專利名稱：一種顯示屏不良點(diǎn)采集裝置及顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及顯示屏檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種顯示屏不良點(diǎn)采集裝置及顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
由于當(dāng)前市場上小尺寸產(chǎn)品越來越多，而顯示屏的精度要求也越來越高，檢查使用原始的Blade (刀片)或者Film Tpye (膜式)已經(jīng)不能滿足檢查的需求。隨著Shorting Bar (顯示屏短接測(cè)試裝置)的出現(xiàn)，解決了顯示屏的點(diǎn)燈問題。如圖1所示，現(xiàn)將顯示屏01內(nèi)的柵極線和數(shù)據(jù)線進(jìn)行分組短接，形成多個(gè)短接點(diǎn)，顯示屏短接測(cè)試裝置中的探針給這些短接點(diǎn)提供信號(hào)，若顯示屏正常，則在顯示屏01上不會(huì)現(xiàn)亮點(diǎn)或亮線；若顯示屏不正常，則顯示屏01上會(huì)出現(xiàn)亮點(diǎn)或亮線。但是，現(xiàn)有的顯示屏短接測(cè)試裝置無法上傳缺陷點(diǎn)坐標(biāo)，從而導(dǎo)致顯示屏出現(xiàn)點(diǎn)不亮和線不良時(shí)，維修困難。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型提供了一種顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，可以將采集到的待測(cè)顯示屏上不良點(diǎn)的信息生成具體坐標(biāo)值。本實(shí)用新型還提供了一種顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，可以降低顯示屏的廢棄率。為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供以下技術(shù)方案:一種顯示屏不良點(diǎn)采集裝置,包括:支撐所述待測(cè)顯示屏的基臺(tái)；安裝于所述基臺(tái)、且與所述基臺(tái)的支撐面平行設(shè)置的導(dǎo)軌，所述導(dǎo)軌可在平行于所述基臺(tái)的支撐面的一個(gè)平面內(nèi)運(yùn)動(dòng)；可沿所述導(dǎo)軌長度方向移動(dòng)、采集所述待測(cè)顯示屏上不良點(diǎn)信息的激光對(duì)位模塊；與所述激光對(duì)位模塊信號(hào)連接、將接收到的所述不良點(diǎn)的信息生成具體坐標(biāo)值的坐標(biāo)處理模塊。優(yōu)選地，上述顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，還包括:與所述坐標(biāo)處理模塊信號(hào)連接、儲(chǔ)存所述待測(cè)顯示屏上的不良點(diǎn)的坐標(biāo)值的存儲(chǔ)模塊。優(yōu)選地，所述激光對(duì)位模塊為精密激光探測(cè)針。優(yōu)選地，上述顯示屏不良點(diǎn)采集裝置還包括:驅(qū)動(dòng)所述精密激光探測(cè)針和所述導(dǎo)軌移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置。優(yōu)選地，所述驅(qū)動(dòng)裝置為步進(jìn)電機(jī)。優(yōu)選地，所述基臺(tái)上設(shè)有與所述基臺(tái)的支撐面垂直、且沿背離所述基臺(tái)的支撐面方向延伸的支撐柱，所述導(dǎo)軌通過所述支撐柱安裝于所述基臺(tái)。優(yōu)選地，所述導(dǎo)軌可旋轉(zhuǎn)的安裝于所述支撐柱。[0019]優(yōu)選地，所述導(dǎo)軌包括:第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌，且所述第一導(dǎo)軌和所述第二導(dǎo)軌相互垂直，所述第一導(dǎo)軌固定于所述支撐柱，所述第二導(dǎo)軌與所述第一導(dǎo)軌滑動(dòng)連接，所述精密激光探測(cè)針可沿所述第二導(dǎo)軌的長度方向移動(dòng)。優(yōu)選地，所述導(dǎo)軌沿其長度方向上設(shè)有滑槽，所述精密激光探測(cè)針可沿所述滑槽滑動(dòng)；或所述導(dǎo)軌上設(shè)有滑塊、且所述滑塊可沿所述導(dǎo)軌的長度方向移動(dòng)，所述精密激光探測(cè)針固定于所述滑塊。本實(shí)用新型還提供了一種顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，包括:顯示屏短接測(cè)試裝置，還包括:上述顯示屏不良點(diǎn)采集裝置。本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，包括:支撐所述待測(cè)顯示屏的基臺(tái)；安裝于所述基臺(tái)、且與所述基臺(tái)的支撐面平行設(shè)置的導(dǎo)軌，所述導(dǎo)軌可在平行于所述基臺(tái)的支撐面的一個(gè)平面內(nèi)運(yùn)動(dòng)；可沿所述導(dǎo)軌長度方向移動(dòng)、采集所述待測(cè)顯示屏上不良點(diǎn)信息的激光對(duì)位模塊；與所述激光對(duì)位模塊信號(hào)連接、將接收到的所述不良點(diǎn)信息生成具體坐標(biāo)值的坐標(biāo)處理模塊。
·[0028]本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，在使用時(shí)，根據(jù)待測(cè)顯示屏的長和寬以及分辨率，預(yù)先將待測(cè)顯示屏的長、寬、以及分辨率輸入顯示屏不良點(diǎn)采集裝置中，顯示屏不良點(diǎn)采集裝置將根據(jù)接收到的上述信息，生成與實(shí)物待測(cè)顯示屏形狀相同的虛擬顯示屏，并以虛擬顯示屏相垂直的兩個(gè)邊分別為X軸和Y軸、垂直點(diǎn)(X軸Y軸的交點(diǎn))為原點(diǎn)(0,0)建立平面直角坐標(biāo)系，并根據(jù)待測(cè)顯示屏的分辨率將虛擬顯示屏的長、寬平均分成一個(gè)個(gè)小段，每一小段代表坐標(biāo)單元格距離(即每個(gè)像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)一個(gè)坐標(biāo)值)，也就是說可以在虛擬顯示屏上形成網(wǎng)格，這樣便形成一個(gè)與實(shí)物待測(cè)顯示屏形狀和大小相同的標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系區(qū)域。這樣便可以通過激光對(duì)位模塊采集待測(cè)顯示屏上不良點(diǎn)的信息，通過坐標(biāo)處理模塊便可生成該點(diǎn)的坐標(biāo)值。另外，由于激光對(duì)位模塊相對(duì)導(dǎo)軌可滑動(dòng)，導(dǎo)軌相對(duì)基臺(tái)可以移動(dòng)，激光對(duì)位模塊便可以采集到待測(cè)顯示屏上任意一點(diǎn)的信息。所以，本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，可以將采集到的待測(cè)顯示屏上不良點(diǎn)的信息生成具體坐標(biāo)值。一種顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，包括:顯示屏短接測(cè)試裝置，還包括:上述顯示屏不良點(diǎn)采集裝置。本實(shí)用新型提供的顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，可以將顯示屏短接測(cè)試裝置測(cè)試出的不良點(diǎn)，通過顯示屏不良點(diǎn)采集裝置生成與不良點(diǎn)對(duì)應(yīng)的具體坐標(biāo)值，并將此坐標(biāo)值上傳到修復(fù)系統(tǒng)，避免上述背景技術(shù)中提到的無法上傳缺陷點(diǎn)坐標(biāo)，從而導(dǎo)致顯示屏出現(xiàn)點(diǎn)不亮和線不良時(shí)，無法進(jìn)行維修的現(xiàn)象。所以，本實(shí)用新型提供的顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，降低了顯示屏的廢棄率。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)下顯示屏短接測(cè)試裝置測(cè)試原理示意圖；圖2為本實(shí)用新型提供的一種顯示屏不良點(diǎn)采集裝置結(jié)構(gòu)示意圖；[0034]圖3為本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置中的標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系示意圖；圖4為本實(shí)用新型提供的另一種顯示屏不良點(diǎn)采集裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型專利保護(hù)的范圍。實(shí)施例一本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，如圖2所示，包括:支撐待測(cè)顯示屏2的基臺(tái)I ;安裝于基臺(tái)1、且可沿導(dǎo)軌3長度方向移動(dòng)、采集待測(cè)顯示屏2上不良點(diǎn)信息的激光對(duì)位模塊4 ；與激光對(duì)位模塊4信號(hào)連接、將接收到的不良點(diǎn)信息成具體坐標(biāo)值的坐標(biāo)處理模塊5。本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，在使用時(shí)，如圖3所示，圖3為本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置中的標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系示意圖；此處以圖示(1366*768)的分辨率為例，但本實(shí)用新型不限于此分辨率的待測(cè)顯示屏。本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，根據(jù)待測(cè)顯示屏的長和寬以及分辨率，預(yù)先將待測(cè)顯示屏的長、寬、以及分辨率輸入顯示屏不良點(diǎn)采集裝置中，顯示屏不良點(diǎn)采集裝置將根據(jù)接收到 的上述信息，生成與實(shí)物待測(cè)顯示屏形狀相同的虛擬顯示屏，并以虛擬顯示屏相垂直的兩個(gè)邊分別為X軸和Y軸、垂直點(diǎn)(X軸Y軸的交點(diǎn))為原點(diǎn)(0，O)建立平面直角坐標(biāo)系，并根據(jù)待測(cè)顯示屏的分辨率將虛擬顯示屏的長寬平均分成一個(gè)個(gè)小段，每一小段代表坐標(biāo)單元格距離(即每個(gè)像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)一個(gè)坐標(biāo)值)。如圖3所示，將LI平均分成1366份，L2平均分層768份，也就是說可以在虛擬顯示屏上形成網(wǎng)格(如圖3所示)，這樣便形成一個(gè)與實(shí)物待測(cè)顯示屏2形狀和大小相同的標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系區(qū)域21 (圖2中的網(wǎng)格區(qū)域)。如圖2所示，將待測(cè)顯示屏2放到基臺(tái)I上，由于激光對(duì)位模塊4相對(duì)導(dǎo)軌3可滑動(dòng)，導(dǎo)軌3相對(duì)基臺(tái)2可以移動(dòng)，激光對(duì)位模塊4便可以采集到待測(cè)顯示屏2上任意一點(diǎn)的信息。用激光對(duì)位模塊4對(duì)準(zhǔn)實(shí)物待測(cè)顯示屏2上四角處的一點(diǎn)，將此點(diǎn)定位為激光對(duì)位模塊4的初始點(diǎn),將激光對(duì)位模塊4從初始點(diǎn)開始,沿該初始點(diǎn)所在對(duì)角線方向移動(dòng),直至到待測(cè)顯示屏2上該對(duì)角線方向上的終止點(diǎn)，通過這兩個(gè)點(diǎn)之間的距離以及顯示屏分辨率便可以實(shí)現(xiàn)激光對(duì)位模塊4在待測(cè)顯示屏2上移動(dòng)時(shí)與標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系21匹配(這種匹配可以通過移動(dòng)待測(cè)顯示屏進(jìn)行與標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系對(duì)位，也可以是標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系移動(dòng)去與待測(cè)顯示屏對(duì)位)。對(duì)位完成后，可以用激光對(duì)位模塊4從初始點(diǎn)位置移動(dòng)到不良點(diǎn)所在位置，采集不良點(diǎn)信息，通過坐標(biāo)處理模塊5便可生成該點(diǎn)的具體坐標(biāo)值。本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，可以將采集到的待測(cè)顯示屏上不良點(diǎn)的信息生成具體坐標(biāo)值。[0048]本實(shí)用新型提供的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置還可以通過其它方法進(jìn)行對(duì)位，例如:根據(jù)待測(cè)顯示屏的長和寬以及分辨率，預(yù)先將待測(cè)顯示屏的長、寬、以及分辨率輸入顯示屏不良點(diǎn)采集裝置中，顯示屏不良點(diǎn)采集裝置將根據(jù)接收到的上述信息，生成與實(shí)物待測(cè)顯示屏形狀相同的虛擬顯示屏，并以虛擬顯示屏相垂直的兩個(gè)邊分別為X軸和Y軸、垂直點(diǎn)(X軸Y軸的交點(diǎn))為原點(diǎn)(0，O)建立平面直角坐標(biāo)系，并根據(jù)待測(cè)顯示屏的分辨率將虛擬顯示屏的長寬平均分成一個(gè)個(gè)小段，每一小段代表坐標(biāo)單元格距離(即每個(gè)像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)一個(gè)坐標(biāo)值)。如圖3所示，將LI平均分成1366份，L2平均分層768份，也就是說可以在虛擬顯示屏上形成網(wǎng)格(如圖3所示)，這樣便形成一個(gè)與實(shí)物待測(cè)顯示屏形狀和大小相同的標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系區(qū)域21 (圖3中的網(wǎng)格區(qū)域)。如圖2所示，將待測(cè)顯示屏2放到基臺(tái)I上，由于激光對(duì)位模塊4相對(duì)導(dǎo)軌3可滑動(dòng)，導(dǎo)軌3相對(duì)基臺(tái)2可以移動(dòng)，激光對(duì)位模塊4便可以采集到待測(cè)顯示屏2上任意一點(diǎn)的信息。用激光對(duì)位模塊4對(duì)準(zhǔn)實(shí)物待測(cè)顯示屏2上四角處的一點(diǎn)，記錄此點(diǎn)的坐標(biāo)，再將激光對(duì)位模塊4沿著Y軸方向平移到某一點(diǎn)，再讀取這一點(diǎn)的坐標(biāo)，若這兩點(diǎn)所在的邊與Y軸平行，則這兩個(gè)點(diǎn)的X軸向的坐標(biāo)值應(yīng)該相同，通過這種方法也可以實(shí)現(xiàn)激光對(duì)位模塊4在待測(cè)顯示屏2上移動(dòng)時(shí)與標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系21匹配。同理，這種匹配可以通過移動(dòng)待測(cè)顯示屏進(jìn)行與標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系對(duì)位，也可以是標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系移動(dòng)去與待測(cè)顯示屏對(duì)位。
上述顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，還包括:與坐標(biāo)處理模塊信號(hào)連接、儲(chǔ)存待測(cè)顯示屏上的不良點(diǎn)的坐標(biāo)值的存儲(chǔ)模塊。由坐標(biāo)處理模塊生成的坐標(biāo)值，可以被暫時(shí)儲(chǔ)存在存儲(chǔ)模塊中，以方便后續(xù)對(duì)顯示屏進(jìn)行修復(fù)。優(yōu)選地，為了便于探測(cè)不良點(diǎn)，激光對(duì)位模塊為精密激光探測(cè)針。為了便于精密激光探測(cè)針移動(dòng)，上述顯示屏不良點(diǎn)采集裝置還包括:驅(qū)動(dòng)精密激光探測(cè)針和導(dǎo)軌3移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置(圖中未示出)。當(dāng)然，這里也可以采用手動(dòng)驅(qū)動(dòng)精密激光探測(cè)針和導(dǎo)軌移動(dòng)。進(jìn)一步地，驅(qū)動(dòng)裝置可以為步進(jìn)電機(jī)。當(dāng)然，驅(qū)動(dòng)裝置也可以其它可以驅(qū)動(dòng)物體移動(dòng)的裝置，這里就不再一一贅述。如圖2所示，為了支撐導(dǎo)軌3，基臺(tái)I上設(shè)有與基臺(tái)I的支撐面垂直、且沿背離基臺(tái)I的支撐面方向延伸的支撐柱6，導(dǎo)軌3通過支撐柱6安裝于基臺(tái)2。為了便于精密激光探測(cè)針可以移動(dòng)到待測(cè)顯示屏上的任意不良點(diǎn)處，導(dǎo)軌的3的結(jié)構(gòu)可以有多種:結(jié)構(gòu)一如圖2所示，導(dǎo)軌3可旋轉(zhuǎn)的安裝于支撐柱6，也就是說導(dǎo)軌3可以繞著支撐柱360。旋轉(zhuǎn)。結(jié)構(gòu)二本實(shí)用新型提供的另一種顯示屏不良點(diǎn)采集裝置結(jié)構(gòu)示意圖如圖4所示，導(dǎo)軌3包括:第一導(dǎo)軌31和第二導(dǎo)軌32,且第一導(dǎo)軌31和第二導(dǎo)軌32相互垂直,第一導(dǎo)軌31固定于支撐柱6，第二導(dǎo)軌32與第一導(dǎo)軌31滑動(dòng)連接，精密激光探測(cè)針可沿第二導(dǎo)軌32的長度方向移動(dòng)。即，第二導(dǎo)軌32可沿著如圖3所示的X軸方向移動(dòng)，精密激光探測(cè)針可沿著如圖3所示的Y軸方向移動(dòng)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)精密激光探測(cè)針可以移動(dòng)到待測(cè)顯示屏上任意不良點(diǎn)處。為了便于精密激光探測(cè)針的移動(dòng)，精密激光探測(cè)針可通過多種方式實(shí)現(xiàn)沿導(dǎo)軌長度方向移動(dòng):方式一如圖3所示，導(dǎo)軌31 (和導(dǎo)軌32)沿其長度方向上設(shè)有滑槽311，精密激光探測(cè)針可沿滑槽311滑動(dòng)。方式二導(dǎo)軌上設(shè)有滑塊、且滑塊可沿導(dǎo)軌的長度方向移動(dòng)，精密激光探測(cè)針固定于滑塊。實(shí)施例二本實(shí)施例提供了一種顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，包括:顯示屏短接測(cè)試裝置，還包括:上述顯示屏不良點(diǎn)采集裝置。本實(shí)用新型提供的顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，可以將顯示屏短接測(cè)試裝置測(cè)試出的不良點(diǎn)，通過顯示屏不良點(diǎn)采集裝置生成不良點(diǎn)對(duì)應(yīng)的具體坐標(biāo)值，并將此坐標(biāo)值上傳到修復(fù)系統(tǒng)，避免上述背景技術(shù)中提到的無法上傳缺陷點(diǎn)坐標(biāo)，從而導(dǎo)致顯示屏出現(xiàn)點(diǎn)不亮和線不良時(shí)，無法進(jìn)行維修的現(xiàn)象。所以，本實(shí)用新型提供的顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，降低了顯示屏的廢棄率。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍。 這樣，倘若本實(shí)用新型的這些修改和變型屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本實(shí)用新型也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，其特征在于，包括: 支撐待測(cè)顯示屏的基臺(tái)； 安裝于所述基臺(tái)、且與所述基臺(tái)的支撐面平行設(shè)置的導(dǎo)軌，所述導(dǎo)軌可在平行于所述基臺(tái)的支撐面的一個(gè)平面內(nèi)運(yùn)動(dòng)； 可沿所述導(dǎo)軌長度方向移動(dòng)、采集所述待測(cè)顯示屏上不良點(diǎn)信息的激光對(duì)位模塊； 與所述激光對(duì)位模塊信號(hào)連接、將接收到的所述不良點(diǎn)信息生成具體坐標(biāo)值的坐標(biāo)處理模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，其特征在于，還包括:與所述坐標(biāo)處理模塊信號(hào)連接、儲(chǔ)存所述待測(cè)顯示屏上的不良點(diǎn)的坐標(biāo)值的存儲(chǔ)模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，其特征在于，所述激光對(duì)位模塊為精密激光探測(cè)針。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，其特征在于，還包括:驅(qū)動(dòng)所述精密激光探測(cè)針和所述導(dǎo)軌移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)裝置為步進(jìn)電機(jī)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，其特征在于，所述基臺(tái)上設(shè)有與所述基臺(tái)的支撐面垂直、且沿背離所述基臺(tái)的支撐面方向延伸的支撐柱，所述導(dǎo)軌通過所述支撐柱安裝于所述基臺(tái)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，其特征在于，所述導(dǎo)軌可旋轉(zhuǎn)的安裝于所述支撐柱。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，其特征在于，所述導(dǎo)軌包括:第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌，且所述第一導(dǎo)軌和所述第二導(dǎo)軌相互垂直，所述第一導(dǎo)軌固定于所述支撐柱，所述第二導(dǎo)軌與所述第一導(dǎo)軌滑動(dòng)連接，所述精密激光探測(cè)針可沿所述第二導(dǎo)軌的長度方向移動(dòng)。
9.根據(jù)權(quán)利2 8任一項(xiàng)所述的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，其特征在于，所述導(dǎo)軌沿其長度方向上設(shè)有滑槽，所述精密激光探測(cè)針可沿所述滑槽滑動(dòng)； 或，所述導(dǎo)軌上設(shè)有滑塊、且所述滑塊可沿所述導(dǎo)軌的長度方向移動(dòng)，所述精密激光探測(cè)針固定于所述滑塊。
10.一種顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，包括:顯示屏短接測(cè)試裝置，其特征在于，還包括:如權(quán)利要求I 9任一項(xiàng)所述的顯示屏不良點(diǎn)采集裝置。
專利摘要本實(shí)用新型涉及顯示屏檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，包括支撐待測(cè)顯示屏的基臺(tái)；安裝于基臺(tái)、且與基臺(tái)的支撐面平行設(shè)置的導(dǎo)軌，導(dǎo)軌可在平行于基臺(tái)的支撐面的一個(gè)平面內(nèi)運(yùn)動(dòng)；可沿導(dǎo)軌長度方向移動(dòng)、采集待測(cè)顯示屏上不良點(diǎn)信息的激光對(duì)位模塊；與激光對(duì)位模塊信號(hào)連接、將接收到的不良點(diǎn)信息生成具體坐標(biāo)值的坐標(biāo)處理模塊。上述顯示屏不良點(diǎn)采集裝置，可以將采集到的待測(cè)顯示屏上不良點(diǎn)的信息生成具體坐標(biāo)值。本實(shí)用新型還提供了一種顯示屏短接測(cè)試系統(tǒng)，可以降低顯示屏的廢棄率。
文檔編號(hào)G09G3/00GK203134320SQ20132014538
公開日2013年8月14日 申請(qǐng)日期2013年3月27日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月27日
發(fā)明者李明, 金用燮, 劉曉濤, 穆慧慧 申請(qǐng)人:合肥京東方光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司