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      一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法

      文檔序號:2623781閱讀:159來源:國知局
      專利名稱:一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種驅(qū)動電路,特別是涉及一種適用于等離子顯示面板驅(qū)動電路的可靠性的改進方法。
      背景技術(shù)
      等離子體顯示面板(PDP)是一種利用氣體放電產(chǎn)生紫外線,進而激發(fā)熒光粉發(fā)出可見光而顯像的一種顯示器,等離子顯示面板是實現(xiàn)放電發(fā)光的主要結(jié)構(gòu),其由前后兩個基板組成,在前基板上設(shè)置由橫向的ITO電極和BUS電極,以及之上的介質(zhì)層和介質(zhì)保護膜,后基板上設(shè)置有縱向的尋址電極和障壁結(jié)構(gòu),放電在前后基板及障壁所組成的空間內(nèi)進行。等離子顯示面板的工作,靠驅(qū)動電路的驅(qū)動完成;等離子面板的使用壽命主要取決于驅(qū)動電路的使用壽命,等離子顯示面板的驅(qū)動電路和驅(qū)動波形的合理配合可提高驅(qū)動電路的可靠性,是提升離子顯示面板壽命的主要手段之一。當(dāng)前等離子體顯示面板的畫面顯示效果,驅(qū)動波形的復(fù)位期起了決定性作用,復(fù)位電壓和時間配合恰到好處,可減少顯示面板的誤放電。而復(fù)位期的電壓變化非常大,rampup電路的高電壓達到+310V左右,ramp down電路的低電壓達到-190V左右,高低電壓歸零都是瞬時完成的,Λ V/At很大,長時間工作后,功率器件的溫升很高,易導(dǎo)致器件失效。目前所使用的驅(qū)動電路,對功率器件的保護不足,導(dǎo)致市場上的等離子體顯示面板的失效率偏高。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的目的是提供一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法,該方法通過改變驅(qū)動電路中掃描驅(qū)動芯片的寄存器設(shè)置,從而改變驅(qū)動波形復(fù)位電壓和時間的配合。解決了目前所使用驅(qū)動電路對功率器件保護不足的問題,降低等離子顯示面板的失效率。本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法,其特征在于
      步驟一,運行邏輯控制單元的ramp up電路;
      步驟二,將掃描驅(qū)動芯片第一寄存器接口 OCl、第二寄存器接口 0C2設(shè)置為全高; 步驟三,將驅(qū)動電壓在復(fù)位期高電壓和負(fù)電壓歸零的時段維持一段時間T ;
      步驟四,維持一段時間T后運行邏輯控制單元的ramp down電路。作為優(yōu)選,所述步驟三中是將驅(qū)動電壓在140V的時候維持一段時間T。作為優(yōu)選,所述驅(qū)動電壓在140V的時候所維持的時間200ns蘭T蘭3 μ S。作為優(yōu)選,所述維持時間T為400ns。作為優(yōu)選,所述維持時間T為500ns。作為優(yōu)選,所述維持時間T為600ns。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是
      I.本發(fā)明技術(shù)方案通過改變驅(qū)動電路中掃描驅(qū)動芯片的寄存器設(shè)置,從而改變驅(qū)動波形復(fù)位電壓和時間的配合,降低等離子顯示面板的失效率;
      2.本發(fā)明技術(shù)方案中維持時間在400ns、500ns和600ns時,等離子顯示面板的失效率最低。


      圖I為現(xiàn)有技術(shù)中等離子顯示驅(qū)動電路的驅(qū)動波形圖。圖2為本發(fā)明更改后的驅(qū)動波形圖。
      具體實施方式

      下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步的說明。如圖I所示,實施前,邏輯控制電路在波形上升期間運行ramp up電路,等離子顯示器的主復(fù)位期間,ramp up電路運行結(jié)束時的驅(qū)動電壓為310V左右,然后運行ramp down電路,ramp down電路的起點是O電平,ramp up電路和ramp down電路的切換在瞬間完成,AV=310V,此時Λ V/At很大,導(dǎo)致流過功率器件的電流大,器件的溫升高容易失效。如圖2所示,為本發(fā)明更改后的驅(qū)動波形圖。一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法為
      步驟一,在驅(qū)動波形的復(fù)位期,運行邏輯控制單元的ramp up電路;
      步驟二,將掃描驅(qū)動芯片第一寄存器接口 OCl、第二寄存器接口 0C2設(shè)置為全高; 步驟三,將驅(qū)動電壓在復(fù)位期高電壓和負(fù)電壓歸零的時段維持一段時間T ;
      步驟四,在驅(qū)動波形的復(fù)位期,維持一段時間T后運行邏輯控制單元的ramp down電路。所述步驟三中是將驅(qū)動電壓在140V的時候維持一段時間T。所述驅(qū)動電壓在140V的時候所維持的時間200ns ^ T ^ 3μ So所述維持時間T為400ns。所述維持時間T為500ns。所述維持時間T為600ns。本發(fā)明方案是在運行邏輯控制單元的ramp up電路后,通過設(shè)置掃描驅(qū)動芯片(如AN16538)的第一寄存器接口 0C1、第二寄存器接口 0C2為全高,然后再運行邏輯控制單元的ramp down電路,使得驅(qū)動波形中復(fù)位期驅(qū)動電壓在310V瞬間下降歸零時段,140V時維持一段時間T,有一個臺階電壓。這樣,AV1=310-140=170V,Λ V2 = 140V,這樣大大減少了AV/Δ t,流過功率器件的電流變小,溫升不高,器件失效率降低。所維持的一段時間T的范圍為200ns ^ T ^ 3 μ s,在本方案中取400ns、500ns或600ns,去這三個維持時間T值時,既可以保證維持時間足夠長,又可以避免因維持時間過長所造成的時間浪費,并且此三個時間維持T值可以使等離子顯示面板的失效率達到最低。
      權(quán)利要求
      1.一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法,其特征在于步驟一,運行邏輯控制單元的ramp up電路;步驟二,將掃描驅(qū)動芯片第一寄存器接口 OCl、第二寄存器接口 0C2設(shè)置為全高;步驟三,將驅(qū)動電壓在復(fù)位期高電壓和負(fù)電壓歸零的時段維持一段時間T ;步驟四,維持一段時間T后運行邏輯控制單元的ramp down電路。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的可靠性改進方法,其特征在于所述步驟三中是將驅(qū)動電壓在140V的時候維持一段時間T。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的可靠性改進方法,其特征在于所述驅(qū)動電壓在140V的時候所維持的時間200ns ^ T ^ 3u So
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的可靠性改進方法,其特征在于所述維持時間T為400ns。
      5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的可靠性改進方法,其特征在于所述維持時間T為500ns。
      6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的可靠性改進方法,其特征在于所述維持時間T為600ns。
      全文摘要
      本發(fā)明提供了一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法,涉及驅(qū)動電路領(lǐng)域,該方法通過改變驅(qū)動電路中掃描驅(qū)動芯片的寄存器設(shè)置,從而改變驅(qū)動波形復(fù)位期復(fù)位電壓和時間的配合。解決了目前所使用驅(qū)動電路對功率器件保護不足的問題,降低了等離子顯示面板的失效率。
      文檔編號G09G3/28GK102760399SQ201210227910
      公開日2012年10月31日 申請日期2012年7月4日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月4日
      發(fā)明者周業(yè)密 申請人:四川虹歐顯示器件有限公司
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