專利名稱：一種pdp模組局部低放電消除方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及的是一種等離子模組的調(diào)試方法，尤其是一種PDP模組局部低放電消除方法。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有技術(shù)中，公知的技術(shù)是PDP模組驅(qū)動波形主要由復(fù)位期(reset)、尋址期(address)及維持期(sustain)組成。復(fù)位期通過斜坡波形對屏施加較高的電壓，使所有的放電單元產(chǎn)生放電，并使各單元在尋址期開始前，放電狀態(tài)盡可能趨于一致。尋址期Y電極施加掃描脈沖，并且對需要點亮的單元在A電極施加尋址脈沖信號，使需要點亮的單元產(chǎn)生放電，并積重新累壁電荷，以便于維持期正常放電。維持期X、Y電極交替施加維持脈沖信號，需點亮的單元持續(xù)放電發(fā)光。PDP屏由多個單獨的放電單元組成，每一個放電單元受屏材料、結(jié)構(gòu)及制造工藝等影響，放電特性可能不同，并且可能產(chǎn)生放電不良。為消除放電不良，一般措施是對復(fù)位期的波形或電壓進(jìn)行調(diào)整，但調(diào)整的范圍、效果都有一定限制，而且可能影響尋址放電特性。尋址期放電差異體現(xiàn)在，要選定的單元如果不能放電或放電較弱時，在維持區(qū)間就可能會出現(xiàn)放電失敗(低放電)；尋址放電時不應(yīng)該放電的單元出現(xiàn)放電，則會在sustain區(qū)間發(fā)生連續(xù)放電誤放電。目前的應(yīng)對方法是根據(jù)不同的子場，設(shè)置不同的尋址波形，消除子場間尋址放電差異，但對于因單元狀態(tài)差異導(dǎo)致的尋址放電狀態(tài)偏差并沒有很好的效果。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的，就是針對現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足，而提供一種PDP模組局部低放電消除方法的技術(shù)方案，該方案能夠通過調(diào)整每根掃描電極輸出掃描脈沖寬度的大小，調(diào)整對應(yīng)區(qū)域?qū)ぶ贩烹姷膹?qiáng)弱，進(jìn)一步調(diào)整尋址放電后壁電荷的量，使單元產(chǎn)生穩(wěn)定正常的維持放電。本方案是通過如下技術(shù)措施來實現(xiàn)的一種PDP模組局部低放電消除方法
a.針對任意區(qū)域的第一行尋址放電較弱的情況，增加該區(qū)域放電較弱單元第一行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度；
b.針對任意區(qū)域的尋址放電較弱的情況，增加該區(qū)域放電較弱單元對應(yīng)行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度；
c.針對任意區(qū)域的維持期誤放電的情況，減少該區(qū)域誤放電單元對應(yīng)行的Y電極輸出的掃描脈沖的寬度。作為本方案的優(yōu)選步驟a中，在不同的子場，增加的第一行Y電極輸出掃描脈沖的寬度可不相同；步驟b中，在不同的子場，增加該區(qū)域放電較弱單元對應(yīng)行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度可不相同；步驟c中，在不同的子場中，減少該區(qū)域誤放電單元對應(yīng)行的Y電極輸出的掃描脈沖的寬度可不相同。本方案的有益效果可根據(jù)對上述方案的敘述得知，由于在該方案中通過調(diào)整每根掃描電極輸出掃描脈沖寬度的大小，調(diào)整對應(yīng)區(qū)域?qū)ぶ贩烹姷膹?qiáng)弱，進(jìn)一步調(diào)整尋址放電后壁電荷的量能夠使單元產(chǎn)生穩(wěn)定正常的維持放電；該方法通過在一個子場內(nèi)對不同放電狀態(tài)區(qū)域?qū)?yīng)的行施加不同寬度的掃描脈沖，針對性改善低放電或誤放電不良，比以前使用的對每個子場設(shè)置不同掃描脈沖寬度的方法更有效的控制所有子場不同區(qū)域的放電狀態(tài)差異。由此可見，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有突出的實質(zhì)性特點和顯著地進(jìn)步，其實施的有益效果也是顯而易見的。


圖1為本發(fā)明等離子顯示器電極的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為驅(qū)動波形組成圖。圖3為Y電極輸出的掃描脈沖波形圖。
具體實施例方式為能清楚說明本方案的技術(shù)特點，下面通過一個具體實施方式
，并結(jié)合其附圖，對本方案進(jìn)行闡述。由于PDP尋址期按照掃描電極順序進(jìn)行放電，且相鄰行之間存在空隙，尋址放電時，當(dāng)前行產(chǎn)生的帶電粒子可移動到下一行，使下一行的尋址放電增強(qiáng)(priming效應(yīng))。但第一行并不存在有帶電粒子流入的情況，因此尋址放電較弱，壁電荷不足，導(dǎo)致維持期不能正常持續(xù)放電。這時，可將第一行掃描脈沖寬度設(shè)置為比其他行更寬，以產(chǎn)生足夠的壁電荷，保證維持放電正常。另外，因PDP屏結(jié)構(gòu)等偏差導(dǎo)致的其他部位的尋址放電較弱的情況，也可通過增加對應(yīng)行的掃描脈沖寬度方法進(jìn)行調(diào)整。當(dāng)屏的部分區(qū)域存在著火電壓較低的單元，尋址放電時，如果相鄰單元放電流入的帶電粒子較多，則可能造成不被選中的單元出現(xiàn)尋址放電，導(dǎo)致維持期出現(xiàn)誤放電。這時，可將對應(yīng)區(qū)域掃描脈沖設(shè)置為比其他行更窄，減少priming效應(yīng)阻止誤放電發(fā)生。該措施通過在一個子場內(nèi)對屏不同放電狀態(tài)區(qū)域?qū)?yīng)的行施加不同寬度的掃描脈沖，針對性改善低放電或誤放電不良，比以前使用的對每個子場設(shè)置不同掃描脈沖寬度的方法更有效的控制所有子場不同區(qū)域的放電狀態(tài)差異。本發(fā)明并不局限于前述的具體實施方式
。本發(fā)明擴(kuò)展到任何在本說明書中披露的新特征或任何新的組合，以及披露的任一新的方法或過程的步驟或任何新的組合。
權(quán)利要求
1.一種PDP模組局部低放電消除方法，其特征是: a.針對任意區(qū)域的第一行尋址放電較弱的情況，增加該區(qū)域放電較弱單元第一行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度； b.針對任意區(qū)域的尋址放電較弱的情況，增加該區(qū)域放電較弱單元對應(yīng)行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度； c.針對任意區(qū)域的 維持期誤放電的情況，減少該區(qū)域誤放電單元對應(yīng)行的Y電極輸出的掃描脈沖的寬度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PDP模組局部低放電消除方法，其特征是:所述步驟a中，在不同的子場，增加的第一行Y電極輸出掃描脈沖的寬度可不相同；所述步驟b中，在不同的子場，增加該區(qū)域放電較弱單元對應(yīng)行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度可不相同；所述步驟c中，在不同的子場中，減少該區(qū)域誤放電單元對應(yīng)行的Y電極輸出的掃描脈沖的寬度可不相同。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種PDP模組局部低放電消除方法的技術(shù)方案，該方案通過調(diào)整每根掃描電極輸出掃描脈沖寬度的大小，調(diào)整對應(yīng)區(qū)域?qū)ぶ贩烹姷膹?qiáng)弱，進(jìn)一步調(diào)整尋址放電后壁電荷的量，使單元產(chǎn)生穩(wěn)定正常的維持放電。
文檔編號G09G3/28GK103077676SQ201310036870
公開日2013年5月1日 申請日期2013年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月31日
發(fā)明者周超, 衛(wèi)偉, 鐘文建, 柳希武 申請人:四川虹歐顯示器件有限公司