專利名稱：液晶顯示模塊測試方法、裝置、系統(tǒng)及測試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種液晶顯示模塊測試方法、裝置、系統(tǒng)及測試設(shè)備。
背景技術(shù)：
液晶顯示模塊(LCM, Liquid Crystal Display Module)是一種將液晶顯示器件、連接件、集成電路以及線路板和背光源裝配在一起的組件。液晶顯示器件通過控制液晶的旋轉(zhuǎn)或者偏轉(zhuǎn)角度來顯示圖像，背光源向液晶顯示器件(即，液晶顯示面板)提供光源，以供液晶顯示器件顯示畫面。為了確保液晶顯示模塊質(zhì)量，在對其進(jìn)行開發(fā)的過程中，必須要測試液晶顯示模塊的顯示質(zhì)量、可靠性以及光學(xué)性能。由于目前的液晶顯示模塊主要有微控制單元(MCU，Micro Control Unit)接口、串行外圍設(shè)備(SPI, Serial Peripheral Interface)接口、中央處理單兀(CPU, CentralProcessing Unit)接口，紅綠藍(lán)(Red Green Blue)接口、低壓差分信號(LVDS, Low-VoltageDifferential Signaling)接 口、最小化傳輸差分信號(TMDS)接 口、Min1-LVDS 接 口，低擺幅差分信號(RSDS, Reduced Swing Differential Signal)等，以及 DP (Display Port)接口，移動產(chǎn)業(yè)處理器(MIPI, Mobile Industry Processor Interface)接口等，而同一測試設(shè)備通常只支持很少的一些接口方式，特別是現(xiàn)在原有的大尺寸液晶顯示器產(chǎn)線轉(zhuǎn)型做小尺寸液晶顯示器，由于現(xiàn)有測試設(shè)備上不支持小尺寸液晶顯示器需要的初始化接口，導(dǎo)致測試設(shè)備的兼容性較差；同時由于一臺測試設(shè)備能夠連接的液晶顯示模塊數(shù)量有限，導(dǎo)致測試效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供一種液晶顯示模塊測試方法、裝置、系統(tǒng)及測試設(shè)備，用以提高液晶顯示模塊測試的測試效率和測試設(shè)備的兼容性。本發(fā)明實施例提供一種液晶顯示模塊測試系統(tǒng)，包括上位機、液晶測試控制裝置、驅(qū)動電路以及液晶測試模塊，其中:所述上位機至少兩個液晶測試控制裝置連接；每一液晶測試控制裝置，通過驅(qū)動電路與至少兩個液晶顯示模塊連接，所述液晶測試控制裝置與所述驅(qū)動電路之間通過液晶驅(qū)動接口連接；所述上位機，用于向所述液晶測試控制裝置發(fā)送液晶驅(qū)動接口初始化指令；所述液晶測試控制裝置，用于在接收到所述液晶驅(qū)動接口初始化指令后，對所述液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化；以及從所述上位機下載測試圖像，通過所述驅(qū)動電路傳輸給每一液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。本發(fā)明實施例提供一種液晶顯示模塊測試方法，包括:液晶測試控制裝置接收上位機發(fā)送的液晶驅(qū)動接口初始化指令；所述液晶測試控制裝置根據(jù)所述液晶驅(qū)動接口初始化指令對液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化；所述液晶測試控制裝置讀取預(yù)先存儲的測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示，其中，所述測試圖像為所述液晶測試控制裝置從所述上位機下載并存儲的。本發(fā)明實施例提供一種液晶顯示模塊測試裝置，包括:微處理器，用于預(yù)先從上位機下載并存儲測試圖像；并接收上位機發(fā)送的液晶驅(qū)動接口初始化指令；液晶顯示控制單元，用于根據(jù)所述液晶驅(qū)動接口初始化指令對液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化；并從所述微處理器中讀取所述測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。本發(fā)明實施例提供一種測試設(shè)備，包括上述液晶顯示模塊測試裝置。本發(fā)明實施例提供的液晶顯示模塊測試方法、裝置、系統(tǒng)及測試設(shè)備，上位機與至少兩個液晶測試控制裝置連接，每一液晶測試控制裝置，通過驅(qū)動電路與至少兩個液晶顯示模塊連接，液晶測試控制裝置與驅(qū)動電路之間通過液晶驅(qū)動接口連接，這樣，在對液晶顯示模塊進(jìn)行測試時，由于上位機能夠同時控制多個液晶測試控制裝置，每一液晶測試控制裝置可以同時對多個液晶顯示模塊進(jìn)行測試，從而能夠提高測試效率；同時，由于液晶測試控制裝置與驅(qū)動電路之間通過液晶驅(qū)動接口連接，在實際測試時，可以根據(jù)需要設(shè)計不同的液晶驅(qū)動接口，使得液晶測試控制裝置可以對不同接口的液晶顯示模塊進(jìn)行測試，從而提高了兼容性。本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點可通過在所寫的說明書、權(quán)利要求書、以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)和獲得。


此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本發(fā)明的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:圖1為本發(fā)明實施例中，液晶顯示模塊測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明實施例中，F(xiàn)PGA與驅(qū)動電路以及電源之間的連接結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實施例中，F(xiàn)PGA結(jié)構(gòu)設(shè)計示意圖；圖4為本發(fā)明實施例中，液晶顯示模塊測試方法的實施流程示意圖；圖5為本發(fā)明實施例圖中，液晶測試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式為了提高液晶顯示模塊測試的測試效率和提高測試設(shè)備的兼容性，本發(fā)明實施例提供了一種液晶顯示模塊測試方法、裝置、系統(tǒng)及測試設(shè)備。以下結(jié)合說明書附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進(jìn)行說明，應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的優(yōu)選實施例僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明，并且在不沖突的情況下，本發(fā)明中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。如圖1所示，為本發(fā)明實施例提供的液晶顯示模塊測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，包括上位機101、液晶測試控制裝置102、驅(qū)動電路103以及液晶測試模塊104。圖1所示的液晶顯示模塊測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如下:上位機101與至少兩個液晶測試控制裝置102連接；每一液晶測試控制裝置102通過驅(qū)動電路103與至少兩個液晶顯示模塊104連接，液晶測試控制裝置102與驅(qū)動電路103之間通過液晶驅(qū)動接口連接，其中:上位機101，用于向液晶測試控制裝置102發(fā)送液晶驅(qū)動接口初始化指令；液晶測試控制裝置102，用于在接收到液晶驅(qū)動接口初始化指令后，對液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化；以及從上位機101下載測試圖像，通過驅(qū)動電路103傳輸給每一液晶顯示模塊104進(jìn)行顯示。較佳地，上位機101通過USB接口或者485接口或者網(wǎng)口與每一液晶測試控制裝置102連接，具體實施時，可以根據(jù)所傳輸數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量大小和所要求的傳輸速率選擇不同的接口。具體實施時，液晶驅(qū)動接口包括MCU接口、SPI接口、RGB接口等單端驅(qū)動信號接口，也可以根據(jù)實際測試需要預(yù)留LVDS接口、MIPI接口和DP接口、RSDS接口、Min1-LVDS接口、CPU接口、TMDS接口等，本發(fā)明實施例對此不作限定。具體實施時，液晶測試控制裝置102，可以用于將從上位機101下載的測試圖像存儲于內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中；以及在完成對液晶驅(qū)動接口的初始化后，從內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中讀取測試圖像至緩存中，并從緩存中讀取測試圖像，通過驅(qū)動電路103傳輸給每一液晶顯示模塊104進(jìn)行顯示。為了滿足液晶顯示模塊測試需求，較佳地，本發(fā)明實施例中，液晶測試控制裝置部分功能可以由FPGA(Field — Programmable Gate Array,即現(xiàn)場可編程門陣列)技術(shù)實現(xiàn)。在FPGA內(nèi)部實現(xiàn)數(shù)據(jù)通信、存儲和控制邏輯的全部功能，其集成度高，擴展性好，如圖2所示，為FPGA與驅(qū)動電路以及電源之間的連接結(jié)構(gòu)示意圖，在FPFA上集成內(nèi)部存儲器FLASH，DDR (雙倍速率)存儲器，與上位機的接口(例如485接口、USB接口或者網(wǎng)口等)以及閃存(CF, Compact Flash)接口等。具體實現(xiàn)時，可以將微處理器嵌入FPGA中，由FPGA實現(xiàn)微處理器的部分功能，這樣，可以由微處理器完成接口通信、數(shù)據(jù)讀寫等功能控制，由FPGA來實現(xiàn)液晶驅(qū)動接口控制邏輯?；诖耍景l(fā)明實施例中，一種可能的FPGA結(jié)構(gòu)設(shè)計如圖3所示，其由微處理器301和液晶顯示控制單元302組成。具體實施時，微處理器301包括存儲器單元3011、主控單元3012和輸入輸出單元3013，其中:存儲器單元3011，主要負(fù)責(zé)對圖像信息的存儲以及和對液晶顯示控制單元302指令的存儲，包括FLASH控制器，用于對FLASH存儲器進(jìn)行控制，CF控制器，用于對CF進(jìn)行控制，SPI FLASH控制器，用于對SPI FLASH進(jìn)行控制，雙端口控制器，用于對DDR以及內(nèi)部RAM進(jìn)行控制；主控單元3012，其為整個系統(tǒng)的控制和管理單元，完成對存儲器單元3011的控制管理，對輸入輸出單元3013的協(xié)議處理及控制、液晶單元控制管理以及和用戶的交互等功能，包括MicroBlaze數(shù)據(jù)RAM、指令RAM、定時/計數(shù)器和中斷模塊；輸入輸出單元3013，主要負(fù)責(zé)和用戶的交互以及對上位機下發(fā)指令的傳達(dá)，包括GPIO (通用輸入輸出)接口，485接口、SPI接口等，其中，GPIO接口與用戶交互模塊連接，485接口邏輯與PC連接，SPI接口用于實現(xiàn)SPI接口功能。
液晶顯示控制單元302包括顯存控制器3021，液晶驅(qū)動接口邏輯控制器3022，以及液晶驅(qū)動接口 3023三部分，其中，顯存控制器3021分別與存儲器單元3011的雙端口控制器和液晶驅(qū)動接口邏輯控制器3022連接，用于在上位機下發(fā)的液晶驅(qū)動接口初始化指令之后，從存儲器單元3011讀取其存儲的圖像數(shù)據(jù)，并根據(jù)液晶驅(qū)動接口類型將讀取的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為該液晶驅(qū)動接口類型對應(yīng)格式的圖像數(shù)據(jù)，液晶驅(qū)動接口邏輯控制器3022分別與主控單元3012的中斷模塊和液晶驅(qū)動接口 3023連接，液晶驅(qū)動接口 3023向外與驅(qū)動電路103連接。較佳地，驅(qū)動電路103能夠驅(qū)動10塊以上的液晶顯示模塊，并且滿足最高105MHZ的數(shù)據(jù)傳輸速率要求，對于單端信號，驅(qū)動電路設(shè)計采用菊花鏈拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，用分組多級驅(qū)動的方式減輕單個驅(qū)動電路的負(fù)載壓力，同時，適當(dāng)設(shè)計匹配阻抗，保障信號完整性?；谕话l(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實施例中還提供了一種液晶顯示模塊測試方法、裝置及測試設(shè)備，由于上述方法、裝置及設(shè)備解決問題的原理與液晶顯示模塊測試系統(tǒng)相似，因此上述方法、裝置及設(shè)備的實施可以參見系統(tǒng)的實施，重復(fù)之處不再贅述。如圖4所示，為本發(fā)明實施例提供的液晶顯示模塊測試方法的實施流程示意圖，包括以下步驟:S401、液晶測試控制裝置接收上位機發(fā)送的液晶驅(qū)動接口初始化指令；S402、液晶測試控制裝置根據(jù)液晶驅(qū)動接口初始化指令對液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化；S403、液晶測試控制裝置讀取預(yù)先存儲的測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯
/Jn ο具體實施時，液晶測試控制裝置可以從上位機下載測試圖像并存儲在本地的內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中，這樣，在完成對液晶驅(qū)動接口初始化之后，可以從內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中讀取測試圖像，由于內(nèi)部存儲器或者外部存儲器處理速度的限制，具體實施時，可以預(yù)先將測試圖像從內(nèi)部存儲器或者外部存儲器讀入緩存(例如DDR)中，然后，再從DDR中讀取測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。其中，測試圖像可以為多個，這樣，液晶顯示模塊測試裝置可以預(yù)先將各測試圖像全部讀入緩存中，再依次才能夠緩存中讀取每一個測試圖像傳輸給每一液晶顯示模塊。如圖5所示，為本發(fā)明實施例提供的液晶測試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，包括:微處理器501，用于預(yù)先從上位機下載并存儲測試圖像；并接收上位機發(fā)送的液晶驅(qū)動接口初始化指令；液晶顯示控制單元502,用于根據(jù)所述液晶驅(qū)動接口初始化指令對液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化；并從微處理器501中讀取所述測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。具體實施時，微處理器501可以從上位機下載測試圖像并存儲在本地的內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中，這樣，液晶顯示控制單元502在完成對液晶驅(qū)動接口初始化之后，可以從內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中讀取測試圖像，由于內(nèi)部存儲器或者外部存儲器處理速度的限制，具體實施時，可以預(yù)先將測試圖像從內(nèi)部存儲器或者外部存儲器讀入緩存(例如DDR)中，然后，再從DDR中讀取測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。其中，測試圖像可以為多個，這樣，液晶顯示模塊測試裝置可以預(yù)先將各測試圖像全部讀入緩存中，再依次才能夠緩存中讀取每一個測試圖像傳輸給每一液晶顯示模塊。
需要說明的是，上述液晶顯示模塊測試裝置可以設(shè)置于測試設(shè)備中，應(yīng)當(dāng)理解，將液晶顯示模塊測試裝置設(shè)置于測試設(shè)備中只是本發(fā)明一種較佳的實施方式，具體實施時，還可以將液晶顯示模塊測試裝置設(shè)置在其它設(shè)備，例如新增設(shè)備中。本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明的實施例可提供為方法、系統(tǒng)、或計算機程序產(chǎn)品。因此，本發(fā)明可采用完全硬件實施例、完全軟件實施例、或結(jié)合軟件和硬件方面的實施例的形式。而且，本發(fā)明可采用在一個或多個其中包含有計算機可用程序代碼的計算機可用存儲介質(zhì)(包括但不限于磁盤存儲器、CD-ROM、光學(xué)存儲器等)上實施的計算機程序產(chǎn)品的形式。本發(fā)明是參照根據(jù)本發(fā)明實施例的方法、設(shè)備(系統(tǒng))、和計算機程序產(chǎn)品的流程圖和/或方框圖來描述的。應(yīng)理解可由計算機程序指令實現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一流程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結(jié)合?？商峁┻@些計算機程序指令到通用計算機、專用計算機、嵌入式處理機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器以產(chǎn)生一個機器，使得通過計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的裝置。這些計算機程序指令也可存儲在能引導(dǎo)計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備以特定方式工作的計算機可讀存儲器中，使得存儲在該計算機可讀存儲器中的指令產(chǎn)生包括指令裝置的制造品，該指令裝置實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能。這些計算機程序指令也可裝載到計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備上，使得在計算機或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計算機實現(xiàn)的處理，從而在計算機或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行的指令提供用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的步驟。盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對這些實施例做出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實施例以及落入本發(fā)明范圍的所有變更和修改。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進(jìn)行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示模塊測試系統(tǒng)，其特征在于，包括上位機、液晶測試控制裝置、驅(qū)動電路以及液晶測試模塊，其中: 所述上位機與至少兩個液晶測試控制裝置連接；每一液晶測試控制裝置，通過驅(qū)動電路與至少兩個液晶顯示模塊連接，所述液晶測試控制裝置與所述驅(qū)動電路之間通過液晶驅(qū)動接口連接； 所述上位機，用于向所述液晶測試控制裝置發(fā)送液晶驅(qū)動接口初始化指令； 所述液晶測試控制裝置，用于在接收到所述液晶驅(qū)動接口初始化指令后，對液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化；以及從所述上位機下載測試圖像，通過所述驅(qū)動電路傳輸給每一液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于， 所述液晶測試控制裝置，具體用于將下載的測試圖像存儲于內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中；以及在完成對液晶驅(qū)動接口的初始化后，從內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中讀取所述測試圖像至緩存中，并從緩存中讀取所述測試圖像，通過所述驅(qū)動電路傳輸給每一液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。
3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于， 所述上位機通過USB接口或者485接口或者網(wǎng)口與所述液晶測試控制裝置連接。
4.如權(quán)利要 求1、2或3所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述液晶驅(qū)動接口包括微控制單元MCU接口、串行外圍設(shè)備SPI接口、紅綠藍(lán)RGB接口、低壓差分信號LVDS接口、移動產(chǎn)業(yè)處理器MIPI接口和顯示端口 DP接口、低擺幅差分信號RSDS接口、Min1-LVDS接口、中央處理單元CPU接口、最小化傳輸差分信號TMDS接口。
5.一種液晶顯示模塊測試方法，其特征在于，包括: 液晶測試控制裝置接收上位機發(fā)送的液晶驅(qū)動接口初始化指令； 所述液晶測試控制裝置根據(jù)所述液晶驅(qū)動接口初始化指令對液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化； 所述液晶測試控制裝置讀取預(yù)先存儲的測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示，其中，所述測試圖像為所述液晶測試控制裝置從所述上位機下載并存儲的。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述測試圖像存儲于內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中；以及 所述液晶測試控制裝置讀取預(yù)先存儲的測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示，具體包括: 所述液晶測試控制裝置從所述內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中讀取所述測試圖像至緩存中；并 從緩存中讀取所述測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。
7.如權(quán)利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述液晶驅(qū)動接口包括微控制單元MCU接口、串行外圍設(shè)備SPI接口、紅綠藍(lán)RGB接口、低壓差分信號LVDS接口、移動產(chǎn)業(yè)處理器MIPI接口和顯示端口 DP接口、低擺幅差分信號RSDS接口、Min1-LVDS接口、中央處理單元CPU接口、最小化傳輸差分信號TMDS接口。
8.一種液晶測試控制裝置，其特征在于，包括: 微處理器，用于預(yù)先從上位機下載并存儲測試圖像；并接收上位機發(fā)送的液晶驅(qū)動接口初始化指令； 液晶顯示控制單元，用于根據(jù)所述液晶驅(qū)動接口初始化指令對液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化；并從所述微處理器中讀取所述測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。
9.如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述測試圖像存儲于內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中；以及 所述液晶顯示控制單元，具體用于從所述內(nèi)部存儲器或者外部存儲器中讀取所述測試圖像至緩存中；并從緩存中讀取所述測試圖像傳輸給液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。
10.一種測試設(shè)備，其特征`在于，包括權(quán)利要求8或9所述的裝置。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示模塊測試方法、裝置、系統(tǒng)及測試設(shè)備，用以提高液晶顯示模塊測試的測試效率和測試設(shè)備的兼容性。其中，液晶顯示模塊測試系統(tǒng)，包括上位機、液晶測試控制裝置、驅(qū)動電路以及液晶測試模塊，其中上位機與至少兩個液晶測試控制裝置連接；每一液晶測試控制裝置，通過驅(qū)動電路與至少兩個液晶顯示模塊連接，所述液晶測試控制裝置與所述驅(qū)動電路之間通過液晶驅(qū)動接口連接；所述上位機，用于向所述液晶測試控制裝置發(fā)送液晶驅(qū)動接口初始化指令；所述液晶測試控制裝置，用于在接收到所述液晶驅(qū)動接口初始化指令后，對液晶驅(qū)動接口進(jìn)行初始化；以及從所述上位機下載測試圖像，通過所述驅(qū)動電路傳輸給每一液晶顯示模塊進(jìn)行顯示。
文檔編號G09G3/36GK103105684SQ20131002330
公開日2013年5月15日 申請日期2013年1月22日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月22日
發(fā)明者張 浩 申請人:北京京東方光電科技有限公司