專利名稱：顯示裝置及其陣列基板的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及平板顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種顯示裝置及其陣列基板的測(cè)試方 法。
背景技術(shù)：
液晶顯示器作為平板顯示器的一種已被廣泛的應(yīng)用在各個(gè)領(lǐng)域中。通常，液晶顯 示器具有兩個(gè)含有用于產(chǎn)生電場(chǎng)的電極的基板，以及設(shè)置在兩基板之間的液晶層，并通過(guò) 兩基板上的電極控制施加到該液晶層的電場(chǎng)強(qiáng)度來(lái)控制入射光的透射率，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)顯示 像素單元亮與暗的控制。所述兩個(gè)含有電極的基板分別為薄膜晶體管(Thin Film Transistor, TFT)陣列 基板和濾光片基板，其中薄膜晶體管陣列基板上具有控制像素單元的TFT器件的陣列。在 液晶顯示裝置的生產(chǎn)過(guò)程中，為避免靜電放電(Electrostatic Discharge, ESD)對(duì)TFT器 件的破壞，通過(guò)設(shè)置于非顯示區(qū)域的短路桿(Shorting Bar)或短路環(huán)(Shorting Ring)，將 TFT陣列基板中顯示區(qū)域內(nèi)的掃描線和/或數(shù)據(jù)線短路連接，同時(shí)，所述短路桿或短路環(huán)還 用于在安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊(IC)前對(duì)TFT陣列基板進(jìn)行電性測(cè)試(Visual Test，VT)。例如，圖1所示為現(xiàn)有技術(shù)中一種液晶顯示裝置的TFT陣列基板，用來(lái)進(jìn)行電性測(cè) 試與防靜電損傷的短路桿4、5、6、7、8，TFT陣列基板的掃描線位于水平方向，數(shù)據(jù)線位于豎 直方向；其中，第奇數(shù)條掃描線均連接到短路桿4，第偶數(shù)條掃描線均連接到短路桿5，數(shù)據(jù) 線(也即信號(hào)線)分為三組R、G、B，所有的R信號(hào)線連接到短路桿6，所有G信號(hào)線連接到 短路桿7，所有的B信號(hào)線連接到短路桿8 ；所有短路桿兩端均連接有測(cè)試端子(Pad)G/0、 G/E、D/R、D/G、D/B，用于輸入電性測(cè)試的信號(hào)。圖中冗余端子11通過(guò)連線連接于所述短路 桿的中間位置，其作用是當(dāng)短路桿4、5、6、7、8局部斷線時(shí)作為備用的VT端子，從而避免斷 線影響正常的電性測(cè)試。當(dāng)電性測(cè)試完成后，沿圖1中虛線13、14用激光切斷掃描線和/ 或數(shù)據(jù)線與短路桿的連接，此時(shí)，短路桿6、7、8的測(cè)試端子D/R、D/G、D/B，短路桿4、5的測(cè) 試端子G/0、G/E以及冗余端子11都不再起任何作用，然后再進(jìn)行驅(qū)動(dòng)電路模塊10的安裝 工藝。然而問(wèn)題在于，當(dāng)所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿的連接被斷開(kāi)時(shí)，冗余端子 11與短路桿的連接也被切斷，被廢棄閑置，而對(duì)驅(qū)動(dòng)電路模塊10進(jìn)行功能測(cè)試時(shí)，還需要 制作新的測(cè)試端子，導(dǎo)致制造過(guò)程復(fù)雜，不利于降低成本。另外，冗余端子11及其與短路桿的連線均位于驅(qū)動(dòng)IC的安裝位置之外，占據(jù)了 TFT陣列基板上一定的空間，這不利于實(shí)現(xiàn)緊湊的結(jié)構(gòu)布局而減小液晶顯示裝置的尺寸； 而且，冗余端子11及其連線還需要額外制作步驟，提高了制造成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的問(wèn)題是提供一種顯示裝置，能夠簡(jiǎn)化制作過(guò)程，降低生產(chǎn)成本。本發(fā)明解決的又一問(wèn)題是提供一種顯示裝置，其中冗余端子及其與短路桿連線的結(jié)構(gòu)，有利于實(shí)現(xiàn)緊湊的結(jié)構(gòu)布局而減小顯示裝置的尺寸。本發(fā)明解決的另一問(wèn)題是提供上述顯示裝置陣列基板的測(cè)試方法，有利于提高產(chǎn) 能、降低成本。為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種顯示裝置，包括陣列基板，所述基板上的相互交疊的掃描線和數(shù)據(jù)線，與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿，冗余端子，通過(guò)連線與至少一根所述短路桿連接；其特征在于，當(dāng)所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿的連接被斷開(kāi)時(shí)，至少一個(gè)所述冗余端子， 仍然通過(guò)連線與所述至少一根短路桿連接。還包括位于驅(qū)動(dòng)電路模塊安裝位置的驅(qū)動(dòng)電路 模塊，所述冗余端子是所述驅(qū)動(dòng)電路模塊的輸入端子或輸出端子。與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿位于所述陣列基板的同一側(cè)。與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿與所述掃描線一起形成，所述冗余端子 和所述連線與所述數(shù)據(jù)線一起形成。與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿與所述數(shù)據(jù)線一起形成，所述冗余端子 和所述連線與所述掃描線一起形成。與所述掃描線連接的短路桿與所述數(shù)據(jù)線平行，與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿與所 述掃描線平行。與所述掃描線連接的短路桿與所述數(shù)據(jù)線一起形成，與該短路桿連接的冗余端子 和連線與所述掃描線一起形成；與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿與所述掃描線一起形成，與該 短路桿連接的冗余端子和連線與所述數(shù)據(jù)線一起形成。與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為三組，與對(duì)應(yīng)紅、綠、藍(lán)像素單元的三組數(shù)據(jù)線分 別相連。與所述掃描線連接的短路桿分兩組，分別與第奇數(shù)條掃描線組和第偶數(shù)條掃描線 組相連。與所述掃描線連接的短路桿分為三組，與對(duì)應(yīng)紅、綠、藍(lán)像素單元的三組掃描線分 別相連。與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為兩組，分別與第奇數(shù)條數(shù)據(jù)線組和第偶數(shù)條數(shù)據(jù) 線組相連。所述冗余端子是所述驅(qū)動(dòng)電路模塊的起支撐作用的空白端子或與驅(qū)動(dòng)電路模塊 無(wú)關(guān)的端子。與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為三組，與對(duì)應(yīng)紅、綠、藍(lán)像素單元的三組數(shù)據(jù)線分 別相連。與所述掃描線連接的短路桿分為兩組，分別與第奇數(shù)條掃描線組和第偶數(shù)條掃描 線組相連。與所述掃描線連接的短路桿按像素單元的基色分為紅、綠、藍(lán)三基色，并且每一基 色分為奇偶兩組，即，與所述掃描線連接的短路桿共分為六組。與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為兩組，分別與第奇數(shù)條數(shù)據(jù)線組和第偶數(shù)條數(shù)據(jù) 線組相連。
與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿具有n個(gè)冗余部，所述冗余部將短路桿 分為n+1個(gè)分支段，n為自然數(shù)。至少兩個(gè)短路桿中全部或部分具有冗余部。所述冗余部為“U”形、圓弧形、“V”形、“U ”形或倒S形。所述冗余部位于驅(qū)動(dòng)電路模塊的安裝位置內(nèi)。所述冗余部的全部或部分跨過(guò)切割位置線。所述每個(gè)分支段通過(guò)連線與至少一個(gè)冗余端子連接。所述陣列基板上還包括公共電極線，以及與所述公共電極線連接的短路桿?？蛇x的，所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿是通過(guò)晶體管相連接的。可選的，所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿是直接相連接的。優(yōu)選的，所述冗余端子位于驅(qū)動(dòng)電路模塊的安裝位置內(nèi)。相應(yīng)的，還提供一種顯示裝置陣列基板的檢測(cè)方法，包括以下步驟安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊之后，以冗余端子為驅(qū)動(dòng)電路模塊的輸入端子或輸出端子，利 用與冗余端子連接的短路桿兩端的電性測(cè)試端子對(duì)驅(qū)動(dòng)電路模塊進(jìn)行功能測(cè)試。在安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊之前，所述檢測(cè)方法還可以包括檢測(cè)陣列基板非顯示區(qū)的短路桿是否發(fā)生斷線，當(dāng)短路桿未發(fā)生斷線時(shí)，用短路 桿兩端的電性測(cè)試端子測(cè)試顯示區(qū)像素單元的工作情況；當(dāng)短路桿發(fā)生斷線時(shí)，利用與斷 線的短路桿連接的冗余端子測(cè)試顯示區(qū)像素單元的工作情況。檢測(cè)陣列基板非顯示區(qū)的短路桿是否發(fā)生斷線之后還包括沿切割位置線切斷數(shù) 據(jù)線和掃描線。與現(xiàn)有技術(shù)相比，上述技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn)所述的液晶顯示裝置，當(dāng)所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿的連接被斷開(kāi)時(shí)，至 少一個(gè)所述冗余端子，仍然通過(guò)連線與所述至少一根短路桿連接，這樣以來(lái)，在安裝驅(qū)動(dòng)IC 后，利用冗余端子作為驅(qū)動(dòng)IC的輸入端子或輸出端子，則，冗余端子和短路桿兩端的電性 測(cè)試端子可以用來(lái)向驅(qū)動(dòng)IC輸入信號(hào)或測(cè)試驅(qū)動(dòng)IC輸出端的輸出信號(hào)，因此，不必另外制 作驅(qū)動(dòng)IC的測(cè)試端子，能夠簡(jiǎn)化制作過(guò)程，有利于提高產(chǎn)能、降低成本。此外，其TFT陣列基板上的冗余端子及其與短路桿的連線均位于驅(qū)動(dòng)IC的安裝位 置之內(nèi)，沒(méi)有占據(jù)額外的空間，有利于實(shí)現(xiàn)緊湊的結(jié)構(gòu)布局而減小液晶顯示裝置的尺寸；而 且，冗余端子及其連線與掃描線或數(shù)據(jù)線在同一層中形成，不需要額外制作步驟，能夠降低 制造成本。電性測(cè)試端子通過(guò)短路桿和連線與冗余端子連接，可以通過(guò)電性測(cè)試端子輸入測(cè) 試信號(hào)對(duì)驅(qū)動(dòng)IC進(jìn)行測(cè)試，這樣就不必再額外的專門(mén)制作更多的驅(qū)動(dòng)IC測(cè)試端子，有利于 提高產(chǎn)能、降低成本；換言之，利用電性測(cè)試端子，作為額外的驅(qū)動(dòng)IC測(cè)試端子，更多的驅(qū) 動(dòng)電路IC功能被測(cè)試出來(lái)，更好地為我們的分析提供依據(jù)。安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊之后，上述檢測(cè)方法可以通過(guò)電性測(cè)試端子輸入測(cè)試信號(hào)對(duì)驅(qū) 動(dòng)IC進(jìn)行測(cè)試，這樣就不必再額外的專門(mén)制作更多的驅(qū)動(dòng)IC測(cè)試端子，有利于提高產(chǎn)能、 降低成本；換言之，利用電性測(cè)試端子，作為額外的驅(qū)動(dòng)IC測(cè)試端子，更多的驅(qū)動(dòng)電路IC功 能被測(cè)試出來(lái)，更好地為我們的分析提供依據(jù)。


通過(guò)附圖所示，本發(fā)明的上述及其它目的、特征和優(yōu)勢(shì)將更加清晰。在全部附圖中 相同的附圖標(biāo)記指示相同的部分。并未刻意按實(shí)際尺寸等比例縮放繪制附圖，重點(diǎn)在于示 出本發(fā)明的主旨。圖1為現(xiàn)有技術(shù)中一種液晶顯示裝置的TFT陣列基板的示意圖；圖2為現(xiàn)有技術(shù)中另一液晶顯示裝置的TFT陣列基板的示意圖；圖3為實(shí)施方案一中顯示裝置的示意圖；圖4至圖6為圖3中陣列基板的非顯示區(qū)域的示意圖；圖7至圖9為實(shí)施方案二中顯示裝置陣列基板的非顯示區(qū)域的示意圖；圖10為實(shí)施方案二中另一顯示裝置陣列基板的非顯示區(qū)域的示意圖；圖11為實(shí)施方案三中顯示裝置陣列基板測(cè)試方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明 的具體實(shí)施方式
做詳細(xì)的說(shuō)明。在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是本發(fā)明還可以 采用其他不同于在此描述的其它方式來(lái)實(shí)施，因此本發(fā)明不受下面公開(kāi)的具體實(shí)施例的限 制。其次，本發(fā)明結(jié)合示意圖進(jìn)行詳細(xì)描述，在詳述本發(fā)明實(shí)施例時(shí)，為便于說(shuō)明，表 示裝置結(jié)構(gòu)的剖面圖會(huì)不依一般比例作局部放大，而且所述示意圖只是示例，其在此不應(yīng) 限制本發(fā)明保護(hù)的范圍。此外，在實(shí)際制作中應(yīng)包含長(zhǎng)度、寬度及深度的三維空間尺寸。為突出本發(fā)明的特點(diǎn)，附圖中沒(méi)有給出與本發(fā)明的發(fā)明點(diǎn)必然直接相關(guān)的部分， 例如，TFT陣列、像素電極等傳統(tǒng)的液晶顯示裝置中，TFT陣列基板上作為防止短路桿斷線的備用測(cè)試端子，即 冗余端子，及其與短路桿的連線均位于驅(qū)動(dòng)IC的安裝位置之外，占據(jù)了 TFT陣列基板上一 定的空間，這不利于實(shí)現(xiàn)緊湊的結(jié)構(gòu)布局而減小液晶顯示裝置的尺寸；而且，冗余端子及其 連線還需要額外制作步驟，提高了制造成本?；诖?，本發(fā)明提供一種顯示裝置，本質(zhì)上，將冗余端子及其與短路桿的連線設(shè)置 于驅(qū)動(dòng)IC的安裝位置之內(nèi)，從而能夠充分利用TFT陣列基板上的空間，而且這種結(jié)構(gòu)還可 以使短路桿與數(shù)據(jù)線或掃描線的連接被切斷后，與短路桿連接的測(cè)試端子能夠用于驅(qū)動(dòng)IC 的測(cè)試。具體的，所述顯示裝置包括陣列基板，所述基板上的相互交疊的掃描線和數(shù)據(jù)線，與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿，冗余端子，通過(guò)連線與至少一根所述短路桿連接；其特征在于，當(dāng)所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿的連接被斷開(kāi)時(shí)，至少一個(gè)所述冗余端子， 仍然通過(guò)連線與所述至少一根短路桿連接。還包括位于驅(qū)動(dòng)電路模塊安裝位置的驅(qū)動(dòng)電路模塊，所述冗余端子是所述驅(qū)動(dòng)電 路模塊的輸入端子或輸出端子。
與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿位于所述陣列基板的同一側(cè)。與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿與所述掃描線一起形成，所述冗余端子 和所述連線與所述數(shù)據(jù)線一起形成。與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿與所述數(shù)據(jù)線一起形成，所述冗余端子 和所述連線與所述掃描線一起形成。與所述掃描線連接的短路桿與所述數(shù)據(jù)線平行，與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿與所 述掃描線平行。與所述掃描線連接的短路桿與所述數(shù)據(jù)線一起形成，與該短路桿連接的冗余端子 和連線與所述掃描線一起形成；與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿與所述掃描線一起形成，與該 短路桿連接的冗余端子和連線與所述數(shù)據(jù)線一起形成。與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為三組，與對(duì)應(yīng)紅、綠、藍(lán)像素單元的三組數(shù)據(jù)線分 別相連。與所述掃描線連接的短路桿分兩組，分別與第奇數(shù)條掃描線組和第偶數(shù)條掃描線 組相連。與所述掃描線連接的短路桿分為三組，與對(duì)應(yīng)紅、綠、藍(lán)像素單元的三組掃描線分 別相連。與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為兩組，分別與第奇數(shù)條數(shù)據(jù)線組和第偶數(shù)條數(shù)據(jù) 線組相連。所述冗余端子是所述驅(qū)動(dòng)電路模塊的起支撐作用的空白端子或與驅(qū)動(dòng)電路模塊 無(wú)關(guān)的端子。與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為三組，與對(duì)應(yīng)紅、綠、藍(lán)像素單元的三組數(shù)據(jù)線分 別相連。與所述掃描線連接的短路桿分為兩組，分別與第奇數(shù)條掃描線組和第偶數(shù)條掃描 線組相連。與所述掃描線連接的短路桿按像素單元的基色分為紅、綠、藍(lán)三基色，并且每一基色分為奇偶兩組，即，與所述掃描線連接的短路桿共分為六組。與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為兩組，分別與第奇數(shù)條數(shù)據(jù)線組和第偶數(shù)條數(shù)據(jù) 線組相連。與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿具有n個(gè)冗余部，所述冗余部將短路桿 分為n+1個(gè)分支段，n為自然數(shù)。至少兩個(gè)短路桿中全部或部分具有冗余部。所述冗余部為“U”形、圓弧形、“V”形、“U ”形或倒S形。所述冗余部位于驅(qū)動(dòng)電路模塊的安裝位置內(nèi)。所述冗余部的全部或部分跨過(guò)切割位置線。所述每個(gè)分支段通過(guò)連線與至少一個(gè)冗余端子連接。所述陣列基板上還包括公共電極線，以及與所述公共電極線連接的短路桿?？蛇x的，所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿是通過(guò)晶體管相連接的?？蛇x的，所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿是直接相連接的。優(yōu)選的，所述冗余端子位于驅(qū)動(dòng)電路模塊的安裝位置內(nèi)。
相應(yīng)的，還提供一種顯示裝置陣列基板的檢測(cè)方法，包括以下步驟安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊之后，以冗余端子為驅(qū)動(dòng)電路模塊的輸入端子或輸出端子，利 用與冗余端子連接的短路桿兩端的電性測(cè)試端子對(duì)驅(qū)動(dòng)電路模塊進(jìn)行功能測(cè)試。在安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊之前，所述檢測(cè)方法還可以包括檢測(cè)陣列基板非顯示區(qū)的短路桿是否發(fā)生斷線，當(dāng)短路桿未發(fā)生斷 線時(shí)，用短路 桿兩端的電性測(cè)試端子測(cè)試顯示區(qū)像素單元的工作情況；當(dāng)短路桿發(fā)生斷線時(shí)，利用與斷 線的短路桿連接的冗余端子測(cè)試顯示區(qū)像素單元的工作情況。檢測(cè)陣列基板非顯示區(qū)的短路桿是否發(fā)生斷線之后還包括沿切割位置線切斷數(shù) 據(jù)線和掃描線。以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例詳細(xì)說(shuō)明。實(shí)施方案一圖3為本發(fā)明的一種實(shí)施例的顯示裝置陣列基板的示意圖；圖4為圖3中陣列基 板非顯示區(qū)域的示意圖。本發(fā)明的顯示裝置可以是液晶顯示裝置、x光敏顯示裝置、有機(jī)發(fā) 光二極管顯示裝置等，只要顯示裝置包含起測(cè)試作用的短路桿便可以采用本發(fā)明的結(jié)構(gòu)和 方法。為突出本發(fā)明的特點(diǎn)，所有圖中均未示出陣列基板的開(kāi)關(guān)元件、像素電極等。所述開(kāi) 關(guān)元件可以是薄膜晶體管、二極管、或其他種類的三極管。如圖3所示，所述顯示裝置陣列基板100包括位于所述陣列基板100上的相互交 疊的掃描線(或稱柵極線)G1 Gn和數(shù)據(jù)線D1 Dn。(這里所說(shuō)的“交疊”是指掃描線 與數(shù)據(jù)線交叉，但是兩者不在同一層上，而且兩者之間還具有絕緣介質(zhì)層；以下提到的“交 疊”的含義類似。)所述掃描線和所述數(shù)據(jù)線分隔出多個(gè)有序排列的像素單元110。所述掃描線之間可以平行排列也可以不平行排列，所述數(shù)據(jù)線之間可以平行排列 也可以不平行排列，只要保證掃描線之間不相交，數(shù)據(jù)線之間不相交，掃描線和數(shù)據(jù)線交疊 即可。每個(gè)像素單元110至少包括一個(gè)開(kāi)關(guān)元件，所述開(kāi)關(guān)元件可以是薄膜晶體管或二 極管(圖中未示出)，以薄膜晶體管為例，所述薄膜晶體管的柵極與所述掃描線連接，所述 薄膜晶體管的源極與所述數(shù)據(jù)線連接，所述薄膜晶體管的漏極與所述像素單元110中的像 素電極(圖中未示出)連接，當(dāng)所述掃描線的電壓為高電平時(shí)，薄膜晶體管被打開(kāi)，所述數(shù) 據(jù)線給像素電極充電，像素電極對(duì)液晶層施加電場(chǎng)。在本實(shí)施例中，如圖3所示，多個(gè)有序排列的像素單元110的陣列組成顯示區(qū)域A， 所述陣列基板100上位于所述顯示區(qū)域A之外的部分為非顯示區(qū)域B，所述掃描線G1 Gn 和數(shù)據(jù)線D1 Dn延伸至非顯示區(qū)域B內(nèi)。如圖3和圖4所示，在非顯示區(qū)域B內(nèi)，所述顯示裝置的陣列基板還包括與掃描 線G1 Gn連接的短路桿101和數(shù)據(jù)線D1 Dn連接的短路桿101，通過(guò)連線112與短路桿 101連接的冗余端子111。本發(fā)明的一種實(shí)施例中，如圖4所示，掃描線G1 Gn均與短路桿101d連接，數(shù)據(jù) 線D1 Dn按照RGB (R為紅色、G為綠色、B為藍(lán)色)像素單元分為三組分別與短路桿101a、 101b、101c連接；短路桿101的兩端均具有電性測(cè)試端子(電性測(cè)試端子)103，例如，短路 桿101a、101b、101c兩端分別具有電性測(cè)試端子103a、103b、103c，短路桿101d兩端分別具 有電性測(cè)試端子103d，另外，非顯示區(qū)域B內(nèi)還包括短路桿(公共電位短路桿)101e，該短路桿101e與公共電極線(圖中未示出)連接，用于測(cè)試公共電極的電信號(hào)。本實(shí)施例中，同 一列像素單元為同一種顏色，同一行像素單元的顏色排布依次為紅、綠、藍(lán)周期排布，當(dāng)然， 可以包括其他顏色，如白色。像素單元的顏色采用這種排列方式，掃描線數(shù)量較少，掃描周 期較短，相應(yīng)地，與掃描線連接的短路桿的數(shù)量比較少，掃描線短路桿兩端的測(cè)試端子也比 較少。在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，像素單元的顏色還可以是同一行像素為同一顏色， 同一列像素的顏色排布依次為紅、綠、藍(lán)周期排布，也可以包括其他顏色，如白色。因此，掃 描線可以按照RGB信號(hào)分為三組，分別與不同的短路桿連接，所有的數(shù)據(jù)線均連接到同一 根短路桿；每根短路桿兩端都設(shè)置有測(cè)試端子。像素單元的顏色采用這種排列方式，數(shù)據(jù) 線的數(shù)量可以減少為上一個(gè)實(shí)施例中數(shù)據(jù)線數(shù)量的三分之一，而掃描線的數(shù)量增加為上一 個(gè)實(shí)施例的三倍，從而，驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路模塊的面積和數(shù)量可以減少，驅(qū)動(dòng)掃描 線的掃描驅(qū)動(dòng)電路模塊的面積和數(shù)量增加，由于數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路模塊與掃描驅(qū)動(dòng)電路模塊相 比，數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路模塊的成本高且結(jié)構(gòu)復(fù)雜，所以可以降低整個(gè)顯示裝置的成本和面積，而 且與數(shù)據(jù)線連接的短路桿的數(shù)量也相對(duì)變少。值得提出的是，所數(shù)據(jù)線也可以按照紅、綠、藍(lán)、白像素單元分成四組，甚至可以根 據(jù)需要，再把每一組基色像素單元分成奇偶兩組，即將數(shù)據(jù)線分成六組或八組，相應(yīng)的，對(duì) 應(yīng)數(shù)據(jù)線的短路桿為六條或八條；所掃描線也可以按照紅、綠、藍(lán)、白像素單元分成四組，甚 至可以根據(jù)需要，再把每一組基色像素單元分成奇偶兩組，即將掃描線分成六組或八組，相 應(yīng)的，對(duì)應(yīng)掃描線的短路桿為六條或八條。圖3中，與掃描線連接的短路桿和與數(shù)據(jù)線連接的短路桿均與掃描線平行，并且 均位于陣列基板100的同一側(cè)S2(見(jiàn)圖3)。但是，這并不是唯一選擇，例如，與掃描線連接 的短路桿和與數(shù)據(jù)線連接的短路桿也可以均與數(shù)據(jù)線平行，均位于陣列基板100的同一側(cè) S1 ；或者，與掃描線連接的短路桿與掃描線平行，位于陣列基板100的S1側(cè)，與數(shù)據(jù)線連接 的短路桿與數(shù)據(jù)線平行，位于陣列基板100的S2側(cè)。所有短路桿均位于同一側(cè)，可以增加 陣列基板的緊湊程度，有利于節(jié)省空間，尤其對(duì)于小尺寸的顯示裝置比較適合。與掃描線 連接的短路桿和與數(shù)據(jù)線連接的短路桿分別位于陣列基板的不同側(cè)(即分別位于S1和S2 側(cè))，可以有足夠的空間設(shè)置短路桿、測(cè)試端子、以及各種驅(qū)動(dòng)電路，對(duì)于大尺寸的顯示裝置 比較適合。如圖4所示，虛線框104表示驅(qū)動(dòng)IC的安裝位置，在此驅(qū)動(dòng)IC的安裝位置104內(nèi) 的掃描線G1 Gn和數(shù)據(jù)線D1 Dn上均具有驅(qū)動(dòng)IC綁定端子102，該綁定端子102用于 在安裝驅(qū)動(dòng)IC時(shí)與驅(qū)動(dòng)IC的引腳固定連接，同時(shí)也與驅(qū)動(dòng)IC電性連接以由此向掃描線 G1 Gn和數(shù)據(jù)線D1 Dn輸出信號(hào)。在本發(fā)明的陣列基板的外圍區(qū)域B內(nèi)，還設(shè)置有冗余端子111，所述冗余端子111 通過(guò)連線112與短路桿101連接，參照?qǐng)D3所示。所述連線112和冗余端子111也位于上 述驅(qū)動(dòng)IC的安裝位置104內(nèi)。具體地，如圖4所示，冗余端子11 la通過(guò)連線112與短路桿 101a連接，同樣的，冗余端子lllb、lllc分別連接短路桿101b、101c。當(dāng)然還可以包括與掃 描線的短路桿101d連接的冗余端子或與公共電極線的短路桿101e連接的冗余端子(圖中 未示出)。與每條短路桿101連接的冗余端子111的數(shù)量沒(méi)有限定，可以根據(jù)需要設(shè)置。所述冗余端子可以是所述驅(qū)動(dòng)電路模塊的起支撐作用的空白端子或與驅(qū)動(dòng)電路模塊無(wú)關(guān)的 端子。所述冗余端子111可以是驅(qū)動(dòng)IC的輸入端子，可以是驅(qū)動(dòng)IC的輸出端子，可以是 驅(qū)動(dòng)IC的起支撐作用的空白端子，還可以是與驅(qū)動(dòng)IC無(wú)關(guān)的端子(另外制作的端子)，還 可以是以上各種可能的組合，優(yōu)選的，是將驅(qū)動(dòng)IC的輸入端子、驅(qū)動(dòng)IC的輸出端子、起支撐 作用的空白端子全部用作冗余端子，即，將這些端子通過(guò)連線與短路桿連接起來(lái)。所述冗余端子111及所述冗余端子111與短路桿101的連線112，均位于驅(qū)動(dòng)電路 模塊的安裝位置104內(nèi)，驅(qū)動(dòng)電路模塊安裝后，將所有冗余端子111和連線112覆蓋，不需 要額外的占有空間。并且冗余端子111、連線112、與和所述冗余端子和連線112連接的短 路桿可以與數(shù)據(jù)線或掃描線在同一層中形成，例如冗余端子111a、和所述冗余端子111a 連接的連線112，與短路桿103a與數(shù)據(jù)線在同一層中一起形成；冗余端子111b、和所述冗余 端子111b連接的連線112與數(shù)據(jù)線在同一層中一起形成，短路桿103b與掃描線在同一層 中一起形成。優(yōu)選的，如果所述短路桿平行于掃描線設(shè)置，則每個(gè)所述冗余端子和連接該冗余 端子的連線與數(shù)據(jù)線一起形成，所有所述短路桿與掃描線一起形成，其中，處于非顯示區(qū)最 外側(cè)短路桿可以與數(shù)據(jù)線一起形成；如果所述短路桿平行于數(shù)據(jù)線設(shè)置，則每個(gè)所述冗余 端子和連接該冗余端子的連線與掃描線一起形成，所有所述短路桿與數(shù)據(jù)線一起形成，其 中，處于非顯示區(qū)最外側(cè)短路桿可以與掃描線一起形成?？傊灰獫M足不同的短路桿、連 線、冗余端子只與應(yīng)該連接的部分連接，并且不增加陣列基板的制作綜藝工藝步驟就可以。所述冗余端子111及所述冗余端子111與短路桿101的連線112可以作為防止短 路桿斷線的備用電性測(cè)試端子，例如，如圖5所示，當(dāng)短路桿101c在105處發(fā)生斷路時(shí)，短 路桿101c被分為兩部分，則不能通過(guò)短路桿101c左端的電性測(cè)試端子103c輸入信號(hào)，為 避免電性測(cè)試中斷，那么這時(shí)可以利用冗余端子111c提供測(cè)試信號(hào)給短路桿101c輸入信 號(hào)，使得電性測(cè)試正常進(jìn)行。對(duì)于其他的短路桿出現(xiàn)類似的斷路時(shí)，也可以利用所述冗余端 子111作為備用電性測(cè)試端子進(jìn)行電性測(cè)試。如果每條短路桿出現(xiàn)斷路的地方較多，設(shè)置 較多的冗余端子111顯得尤其重要。本發(fā)明所述的顯示裝置，其陣列基板上的冗余端子及所述冗余端子與短路桿的連 線均位于驅(qū)動(dòng)IC的安裝位置之內(nèi)，沒(méi)有占據(jù)額外的空間，有利于實(shí)現(xiàn)緊湊的結(jié)構(gòu)布局而減 小液晶顯示裝置的尺寸；而且，冗余端子、連線、與和所述冗余端子和連線所連接的短路桿 可以與數(shù)據(jù)線或掃描線在同一層中形成，不需要增加額外制作步驟，能夠降低制造成本。在現(xiàn)有技術(shù)中，激光切斷數(shù)據(jù)線或掃描線后，短路桿以及所述短路桿兩端的電性 測(cè)試端子就沒(méi)有其他作用了。此外，在現(xiàn)有技術(shù)中安裝驅(qū)動(dòng)IC之后，對(duì)驅(qū)動(dòng)IC進(jìn)行測(cè)試， 需要額外制作驅(qū)動(dòng)IC測(cè)試端子。如圖2所示，驅(qū)動(dòng)IC10安裝后，如果要測(cè)試驅(qū)動(dòng)IC的信 號(hào)，需制作測(cè)試端子8以和驅(qū)動(dòng)IC的輸入端子7 (也可以是輸出端子7)連接，才可以向驅(qū) 動(dòng)IC輸入測(cè)試信號(hào)(或測(cè)試IC的輸出端子輸出的信號(hào))。而本發(fā)明中，如果冗余端子是驅(qū)動(dòng)IC的輸入端子或輸出端子，則，冗余端子和短 路桿兩端的電性測(cè)試端子可以用來(lái)向驅(qū)動(dòng)IC輸入信號(hào)或測(cè)試驅(qū)動(dòng)IC輸出端的輸出信號(hào)。 所以，本發(fā)明可以省去現(xiàn)有技術(shù)中驅(qū)動(dòng)ic的測(cè)試端子，節(jié)省陣列基板非顯示區(qū)B的面積， 并且在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，每個(gè)短路桿有兩個(gè)電性測(cè)試端子，這樣，在其中一個(gè)測(cè)試端子出現(xiàn)不良的情況下，仍可以利用另一個(gè)測(cè)試端子完成測(cè)試功能，有利于提高產(chǎn)能、降低成本。如圖6所示，電性測(cè)試完成后，沿著切割位置線A-A采用激光切斷數(shù)據(jù)線和掃描線，短 路桿101與掃描線和數(shù)據(jù)線之間的連接被切斷，將驅(qū)動(dòng)IC的輸出端子(圖中未示出)與綁 定端子102連接，則驅(qū)動(dòng)IC固定于安裝位置104上。在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與各自的短路桿之間是通過(guò) 晶體管相連接的，電性測(cè)試完成后，則不需要對(duì)數(shù)據(jù)線和掃描線進(jìn)行切割，只需將連接掃描 線和/或數(shù)據(jù)線與各自的短路桿的晶體管關(guān)閉，便起到了使掃描線和/或數(shù)據(jù)線與各自的 短路桿之間電性被切斷的作用。以下詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的另一種更為優(yōu)選的實(shí)施方案，能夠利用更多電性測(cè)試端子 測(cè)試更多的驅(qū)動(dòng)IC的功能。實(shí)施方案二圖7至圖9為本發(fā)明顯示裝置中陣列基板非顯示區(qū)域的一種實(shí)施例的示意圖。為 突出本實(shí)施例的特點(diǎn)，僅示出了非顯示區(qū)域具有短路桿的一側(cè)。如圖7至圖9所示，本實(shí)施例所述顯示裝置陣列基板與實(shí)施方案一中的實(shí)施例的 區(qū)別在于，陣列基板上的短路桿201 (包括201M、201N兩部分)具有冗余部206，以冗余部 為界，短路桿201分為兩個(gè)分支段201M、201N，每個(gè)短路桿的兩個(gè)分支段通過(guò)連線212各與 至少一個(gè)冗余端子211連接，例如，短路桿201a的分支段201M連接冗余端子211a，分支段 201N連接冗余端子211a’，依此類推，不再贅述。本實(shí)施例中，所述冗余部206的個(gè)數(shù)為一個(gè)，所述冗余部206的形狀為“U ”形，在 本發(fā)明的其他實(shí)施例中，所述冗余部206的個(gè)數(shù)可以是多個(gè)，例如還可以由兩個(gè)冗余部將 短路桿分為三個(gè)分支段，η個(gè)冗余部將短路桿分為(η+1)個(gè)分支段，其中η為自然數(shù)。并且，所述冗余部206的形狀可以為弧形、U形、V形、倒S形中的一種或至少兩種 的組合。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)可以很容易推出，凡是能夠跨過(guò)所述切割位置線A-A的其他 形狀的冗余部，當(dāng)然也在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。本實(shí)施例中，與掃描線連接的短路桿和與數(shù)據(jù)線連接的短路桿均設(shè)置有冗余部， 在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，可以采用與掃描線連接的短路桿和與數(shù)據(jù)線連接的短路桿中的 部分短路桿設(shè)置冗余部。如圖8所示，所述冗余部206跨過(guò)切割位置線Α-Α，在后續(xù)工藝中，切斷短路桿201 和掃描線或數(shù)據(jù)線的連接時(shí)，沿所述切割位置線A-A切割掃描線或數(shù)據(jù)線，這樣以來(lái)，也將 冗余部206切斷，可見(jiàn)，短路桿201不僅與掃描線Gl Gn和數(shù)據(jù)線Dl Dn斷開(kāi)，而且自 身也被斷開(kāi)為兩部分，即被分割成分支段201Μ和分支段201Ν。在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與各自的短路桿之間是通過(guò) 晶體管相連接的，電性測(cè)試完成后，則不需要對(duì)數(shù)據(jù)線和掃描線進(jìn)行切割，只需將連接掃描 線和/或數(shù)據(jù)線與各自的短路桿的晶體管關(guān)閉，便起到了使掃描線和/或數(shù)據(jù)線與各自的 短路桿之間的電性被切斷的作用；則只需對(duì)冗余部進(jìn)行切割，不需要對(duì)掃描線或數(shù)據(jù)線進(jìn) 行切割。本實(shí)施例中，所述冗余部206全部跨過(guò)切割位置線Α-Α，在本發(fā)明的其他實(shí)施例 中，也可以采用所述冗余部206的部分跨過(guò)切割位置線Α-Α，或者多個(gè)冗余部206的全部或 部分跨過(guò)切割位置線Α-Α。
與實(shí)施方案一中的實(shí)施例的陣列基板相比，本實(shí)施例中，相當(dāng)于增加一倍的驅(qū)動(dòng) IC測(cè)試端子，例如，分支段201M連接的冗余端子211a、分支段201N連接的冗余端子211a’ 可以分別與驅(qū)動(dòng)IC的輸入端子或輸出端子(圖中未示出)連接，分支段201M連接的電性 測(cè)試端子203a、分支段201N連接的電性測(cè)試端子203a’可以作為驅(qū)動(dòng)IC的測(cè)試端子，而綁 定端子202仍然連接驅(qū)動(dòng)IC的輸出端子。驅(qū)動(dòng)IC固定于安裝位置204上，將冗余部206 和冗余端子211及連線212均覆蓋。這樣以來(lái)，有更多的電性測(cè)試端子被用來(lái)測(cè)試驅(qū)動(dòng)IC的性能，使得更多的驅(qū)動(dòng)IC功能被檢測(cè)，所述驅(qū)動(dòng)IC功能例如包括VR-控制紅色電壓、VG-控制綠色電壓、VB-控制藍(lán) 色電壓、VCC-控制IC的工作電壓、VGH-控制開(kāi)關(guān)元件的開(kāi)電壓、VGL-控制開(kāi)關(guān)元件的關(guān) 電壓、CLOCK-時(shí)鐘信號(hào)、U-D-控制圖像上下翻轉(zhuǎn)、STV-控制U-D、L-F-控制圖像左右反轉(zhuǎn)、 STH-控制L-F、OE-使能信號(hào)等。另外，當(dāng)短路桿在多處發(fā)生斷路時(shí)，更多的冗余端子211可以作為備用電性測(cè)試 端子，能夠確保電性測(cè)試順利進(jìn)行。如圖9所示，當(dāng)短路桿201a在205兩處發(fā)生斷路時(shí)，短 路桿201a被分為三部分，則不能通過(guò)短路桿201a兩端的電性測(cè)試端子203a、203a，輸入信 號(hào)，為避免電性測(cè)試中斷，那么這時(shí)可以利用冗余端子211a和211a’提供測(cè)試信號(hào)給短路 桿201a的中間部分輸入信號(hào)，使得電性測(cè)試正常進(jìn)行。優(yōu)選的，所述冗余部206位于驅(qū)動(dòng)電路模塊的安裝位置204內(nèi)，不需要額外占據(jù)基 板的額外空間，有利于實(shí)現(xiàn)緊湊的結(jié)構(gòu)布局而減小顯示裝置的尺寸。在本發(fā)明的另一實(shí)施例的顯示裝置陣列基板中，掃描線分成奇偶兩組分別連接兩
個(gè)短路桿，如圖10所示，第奇數(shù)條掃描線Gl、G3......連接短路桿301a，第偶數(shù)條掃描線
G2、G4......連接短路桿301b，該顯示裝置陣列基板中的其他結(jié)構(gòu)，如冗余部306、冗余端
子311及其連線312、驅(qū)動(dòng)電路模塊的安裝位置304等均與前述實(shí)施例相同，在此不再贅述。本發(fā)明的所有實(shí)施例各自包含的特征可以任意組合，形成新的實(shí)施方案。本發(fā)明還提供一種包含以上任意實(shí)施例所述顯示裝置陣列基板的顯示裝置。以下實(shí)施例說(shuō)明本發(fā)明提供的顯示裝置的檢測(cè)方法。實(shí)施方案三圖11為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的所述檢測(cè)方法的流程圖。安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊之后，以冗余端子為驅(qū)動(dòng)IC的輸入端子或輸出端子，利用與冗 余端子連接的短路桿兩端的電性測(cè)試端子對(duì)驅(qū)動(dòng)IC進(jìn)行功能測(cè)試。上述檢測(cè)方法可以通過(guò)電性測(cè)試端子輸入測(cè)試信號(hào)對(duì)驅(qū)動(dòng)IC進(jìn)行測(cè)試，這樣就 不必再額外的專門(mén)制作更多的驅(qū)動(dòng)IC測(cè)試端子，有利于提高產(chǎn)能、降低成本；換言之，利用 電性測(cè)試端子，作為額外的驅(qū)動(dòng)IC測(cè)試端子，更多的驅(qū)動(dòng)電路IC功能被測(cè)試出來(lái)。本發(fā)明的另一實(shí)施例中，在安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊之前，所述檢測(cè)方法還可以包括檢測(cè)陣列基板非顯示區(qū)的短路桿是否發(fā)生斷線，當(dāng)短路桿未發(fā)生斷線時(shí)，用短路 桿兩端的電性測(cè)試端子測(cè)試顯示區(qū)像素單元的工作情況；當(dāng)短路桿發(fā)生斷線時(shí)，利用與斷 線的短路桿連接的冗余端子測(cè)試顯示區(qū)像素單元的工作情況。這樣，在短路桿有斷線的情況下，仍能對(duì)顯示區(qū)的像素單元進(jìn)行正常測(cè)試。具體的，如圖11所示，在顯示裝置可以采用如下檢測(cè)方法，包括以下步驟步驟Sl 檢測(cè)陣列基板非顯示區(qū)的短路桿是否發(fā)生短線，當(dāng)短路桿未發(fā)生斷線時(shí)，用短路桿兩端的電性測(cè)試端子測(cè)試顯示區(qū)像素的工作情況；當(dāng)短路桿發(fā)生斷線時(shí)，利用與斷線的短路桿連接的冗余端子測(cè)試顯示區(qū)像素的工作情況。步驟S2 沿切割位置線A-A切斷數(shù)據(jù)線和掃描線。步驟S3 將驅(qū)動(dòng)IC安裝到安裝位置，對(duì)驅(qū)動(dòng)IC進(jìn)行功能測(cè)試。也即，當(dāng)冗余端子是驅(qū)動(dòng)IC的輸入端子或輸出端子時(shí)，步驟S3所述的功能測(cè)試包 括利用短路桿兩端的電性測(cè)試端子對(duì)驅(qū)動(dòng)IC進(jìn)行功能測(cè)試。在步驟S2中，沿切割位置線A-A切斷數(shù)據(jù)線和掃描線時(shí)，還包括切斷短路桿的冗 余部跨過(guò)切割位置線A-A的部分。這樣在步驟三中，如果是利用短路桿兩端的電性測(cè)試端 子對(duì)驅(qū)動(dòng)IC進(jìn)行功能測(cè)試，則可以測(cè)試出更多的驅(qū)動(dòng)IC的功能。以上所述，僅是本發(fā)明的 較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本發(fā)明作任何形式上的限制。雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例披露如上，然而并非用以限定本發(fā)明。任何熟悉本領(lǐng) 域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍情況下，都可利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi) 容對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案作出許多可能的變動(dòng)和修飾，或修改為等同變化的等效實(shí)施例。因此， 凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所做的任何簡(jiǎn)單 修改、等同變化及修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案保護(hù)的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種顯示裝置，包括陣列基板；所述基板上的相互交疊的掃描線和數(shù)據(jù)線；與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿；冗余端子，通過(guò)連線與至少一根短路桿連接；其特征在于，當(dāng)所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿的連接被斷開(kāi)時(shí)，至少一個(gè)所述冗余端子，仍然通過(guò)連線與所述至少一根短路桿連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，還包括位于驅(qū)動(dòng)電路模塊安裝位置 的驅(qū)動(dòng)電路模塊，所述冗余端子是所述驅(qū)動(dòng)電路模塊的輸入端子或輸出端子。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短 路桿位于所述陣列基板的同一側(cè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短 路桿與所述掃描線一起形成，所述冗余端子和所述連線與所述數(shù)據(jù)線一起形成。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短 路桿與所述數(shù)據(jù)線一起形成，所述冗余端子和所述連線與所述掃描線一起形成。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線連接的短路桿與所述 數(shù)據(jù)線平行，與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿與所述掃描線平行。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線連接的短路桿與所述 數(shù)據(jù)線一起形成，與該短路桿連接的冗余端子和連線與所述掃描線一起形成；與所述數(shù)據(jù) 線連接的短路桿與所述掃描線一起形成，與該短路桿連接的冗余端子和連線與所述數(shù)據(jù)線 一起形成。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為三 組，與對(duì)應(yīng)紅、綠、藍(lán)像素單元的三組數(shù)據(jù)線分別相連。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線連接的短路桿分兩組， 分別與第奇數(shù)條掃描線組和第偶數(shù)條掃描線組相連。
10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線連接的短路桿分為三 組，與對(duì)應(yīng)紅、綠、藍(lán)像素單元的三組掃描線分別相連。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的顯示裝置，其特征在于，與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為 兩組，分別與第奇數(shù)條數(shù)據(jù)線組和第偶數(shù)條數(shù)據(jù)線組相連。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，所述冗余端子是所述驅(qū)動(dòng)電路模塊 的起支撐作用的空白端子或與驅(qū)動(dòng)電路模塊無(wú)關(guān)的端子。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的顯示裝置，其特征在于，與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為 三組，與對(duì)應(yīng)紅、綠、藍(lán)像素單元的三組數(shù)據(jù)線分別相連。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線連接的短路桿分為 兩組，分別與第奇數(shù)條掃描線組和第偶數(shù)條掃描線組相連。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線連接的短路桿按像 素單元的基色分為紅、綠、藍(lán)三基色，并且每一基色分為奇偶兩組，即，與所述掃描線連接的 短路桿共分為六組。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的顯示裝置，其特征在于，與所述數(shù)據(jù)線連接的短路桿分為兩組，分別與第奇數(shù)條數(shù)據(jù)線組和第偶數(shù)條數(shù)據(jù)線組相連。
17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的 短路桿具有n個(gè)冗余部，所述冗余部將短路桿分為n+1個(gè)分支段，n為自然數(shù)。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的顯示裝置，其特征在于，至少兩個(gè)短路桿中全部或部分具 有冗余部。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的顯示裝置，其特征在于，所述冗余部為“U”形、圓弧形、“V” 形、“u”形或倒SB。
20.根據(jù)權(quán)利要求18所述的顯示裝置，其特征在于，所述冗余部位于驅(qū)動(dòng)電路模塊的 安裝位置內(nèi)。
21.根據(jù)權(quán)利要求18所述的顯示裝置，其特征在于，所述冗余部的全部或部分跨過(guò)切 割位置線。
22.根據(jù)權(quán)利要求17所述的顯示裝置，其特征在于，所述每個(gè)分支段通過(guò)連線與至少 一個(gè)冗余端子連接。
23.根據(jù)權(quán)利要求1-22中任一項(xiàng)所述的顯示裝置，其特征在于，所述陣列基板上還包 括公共電極線，以及與所述公共電極線連接的短路桿。
24.根據(jù)權(quán)利要求1-22中任一項(xiàng)所述的顯示裝置，其特征在于，所述掃描線和/或數(shù)據(jù) 線與短路桿是通過(guò)晶體管相連接的。
25.根據(jù)權(quán)利要求1-22中任一項(xiàng)所述的顯示裝置，其特征在于，所述掃描線和/或數(shù)據(jù) 線與短路桿是直接相連接的。
26.根據(jù)權(quán)利要求1-22中任一項(xiàng)所述的顯示裝置，其特征在于，所述冗余端子位于驅(qū) 動(dòng)電路模塊的安裝位置內(nèi)。
27.—種顯示裝置陣列基板的測(cè)試方法，包括以下步驟安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊之后，以冗余端子為驅(qū)動(dòng)電路模塊的輸入端子或輸出端子，利用與 冗余端子連接的短路桿兩端的電性測(cè)試端子對(duì)驅(qū)動(dòng)電路模塊進(jìn)行功能測(cè)試。
28.根據(jù)權(quán)利要求27所述的測(cè)試方法，其特征在于，在安裝驅(qū)動(dòng)電路模塊之前，所述檢 測(cè)方法還可以包括檢測(cè)陣列基板非顯示區(qū)的短路桿是否發(fā)生斷線，當(dāng)短路桿未發(fā)生斷線時(shí)，用短路桿兩 端的電性測(cè)試端子測(cè)試顯示區(qū)像素單元的工作情況；當(dāng)短路桿發(fā)生斷線時(shí)，利用與斷線的 短路桿連接的冗余端子測(cè)試顯示區(qū)像素單元的工作情況。
29.根據(jù)權(quán)利要求28所述的測(cè)試方法，其特征在于，檢測(cè)陣列基板非顯示區(qū)的短路桿 是否發(fā)生斷線之后還包括沿切割位置線切斷數(shù)據(jù)線和掃描線。
全文摘要
本發(fā)明提供一種顯示裝置及其陣列基板的測(cè)試方法，所述顯示裝置包括陣列基板；所述基板上的相互交疊的掃描線和數(shù)據(jù)線；與所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線連接的短路桿；冗余端子，通過(guò)連線與至少一根短路桿連接；當(dāng)所述掃描線和/或數(shù)據(jù)線與短路桿的連接被斷開(kāi)時(shí)，至少一個(gè)所述冗余端子，仍然通過(guò)連線與所述至少一根短路桿連接。所述的液晶顯示裝置，在安裝驅(qū)動(dòng)IC后，利用冗余端子作為驅(qū)動(dòng)IC的輸入端子或輸出端子，則，冗余端子和短路桿兩端的電性測(cè)試端子可以用來(lái)向驅(qū)動(dòng)IC輸入信號(hào)或測(cè)試驅(qū)動(dòng)IC輸出端的輸出信號(hào)，因此，不必另外制作驅(qū)動(dòng)IC的測(cè)試端子，能夠簡(jiǎn)化制作過(guò)程，有利于提高產(chǎn)能、降低成本。
文檔編號(hào)G09G3/36GK101833910SQ20091004762
公開(kāi)日2010年9月15日 申請(qǐng)日期2009年3月11日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月11日
發(fā)明者黃賢軍 申請(qǐng)人:上海天馬微電子有限公司