專利名稱：電子裝置顯示面板的測試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種測試電路，且特別是有關(guān)于一種測試顯示面板的像 素陣列的測試電路。
背景技術(shù)：
顯示面板不論是在計算機、電視、手持通訊裝置上都被廣泛地使用。其 中，除了制造顯示面板中的像素電路及驅(qū)動電路外，測試電路的設計，亦占 了顯示器制程中相當重要的一環(huán)。如何在不影響像素電路及驅(qū)動電路功能的 情形下，達到測試顯示面板是否可以正常運作，將是測試電路最重要的工作。
以往的測試電路往往將測試信號線直接與像素電路及驅(qū)動電路相連，并
于測試完成后，再以激光裁切(Laser cut)制程將相連處切開。這樣的作法， 一方面將使整體制程多增加一道手續(xù)而提高成本，另一方面如激光未裁切完 全，而使測試電路仍與像素電路或驅(qū)動電路相接，將可能造成顯示面板工作 的不正常。另一種形式的測試電路則在與像素電路及驅(qū)動電路相連處各增加 單一的晶體管，以作為一個開關(guān)。這樣的設計雖然可以省去激光裁切制程， 但是這些晶體管容易遭受靜電效應的沖擊，進而損壞內(nèi)部的像素電路及驅(qū)動 電路。并且，這些晶體管間彼此因為制程的差異，而造成電路特性的不同， 使得測試信號受到影響而在顯示面板上產(chǎn)生色度不均(Mura)的現(xiàn)象。
因此，如何i殳計一個新的測試電路，能夠避免靜電效應的沖擊，并且降 低晶體管制程差異所帶來的影響，乃為此業(yè)界亟待解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的目的就是在于提供一種測試電路，用以測試像素陣列，包 含多條測試信號線、多個測試信號傳輸單元、多條柵極線以及至少一靜電 防護裝置。測試信號傳輸單元群組各包含多個對應測試信號線的測試信號傳 輸單元，各測試信號傳輸單元群組分別對應耦接至測試信號線之一，以耦接 至測試信號線及像素陣列，其中各測試信號傳輸單元包含至少一傳輸門；柵
極線耦接至至少一傳輸門的柵極；以及至少一靜電防護裝置耦接至柵極線其 中二者。
本發(fā)明的另一目的是在于提供一種顯示面板，包含像素陣列以及測試 電路。測試電路包含多條測試信號線、多個測試信號傳輸單元、多條柵極 線以及至少一靜電防護裝置。測試信號傳輸單元群組各包含多個對應測試信 號線的測試信號傳輸單元，各測試信號傳輸單元群組分別對應耦接至測試信 號線之一，以耦接至測試信號線及像素陣列，其中各測試信號傳輸單元包含 至少一傳輸門；柵極線耦接至至少一傳輸門的柵極；以及至少一靜電防護裝 置耦接至柵極線其中二者。
本發(fā)明的優(yōu)點在于能夠利用靜電防護裝置設置于柵極線而避免靜電效應 的沖擊，并且降低晶體管制程差異所帶來的影響，而輕易地達到上述的目的。
在參閱圖式及隨后描述的實施方式后，本領(lǐng)域技術(shù)人員便可了解本發(fā)明 的目的，以及本發(fā)明的技術(shù)手^a及實施態(tài)樣。
為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點與實施例能更明顯易懂，所 附圖式的詳細說明如下
圖1為本發(fā)明的第一實施例的顯示面板的方塊圖； 圖2為本發(fā)明的第一實施例的顯示面板的電路圖； 圖3為本發(fā)明的第二實施例的顯示面板的電路圖4A至圖4G為本發(fā)明中的靜電防護裝置于不同實施方式的元件示意以及
圖5A至圖5D為本發(fā)明中的測試信號傳輸單元于不同實施方式的電路圖。 [主要元件標號說明]
1:顯示面板 100-103:像素單元 20、 21:測試信號線 24-27:測試信號傳輸單元 240—243、 250-253:傳輸門 30:像素陣列 31:測試電路
10:像素陣列
11:測試電^各
22、 23:兩條柵極線
28:靜電防護裝置
3:顯示面板
300-305:像素單元
310、 311、 312:測試信號線
313-316:柵極線
320-325:測試信號傳輸單元
50-5 3:測試信號傳輸單元
500:傳輸門
503:靜電防護裝置
505:測試信號線
512、513:柵極線
515:像素陣列
520、521、 522:傳輸門
525:靜電防護裝置
527:測試信號線
533、534:柵極線
536:像素陣列
317、 318:靜電防護裝置 320a、 320b、 321a、 321b、 322a、 322b:傳輸門
501、502:柵極線
504:像素陣列
510、511:傳輸門
514:靜電防護裝置
516:測試信號線
523、524:柵極線
526:像素陣列
530、531、 532:傳輸門
535:靜電防護裝置
537:測試信號線
具體實施例方式
請參照圖1,為本發(fā)明的第一實施例的顯示面板l的方塊圖，顯示面板l 用于電子裝置(未繪示)，其中電子裝置包含主機(未繪示)及顯示面板1。顯
示面板l包含像素陣列l(wèi)O以及測試電路ll。請同時參照圖2,為本發(fā)明的 第一實施例的顯示面板1更詳細的電路圖。像素陣列10包含多個像素單元， 于圖2中僅繪示出像素單元100、 101、 102、 103。測試電路ll包含兩條 測試信號線20及21、多個測試信號傳輸單元、兩條柵極線22、 23以及一靜 電防護裝置28。為方便進行說明，圖2僅繪示四個測試信號傳輸單元24、 25、 26、 27。測試信號線20、 21于本實施例中分別為奇柵極測試信號線20及偶 柵極測試信號線21,并分別用以接收對應的奇柵極測試信號及偶柵極測試信 號。測試信號傳輸單元24、 25、 26、 27亦對應不同的測試信號而分為兩個對 應的測試信號傳輸單元群組。于本實施例中，測試信號傳輸單元24、 26屬于 第一測試信號傳輸單元群組，是以虛線框表示之。而測試信號傳輸單元25、 27屬于第二測試信號傳輸單元群組，是以實線框表示之。第一及第二測試信 號傳輸單元群組中的各測試信號傳輸單元及以上述方式交錯排列，其中第一 測試信號傳輸單元群組中的各測試信號傳輸單元接收奇柵極測試信號，并更 進一步耦接至像素陣列10中各奇數(shù)列像素單元100、 102的柵極。第二測試
信號傳輸單元群組中的各測試信號傳輸單元則接收偶柵極測試信號，并更進
一步耦接至像素陣列10中各偶數(shù)列像素單元101、 103的柵極。通過奇柵極 測試信號線20及偶柵極測試信號線21分別經(jīng)過第一及第二測試信號傳輸單 元群組傳送入像素陣列IO的像素單元，測試電路ll即可對像素陣列10進行 像素單元的柵極的測試。
測試信號傳輸單元24、 25、 26、 27于本實施例中，各包含四個傳輸門。 以測試信號傳輸單元24及25為例，測試信號傳輸單元24包含四個傳輸門 240、 241、 242、 243，測試信號傳輸單元25包含四個傳輸門250、 251、 252、 253。柵極線22耦接至傳輸門240、 241、 250、 251的柵極，而柵極線23則 耦接至傳輸門242、 243、 252、 253的柵極。靜電防護裝置28形成于柵極線 22與柵極線23間。如果靜電自外界由柵極線22、 23進入，靜電將會最后進 入靜電防護裝置28而被消耗掉，而保護測試信號傳輸單元24、 25、 26、 27 及更內(nèi)部的像素陣列IO不受到靜電的破壞。
在傳輸門的制造過程中，常因制程的差異而使得各傳輸門間的傳遞參數(shù) 不同，因此如果僅使用傳輸門作為測試信號傳輸單元，容易使各行的測試信 號不均而造成影響。因此本實施例中，各測試信號傳輸單元包含四個傳輸門 的實施方式，可以使整體測試信號傳輸單元平均化，而使各測試信號傳輸單 元的傳遞參lt近似，而使各行的測試信號較為平均。
圖3為本發(fā)明的第二實施例的顯示面板3的電路圖。顯示面板3包含 像素陣列30以及測試電路31。像素陣列30包含多個像素單元，于圖3中僅 繪示出像素單元300-305。測試電路31包含三條測試信號線310、 311、 312、 多個測試信號傳輸單元、四條柵極線313、 314、 315、 316以及二靜電防護裝 置317、 318。為方便進行說明，圖2僅繪示六個測試信號傳輸單元320-325。 測試信號線310、 311、 312于本實施例中分別為紅色像素測試信號線310、 綠色像素測試信號線311以及藍色像素測試信號線312，并分別用以接收對 應的紅色像素測試信號、綠色像素測試信號及藍色像素測試信號。
測試信號傳輸單元320-325亦對應不同的測試信號而分為三個對應的測 試信號傳輸單元群組。于本實施例中，測試信號傳輸單元320、 323屬于第一 測試信號傳輸單元群組，測試信號傳輸單元321、 324屬于第二測試信號傳輸 單元群組，而測試信號傳輸單元322、 325屬于第三測試信號傳輸單元群組。 第一、第二及第三測試信號傳輸單元群組中的各測試信號傳輸單元及以上述
方式交錯排列，其中第一、第二及第三測試信號傳輸竿無群組中的各測試信 號傳輸單元分別接收紅色、綠色及藍色像素測試信號，并更進一步分別耦才妻
至像素陣列30中各列像素單元300及303、 301及303、 302及305。通過紅 色、綠色及藍色像素測試信號線310、 311、 312分別經(jīng)過第一、第二及第三 測試信號傳輸單元群組傳送入像素陣列30的像素單元，測試電路31即可對 像素陣列30進行像素單元的像素顯示測試。
測試信號傳輸單元320-325于本實施例中，各包含兩個串聯(lián)的傳輸門。 以測試信號傳輸單元320-322為例，分別包含兩個傳輸門320a及320b、 321a 及321b、 322a及322b。柵極線313及314如圖3所示，耦接至傳輸門320a、 321a、 322a的柵極，而柵極線315及316則耦接至傳輸門320b、 321b、 322b 的柵極。靜電防護裝置317及318分別形成于柵極線313、 314間與柵極線 315、 316間。如果靜電自外界由柵極線313、 314、 315或進入，通過耦接于 313、 314間與柵極線315、 316間的靜電防護裝置317及318，靜電將會被消 耗掉，而保護測試信號傳輸單元320-322及更內(nèi)部的像素陣列30不受到靜電 的破壞。
上述實施例中的靜電防護裝置，于其它實施例中，可由不同的電路元件 實現(xiàn)。如圖4A所示，靜電防護裝置可為電容,以儲存電荷的方式，將進入測 試電路內(nèi)的靜電吸收。圖4B為另一實施例中，利用尖端放電裝置作為靜電防 護裝置，可將電荷以放電的方式排出。圖4C是以電感作為靜電防護裝置，亦 如電容般具有儲存電荷的功效。圖4D是以二反向并聯(lián)的二極管作為靜電防護 裝置，以使靜電不論自何方向進入，都可為二極管所吸收。圖4E、圖4F及 圖4G為將電容、電感、電阻做排列組合的實施方式，分別為阻容電路、阻感 電路及感容電路，兼具儲存及消耗靜電電荷的功效。于其它實施例中，還可 以靜電防護集成電路作為靜電防護裝置，以達到對靜電電荷更有效率的消耗 或吸收。
于其它實施例中，測試信號傳輸單元的數(shù)目及串并聯(lián)的方式，可根據(jù)需 求而做調(diào)整。如圖5A所示，測試信號傳輸單元50可僅包含傳輸門500，并 通過二柵極線501、 502,更進一步耦接至靜電防護裝置503，其中傳輸門500 亦與像素陣列504及測試信號線505相耦接。當測試信號傳輸單元包含二傳 輸門，除如上述第二實施例中的串聯(lián)方式，亦可以如圖5B所示的傳輸門510、 511，以并聯(lián)方式相耦接，并通過二柵極線512、 513，更進一步耦接至靜電
防護裝置514，其中傳輸門510、 511亦與像素陣列5i5及測試信號線516相 耦接。圖5C為一實施例中，包含三個傳輸門520、 521、 522的測試信號傳輸 單元52,其中傳輸門520、 521是先并聯(lián)后，再與傳輸門522進行串聯(lián)。傳 輸門520、 521、 522通過二柵極線523、 524，更進一步耦接至靜電防護裝置 525，其中傳輸門520、 521與像素陣列526相耦接，傳輸門522與測試信號 線527相耦接。圖5D亦為包含三個傳輸門530、 531、 532的測試信號傳輸單 元53的實施例，其中傳輸門530、 531是先串聯(lián)后，再與傳輸門532進行并 聯(lián)。傳輸門530、 531、 532通過二柵極線533、 534，更進一步耦接至靜電防 護裝置535，其中傳輸門530、 532與像素陣列536相耦接，傳輸門531、 532 與測試信號線537相耦接。釆用多個傳輸門串聯(lián)及并聯(lián)的設計，可以在某個 傳輸門遭到例如靜電損傷時，測試信號傳輸單元仍能工作。而當測試信號傳 輸單元所包含的傳輸門是有四個以上時，其結(jié)構(gòu)可為上述的并聯(lián)結(jié)構(gòu)及串聯(lián) 結(jié)構(gòu)排列組合，故在此不再贅述。
本發(fā)明的優(yōu)點在于能夠利用靜電防護裝置設置于柵極線而避免靜電效應 的沖擊，并且降低晶體管制程差異所帶來的影響。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何 本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作各種的更動與潤 飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視所附的權(quán)利要求范圍所界定者為準。
權(quán)利要求
1.一種測試電路，用以測試像素陣列，包含多條測試信號線；多個測試信號傳輸單元群組，該測試信號傳輸群組包含多個對應該等測試信號線的測試信號傳輸單元，各該等測試信號傳輸單元群組分別對應耦接至該等測試信號線之一，以耦接至該等測試信號線及該像素陣列，其中各該等測試信號傳輸單元包含至少一傳輸門；多條柵極線，各該等柵極線耦接至該至少一傳輸門的柵極；以及至少一靜電防護裝置，耦接至該等柵極線其中二者。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中各該等柵極線是與一個測試信 號傳輸單元群組中各該測試信號傳輸單元中至少 一該傳輸門的柵極耦接。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試電路，其中各該等測試信號傳輸單元包含 至少二傳輸門，各該等柵極線是與該測試信號傳輸單元群組中各該測試信號 傳輸單元中該至少二傳輸門的柵極耦接，與同一柵極線相耦接的各該等測試 信號傳輸單元中的該二傳輸門之間相互并聯(lián)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中各該等測試信號傳輸單元包含 至少二傳輸門，該至少二傳輸門為至少一并聯(lián)結(jié)構(gòu)或至少一 串聯(lián)結(jié)構(gòu)。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中各該等測試信號傳輸單元包含 至少三傳輸門，該至少三傳輸門為至少 一并聯(lián)結(jié)構(gòu)及至少 一 串聯(lián)結(jié)構(gòu)的組合。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中該等測試信號線為紅色像素測 試信號線、綠色像素測試信號線及藍色像素測試信號線，該等測試信號傳輸 單元被分為三個測試信號傳輸單元群組，分別耦接至該紅色像素測試信號線、 該綠色像素測試信號線及該藍色像素測試信號線。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中該像素陣列包含多條數(shù)據(jù)線， 各該等測試信號傳輸單元對應耦接至該等數(shù)據(jù)線之一。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中該等測試信號線為奇柵極測試 信號線以及偶柵極測試信號線，該等測試信號傳輸單元被分為兩個測試信號 傳輸單元群組，分別耦接至該奇柵極測試信號線以及該偶柵極測試信號線。
9. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中該像素陣列包含多條柵極線， 各該等測試信號傳輸單元對應耦接至該等柵極線之一。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中該靜電防護裝置為電容或電感或尖端放電裝置。
11. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中該靜電防護裝置為二個反向 并聯(lián)的二極管。
12. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試電路，其中該靜電防護裝置為阻容電路、 阻感電路或感容電路。
13. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試電路，其中該靜電防護裝置為靜電防護 集成電路。
14. 一種顯示面板，包含 像素陣列；以及 測試電路，包含多條測試信號線；多個測試信號傳輸單元群組，該測試信號傳輸群組包含多個對應該等 測試信號線的測試信號傳輸單元，各該等測試信號傳輸單元群組分別對應耦 接至該等測試信號線之一，以耦接至該等測試信號線及該像素陣列，其中各 該等測試信號傳輸單元包含至少一傳輸門；多條柵極線，各該等柵極線耦接至該至少一傳輸門的柵極；以及 至少一靜電防護裝置，耦接至該等柵極線其中二者。
全文摘要
一種電子裝置顯示面板的測試電路，用以測試像素陣列，測試電路包含多條測試信號線、多個測試信號傳輸單元、多條柵極線以及至少一靜電防護裝置。測試信號傳輸單元群組各包含多個對應測試信號線的測試信號傳輸單元，各測試信號傳輸單元群組分別對應耦接至測試信號線之一，以耦接至測試信號線及像素陣列，其中各測試信號傳輸單元包含至少一傳輸門；柵極線耦接至至少一傳輸門的柵極；以及至少一靜電防護裝置耦接至柵極線其中二者。
文檔編號G09G3/20GK101359024SQ20081016578
公開日2009年2月4日 申請日期2008年9月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月23日
發(fā)明者劉婷婷, 杰 奚, 王孝林 申請人:友達光電(蘇州)有限公司;友達光電股份有限公司