實現(xiàn)command模式的mipi模組測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種實現(xiàn)COMMAND模式的MIPI模組測試系統(tǒng)，它包括PG圖像發(fā)生器、MCU和FPGA，PG圖像發(fā)生器分別與MCU和FPGA連接，MCU與FPGA通過EBI接口連接，F(xiàn)PGA通過橋接芯片與MIPI模組連接。本實用新型能夠?qū)崿F(xiàn)COMMAND模式MIPI模組的點屏測試；本系統(tǒng)通過FPGA生成圖像數(shù)據(jù)，MCU通過FPGA轉(zhuǎn)發(fā)MIPI模組的寄存器配置參數(shù)，可以實現(xiàn)寄存器配置參數(shù)和圖像數(shù)據(jù)在同一個通道進行發(fā)送，提高傳輸效率。
【專利說明】實現(xiàn)CO圖AND模式的MIPI模組測試系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于液晶模組的顯示領(lǐng)域和測試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地指一種實現(xiàn)COMMAND模式的MIPI模組測試系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]具有MIPI接口的顯示屏廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代的智能手機、平板等電子設(shè)備。在MIPI顯示模組大規(guī)模的生產(chǎn)過程中，MIPI模組出廠前的配置測試是很重要的一個環(huán)節(jié)，需要使用到讀取和設(shè)置MIPI模組內(nèi)部寄存器的技術(shù)，來完成點屏測試、Vcom調(diào)節(jié)、MTP燒錄等生產(chǎn)流程。橋接芯片在VIDEO模式或COMMAND模式下通過內(nèi)部的轉(zhuǎn)換機制將輸入的信號發(fā)送至VIDEO模式或COMMAND模式的MIPI模組顯示。VIDEO模式是指主機傳輸?shù)揭壕＝M采用實時像素流，而且是以高速傳輸信號的模式，而COMMAND模式是指采用發(fā)送命令和數(shù)據(jù)到具有顯示緩存的控制器的傳輸信號的模式。
[0003]現(xiàn)階段MIPI模組測試系統(tǒng)僅適用于VIDEO模式的MIPI模組，對橋接芯片進行配置的方案是采用SPI通道和RGB數(shù)據(jù)通道兩個獨立通道分別傳輸參數(shù)配置數(shù)據(jù)和圖像數(shù)據(jù)，然而，橋接芯片工作于COMMAND模式時，其用于傳送配置參數(shù)的SPI接口處于關(guān)閉狀態(tài)，因此目前的MIPI模組測試系統(tǒng)不能進行COMMAND模式MIPI模組的點屏測試。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本實用新型提出了能夠完成COMMAND模式MIPI模組的點屏測試，并能夠進行Vcom調(diào)節(jié)、模組ID設(shè)置、MTP信息燒錄等功能的實現(xiàn)COMMAND模式的MIPI模組測試系統(tǒng)。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型所設(shè)計的實現(xiàn)COMMAND模式的MIPI模組測試方法的測試系統(tǒng)，其特殊之處在于，包括PG圖像發(fā)生器、MCU和FPGA，所述PG圖像發(fā)生器分別與MCU和FPGA連接，所述MCU與FPGA通過EBI接口連接，所述FPGA通過橋接芯片與MIPI模組連接，所述PG圖像發(fā)生器用于設(shè)置寄存器配置參數(shù)和圖像數(shù)據(jù)；所述MCU用于將從PG圖像發(fā)生器接收的寄存器配置參數(shù)轉(zhuǎn)化為DCS指令發(fā)送至FPGA ;所述FPGA用于將從PG圖像發(fā)生器接收的圖像數(shù)據(jù)與DCS指令打包后發(fā)送至橋接芯片。
[0006]進一步地，所述FPGA包括EBI模塊、數(shù)據(jù)處理模塊和時序接口電路，所述EBI模塊將從MCU接收的DCS指令發(fā)送至?xí)r序接口電路，所述數(shù)據(jù)處理模塊將從PG圖像發(fā)生器接收的圖像數(shù)據(jù)發(fā)送至?xí)r序接口電路，所述時序接口電路將DCS指令與圖像數(shù)據(jù)打包后發(fā)送至橋接芯片。
[0007]本實用新型的工作原理為:PG圖像發(fā)生器發(fā)出的圖像信號經(jīng)過FPGA解碼生成橋接芯片能夠讀取的圖像數(shù)據(jù)，MCU從上層軟件獲取MIPI模組的內(nèi)部寄存器配置信息，并將配置信息轉(zhuǎn)化為DCS指令后，F(xiàn)PGA將DCS指令與圖像數(shù)據(jù)打包后以轉(zhuǎn)發(fā)的方式傳送至橋接芯片，最終由橋接芯片的MIPI DO通道完成配置參數(shù)的傳輸。
[0008]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果包括:
[0009](I)能夠?qū)崿F(xiàn)COMMAND模式MIPI模組的點屏測試；
[0010](2)本系統(tǒng)通過FPGA生成圖像數(shù)據(jù)，MCU通過FPGA轉(zhuǎn)發(fā)MIPI模組的寄存器配置參數(shù)，可以實現(xiàn)寄存器配置參數(shù)和圖像數(shù)據(jù)在同一個通道進行發(fā)送，提高傳輸效率；
[0011](3)能夠?qū)υO(shè)置的參數(shù)進行記錄，可以很方便地查詢到每個模組設(shè)置的參數(shù)；
[0012](4)多功能性:除了基本的點屏測試功能，本技術(shù)方案提供了 Vcom調(diào)節(jié)、模組ID讀取和保存、MTP數(shù)據(jù)編輯和燒錄等多種測試功能，適應(yīng)了 MIPI生產(chǎn)過程中的多種需求。
[0013](5)通過提供數(shù)據(jù)比對功能，有效保障了燒錄參數(shù)數(shù)據(jù)的準確性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1為本實用新型實現(xiàn)COMMAND模式的MIPI模組測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0015]圖中:1.?6圖像發(fā)生器，2.10，31?64，3-1』81模塊，3-2.數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊，3-3.時序接口電路，4.橋接芯片，5.MIPI模組。

【具體實施方式】
[0016]以下結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步的詳細描述。
[0017]如圖1所示，本實用新型一種實現(xiàn)COMMAND模式的MIPI模組測試系統(tǒng)，包括PG圖像發(fā)生器1、MCU2和FPGA3，PG圖像發(fā)生器I分別與MCU2和FPGA3連接，MCU2與FPGA3通過EBI接口連接，F(xiàn)PGA3通過橋接芯片4與MIPI模組5連接，
[0018]PG圖像發(fā)生器I用于設(shè)置寄存器配置參數(shù)和圖像數(shù)據(jù)；
[0019]MCU2用于將從PG圖像發(fā)生器I接收的寄存器配置參數(shù)轉(zhuǎn)化為DCS指令發(fā)送至FPGA3 ；
[0020]FPGA3用于將從PG圖像發(fā)生器I接收的圖像數(shù)據(jù)與DCS指令打包后發(fā)送至橋接芯片4。FPGA3包括EBI模塊3_1、數(shù)據(jù)處理模塊3_2和時序接口電路3_3。EBI模塊3_1將從MCU2的EBI接口接收的DCS指令發(fā)送至?xí)r序接口電路3_2，數(shù)據(jù)處理模塊3_2將從PG圖像發(fā)生器I的LVDS接口接收的圖像數(shù)據(jù)發(fā)送至?xí)r序接口電路3-3，時序接口電路3-3將DCS指令與圖像數(shù)據(jù)打包后發(fā)送至橋接芯片4。橋接芯片4根據(jù)DCS指令完成配置并顯示圖像數(shù)據(jù)實現(xiàn)點屏。
[0021]信號源與本測試系統(tǒng)的PG圖像發(fā)生器I之間通過電纜連接傳輸圖像信號、數(shù)據(jù)信號和電源。PG圖像發(fā)生器I接收圖像信號后發(fā)送至FPGA3，F(xiàn)PGA3將圖像信號解碼為橋接芯片4能夠識別的圖像數(shù)據(jù)，MCU2通過PG圖像發(fā)生器I從上層軟件獲取MIPI模組5的內(nèi)部寄存器配置信息，并將配置信息轉(zhuǎn)化為DCS指令，F(xiàn)PGA3將DCS指令與圖像數(shù)據(jù)打包并轉(zhuǎn)發(fā)的方式傳輸?shù)綐蚪有酒?，最終由橋接芯片4的MIPI DO通道完成配置參數(shù)的傳輸，MIPI模組5顯示圖像數(shù)據(jù)。
[0022]利用上述測試系統(tǒng)實現(xiàn)COMMAND模式的MIPI模組測試的具體步驟包括:
[0023]1)PG圖像發(fā)生器I根據(jù)MIPI模組5的類型設(shè)置寄存器配置參數(shù)和圖像數(shù)據(jù)，并將寄存器配置參數(shù)通過485接口發(fā)送至MCU2，將圖像數(shù)據(jù)通過LVDS數(shù)據(jù)總線接口發(fā)送至FPGA 3 ；
[0024]2)MCU2根據(jù)寄存器配置參數(shù)產(chǎn)生DCS指令并發(fā)送至FPGA3 ；
[0025]3) FPGA3從PG圖像發(fā)生器I的LVDS數(shù)據(jù)總線接口接收圖像信號，將圖像信號轉(zhuǎn)化為橋接芯片4能夠識別的圖像數(shù)據(jù)，再將DCS指令與圖像數(shù)據(jù)打包后發(fā)送至橋接芯片4 ；
[0026]4)橋接芯片4發(fā)送DCS指令配置MIPI模組5，并將圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為MIPI信號后傳送至MIPI模組5，MIPI模組5顯示MIPI信號的圖像數(shù)據(jù)，點屏測試完成。
[0027]Vcom調(diào)節(jié)測試步驟:MCU2通過FPGA3向橋接芯片4轉(zhuǎn)發(fā)DCS指令調(diào)節(jié)MIPI模組5的Vcom寄存器參數(shù)，使屏幕閃爍度最小。Vcom寄存器屬于MIPI模組5的內(nèi)部寄存器，用來MIPI模組5的畫面閃爍效果，通過讀取命令可以先讀取Vcom參數(shù)，在上層軟件通過+/-調(diào)節(jié)Vcom數(shù)值，使畫面的閃爍程度最小。
[0028]MTP燒錄步驟:MCU2將MIPI模組5的模組ID、Gamma參數(shù)、Vcom參數(shù)和Power參數(shù)轉(zhuǎn)化為DCS指令并通過FPGA3發(fā)送至橋接芯片4，橋接芯片4根據(jù)DCS指令將所接收的模組ID、Gamma參數(shù)、Vcom參數(shù)和Power參數(shù)發(fā)送至MIPI模組5,并按模組燒錄流程燒錄至MIPI模組5的OTP區(qū)域。MIPI模組5提供了一塊OTP區(qū)域可以用來保存模組ID、Gamma參數(shù)、Vcom參數(shù)、Power參數(shù)，通過在上層軟件設(shè)置相應(yīng)的參數(shù)，并下發(fā)至MIPI模組5，然后按特定的順序設(shè)置模組寄存器，可以將參數(shù)燒錄到OTP區(qū)域，在掉電重啟以后，相應(yīng)的參數(shù)可以自動從OTP區(qū)域讀取到MIPI模組5的相應(yīng)寄存器。
[0029]讀取模組ID步驟:MCU2通過FPGA3向橋接芯片4轉(zhuǎn)發(fā)DCS指令讀取MIPI模組5
的OTP區(qū)域的模組ID、Gamma參數(shù)、Vcom參數(shù)和Power參數(shù)并--與設(shè)定值相比較，如果相同，測試結(jié)束；如果不同，重復(fù)MTP燒錄步驟。在上位機通過DCS指令讀取模組ID，可以實現(xiàn)每塊MIPI模組5燒錄參數(shù)的保存記錄，便于分析統(tǒng)計模組信息。在上位機提供數(shù)據(jù)比對窗口，MCU2在讀取到MIPI模組5的內(nèi)部參數(shù)以后返回到上層，確保所需參數(shù)已正確燒錄，避免出現(xiàn)該燒而未燒，并及時檢測燒錄錯誤的情況。
[0030]以上所述僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當指出，對于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以設(shè)計出若干改進，這些改進也應(yīng)視為本實用新型的保護范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種實現(xiàn)COMMAND模式的MIPI模組測試系統(tǒng)，其特征在于:包括PG圖像發(fā)生器(I)、MCU (2)和FPGA (3)，所述PG圖像發(fā)生器(I)分別與MCU (2)和FPGA (3)連接，所述MCU (2)與FPGA(3)通過EBI接口連接，所述FPGA(3)通過橋接芯片(4)與MIPI模組(5)連接， 所述PG圖像發(fā)生器(I)用于設(shè)置寄存器配置參數(shù)和圖像數(shù)據(jù)； 所述MCU(2)用于將從PG圖像發(fā)生器(I)接收的寄存器配置參數(shù)轉(zhuǎn)化為DCS指令發(fā)送M FPGA (3)； 所述FPGA (3)用于將從PG圖像發(fā)生器(I)接收的圖像數(shù)據(jù)與DCS指令打包后發(fā)送至橋接芯片⑷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的實現(xiàn)COMMAND模式的MIPI模組測試系統(tǒng)，其特征在于:所述FPGA (3)包括EBI模塊(3-1)、數(shù)據(jù)處理模塊(3-2)和時序接口電路(3-3)，所述EBI模塊(3-1)將從MCU(2)接收的DCS指令發(fā)送至?xí)r序接口電路(3-2)，所述數(shù)據(jù)處理模塊(3_2)將從PG圖像發(fā)生器(I)接收的圖像數(shù)據(jù)發(fā)送至?xí)r序接口電路(3-3)，所述時序接口電路(3-3)將DCS指令與圖像數(shù)據(jù)打包后發(fā)送至橋接芯片(4)。
【文檔編號】G09G3/00GK204066680SQ201420512473
【公開日】2014年12月31日 申請日期:2014年9月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月5日
【發(fā)明者】彭騫, 鄒峰, 雷程程, 陳凱, 沈亞非 申請人:武漢精測電子技術(shù)股份有限公司