專利名稱：平面顯示面板及其有源元件陣列基板與點(diǎn)亮測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種平面顯示面板及其有源元件陣列基板與點(diǎn)亮測試方法，特別是涉
及一種能夠在點(diǎn)亮測試過程中同時(shí)檢測顯示區(qū)與驅(qū)動(dòng)電路之間的線路是否存在短路或斷 路的平面顯示面板及其有源元件陣列基板與點(diǎn)亮測試方法。
背景技術(shù)：
由于平面顯示面板具有體積小、重量輕等優(yōu)點(diǎn)，因此目前已被廣泛地應(yīng)用于各種 電子產(chǎn)品中。 在平面顯示面板的制造過程中，通常會(huì)于尚未將驅(qū)動(dòng)IC連接至顯示面板前，先對(duì) 顯示面板進(jìn)行點(diǎn)亮測試，以確認(rèn)顯示面板中的各個(gè)像素是否能夠正常顯示畫面。圖1繪示 為現(xiàn)有習(xí)知平面顯示面板的示意圖。請(qǐng)參閱圖1所示，平面顯示面板100具有顯示區(qū)102 與周邊電路區(qū)104，其中顯示區(qū)102內(nèi)配置有多個(gè)像素單元IIO，周邊電路區(qū)104內(nèi)則配置 有點(diǎn)亮測試線路120、接墊130以及信號(hào)導(dǎo)線140。 信號(hào)導(dǎo)線140是電性連接于接墊130與顯示區(qū)102內(nèi)的像素單元110之間，也就 是所謂的扇出(fan-out)拉線。其中，每條信號(hào)導(dǎo)線140均分別電性連接至單一像素單元 110。點(diǎn)亮測試線路120則是與顯示區(qū)102內(nèi)的所有像素單元110電性連接，也就是說測試 信號(hào)是由點(diǎn)亮測試線路120輸入至所有像素單元110，以同時(shí)對(duì)所有像素單元110做點(diǎn)亮測 試。 由上述可知，在現(xiàn)有習(xí)知的點(diǎn)亮測試過程中，測試信號(hào)是直接經(jīng)由點(diǎn)亮測試線路 120輸入至顯示區(qū)102內(nèi)的像素單元110，而信號(hào)導(dǎo)線140是否存在缺陷須待后續(xù)將用以驅(qū) 動(dòng)像素單元110的驅(qū)動(dòng)IC(圖未示)接合(bond)至接墊130上才會(huì)發(fā)現(xiàn)，但這期間往往已 耗費(fèi)了許多人力與物力。 由此可見，上述現(xiàn)有的平面顯示面板及其點(diǎn)亮測試方法在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、制造方法與 使用上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為了解決上述存在的問題，相 關(guān)廠商莫不費(fèi)盡心思來謀求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計(jì)被發(fā)展完成，而一 般產(chǎn)品及方法又沒有適切的結(jié)構(gòu)及方法能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的 問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新的平面顯示面板及其有源元件陣列基板與點(diǎn)亮測試方法，實(shí) 屬當(dāng)前重要研發(fā)課題之一，亦成為當(dāng)前業(yè)界極需改進(jìn)的目標(biāo)。 有鑒于上述現(xiàn)有的平面顯示面板及其點(diǎn)亮測試方法存在的缺陷，本發(fā)明人基于從 事此類產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造多年豐富的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識(shí)，并配合學(xué)理的運(yùn)用，積極加以研究 創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新的平面顯示面板及其有源元件陣列基板與點(diǎn)亮測試方法，能夠改進(jìn) 一般現(xiàn)有的平面顯示面板及其點(diǎn)亮測試方法，使其更具有實(shí)用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計(jì)， 并經(jīng)過反復(fù)試作樣品及改進(jìn)后，終于創(chuàng)設(shè)出確具實(shí)用價(jià)值的本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，克服現(xiàn)有的平面顯示面板存在的缺陷，而提供一種新的有源元件陣列基板，所要解決的技術(shù)問題是使其具有可在點(diǎn)亮測試過程中同時(shí)進(jìn)行信號(hào)導(dǎo)線缺陷檢測的線路配置，非常適于實(shí)用。 本發(fā)明的另一目的在于，克服現(xiàn)有的平面顯示面板存在的缺陷，而提供一種新的平面顯示面板，所要解決的技術(shù)問題是使其在點(diǎn)亮測試過程中可同時(shí)進(jìn)行信號(hào)導(dǎo)線的缺陷檢測，從而更加適于實(shí)用。 本發(fā)明的再一 目的在于，克服現(xiàn)有的平面顯示面板的點(diǎn)亮測試方法存在的缺陷，而提供一種新的點(diǎn)亮測試方法，所要解決的技術(shù)問題是使其便于在平面顯示面板的點(diǎn)亮測試過程中同時(shí)進(jìn)行信號(hào)導(dǎo)線的缺陷檢測，從而更加適于實(shí)用。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的一種有源元件陣列基板，具有一顯示區(qū)與一周邊電路區(qū)，該有源元件陣列基板包括多個(gè)第一像素單元與多個(gè)第二像素單元，陣列地排列于該顯示區(qū)內(nèi)；一第一點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該些第一像素單元；以及一第二點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該些第二像素單元；以及多組信號(hào)導(dǎo)線群，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，其中兩相鄰的該些信號(hào)導(dǎo)線群是分別電性連接于該第一像素單元與該第二像素單元其中之一。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。 前述的有源元件陣列基板，其中所述的信號(hào)導(dǎo)線群各包括一信號(hào)導(dǎo)線，且各該信
號(hào)導(dǎo)線位于同一膜層。 前述的有源元件陣列基板，其中所述的信號(hào)導(dǎo)線群各包括多條分別位于不同膜層的信號(hào)導(dǎo)線。 前述的有源元件陣列基板，其更包括一第三點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)；以及多個(gè)接墊，其中該些接墊的一端是電性連接至該第三點(diǎn)亮測試線路，而該些接墊的另一端是電性連接至該些信號(hào)導(dǎo)線群。 前述的有源元件陣列基板，其中所述的多個(gè)接墊為驅(qū)動(dòng)晶片接墊。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出
的有源元件陣列基板，具有一顯示區(qū)與一周邊電路區(qū)，該有源元件陣列基板包括多個(gè)像素
單元，陣列地排列于該顯示區(qū)內(nèi)；多條信號(hào)導(dǎo)線，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該
些像素單元；一點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)；以及多個(gè)接墊，配置于該周邊電路
內(nèi)，其中各該些接墊是分別電性連接于該些信號(hào)導(dǎo)線其中之一與該點(diǎn)亮測試線路之間。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。 前述的有源元件陣列基板，其中所述的多個(gè)接墊為驅(qū)動(dòng)晶片接墊。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外再采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提
出的一種平面顯示面板，其包括一有源元件陣列基板，包括多個(gè)第一像素單元與多個(gè)第
二像素單元，陣列地排列于該顯示區(qū)內(nèi)；一第一點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并
電性連接至該些第一像素單元；一第二點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接
至該些第二像素單元；多組信號(hào)導(dǎo)線群，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，其中兩相鄰的該些信號(hào)導(dǎo)
線群是分別電性連接于該第一像素單元與該第二像素單元其中之一 ；一透光層，配置于該
有源元件陣列基板上方；以及一顯示層，配置于該透光層與該有源元件陣列基板之間。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
前述的平面顯示面板，其中所述的多組信號(hào)導(dǎo)線群各包括一信號(hào)導(dǎo)線，且各該信 號(hào)導(dǎo)線位于同一膜層。 前述的平面顯示面板，其中所述的多組信號(hào)導(dǎo)線群各包括多條分別位于不同膜層 的信號(hào)導(dǎo)線。 前述的平面顯示面板，其中所述的有源元件陣列基板更包括一第三點(diǎn)亮測試線
路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)；以及多個(gè)接墊，其中該些接墊的一端是電性連接至該第三點(diǎn)亮
測試線路，而該些接墊的另一端是電性連接至該些信號(hào)導(dǎo)線群。 前述的平面顯示面板，其中所述的透光層為透光基板或透光保護(hù)膜。 前述的平面顯示面板，其中所述的顯示層為液晶層、電泳層、電濕潤層或有機(jī)電致
發(fā)光層。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提
出的平面顯示面板，其包括一有源元件陣列基板，包括多個(gè)像素單元，陣列地排列于該
顯示區(qū)內(nèi)；多條信號(hào)導(dǎo)線，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該些像素單元；一點(diǎn)亮測
試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)；以及多個(gè)接墊，配置于該周邊電路內(nèi)，其中各該些接墊是
分別電性連接于該些信號(hào)導(dǎo)線其中之一與該點(diǎn)亮測試線路之間；一透光層，配置于該有源
元件陣列基板上方；以及一顯示層，配置于該透光層與該有源元件陣列基板之間。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。 前述的平面顯示面板，其中所述的透光層為透光基板或透光保護(hù)膜。 前述的平面顯示面板，其特征在于其中所述的顯示層為液晶層、電泳層、電濕潤層
或有機(jī)電致發(fā)光層。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外又采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種點(diǎn)亮測試方法，其包括下列步驟分別從第一點(diǎn)亮測試線路與第二點(diǎn)亮測試線路 輸入一測試信號(hào)，以交替點(diǎn)亮多個(gè)第一像素單元及多個(gè)第二像素單元，其中當(dāng)從該第一點(diǎn) 亮測試線路輸入該測試信號(hào)時(shí)，判斷該些第二像素單元是否被點(diǎn)亮；以及當(dāng)從該第二點(diǎn)亮 測試線路輸入該測試信號(hào)時(shí)，判斷該些第一像素單元是否被點(diǎn)亮。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種點(diǎn)亮測試方法，其包括下列步驟從第三點(diǎn)亮測試線路輸入一測試信號(hào)；以及判 斷多個(gè)第一像素單元與多個(gè)第二像素單元是否被點(diǎn)亮。 本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種點(diǎn)亮測試方法，其包括下列步驟從點(diǎn)亮測試線路輸入一測試信號(hào)；以及判斷多 個(gè)像素單元是否被點(diǎn)亮。
借由上述技術(shù)方案，本發(fā)明至少具有下列優(yōu)點(diǎn)及有益效果 本發(fā)明的有源元件陣列基板是將點(diǎn)亮測試線路與信號(hào)導(dǎo)線分別電性連接至像素 單元的兩端，并且在點(diǎn)亮測試過程中，分次輸入測試信號(hào)至彼此之間可能相互短路(short) 的信號(hào)導(dǎo)線所連接的像素單元，以便于判斷這些信號(hào)導(dǎo)線之間是否相互短路。此外，本發(fā)明 更將這些信號(hào)導(dǎo)線所連接的接墊電性連接至同一點(diǎn)亮測試線路，并通過此點(diǎn)亮測試線路輸 入測試信號(hào)，以藉由各像素單元的被點(diǎn)亮與否來判斷這些信號(hào)導(dǎo)線是否有斷路的情況。
由此可知，本發(fā)明可在由此有源元件陣列基板所構(gòu)成的平面顯示面板的點(diǎn)亮測試 過程中，同時(shí)檢測連接于像素單元與接墊之間的信號(hào)導(dǎo)線是否有短路或斷路等異常的情
6況，以縮短平面顯示面板在出廠前的測試過程中所需耗費(fèi)的時(shí)間。 上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段， 而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠 更明顯易懂，以下特舉較佳實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下。


圖1繪示為現(xiàn)有習(xí)知平面顯示面板的示意圖。 圖2繪示為本發(fā)明的平面顯示面板的剖面示意圖。 圖3繪示為本發(fā)明的有源元件陣列基板在一實(shí)施例中的示意圖。 圖4繪示為本發(fā)明的有源元件陣列基板在另一實(shí)施例中的示意圖。 圖5繪示為本發(fā)明的有源元件陣列基板的部分剖面示意圖。 圖6繪示為圖2的平面顯示面板在一實(shí)施例中的點(diǎn)亮測試步驟流程圖。 圖7繪示為本發(fā)明的有源元件陣列在另一實(shí)施例中的示意圖。 圖8繪示為本發(fā)明的有源元件陣列在另一實(shí)施例中的示意圖。 圖9繪示為包括圖7或圖8的有源元件陣列的平面顯示面板的點(diǎn)亮測試步驟流程圖。100、200:平面顯示面板102、D:顯示區(qū)104、 C :周邊電路區(qū)110 :像素單元120 :點(diǎn)亮測試線路130接墊140 :信號(hào)導(dǎo)線210有源元件陣列基板212 :第一像素單元214第二像素單元216 :第一點(diǎn)亮測試線路218第二點(diǎn)亮測試線路219 :接墊220透光層230 :顯示層501介電層502 :接觸窗開口710第三點(diǎn)亮測試線路DL :數(shù)據(jù)配線L :信號(hào)導(dǎo)線群M、L丄、L2、L3、 L4、 L5、 L6 :信號(hào)導(dǎo)線
V 、v、v :信號(hào)導(dǎo)線:掃描配線S610-S640 :步驟流程S910-S920 :步驟流程
具體實(shí)施例方式
為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合 附圖及較佳實(shí)施例，對(duì)依據(jù)本發(fā)明提出的平面顯示面板及其有源元件陣列基板與點(diǎn)亮測試 方法其具體實(shí)施方式
、結(jié)構(gòu)、方法、步驟、特征及其功效，詳細(xì)說明如后。 有關(guān)本發(fā)明的前述及其他技術(shù)內(nèi)容、特點(diǎn)及功效，在以下配合參考圖式的較佳實(shí) 施例的詳細(xì)說明中將可清楚呈現(xiàn)。通過具體實(shí)施方式
的說明，當(dāng)可對(duì)本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定目 的所采取的技術(shù)手段及功效得一更加深入明之用，并非用來對(duì)本發(fā)明加以限制。 圖2繪示為本發(fā)明的平面顯示面板的剖面示意圖，圖3則繪示為本發(fā)明的有源元 件(即主動(dòng)元件，以下均稱為有源元件)陣列基板在一實(shí)施例中的示意圖。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D 2及圖3所示，平面顯示面板200包括有源元件陣列基板210、透光層220以及顯示層230， 其中透光層220是配置于有源元件陣列基板210上方，而顯示層230則是配置于有源元件 陣列基板210與透光層220之間。 具體來說，平面顯示面板200可以是液晶顯示面板(liquid crystaldisplay panel, 1XD panel)或有機(jī)電致發(fā)光顯不面板(organicelectro-luminescent display panel, 0ELD panel)。換言之，顯示層230可以是液晶層或有機(jī)電致發(fā)光層，而透光層220 可以是以玻璃材質(zhì)制成的透光基板。除此之外，平面顯示面板200也可以是電泳顯示面板 (electro-phoretic display panel, EPD panel)或電濕潤顯不面板(electro-wetting display panel，EWD panel)，也就是說顯示層230可以是電泳層或電濕潤層，而透光層230 則可以是一透光保護(hù)膜。 請(qǐng)參閱圖3所示，有源元件陣列基板210包括多個(gè)第一像素(即畫素，以下均稱為 像素)單元212、多個(gè)第二像素單元214、第一點(diǎn)亮測試線路216、第二點(diǎn)亮測試線路218以 及多組信號(hào)導(dǎo)線群L。而且，有源元件陣列基板210具有顯示區(qū)D與周邊電路區(qū)C，其中第 一像素單元212與第二像素單元214是在顯示區(qū)D內(nèi)排列成陣列，第一點(diǎn)亮測試線路216、 第二點(diǎn)亮測試線路218及信號(hào)導(dǎo)線群L則是配置于周邊電路區(qū)C內(nèi)，且第一點(diǎn)亮測試線路 216是電性連接于第一像素單元212，第二點(diǎn)亮測試線路218則是電性連接于第二像素單元 214。詳細(xì)來說，第一點(diǎn)亮測試線路216與第二點(diǎn)亮測試線路218可以電性連接至第一像素 單元212與第二像素單元214的掃描配線(scan line)SL或數(shù)據(jù)配線(data line)DL。在 本實(shí)施例中，第一點(diǎn)亮測試線路216與第二點(diǎn)亮測試線路218例如是分別電性連接至第一 像素單元212與第二像素單元214的掃描配線(scan line)SL。 值得注意的是，在本發(fā)明的有源元件陣列基板210中，兩相鄰的信號(hào)導(dǎo)線群L是分 別電性連接至第一像素單元212與第二像素單元214其中之一，而這些信號(hào)導(dǎo)線群L例如 是用以連接接墊219與第一像素單元212及第二像素單元214的掃描配線SL的線路，也就 是所謂的扇出(fan-out)拉線。其中，接墊219是用以在后續(xù)制造工藝中與平面顯示面板 200的驅(qū)動(dòng)IC(圖未示)接合的接墊。 以本實(shí)施例來說，各信號(hào)導(dǎo)線群L分別包括一條信號(hào)導(dǎo)線，如圖3所標(biāo)示的Lp1^、 L3、.，且信號(hào)導(dǎo)線L丄與信號(hào)導(dǎo)線L2相鄰，信號(hào)導(dǎo)線L2與信號(hào)導(dǎo)線L丄及信號(hào)導(dǎo)線L3相鄰， 信號(hào)導(dǎo)線L3與信號(hào)導(dǎo)線L2及信號(hào)導(dǎo)線L4相鄰，...，依此類推。而且，這些信號(hào)導(dǎo)線均位于 同一膜層。舉例來說，信號(hào)導(dǎo)線LpL2、L3、...可以是與第一像素單元212或第二像素單元 214的掃描配線SL形成于同一制造工藝中。 由上述可知，本實(shí)施例的信號(hào)導(dǎo)線L3、 L5、...等是電性連接于第一像素單元 212，而信號(hào)導(dǎo)線L2、 L4、 L6、...等則是電性連接于第二像素單元214。 值得注意的是，雖然在圖3所示的有源元件陣列210中各信號(hào)導(dǎo)線群L僅包括單 一信號(hào)導(dǎo)線，但實(shí)際上本發(fā)明并不限定各信號(hào)導(dǎo)線群L所包括的信號(hào)導(dǎo)線數(shù)量，各信號(hào)導(dǎo) 線群L可以包括一條或多條信號(hào)導(dǎo)線。 圖4繪示為本發(fā)明的有源元件陣列基板在另一實(shí)施例中的示意圖，以下僅針對(duì)本實(shí)施例與前述實(shí)施例的相異處加以說明。 請(qǐng)參閱圖4所示，各信號(hào)導(dǎo)線群L例如是分別包括有兩條信號(hào)導(dǎo)線，如圖4所 標(biāo)示的LpL/或LylV 、.. 等。其中，信號(hào)導(dǎo)線LpL2、L3、...與信號(hào)導(dǎo)線L/ 、L2'、 V 、...分別位于不同膜層。舉例來說，信號(hào)導(dǎo)線LpL2、L3、...可以與第一像素單元212 或第二像素單元214的掃描配線SL位于同一膜層，而信號(hào)導(dǎo)線L/ 、L2' 、L3'、...則可以 與第一像素單元212或第二像素單元214的數(shù)據(jù)配線DL位于同一膜層，并且通過配置于數(shù) 據(jù)配線DL與掃描配線SL間的介電層501的接觸窗開口 502而與掃描配線SL電性連接，如 圖5所示。 請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D4，本實(shí)施例的兩相鄰信號(hào)導(dǎo)線群L亦是分別電性連接至第一像素單 元212與第二像素單元214其中之一。具體來說，信號(hào)導(dǎo)線LpL/以及信號(hào)導(dǎo)線LylV 等是與第一像素單元212電性連接，信號(hào)導(dǎo)線LylV則是與第二像素單元214電性連接。
請(qǐng)同時(shí)參閱圖2、圖3及圖4，本發(fā)明的平面顯示面板200的點(diǎn)亮測試方法是分次 通過第一點(diǎn)亮測試線路216與第二點(diǎn)亮測試線路218輸入測試信號(hào)至顯示區(qū)D內(nèi)，以交替 點(diǎn)亮第一像素單元212與第二像素單元214。其中，在通過第一點(diǎn)亮測試線路216輸入測 試信號(hào)時(shí)，若有任何第二像素單元214被點(diǎn)亮，則表示連接至被點(diǎn)亮的第二像素單元214的 信號(hào)導(dǎo)線L2、L4、L6、...(或L2、1V 、 )其中之一與其相鄰的信號(hào)導(dǎo)線LpL3、L5、…(或 W 、L3、L3'、...)至少其中之一相互短路。 另一方面，在通過第二點(diǎn)亮測試線路218輸入測試信號(hào)時(shí)，若有任何第一像素單 元212被點(diǎn)亮，則表示連接至被點(diǎn)亮的第一像素單元212的信號(hào)導(dǎo)線k、 L3、 L5、...(或k、 IV 、L3、L3'、...)其中之一與其相鄰的信號(hào)導(dǎo)線L2、L4、L6、...(或L2、1V 、...)至少其 中之一相互短路。以下將舉實(shí)施例進(jìn)一步說明上述的點(diǎn)亮測試方法。 圖6繪示為圖2的平面顯示面板在一實(shí)施例中的點(diǎn)亮測試步驟流程圖。請(qǐng)同時(shí)參 閱圖2、圖3及圖6所示，如步驟S610所述，本實(shí)施例例如是先通過第一點(diǎn)亮測試線路216 將測試信號(hào)輸入至第一像素單元212。接著，如步驟S620所述，判斷是否有任何第二像素單 元214被點(diǎn)亮。其中，若有任何第二像素單元214被點(diǎn)亮，則表示連接至被點(diǎn)亮的第二像素 單元214的信號(hào)導(dǎo)線與其相鄰的信號(hào)導(dǎo)線至少其中之一相互短路。 在完成第一像素單元212的點(diǎn)亮測試后，接著即是進(jìn)行第二像素單元214的點(diǎn)亮 測試。如步驟S630所述，通過第二點(diǎn)亮測試線路218將測試信號(hào)輸入至第二像素單元214， 之后再執(zhí)行步驟S640，以判斷是否有任何第一像素單元212被點(diǎn)亮。同樣地，若有任何第一 像素單元212被點(diǎn)亮，則表示連接至被點(diǎn)亮的第一像素單元212的信號(hào)導(dǎo)線與其相鄰的信 號(hào)導(dǎo)線至少其中之一相互短路。 值得注意的是，本發(fā)明并不限定第一像素單元212與第二像素單元214的測試順 序。本發(fā)明在另一實(shí)施例中，也可以在執(zhí)行步驟S630至步驟S640之后，接著才執(zhí)行步驟 S610至步驟S620。 由上述可知，本發(fā)明可以在進(jìn)行第一像素單元212與第二像素單元214的點(diǎn)亮測 試的過程中，同時(shí)檢測連接至第一像素單元212與第二像素單元214的信號(hào)導(dǎo)線是否存在 短路的情況。除此之外，本發(fā)明還可以在進(jìn)行第一像素單元212與第二像素單元214的點(diǎn) 亮測試的過程中，同時(shí)檢測連接至第一像素單元212與第二像素單元214的信號(hào)導(dǎo)線是否 存在任何斷路，以下將舉實(shí)施例說明。
9
圖7繪示為本發(fā)明的有源元件陣列在另一實(shí)施例中的示意圖。請(qǐng)參閱圖7所示， 有源元件陣列基板210除了包括第一點(diǎn)亮測試線路216與第二點(diǎn)亮測試線路218之外，還 可以包括第三點(diǎn)亮測試線路710。其中，第三點(diǎn)亮測試線路710同樣是配置于周邊電路區(qū)C 內(nèi)，且各接墊219的一端均與第三點(diǎn)亮測試線路710電性連接。由前文可知，這些接墊219 的另一端是分別與一條信號(hào)導(dǎo)線M電性連接，以便于后續(xù)將驅(qū)動(dòng)IC(圖未示)接合于接墊 219上后，驅(qū)動(dòng)IC可以通過信號(hào)導(dǎo)線M將驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸入至顯示區(qū)D內(nèi)。
在本實(shí)施例中，這些通過接墊219而與第三點(diǎn)亮測試線路710電性連接的信號(hào)導(dǎo) 線M可以是與第一像素單元212或第二像素單元214的數(shù)據(jù)配線DL電性連接。而在其他 實(shí)施例中，這些通過接墊219而與第三點(diǎn)亮測試線路710電性連接的信號(hào)導(dǎo)線M也可以是 電性連接至第一像素單元212與第二像素單元214的掃描配線SL，如圖8所示，而各信號(hào)導(dǎo) 線群L中的信號(hào)導(dǎo)線則是與第一像素單元212與第二像素單元214的數(shù)據(jù)配線DL電性連 接。 此外，本實(shí)施例的有源元件陣列210中的各信號(hào)導(dǎo)線群L可以僅包括單一信號(hào)導(dǎo) 線，也可以如圖6所示般包括多條信號(hào)導(dǎo)線。各信號(hào)導(dǎo)線群L的詳細(xì)線路配置請(qǐng)參考前述 實(shí)施例，此處不再贅述。 圖9繪示為包括圖7或圖8的有源元件陣列的平面顯示面板的點(diǎn)亮測試步驟流程 圖。請(qǐng)同時(shí)參閱圖7、圖8及圖9，如欲在點(diǎn)亮測試過程中同時(shí)檢測與接墊219電性連接的 信號(hào)導(dǎo)線M是否存在斷路的情況，則可以通過第三點(diǎn)亮測試線路710將測試信號(hào)輸入至第 一像素單元212或第二像素單元214，如步驟S910所述。接著執(zhí)行步驟S920，以判斷所有 第一像素單元212及第二像素單元214是否均被點(diǎn)亮。其中，若有任何第一像素單元212 或第二像素單元214未被點(diǎn)亮，則表示與未被點(diǎn)亮的第一像素單元212或第二像素單元214 的信號(hào)導(dǎo)線M已斷路。 由上述可知，在本發(fā)明的平面顯示面板中，彼此之間可能相互短路的信號(hào)導(dǎo)線是 分別與第一像素單元或第二像素單元電性連接，且本發(fā)明的點(diǎn)亮測試方法是分別藉由第一 點(diǎn)亮測試線路與第二點(diǎn)亮測試線路來輸入測試信號(hào)至第一像素單元及第二像素單元，因此 在藉由第一點(diǎn)亮測試線路輸入測試信號(hào)至第一像素單元時(shí)，若有任何第二像素單元被點(diǎn) 亮，則表示平面顯示面板中的信號(hào)導(dǎo)線存在有短路的異常情況。 此外，本發(fā)明亦可以通過信號(hào)導(dǎo)線同時(shí)將點(diǎn)亮測試信號(hào)輸入至所有像素單元中，
以藉由各像素單元的被點(diǎn)亮與否來判斷這些信號(hào)導(dǎo)線是否有斷路的情況。 綜上所述，本發(fā)明可在平面顯示面板的點(diǎn)亮測試過程中，同時(shí)檢測連接于像素單
元與接墊之間的信號(hào)導(dǎo)線是否有短路或斷路等異常的情況，以縮短平面顯示面板在出廠前
的測試過程中所需耗費(fèi)的時(shí)間。 以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制，雖 然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人 員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的方法及技術(shù)內(nèi)容作出些許的更 動(dòng)或修飾為等同變化的等效實(shí)施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的 技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案 的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種有源元件陣列基板，具有一顯示區(qū)與一周邊電路區(qū)，其特征在于該有源元件陣列基板包括多個(gè)第一像素單元與多個(gè)第二像素單元，陣列地排列于該顯示區(qū)內(nèi)；一第一點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該些第一像素單元；以及一第二點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該些第二像素單元；以及多組信號(hào)導(dǎo)線群，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，其中兩相鄰的該些信號(hào)導(dǎo)線群是分別電性連接于該第一像素單元與該第二像素單元其中之一。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的有源元件陣列基板，其特征在于其中所述的信號(hào)導(dǎo)線群各包 括一信號(hào)導(dǎo)線，且該些信號(hào)導(dǎo)線位于同一膜層。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的有源元件陣列基板，其特征在于其中所述的信號(hào)導(dǎo)線群各包 括多條分別位于不同膜層的信號(hào)導(dǎo)線。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的有源元件陣列基板，其特征在于其更包括 一第三點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)；以及多個(gè)接墊，其中該些接墊的一端是電性連接至該第三點(diǎn)亮測試線路，而該些接墊的另 一端是電性連接至該些信號(hào)導(dǎo)線群。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的有源元件陣列基板，其特征在于其中所述的該些接墊為驅(qū)動(dòng) 晶片接墊。
6. —種有源元件陣列基板，具有一顯示區(qū)與一周邊電路區(qū)，其特征在于該有源元件陣 列基板包括多個(gè)像素單元，陣列地排列于該顯示區(qū)內(nèi)；多條信號(hào)導(dǎo)線，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該些像素單元； 一點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)；以及多個(gè)接墊，配置于該周邊電路內(nèi)，其中各該些接墊是分別電性連接于該些信號(hào)導(dǎo)線其 中之一與該點(diǎn)亮測試線路之間。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的有源元件陣列基板，其特征在于其中所述的該些接墊為驅(qū)動(dòng) 晶片接墊。
8. —種平面顯示面板，其特征在于其包括 一有源元件陣列基板，包括多個(gè)第一像素單元與多個(gè)第二像素單元，陣列地排列于該顯示區(qū)內(nèi)； 一第一點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該些第一像素單元； 一第二點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該些第二像素單元； 多組信號(hào)導(dǎo)線群，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，其中兩相鄰的該些信號(hào)導(dǎo)線群是分別電性 連接于該第一像素單元與該第二像素單元其中之一； 一透光層，配置于該有源元件陣列基板上方；以及 一顯示層，配置于該透光層與該有源元件陣列基板之間。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示面板，其特征在于其中所述的多組信號(hào)導(dǎo)線群各包 括一信號(hào)導(dǎo)線，且該些信號(hào)導(dǎo)線位于同一膜層。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示面板，其特征在于其中所述的多組信號(hào)導(dǎo)線群各 包括多條分別位于不同膜層的信號(hào)導(dǎo)線。
11. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示面板，其特征在于其中所述的有源元件陣列基板 更包括一第三點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)；以及多個(gè)接墊，其中該些接墊的一端是電性連接至該第三點(diǎn)亮測試線路，而該些接墊的另 一端是電性連接至該些信號(hào)導(dǎo)線群。
12. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示面板，其特征在于其中所述的透光層為透光基板 或透光保護(hù)膜。
13. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的平面顯示面板，其特征在于其中所述的顯示層為液晶層、電 泳層、電濕潤層或有機(jī)電致發(fā)光層。
14. 一種平面顯示面板，其特征在于其包括 一有源元件陣列基板，包括 多個(gè)像素單元，陣列地排列于該顯示區(qū)內(nèi)；多條信號(hào)導(dǎo)線，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)，并電性連接至該些像素單元； 一點(diǎn)亮測試線路，配置于該周邊電路區(qū)內(nèi)；以及多個(gè)接墊，配置于該周邊電路內(nèi)，其中各該些接墊是分別電性連接于該些信號(hào)導(dǎo)線其 中之一與該點(diǎn)亮測試線路之間；一透光層，配置于該有源元件陣列基板上方；以及 一顯示層，配置于該透光層與該有源元件陣列基板之間。
15. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的平面顯示面板，其特征在于其中所述的透光層為透光基板 或透光保護(hù)膜。
16. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的平面顯示面板，其特征在于其中所述的顯示層為液晶層、 電泳層、電濕潤層或有機(jī)電致發(fā)光層。
17. —種點(diǎn)亮測試方法，適于測試權(quán)利要求8所述的平面顯示面板，其特征在于其包括 下列步驟分別從第一點(diǎn)亮測試線路與第二點(diǎn)亮測試線路輸入一測試信號(hào)，以交替點(diǎn)亮該些第一 像素單元及該些第二像素單元，其中當(dāng)從該第一點(diǎn)亮測試線路輸入該測試信號(hào)時(shí)，判斷該些第二像素單元是否被點(diǎn)亮；以及當(dāng)從該第二點(diǎn)亮測試線路輸入該測試信號(hào)時(shí)，判斷該些第一像素單元是否被點(diǎn)亮。
18. —種點(diǎn)亮測試方法，適于測試權(quán)利要求11所述的平面顯示面板，其特征在于其包 括下列步驟從第三點(diǎn)亮測試線路輸入一測試信號(hào)；以及 判斷該些第一像素單元與該些第二像素單元是否被點(diǎn)亮。
19. 一種點(diǎn)亮測試方法，適于測試權(quán)利要求14所述的平面顯示面板，其特征在于其包 括下列步驟從點(diǎn)亮測試線路輸入一測試信號(hào)；以及 判斷該些像素單元是否被點(diǎn)亮。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種平面顯示面板及其有源元件陣列基板與點(diǎn)亮測試方法，此有源元件陣列基板包括多個(gè)第一像素單元、多個(gè)第二像素單元、第一點(diǎn)亮測試線路、第二點(diǎn)亮測試線路以及多組信號(hào)導(dǎo)線群。位于周邊電路區(qū)內(nèi)的第一點(diǎn)亮測試線路與第二點(diǎn)亮測試線路分別電性連接至位于顯示區(qū)內(nèi)的第一像素單元與第二像素單元，且位于周邊電路區(qū)內(nèi)的兩相鄰的信號(hào)導(dǎo)線群是分別電性連接于第一像素單元與第二像素單元其中之一。若有任何第二/第一畫素單元在通過第一/第二點(diǎn)亮測試線路輸入測試信號(hào)至第一/第二像素單元時(shí)被點(diǎn)亮，則表示至少兩相鄰的信號(hào)導(dǎo)線群相互短路。
文檔編號(hào)G09G3/34GK101726877SQ20081017176
公開日2010年6月9日 申請(qǐng)日期2008年10月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月23日
發(fā)明者江怡萱, 蘇威綸 申請(qǐng)人:元太科技工業(yè)股份有限公司