù)附加于標準托盤1的標識求出標準托盤1的質(zhì)量為100g的場合，設(shè)定大于等于99g且小于等于101g的允許范圍。例如，通過參照將質(zhì)量和允許范圍對應而表示的表，可以執(zhí)行此一設(shè)定。此外，也可以通過對質(zhì)量乘以預定的允許率(例如，±1％)，設(shè)定允許范圍。
接著，實際地測定托盤的質(zhì)量。最后，判別實際測定的托盤的質(zhì)量是否處于允許范圍內(nèi)。
這里，在標準托盤1中，實際測定的托盤的質(zhì)量，與通過對標識11進行譯碼所求出的質(zhì)量幾乎一致。因此，在托盤為標準托盤1的場合，所測定的質(zhì)量為允許范圍內(nèi)的概率很高。
另一方面，在類似托盤中，實際測定的托盤的質(zhì)量與通過對標識譯碼所求出的質(zhì)量不一致。這是因為即使類似托盤的形狀和標識等與標準托盤1的形狀和標識等相同或類似，類似托盤的構(gòu)成材料與標準托盤1的構(gòu)成材料不同的概率也很高的緣故。因此，在托盤是類似托盤的場合，不存在于允許范圍內(nèi)的概率很高。這樣一來，識別托盤是否為類似托盤。
在本實施形態(tài)中，把表示標準托盤1的質(zhì)量的標識11附加于標準托盤1。因此，僅靠測定托盤的質(zhì)量，就可以識別是否為類似托盤。即使在類似托盤的形狀與標準托盤相同、而且與標準托盤1相同或類似的標識附加于類似托盤時，也可進行該識別。再者，在類似托盤上未附加表示質(zhì)量的標識的場合或雖然附加了但是不類似的場合，用不著測定質(zhì)量，靠外觀就可以識別成是類似托盤。
類似托盤的識別，用人工、用機械都能夠執(zhí)行。圖3是表示類似托盤識別裝置20的框圖。
類似托盤識別裝置20可進行類似托盤的自動識別，包括標識讀取部21、質(zhì)量測定部22、識別裝置主體23。
標識讀取部21是讀取托盤上的標識的裝置，例如，為光學性文字讀取裝置(OCR)、代碼閱讀器(例如，條形碼閱讀器)、磁性閱讀器?？梢杂孟鄳跇俗R的種類的讀取裝置。標識讀取部21讀取托盤上的標識11，輸出該信息。
質(zhì)量測定部22是測定托盤的質(zhì)量的裝置，例如為質(zhì)量計。質(zhì)量測定部22測定托盤的質(zhì)量，輸出該信息。
識別裝置主體23是基于來自標識讀取部21和質(zhì)量測定部22的信息，判別類似托盤的裝置，例如，包括計算機。識別裝置主體23包括允許范圍確定部24、類似托盤判別部25、標識表保持部26。
允許范圍確定部24基于托盤的標識11確定質(zhì)量的允許范圍。在此一確定中采用標識辭典。
類似托盤判別部25基于托盤的質(zhì)量與允許范圍的關(guān)系，或者托盤的標識11自身判別類似托盤。
標識辭典保持部26是儲存標識辭典的存儲裝置，例如硬盤。標識辭典是用來對標識11進行譯碼的辭典，表示標識與質(zhì)量的對應關(guān)系。為了對標識11的密碼譯碼而使用。
圖4是表示利用類似托盤識別裝置20進行的類似托盤識別的順序的流程圖。以下，基于圖4詳細說明類似托盤識別的順序。
(1)托盤的標識11的讀取(步驟S11)
由標識讀取部21讀取托盤上的標識11。再者，也可以靠人工讀取標識11，輸入到類似托盤識別裝置20。
(2)通過標識11進行的類似托盤識別(步驟S12、S13)基于所讀取的標識11，判別是否為類似托盤。參照標識辭典，判定對應于該標識11的質(zhì)量的信息是否存在。如果對應于標識11的質(zhì)量的信息不存在，則判別成該托盤為類似托盤。如果判別成類似托盤，則該托盤中的判定處理結(jié)束(步驟S13)(3)質(zhì)量的允許范圍的確定(步驟S14)基于所讀取的標識11，確定質(zhì)量的允許范圍。此時執(zhí)行以下的1)、2)的順序。
1)用標識辭典，對對應于所讀取的標識11的質(zhì)量的信息進行譯碼。此外，也可以通過參照對應于標識11、和質(zhì)量而表示的表(標識-質(zhì)量表)，確定允許范圍。此一表，可以代替標識辭典，或者與標識辭典一起，預先儲存于標識辭典保持部26。以后的表(質(zhì)量-允許范圍表、標識-允許范圍表)也同樣，可以預先儲存于標識辭典保持部26。
2)基于所譯碼的質(zhì)量，確定質(zhì)量的允許范圍。例如，可以通過對質(zhì)量乘以預定的允許率(例如，±1％)，確定允許范圍。此外，也可以通過參照對應質(zhì)量、和允許范圍而表示的表(質(zhì)量-允許范圍表)，確定允許范圍。
3)也可以取代以上1)、2)，根據(jù)標識11直接確定質(zhì)量的允許范圍。例如，用對應標識11與質(zhì)量的允許范圍而表示的表(標識-允許范圍表)，可以根據(jù)標識11的信息得到允許范圍的信息。
(4)托盤的質(zhì)量測定(步驟S15)由質(zhì)量測定部22測定托盤的質(zhì)量。
(5)基于質(zhì)量的類似托盤的識別(步驟S16)基于所測定的質(zhì)量是否在允許范圍，識別類似托盤。
以上的處理順序能夠更換。例如，可以在步驟S11前先執(zhí)行步驟S15。此外，也可以同時并行地執(zhí)行步驟S11、S15。如果同時并行地執(zhí)行步驟S11、S15，則處理速度加快。
以上的處理順序以利用類似托盤識別裝置20進行的處理為前提。可以人為地執(zhí)行此一處理順序的一部分或全部。例如，也可以人為地讀取，或測定標識11、質(zhì)量，將其輸入到類似托盤識別裝置20。
在本實施形態(tài)中，標識11把標準托盤1的質(zhì)量編碼化。因此，標識11表示標準托盤1的質(zhì)量這一點很難被注意到。結(jié)果，可以防止巧妙的類似托盤的制造。
在本實施形態(tài)中，通過改變標準托盤1的構(gòu)成要素的一部分的壁厚，可以把標準托盤1調(diào)節(jié)成預期的質(zhì)量。具體地說，可以改變格狀物4、加強筋6、外周緣部2a的壁厚的一部分、保持部7的壁厚。結(jié)果，例如，與未改變壁厚的場合相比可以加重5g左右。
借此，賦予標準托盤1與類似托盤的質(zhì)量差，可以容易地進行類似托盤的識別。例如，即使在除形狀及表示質(zhì)量的標識等之外、就連構(gòu)成材料也與標準托盤1相同或類似的場合，也可以識別類似托盤。在此一場合，在標準托盤1的壁厚方面存在著不同的部分這一點很難被注意到。這是因為變化壁厚的僅是一部分，此外變化壁厚這一點外觀上是不容易看出的緣故。結(jié)果，可以防止更巧妙的類似托盤的制造。
(其他實施形態(tài))本發(fā)明的實施形態(tài)，不限定于上述實施形態(tài)的記載內(nèi)容。例如，結(jié)構(gòu)或材質(zhì)，各構(gòu)件的配置等，在不脫離本發(fā)明的精神的范圍內(nèi)可以適當變更。此外，類似托盤的識別，通過人工、機械的某一種都能夠執(zhí)行。
權(quán)利要求
1.一種電子部件用托盤，其包括用來收置電子部件的托盤主體，和配置于前述托盤主體、表示該托盤主體的質(zhì)量的標識。
2.如權(quán)利要求1所述的電子部件用托盤，其中，前述標識對前述質(zhì)量編碼化而表示。
3.如權(quán)利要求1所述的電子部件用托盤，其中，前述托盤主體包括配置于主面上的多個凹處，和配置于該凹處間的多個格狀物。
4.如權(quán)利要求3所述的電子部件用托盤，其中，前述多個格狀物包括相互壁厚不同的格狀物。
5.如權(quán)利要求3所述的電子部件用托盤，其中，前述托盤主體還包括配置于前述主面的相反側(cè)的面的多個加強筋。
6.如權(quán)利要求5所述的電子部件用托盤，其中，前述多個加強筋包括相互壁厚不同的加強筋。
7.一種附加有標識的電子部件用托盤的識別方法，其中，包括測定前述電子部件用托盤的質(zhì)量的步驟，和判定前述所測定的質(zhì)量是否在基于前述標識所確定的允許范圍內(nèi)的步驟。
8.如權(quán)利要求7所述的電子部件用托盤的識別方法，其中，還包括基于前述標識確定質(zhì)量的允許范圍的步驟。
9.如權(quán)利要求7所述的電子部件用托盤的識別方法，其中，還包括從前述電子部件用托盤讀取前述標識的步驟。
10.如權(quán)利要求7所述的電子部件用托盤，其中，前述標識對前述質(zhì)量編碼化而表示。
11.如權(quán)利要求7所述的電子部件用托盤的識別方法，其中，前述托盤主體包括配置于主面上的多個凹部，和配置于該凹部間的多個格狀物。
12.如權(quán)利要求11所述的電子部件用托盤的識別方法，其中，前述多個格狀物包括相互壁厚不同的格狀物。
13.如權(quán)利要求11所述的電子部件用托盤的識別方法，其中，前述托盤主體還包括配置于前述主面的相反側(cè)的面的多個加強筋。
14.如權(quán)利要求13所述的電子部件用托盤的識別方法，其中，前述多個加強筋包括相互壁厚不同的加強筋。
全文摘要
本發(fā)明的電子部件用托盤具有用來收置電子部件的托盤主體，和配置于前述托盤主體、表示該托盤主體的質(zhì)量的標識。
文檔編號G09F7/00GK1876521SQ200610087950
公開日2006年12月13日 申請日期2006年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月8日
發(fā)明者古賀浩二 申請人:株式會社東芝