專利名稱：顯示驅(qū)動(dòng)電路及其測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種顯示驅(qū)動(dòng)電路及其測(cè)試方法，且特別涉及一種可接收外部控制信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的顯示驅(qū)動(dòng)電路及其測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
請(qǐng)參照?qǐng)D1，為說(shuō)明顯示面板140的傳統(tǒng)顯示驅(qū)動(dòng)電路120組成的方框示意圖。 此顯示驅(qū)動(dòng)電路120包括系統(tǒng)介面電路(System Interface Circuit) 122、存儲(chǔ)器控制電路(Memory Control Circuit) 124、圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(Image Data Memory) 126、時(shí)序控制電路(Timing Control Circuit) 1 、鎖存電路(Latch Circuit) 130、數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路(Data Line Driving Circuit) 132、掃描線驅(qū)動(dòng)電路 Gcan Line Driving Circuit) 134與灰階電壓產(chǎn)生電路(Grayscale Voltage Generting Circuit) 136。系統(tǒng)界面電路122耦接到外部的處理器110，而數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路132與掃描線驅(qū)動(dòng)電路134則是耦接到顯示面板140。當(dāng)顯示驅(qū)動(dòng)電路120操作在正常操作模式(Normal Operation Mode)時(shí)，外部的處理器Iio將顯示數(shù)據(jù)經(jīng)由系統(tǒng)介面電路122傳送給存儲(chǔ)器控制電路124。存儲(chǔ)器控制電路IM將顯示數(shù)據(jù)暫存于圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器126。而時(shí)序控制電路1 則是按時(shí)序?qū)Υ鎯?chǔ)器控制電路124、鎖存電路130、數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路132、掃描線驅(qū)動(dòng)電路134與灰階電壓產(chǎn)生電路136發(fā)出對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)。例如，時(shí)序控制電路1 經(jīng)由存儲(chǔ)器控制電路IM將圖像數(shù)據(jù)從圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器126讀出，并且將圖像數(shù)據(jù)傳送到鎖存電路130。鎖存電路130依據(jù)時(shí)序控制電路1 的鎖存脈沖，將圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行閂鎖并傳送到數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路132。而時(shí)序控制電路1 更進(jìn)一步控制數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路132與掃描線驅(qū)動(dòng)電路134，用以將圖像數(shù)據(jù)傳送到顯示面板140的畫(huà)素中，據(jù)以顯示對(duì)應(yīng)的圖像。對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)電路120于正常操作模式下的時(shí)序圖(Timing Diagram)，則如圖2所示。在此假設(shè)掃描線驅(qū)動(dòng)電路134包含多個(gè)輸出端。例如，掃描線驅(qū)動(dòng)電路134的第一輸出端Gl驅(qū)動(dòng)顯示面板140的第1個(gè)掃描線，第二輸出端G2驅(qū)動(dòng)顯示面板140的第二個(gè)掃
描線、第三輸出端G3驅(qū)動(dòng)顯示面板140的第三個(gè)掃描線.....第N輸出端GN驅(qū)動(dòng)顯示面板
140的第N個(gè)掃描線。從時(shí)序控制電路1 傳來(lái)每隔一預(yù)定時(shí)間變化的閘極位址。掃描線驅(qū)動(dòng)電路Π4依據(jù)閘極位址而經(jīng)由輸出端Gl GN依序驅(qū)動(dòng)顯示面板140的掃描線。如圖 2的上半部所示，將一固定時(shí)間，也就是一個(gè)畫(huà)面(Frame)的時(shí)間內(nèi)，分割此固定時(shí)間成N個(gè)閘驅(qū)動(dòng)期間T?；跁r(shí)序控制電路1 的控制，掃描線驅(qū)動(dòng)電路134分別于不同的閘驅(qū)動(dòng)期間T依序驅(qū)動(dòng)顯示面板140的其中一條掃描線。在圖2的下半部包括(1)數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路132內(nèi)的數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)器(Data Line Driver)所接收的顯示數(shù)據(jù)(Display Data) ； (2)從時(shí)序控制電路1 傳來(lái)用以控制鎖存電路130的鎖存脈沖(Latch Pulse) ； (3)從時(shí)序控制電路1 傳來(lái)每隔一預(yù)定時(shí)間變化的閘極位址(Gate Address) ； (4)從時(shí)序控制電路1 傳來(lái)每隔一預(yù)定時(shí)間變化的閘極使能信號(hào)》)0FF ； (5)從時(shí)序控制電路128傳來(lái)的控制信號(hào))(D0NB。控制信號(hào))(D0NB有最高優(yōu)先權(quán)。當(dāng)控制信號(hào)》)0NB為邏輯低電平L時(shí)，掃描線驅(qū)動(dòng)電路134的所有輸出皆為一高電平的電壓VGH。在正常操作模式下，控制信號(hào))(D0NB維持在邏輯高電平H。當(dāng)閘極使能信號(hào) XDOFF為邏輯低電平時(shí)，掃描線驅(qū)動(dòng)電路134將依照時(shí)序控制電路1 所提供的閘極位址輸出高電平電壓VGH到輸出端Gl GN其中一個(gè)對(duì)應(yīng)的輸出端，而對(duì)其余的輸出端則輸出低電平的電壓VGL，如圖2所示。而閘極使能信號(hào))(D0FF為邏輯高電平時(shí)，則掃描線驅(qū)動(dòng)電路 134的所有輸出皆為低電平的電壓VGL。上述電壓VGH的電平高于電壓VGL的電平。當(dāng)對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)電路120進(jìn)行測(cè)試操作時(shí)，顯示驅(qū)動(dòng)器120操作在測(cè)試操作模式 (Test Operation Mode)，而外部的處理器110要先通過(guò)系統(tǒng)介面電路122與存儲(chǔ)器控制電路IM將測(cè)試樣式(Test Pattern)事先寫(xiě)入圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器126。在將測(cè)試樣式寫(xiě)入圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器126之后，時(shí)序控制電路1 接著按時(shí)序經(jīng)由存儲(chǔ)器控制電路IM將測(cè)試樣式從圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器I^U賣(mài)出，并且將測(cè)試樣式經(jīng)由鎖存電路130傳送到數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路 132。時(shí)序控制電路1 依據(jù)所述測(cè)試樣式產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)，以控制數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路 132與掃描線驅(qū)動(dòng)電路134，并經(jīng)由數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路132與掃描線驅(qū)動(dòng)電路134進(jìn)行測(cè)試樣式的輸出。通過(guò)外部測(cè)試儀器量測(cè)數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路132的輸出與掃描線驅(qū)動(dòng)電路134的輸出，來(lái)判定顯示驅(qū)動(dòng)器120是否通過(guò)測(cè)試。對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路134的測(cè)試共有三種行為模式(1)使掃描線驅(qū)動(dòng)電路134的所有輸出端Gl GN皆輸出一低電平的電壓VGL，如圖3A所示；(2)使掃描線驅(qū)動(dòng)電路134 的所有輸出端Gl GN皆輸出一高電平的電壓VGH，如圖3A所示；及(3)使掃描線驅(qū)動(dòng)電路134的其中一個(gè)輸出端輸出一高電平的電壓VGH，而其余輸出端輸出低電平的電壓VLG， 如圖3B所示。針對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路134的測(cè)試而言，必須根據(jù)每個(gè)畫(huà)面所需顯示的固定時(shí)間 (Fixed time for one Frame)以及掃描線驅(qū)動(dòng)電路1；34的輸出端數(shù)量N而決定。每個(gè)畫(huà)面的固定時(shí)間將根據(jù)掃描線驅(qū)動(dòng)電路134的輸出端數(shù)量而被分割，而后依序針對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路134的每一個(gè)輸出端，在每一分割的時(shí)間區(qū)間內(nèi)(例如于閘驅(qū)動(dòng)期間T內(nèi))進(jìn)行測(cè)試。 上述對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路134進(jìn)行的測(cè)試包括例如判斷驅(qū)動(dòng)的電壓是否足夠等等。圖式中的時(shí)間區(qū)間T則為將每個(gè)畫(huà)面所需的時(shí)間切割為N個(gè)時(shí)間區(qū)間(N個(gè)時(shí)間區(qū)間T)。對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)積體電路(Display Driver IC，即顯示驅(qū)動(dòng)電路120)而言，必須依序于輸出端Gl GN 輪流輸出驅(qū)動(dòng)電壓，而且在測(cè)試每一個(gè)輸出端時(shí)，都需要等待測(cè)試的結(jié)果，因此相當(dāng)耗費(fèi)測(cè)試的時(shí)間。在傳統(tǒng)的測(cè)試架構(gòu)中，提出一種改善的方法，經(jīng)由一個(gè)內(nèi)部的振蕩器 (Oscillator)加快操作的頻率，而使測(cè)試的時(shí)間縮短。但這樣的作法，可能會(huì)因?yàn)閽呙杈€驅(qū)動(dòng)電路134原本設(shè)計(jì)的架構(gòu)無(wú)法符合此加快頻率的操作，導(dǎo)致產(chǎn)生所謂的假錯(cuò)誤訊息，影響測(cè)試的結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種顯示驅(qū)動(dòng)電路，用以驅(qū)動(dòng)一顯示面板。上述顯示驅(qū)動(dòng)電路包括一時(shí)序控制電路、一圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、一數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路以及一掃描線驅(qū)動(dòng)電路。圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器儲(chǔ)存顯示數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路耦接至?xí)r序控制電路，接收顯示數(shù)據(jù)，并輸出對(duì)應(yīng)顯示數(shù)據(jù)的一灰階電壓信號(hào)。掃描線驅(qū)動(dòng)電路耦接至?xí)r序控制電路，于一正常操作模式下受控于該時(shí)序控制電路所產(chǎn)生的一第一控制信號(hào)，以及于一測(cè)試操作模式下受控于一外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生的一第二控制信號(hào)，其中第二控制信號(hào)用以作為該顯示驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試樣式。在一實(shí)施例中，上述掃描線驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)測(cè)試樣式對(duì)進(jìn)行測(cè)試，包括循序地觸發(fā)該掃描線驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)部多個(gè)輸出級(jí)電路；使所有輸出級(jí)電路同時(shí)輸出一第一電平電壓；以及使所有輸出級(jí)電路同時(shí)輸出一第二電平電壓，其中第一電平高于第二電平。本發(fā)明提供一種測(cè)試顯示驅(qū)動(dòng)電路的方法，其中顯示驅(qū)動(dòng)電路用以驅(qū)動(dòng)一顯示面板。所述顯示驅(qū)動(dòng)電路包括一時(shí)序控制電路、一圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、一數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路以及一掃描線驅(qū)動(dòng)電路。上述測(cè)試方法包括于一測(cè)試操作模式下，由一控制信號(hào)控制掃描線驅(qū)動(dòng)電路，其中控制信號(hào)是由一外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生。根據(jù)控制信號(hào)的一測(cè)試樣式對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行測(cè)試與量測(cè)。在一實(shí)施例中，上述的測(cè)試顯示驅(qū)動(dòng)電路的方法中，此掃描線驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)測(cè)試樣式進(jìn)行循序地觸發(fā)該掃描線驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)部多個(gè)輸出級(jí)電路；使所有輸出級(jí)電路同時(shí)輸出一第一電平電壓；以及使所有輸出級(jí)電路同時(shí)輸出一第二電平電壓，其中第一電平高于第二電平。在一實(shí)施例中，上述的測(cè)試顯示驅(qū)動(dòng)電路的方法中，控制信號(hào)是由外部測(cè)試平臺(tái)經(jīng)由時(shí)序控制電路傳送到掃描線驅(qū)動(dòng)電路。在一實(shí)施例中，上述的控制信號(hào)是由該外部測(cè)試平臺(tái)直接傳送到該掃描線驅(qū)動(dòng)電路。為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說(shuō)明如下。


圖1是說(shuō)明顯示驅(qū)動(dòng)電路組成的方框示意圖。圖2是說(shuō)明對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)電路的正常操作時(shí)序圖。圖3A與IBB是分別說(shuō)明對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路輸出測(cè)試信號(hào)的電壓電平示意圖。圖4是說(shuō)明本發(fā)明所提出顯示驅(qū)動(dòng)電路組成的一實(shí)施例的方框方框示意圖。圖5是說(shuō)明本發(fā)明所提出顯示驅(qū)動(dòng)電路組成實(shí)施例的部分電路方框示意圖。圖6是說(shuō)明運(yùn)用本發(fā)明實(shí)施例所進(jìn)行的掃描線驅(qū)動(dòng)電路測(cè)試時(shí)序示意圖。附圖標(biāo)記110:處理器120:顯示驅(qū)動(dòng)電路122:系統(tǒng)介面電路 124:存儲(chǔ)器控制電路126:圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器 1 :時(shí)序控制電路130 鎖存電路132:數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路134:掃描線驅(qū)動(dòng)電路 136:灰階電壓產(chǎn)生電路140 顯示面板400:顯示驅(qū)動(dòng)電路410:處理器422:系統(tǒng)介面電路424:存儲(chǔ)器控制電路 426:圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器428:時(shí)序控制電路430 鎖存電路432:數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路 434:掃描線驅(qū)動(dòng)電路
436 灰階電壓產(chǎn)生電路440 顯示面板500:顯示驅(qū)動(dòng)電路532:選擇電路534 邏輯單元53 536^ 輸出級(jí)電路610、620、630 虛線框Gl GN、GDl ⑶N 輸出端 X)FF:閘極使能信號(hào))(D0NB:控制信號(hào)
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參照?qǐng)D4所示，為本發(fā)明實(shí)施例所提出顯示驅(qū)動(dòng)電路組成的方框示意圖。此顯示驅(qū)動(dòng)電路400包括系統(tǒng)介面電路(System Interface Circuit) 422、存儲(chǔ)器控制電路 (Memory Control Circuit) 424、圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(Image Data Memory) 426、時(shí)序控制電路 (Timing Control Circuit)428、鎖存電路(Latch Circuit)430、一數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路(Data Line Driving Circuit) 432、一掃描線驅(qū)動(dòng)電路(Gate Line Driving Circuit) 4；34 與灰階電壓產(chǎn)生電路(Grayscale Voltage Generating Circuit)4360系統(tǒng)界面電路422耦接到外部測(cè)試平臺(tái)的處理器410，而數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432與掃描線驅(qū)動(dòng)電路434可以被耦接到顯示面板440或是外部測(cè)試平臺(tái)的量測(cè)儀器。此處理器410可為顯示裝置、手持式電子裝置(例如手機(jī)或個(gè)人數(shù)字助理PDA等)或其他電子裝置中的內(nèi)部處理裝置。在另一實(shí)施例中，此處理器410亦可為測(cè)試裝置的處理器。當(dāng)顯示驅(qū)動(dòng)電路400操作在正常操作模式(Normal Operation Mode)時(shí)，外部的處理器410將顯示數(shù)據(jù)經(jīng)由系統(tǒng)介面電路422傳送給存儲(chǔ)器控制電路424。存儲(chǔ)器控制電路4M將顯示數(shù)據(jù)暫存于圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器426。而時(shí)序控制電路4 則是按時(shí)序?qū)Υ鎯?chǔ)器控制電路424、鎖存電路430、數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432、掃描線驅(qū)動(dòng)電路434與灰階電壓產(chǎn)生電路436發(fā)出對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)。例如，時(shí)序控制電路4 經(jīng)由存儲(chǔ)器控制電路似4從圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器似6讀出圖像數(shù)據(jù)，并且將圖像數(shù)據(jù)傳送到鎖存電路430。鎖存電路430依據(jù)時(shí)序控制電路4 的鎖存脈沖，將圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行閂鎖并傳送到數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432。而時(shí)序控制電路4 還進(jìn)一步控制數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432與掃描線驅(qū)動(dòng)電路434，用以將圖像數(shù)據(jù)傳送到顯示面板440的畫(huà)素中，據(jù)以顯示對(duì)應(yīng)的圖像。例如于正常操作模式下，掃描線驅(qū)動(dòng)電路434受控于時(shí)序控制電路4 所產(chǎn)生的第一控制信號(hào)，以驅(qū)動(dòng)顯示面板440的多條掃描線。上述時(shí)序控制電路4 所產(chǎn)生的控制信號(hào)以及掃描線驅(qū)動(dòng)電路434的輸出可以參照?qǐng)D2與相關(guān)說(shuō)明?；译A電壓產(chǎn)生電路436產(chǎn)生灰階電壓給數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432。數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432接收該顯示數(shù)據(jù)，并輸出對(duì)應(yīng)該顯示數(shù)據(jù)的灰階電壓信號(hào)至顯示面板440的多條數(shù)據(jù)線。當(dāng)對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)電路400進(jìn)行測(cè)試操作時(shí)，顯示驅(qū)動(dòng)器400操作在測(cè)試操作模式 (Test Operation Mode)。在測(cè)試操作模式中，掃描線驅(qū)動(dòng)電路434受控于外部測(cè)試平臺(tái) (處理器410)所產(chǎn)生的第二控制信號(hào)，其中該第二控制信號(hào)用以作為顯示驅(qū)動(dòng)電路400 進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試樣式。此第二控制信號(hào)包括閘極位址、閘極使能信號(hào))(D0FF及控制信號(hào) )(D0NB。掃描線驅(qū)動(dòng)電路434所需的控制信號(hào)(測(cè)試樣式)是由外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生與提 {共。在一實(shí)施例中，處理器410可以經(jīng)路徑411，也就是通過(guò)系統(tǒng)介面電路122將第二控制信號(hào)傳送到時(shí)序控制電路428。于該正常操作模式下，時(shí)序控制電路4 選擇將時(shí)序控制電路4 本身所產(chǎn)生的第一控制信號(hào)傳送給掃描線驅(qū)動(dòng)電路434。于該測(cè)試操作模式下，時(shí)序控制電路4 選擇將外部測(cè)試平臺(tái)(處理器410)所產(chǎn)生的第二控制信號(hào)傳送給掃描線驅(qū)動(dòng)電路434。因此，處理器410可由系統(tǒng)界面電路422對(duì)時(shí)序控制電路4 寫(xiě)入指令 (Write Command)，直接對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路434進(jìn)行測(cè)試樣式(Test Pattern)的測(cè)試。在另外一實(shí)施例中，掃描線驅(qū)動(dòng)電路434可直接連接到系統(tǒng)介面電路422。因此， 處理器410可以通過(guò)系統(tǒng)介面電路422直接將外部測(cè)試平臺(tái)(處理器410)所產(chǎn)生的第二控制信號(hào)傳送給掃描線驅(qū)動(dòng)電路434。上述處理器410若是通過(guò)系統(tǒng)介面電路422直接連接到時(shí)序控制電路428，而將控制指令傳送到掃描線驅(qū)動(dòng)電路434，則該第二控制信號(hào)包括由處理器410對(duì)時(shí)序控制電路4 使能啟動(dòng)(Activated)后進(jìn)行傳送。除此之外，在另一選擇實(shí)施例中，掃描線驅(qū)動(dòng)電路434還可直接耦合到外部測(cè)試平臺(tái)(處理器410)。處理器410還可直接經(jīng)由一數(shù)據(jù)直接傳輸路徑413，直接將對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路434進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試樣式(Test Pattern)傳送到掃描線驅(qū)動(dòng)電路434。當(dāng)顯示驅(qū)動(dòng)電路400操作在測(cè)試操作模式時(shí)，掃描線驅(qū)動(dòng)電路434是受控于外部處理器410所產(chǎn)生的控制信號(hào)，而非受控于時(shí)序控制電路428。在測(cè)試操作模式中，處理器 410將直接傳送測(cè)試樣式(Test I^attern)給掃描線驅(qū)動(dòng)電路434，以進(jìn)行測(cè)試。在一實(shí)施例中，對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路434所進(jìn)行的測(cè)試樣式(Test Pattern)，包括(1)循序地觸發(fā)掃描線驅(qū)動(dòng)電路434內(nèi)部多個(gè)輸出級(jí)電路，使其中一個(gè)輸出級(jí)電路輸出一第一電平(例如高電平電壓VGH)，而其余輸出級(jí)電路皆輸出一第二電平(例如低電平電壓VGL) ； (2)使全部輸出級(jí)電路同時(shí)輸出第一電平；以及(3)使全部輸出級(jí)電路同時(shí)輸出第二電平。請(qǐng)參照?qǐng)D5，為本發(fā)明另一實(shí)施例所提出顯示驅(qū)動(dòng)電路500組成的部分電路方框示意圖。在此顯示驅(qū)動(dòng)電路500中，外部測(cè)試平臺(tái)的處理器410可直接連接到掃描線驅(qū)動(dòng)電路434，或是通過(guò)系統(tǒng)介面電路422連接到掃描線驅(qū)動(dòng)電路434，或是通過(guò)系統(tǒng)介面電路422 與時(shí)序控制電路4 連接到掃描線驅(qū)動(dòng)電路434。如圖5所示，處理器410與時(shí)序控制電路4 分別連接到掃描線驅(qū)動(dòng)電路434。在此掃描線驅(qū)動(dòng)電路434中包括一選擇電路532、 邏輯單元(Logic unit) 534、以及多個(gè)輸出級(jí)電路(Output Stage Circuit) 536^536^...、 536N_i。這些輸出級(jí)電路53^- 536^的輸出端作為掃描線驅(qū)動(dòng)電路434的輸出端⑶1、 GD2、GD3、· · . ,GDN0選擇電路532具有第一輸入端、第二輸入端與輸出端。選擇電路532的第一輸入端接收時(shí)序控制電路4 所產(chǎn)生的第一控制信號(hào)。選擇電路532的第二輸入端接收外部測(cè)試平臺(tái)的處理器410所產(chǎn)生的第二控制信號(hào)。于正常操作模式下，選擇電路532的輸出端輸出時(shí)序控制電路4 所產(chǎn)生的第一控制信號(hào)給邏輯單元534。于測(cè)試操作模式下，選擇電路 532的輸出端輸出處理器410所產(chǎn)生的第二控制信號(hào)給邏輯單元534。選擇電路532用以切換選擇由處理器410或是時(shí)序控制電路4 取得閘極控制信號(hào)(Gate Control Signals)。邏輯單元534耦接于選擇電路532的輸出端以及該些輸出級(jí)電路53 536^之間。邏輯單元534依據(jù)選擇電路532的輸出而選擇性地觸發(fā)這些輸出級(jí)電路53 536吣。 經(jīng)過(guò)邏輯單元534的判斷后，經(jīng)由輸出級(jí)電路(Output Stage Circuit) 5360 536^輸出對(duì)應(yīng)的測(cè)試樣式以進(jìn)行測(cè)試與量測(cè)。請(qǐng)參照?qǐng)D6，為說(shuō)明運(yùn)用本發(fā)明實(shí)施例所進(jìn)行的掃描線驅(qū)動(dòng)電路測(cè)試時(shí)序示意圖。 在此實(shí)施例中，數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432接收由時(shí)序控制電路4 依序控制輸出的顯示數(shù)據(jù)；而掃描線驅(qū)動(dòng)電路434則接收由處理器410直接傳來(lái)的測(cè)試樣式(控制信號(hào))，以便迅速地完成測(cè)試的項(xiàng)目。 請(qǐng)參照?qǐng)D6，對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路434所進(jìn)行的測(cè)試樣式(Test Pattern)，例如包括 (1)循序地觸發(fā)掃描線驅(qū)動(dòng)電路434內(nèi)部多個(gè)輸出級(jí)電路53 536N_i，也就是使輸出級(jí)電路53 536N_i —個(gè)一個(gè)地循序輸出高電平電壓VGH到掃描線驅(qū)動(dòng)電路434的輸出端 GDl GDN，而其他的輸出級(jí)電路則皆輸出低電平電壓VGL，以進(jìn)行掃描線驅(qū)動(dòng)電路434的測(cè)試，如圖6中虛線框610所示。(2)使該些輸出級(jí)電路53 536N_i同時(shí)輸出第一電平電壓(例如高電平電壓VGH)至掃描線驅(qū)動(dòng)電路434的輸出端OTl ⑶N，如圖6中虛線框 620所示。(3)使該些輸出級(jí)電路53^- 536^同時(shí)輸出第二電平電壓(例如低電平電壓 VGL)至掃描線驅(qū)動(dòng)電路434的輸出端OTl ⑶N，如圖6中虛線框630所示。于測(cè)試操作模式中，傳統(tǒng)顯示驅(qū)動(dòng)電路120是由時(shí)序控制電路1 產(chǎn)生測(cè)試控制信號(hào)給掃描線驅(qū)動(dòng)電路134。時(shí)序控制電路1 為了配合對(duì)數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432的操作，必須將每一畫(huà)面的固定時(shí)間切割成多個(gè)分割時(shí)間區(qū)間T，而依序?qū)γ恳粋€(gè)掃描線驅(qū)動(dòng)電路在對(duì)應(yīng)的分割時(shí)間區(qū)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。上述依序進(jìn)行測(cè)試的傳統(tǒng)操作，將造成時(shí)間上的延遲，無(wú)法有效改善測(cè)試的效率。為了增加對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行測(cè)試的效率，本實(shí)施例所提出的架構(gòu)，測(cè)試掃描線驅(qū)動(dòng)電路434所需的控制信號(hào)將由外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生與提供。因此在測(cè)試掃描線驅(qū)動(dòng)電路434時(shí)，不需要配合或等待時(shí)序控制電路4 對(duì)數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432的操作，便可以更快速、更有效率地測(cè)試掃描線驅(qū)動(dòng)電路434。在一實(shí)施例中，處理器410可經(jīng)由系統(tǒng)界面電路422對(duì)時(shí)序控制電路4 寫(xiě)入指令(Write Command)，直接對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行測(cè)試樣式(Test Pattern)的測(cè)試。在另外一實(shí)施例中，處理器410可經(jīng)由系統(tǒng)界面電路422，直接將測(cè)試樣式傳送到掃描線驅(qū)動(dòng)電路434，以對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路434進(jìn)行測(cè)試，而不管由時(shí)序控制電路4 原先預(yù)定的分割時(shí)間區(qū)間內(nèi)的測(cè)試操作順序，也不管數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路432的操作時(shí)序，如圖6所示。因此，上述諸實(shí)施例可降低顯示驅(qū)動(dòng)電路400的測(cè)試時(shí)間。雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤(rùn)飾，而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種顯示驅(qū)動(dòng)電路，用以驅(qū)動(dòng)一顯示面板，其中該顯示驅(qū)動(dòng)電路包括一時(shí)序控制電路；一圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，儲(chǔ)存顯示數(shù)據(jù)；一數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路，耦接至該時(shí)序控制電路，接收該顯示數(shù)據(jù)，并輸出對(duì)應(yīng)該顯示數(shù)據(jù)的一灰階電壓信號(hào)；以及一掃描線驅(qū)動(dòng)電路，耦接至該時(shí)序控制電路，于一正常操作模式下受控于該時(shí)序控制電路所產(chǎn)生的一第一控制信號(hào)，以及于一測(cè)試操作模式下受控于一外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生的一第二控制信號(hào)，其中該第二控制信號(hào)用以作為該顯示驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試樣式。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示驅(qū)動(dòng)電路，其中該掃描線驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)該測(cè)試樣式進(jìn)行測(cè)試，包括循序地觸發(fā)該掃描線驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)部多個(gè)輸出級(jí)電路；使該些輸出級(jí)電路同時(shí)輸出一第一電平電壓；以及使該些輸出級(jí)電路同時(shí)輸出一第二電平電壓，其中該第一電平高于該第二電平。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示驅(qū)動(dòng)電路，其中還包括一灰階電壓產(chǎn)生電路，用以產(chǎn)生一灰階電壓，并提供給該數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路，以產(chǎn)生該灰階電壓信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示驅(qū)動(dòng)電路，其中該第二控制信號(hào)是來(lái)自該外部測(cè)試平臺(tái)的一處理器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示驅(qū)動(dòng)電路，其中該處理器為一顯示裝置、一手持式電子裝置或一測(cè)試裝置的處理單元。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示驅(qū)動(dòng)電路，其中該掃描線驅(qū)動(dòng)電路包括一選擇電路，具有一第一輸入端、一第二輸入端與一輸出端，該選擇電路的第一輸入端接收該時(shí)序控制電路所產(chǎn)生的該第一控制信號(hào)，該選擇電路的第二輸入端接收該外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生的該第二控制信號(hào)，其中于該正常操作模式下該選擇電路的輸出端輸出該第一控制信號(hào)，而于該測(cè)試操作模式下該選擇電路的輸出端輸出該第二控制信號(hào)；多個(gè)輸出級(jí)電路，該些輸出級(jí)電路的輸出端作為該掃描線驅(qū)動(dòng)電路的輸出端；以及一邏輯單元，耦接于該選擇電路的輸出端以及該些輸出級(jí)電路之間，該邏輯單元依據(jù)該選擇電路的輸出而選擇性地觸發(fā)該些輸出級(jí)電路。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示驅(qū)動(dòng)電路，其中該選擇電路的第二輸入端直接接收該外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生的該第二控制信號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示驅(qū)動(dòng)電路，其中該選擇電路的第二輸入端經(jīng)由該時(shí)序控制電路接收該外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生的該第二控制信號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示驅(qū)動(dòng)電路，其中于該正常操作模式下，該時(shí)序控制電路選擇將該第一控制信號(hào)傳送給該掃描線驅(qū)動(dòng)電路；以及于該測(cè)試操作模式下，該時(shí)序控制電路選擇將該第二控制信號(hào)傳送給該掃描線驅(qū)動(dòng)電路。
10.一種測(cè)試顯示驅(qū)動(dòng)電路的方法，其中該顯示驅(qū)動(dòng)電路用以驅(qū)動(dòng)一顯示面板，該顯示驅(qū)動(dòng)電路包括一時(shí)序控制電路、一圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、一數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路以及一掃描線驅(qū)動(dòng)電路，該測(cè)試顯示驅(qū)動(dòng)電路的方法包括于一測(cè)試操作模式下，由一控制信號(hào)控制該掃描線驅(qū)動(dòng)電路，其中該控制信號(hào)是由一外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生；以及根據(jù)該控制信號(hào)的一測(cè)試樣式對(duì)該掃描線驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行測(cè)試與量測(cè)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測(cè)試顯示驅(qū)動(dòng)電路的方法，其中該掃描線驅(qū)動(dòng)電路根據(jù)該測(cè)試樣式進(jìn)行循序地觸發(fā)該掃描線驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)部多個(gè)輸出級(jí)電路；使該些輸出級(jí)電路同時(shí)輸出一第一電平電壓；以及使該些輸出級(jí)電路同時(shí)輸出一第二電平電壓，其中該第一電平高于該第二電平。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測(cè)試顯示驅(qū)動(dòng)電路的方法，其中該控制信號(hào)是由該外部測(cè)試平臺(tái)經(jīng)由該時(shí)序控制電路傳送到該掃描線驅(qū)動(dòng)電路。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測(cè)試顯示驅(qū)動(dòng)電路的方法，其中該控制信號(hào)是由該外部測(cè)試平臺(tái)直接傳送到該掃描線驅(qū)動(dòng)電路。
全文摘要
本發(fā)明提供一種顯示驅(qū)動(dòng)電路及其測(cè)試方法。所述顯示驅(qū)動(dòng)電路包括一時(shí)序控制電路、一圖像數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、一數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路以及一掃描線驅(qū)動(dòng)電路。上述測(cè)試方法包括于一測(cè)試操作模式下，由一控制信號(hào)控制掃描線驅(qū)動(dòng)電路，其中控制信號(hào)是一外部測(cè)試平臺(tái)所產(chǎn)生。根據(jù)控制信號(hào)的一測(cè)試樣式對(duì)掃描線驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行測(cè)試與量測(cè)。因此在測(cè)試掃描線驅(qū)動(dòng)電路時(shí)，不需要配合或等待時(shí)序控制電路對(duì)數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)電路的操作，便可以更快速、更有效率地測(cè)試掃描線驅(qū)動(dòng)電路。
文檔編號(hào)G09G3/20GK102467864SQ201110140340
公開(kāi)日2012年5月23日 申請(qǐng)日期2011年5月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月11日
發(fā)明者楊行健 申請(qǐng)人:聯(lián)詠科技股份有限公司