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      一種測(cè)試用轉(zhuǎn)接口電路裝置的制作方法

      文檔序號(hào):2616291閱讀:178來源:國(guó)知局
      專利名稱:一種測(cè)試用轉(zhuǎn)接口電路裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及一種用于平板顯示屏的測(cè)試的轉(zhuǎn)接口電路裝置。

      背景技術(shù)
      在現(xiàn)有技術(shù)中,在生產(chǎn)線上完成顯示屏的加工生產(chǎn)后,一般都需要通過工藝測(cè)試這道工序后,產(chǎn)品才可以出廠。通常的測(cè)試工序包括兩個(gè)部分,首先是對(duì)屏體進(jìn)行高溫老煉,然后是對(duì)屏體的常規(guī)測(cè)試。
      現(xiàn)有技術(shù)中的高溫老煉測(cè)試的電路,是將點(diǎn)陣屏的陰極由一塊導(dǎo)線物質(zhì)短接,再由一根導(dǎo)線引出;陽(yáng)極的情況相同。由于這種電路的接法是很不穩(wěn)定的,會(huì)造成點(diǎn)陣屏全屏顯示時(shí)出現(xiàn)缺行顯示。這種情況造成點(diǎn)陣屏經(jīng)過高溫老煉之后,會(huì)出現(xiàn)顯示不均勻現(xiàn)象(高溫老練時(shí)缺行的地方,其亮度會(huì)比其他正常區(qū)域要暗)。再者現(xiàn)有的測(cè)試工序因受測(cè)試裝置的限制,導(dǎo)致操作步驟非常煩瑣首先,需要將顯示屏與高溫老煉的測(cè)試設(shè)備相連接,如圖2所示,高溫老煉完成之后把屏體取下,然后再將顯示屏重新連接上常規(guī)測(cè)試設(shè)備,通電進(jìn)行測(cè)試,如圖3所示。
      因?yàn)槊恳粔K顯示屏進(jìn)入測(cè)試時(shí)都需要通過人工將其與測(cè)試設(shè)備連接、取下、再連接、再取下地反復(fù)操作,這樣不但限制了批量生產(chǎn)的效率,同時(shí)增加了工時(shí)費(fèi),也增加了設(shè)備的投入。

      實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型就要解決上述的在現(xiàn)有的測(cè)試工序中存在的問題,提供一種新型的轉(zhuǎn)接口電路裝置,用于連接顯示屏與各個(gè)測(cè)試設(shè)備。
      一種用于平板顯示屏測(cè)試的轉(zhuǎn)接口電路裝置,該裝置包括一個(gè)印刷電路板以及位于該板上的轉(zhuǎn)接FPC和多孔電路插座。
      FPC引線的數(shù)量和點(diǎn)陣屏引線相同。
      本實(shí)用新型可以改進(jìn)現(xiàn)有技術(shù)中顯示屏需要分別與各個(gè)測(cè)試設(shè)備直接插拔的煩瑣工序,采用本實(shí)用新型的轉(zhuǎn)接口電路裝置,只要將多孔電路插座變換插接不同測(cè)試設(shè)備,就即可實(shí)現(xiàn)常規(guī)點(diǎn)陣屏的測(cè)試,又可進(jìn)行高溫老煉測(cè)試,不用再反復(fù)裝卸點(diǎn)陣屏,大大節(jié)省了工序,提高了生產(chǎn)效率。同時(shí)因?yàn)椴捎玫霓D(zhuǎn)接口電路裝置上的FPC引線是和點(diǎn)陣屏的引線一一對(duì)應(yīng)的,在測(cè)試過程中,顯示屏上的行列是被全部點(diǎn)亮的,就不會(huì)出現(xiàn)缺行顯示的現(xiàn)象,可以確保顯示屏經(jīng)過測(cè)試后能夠顯示均勻。

      圖1為本實(shí)用新型的轉(zhuǎn)接口電路裝置的示意圖; 圖2為現(xiàn)有技術(shù)中顯示屏進(jìn)行高溫老煉測(cè)試時(shí)所需的測(cè)試裝置連接示意圖; 圖3為現(xiàn)有技術(shù)匯總顯示屏進(jìn)行常溫測(cè)試時(shí)所需的測(cè)試裝置連接示意圖; 圖4為本實(shí)用新型中轉(zhuǎn)接口電路裝置上FPC的引線示意圖; 圖5a、5b為本實(shí)用新型中轉(zhuǎn)接口電路裝置上FPC的引線說明圖; 圖6為本實(shí)用新型中的顯示屏測(cè)試過程示意圖; 圖7為本實(shí)用新型中常溫測(cè)試設(shè)備的插頭與多孔插座連接的示意圖; 圖8為本實(shí)用新型中高溫老練測(cè)試設(shè)備的插頭與多孔插座連接的示意圖。
      具體實(shí)施方式
      附圖標(biāo)記說明 1為顯示屏;2為FPC線路;3為印刷電路板;4為多孔電源插座;5為工裝夾具;6為常溫測(cè)試設(shè)備的電路接口;7為高溫老練測(cè)試設(shè)備的電路接口;61為為現(xiàn)有技術(shù)中連接常溫測(cè)試設(shè)備的電路引線;81為現(xiàn)有技術(shù)中連接高溫老練測(cè)試設(shè)備的電路引線;82為本實(shí)用新型中連接高溫老練測(cè)試設(shè)備的電路引線。
      本實(shí)用新型對(duì)顯示屏進(jìn)行測(cè)試時(shí),首先使用工裝夾具將顯示屏與轉(zhuǎn)接口電路裝置相連接,如圖6所示,其中5為工裝夾具。
      顯示屏上的引線與FPC的引線相連,如圖4、圖5所示,其中COM1~COM63為點(diǎn)陣屏陰極奇數(shù)行,COM0~COM62為點(diǎn)陣屏陰極偶數(shù)行,SEG1~SEG131為點(diǎn)陣屏的陽(yáng)極列。因?yàn)檗D(zhuǎn)接口電路裝置上的FPC引線是和點(diǎn)陣屏的引線一對(duì)應(yīng)的,在測(cè)試過程中,顯示屏上的行列是被全部點(diǎn)亮的,就不會(huì)出現(xiàn)缺行顯示的現(xiàn)象,可以確保顯示屏經(jīng)過測(cè)試后能夠顯示均勻。
      然后,將常溫測(cè)試設(shè)備的電路接口與轉(zhuǎn)接口電路裝置上的多孔插座相連接,對(duì)顯示屏進(jìn)行常溫測(cè)試。常溫測(cè)試設(shè)備的電路插頭如圖6所示與多孔插座相接。
      完成常溫測(cè)試后,再將轉(zhuǎn)接口電路裝置上的多孔插座與高溫老練測(cè)試設(shè)備的電路接口相連接,對(duì)顯示屏進(jìn)行高溫老練測(cè)試。因?yàn)楦邷乩蠠挏y(cè)試時(shí)的插頭接出來的引線需要短接,即COM0~COM63 64根引線裸接在一起輸入相同信號(hào),同樣SEG1~SEG131 132根引線裸接在一起,其插頭與多孔插座連接的示意圖如圖7所示。
      由上述實(shí)施方式,使用本實(shí)用新型的轉(zhuǎn)接口電路裝置,大大節(jié)省了顯示屏測(cè)試時(shí)的工序,提高了生產(chǎn)效率,同時(shí)也不會(huì)產(chǎn)生對(duì)顯示屏體的損害。
      盡管結(jié)合優(yōu)選實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了說明,但本發(fā)明并不局限于上述實(shí)施例和附圖,應(yīng)當(dāng)理解,在本發(fā)明構(gòu)思的引導(dǎo)下,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),本領(lǐng)域技術(shù)人員只進(jìn)行的少許修改和潤(rùn)飾,均為本發(fā)明的保護(hù)范圍所覆蓋
      權(quán)利要求1.一種測(cè)試用轉(zhuǎn)接口電路裝置,其特征在于,該裝置包括一個(gè)印刷電路板以及位于該板上的轉(zhuǎn)接FPC和多孔電路插座。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)接口電路裝置,其特征在于,所述轉(zhuǎn)接FPC引線的數(shù)量和點(diǎn)陣屏引線相同。
      專利摘要本實(shí)用新型涉及一種用于平板顯示屏測(cè)試的轉(zhuǎn)接口電路裝置,該裝置包括一個(gè)印刷電路板以及位于該板上的轉(zhuǎn)接FPC和多孔電路插座。本實(shí)用新型改進(jìn)了現(xiàn)有技術(shù)中顯示屏需要分別與各個(gè)測(cè)試設(shè)備直接插拔的煩瑣工序,不用再反復(fù)裝卸點(diǎn)陣屏,大大節(jié)省了工序,提高了生產(chǎn)效率。同時(shí)在測(cè)試過程中,顯示屏上的行列是被全部點(diǎn)亮的,就不會(huì)出現(xiàn)缺行顯示的現(xiàn)象,可以確保顯示屏經(jīng)過測(cè)試后能夠顯示均勻。
      文檔編號(hào)G09G3/00GK201054235SQ20062016908
      公開日2008年4月30日 申請(qǐng)日期2006年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月29日
      發(fā)明者勇 邱, 德 許 申請(qǐng)人:昆山維信諾顯示技術(shù)有限公司
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