發(fā)光器件顯示裝置非均勻性的補(bǔ)償方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種對(duì)OLED顯示裝置中像素的操作條件進(jìn)行調(diào)整以補(bǔ)償所述顯示裝置的非均勻性或老化的顯示退化補(bǔ)償系統(tǒng)及方法。所述系統(tǒng)或方法設(shè)置峰值亮度和操作條件中至少一者的初始值，計(jì)算顯示裝置中像素的補(bǔ)償值，確定具有比補(bǔ)償預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的像素的數(shù)量，且如果確定的具有比所述預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的所述像素的數(shù)量大于預(yù)定閾值數(shù)，那么調(diào)整設(shè)置的值直至確定的所述像素的數(shù)量小于所述預(yù)定閾值數(shù)。
【專利說(shuō)明】
發(fā)光器件顯示裝置非均勻性的補(bǔ)償方法及系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及一種顯示技術(shù)，更加具體地，涉及一種發(fā)光顯示器件中元件非均勻性 的補(bǔ)償方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管(AM0LED)顯示裝置是眾所周知的技術(shù)。非晶硅例如是用 于AM0LED顯示裝置的一種有前景的材料，這是由于其與薄膜晶體管液晶顯示裝置(TFTLCD) 制造相比具有低成本和廣泛安裝的基礎(chǔ)設(shè)施。
[0003] 不管使用的背板技術(shù)如何，所有AM0LED顯示裝置都表現(xiàn)出像素與像素間的亮度 (luminance)差異，這主要是由于加工或構(gòu)造的不同或由于經(jīng)過(guò)一段時(shí)間操作使用造成的 老化。顯示器中的亮度非均勻性也可能是由0LED材料本身的化學(xué)和性能的自然差異而引起 的。必須通過(guò)AM0LED顯示電子器件來(lái)處理這些非均勻性以使顯示裝置達(dá)到在商業(yè)上可接受 水平的大眾市場(chǎng)使用性能。
[0004] 圖1圖示了常規(guī)AM0LED顯示裝置10的操作流程。參照?qǐng)D1，視頻源12包含各像素的 亮度數(shù)據(jù)且以數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)14的形式將亮度數(shù)據(jù)發(fā)送至數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器16。數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器16 可以進(jìn)行一些數(shù)據(jù)操作功能，例如縮放分辨率或改變顯示色彩。數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器16將數(shù)字 數(shù)據(jù)18發(fā)送至數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)集成電路（IC)20。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 20將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)18轉(zhuǎn)換成模擬電壓或 電流22，模擬電壓或電流22被發(fā)送至像素電路24中的薄膜晶體管(TFT) 26。TFT 26將發(fā)送來(lái) 的電壓或電流22轉(zhuǎn)換成另一個(gè)電流28,該電流28流經(jīng)有機(jī)發(fā)光二極管(0LED)3(L0LED 30將 電流28轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光36ALED30具有0LED電壓32,其是0LED兩端的電壓降。0LED 30也具有 效率34，其是發(fā)出的光量與通過(guò)0LED的電流之比。
[0005] 數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)14、模擬電壓/電流22、電流28和可見(jiàn)光36都包含完全相同的信息（即，亮 度數(shù)據(jù)）。它們僅是來(lái)自視頻源12的初始亮度數(shù)據(jù)的不同格式。期望的系統(tǒng)操作是，對(duì)于來(lái) 自視頻源12的給定亮度數(shù)據(jù)值，總是帶來(lái)相同值的可見(jiàn)光36。
[0006] 然而，存在可以造成可見(jiàn)光36的誤差的多種退化因素。隨著繼續(xù)使用，對(duì)于數(shù)據(jù)驅(qū) 動(dòng)IC 20的相同輸入，TFT將輸出較低的電流28。隨著繼續(xù)使用，對(duì)于相同的輸入電流，0LED 30將消耗較大的電壓32。因?yàn)門FT 26不是理想電流源，所以這將實(shí)際上稍微減小輸入的電 流28。隨著繼續(xù)使用，0LED 30將損失效率34，并且對(duì)于相同的電流發(fā)出較少的可見(jiàn)光。
[0007] 由于這些退化因素，即使在視頻源12發(fā)送來(lái)相同亮度數(shù)據(jù)的情況下，可見(jiàn)光36輸 出也將隨著時(shí)間而變少。根據(jù)顯示裝置的使用，不同的像素可能具有不同量的退化。
[0008]因此，在一些像素的如視頻源12中的亮度數(shù)據(jù)規(guī)定的需要明亮度(br i ghtnes s)與 像素的實(shí)際明亮度之間將存在不斷增加的誤差。結(jié)果是，減退的圖像將不適當(dāng)?shù)仫@示在顯 示裝置上。
[0009]補(bǔ)償這些問(wèn)題的一種方式是使用反饋環(huán)路。圖2圖示了包括有反饋環(huán)路的常規(guī) AM0LED顯示裝置40的操作流程。參照?qǐng)D2,光檢測(cè)器42用來(lái)直接測(cè)量可見(jiàn)光36。光檢測(cè)器42 將可見(jiàn)光36轉(zhuǎn)換成被測(cè)信號(hào)44。信號(hào)轉(zhuǎn)換器46將被測(cè)可見(jiàn)光信號(hào)44轉(zhuǎn)換成反饋信號(hào)48。信 號(hào)轉(zhuǎn)換器46可以是模數(shù)轉(zhuǎn)換器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、微控制器、晶體管或另外的電路或器件。反饋 信號(hào)48用來(lái)沿著亮度數(shù)據(jù)的路徑在一些點(diǎn)處修改亮度數(shù)據(jù)，這些點(diǎn)例如是現(xiàn)有組件(例如 12、16、20、26、30)、組件之間的信號(hào)線（例如14、18、22、28、36)或它們的組合。
[0010]可能需要對(duì)現(xiàn)有組件的一些修改和/或額外電路以允許根據(jù)來(lái)自信號(hào)轉(zhuǎn)換器46的 反饋信號(hào)48來(lái)修改亮度數(shù)據(jù)。如果可見(jiàn)光36低于視頻源12的期望亮度，那么可以增加亮度 信號(hào)來(lái)補(bǔ)償TFT 26或0LED 30的退化。這使得可見(jiàn)光36不管退化如何將都是恒定的。這樣的 反饋方案通常被稱為光學(xué)反饋(0FB)。然而，在圖2的系統(tǒng)中，光檢測(cè)器42必須集成到顯示裝 置，通常位于各像素內(nèi)且耦合至像素電路。不考慮當(dāng)將光檢測(cè)器集成到各像素時(shí)的不可避 免的產(chǎn)量問(wèn)題，期望具有自身不退化的光檢測(cè)器，然而，這樣的光檢測(cè)器實(shí)施起來(lái)昂貴并且 無(wú)法與當(dāng)前安裝的TFT-IXD制造基礎(chǔ)設(shè)施兼容。
[0011]因此，需要提出一種不測(cè)量光信號(hào)就能夠補(bǔ)償顯示裝置非均勻性的方法及系統(tǒng)。 [0012] AM0LED顯示裝置通常根據(jù)來(lái)自視頻源的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)來(lái)操作。顯示裝置內(nèi)的0LED能夠 經(jīng)過(guò)編程而發(fā)光，發(fā)出的光具有根據(jù)編程電壓或編程電流的亮度。通常由顯示驅(qū)動(dòng)器來(lái)設(shè) 置編程電流或編程電壓，該顯示驅(qū)動(dòng)器以數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)作為輸入且具有用于將編程電流或編程 電壓發(fā)送至像素電路的模擬輸出端。像素電路被構(gòu)造為根據(jù)編程電流或編程電壓來(lái)驅(qū)動(dòng)通 過(guò)0LED的電流。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0013] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提出了一種對(duì)0LED顯示裝置中像素的操作條件進(jìn)行調(diào)整 以補(bǔ)償顯示裝置的非均勻性或老化的顯示退化補(bǔ)償系統(tǒng)。所述系統(tǒng)包括控制器，所述控制 器被編程用來(lái):設(shè)置針對(duì)峰值亮度和操作條件中至少一者的初始值，計(jì)算顯示裝置中像素 的補(bǔ)償值，確定具有比補(bǔ)償預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的像素的數(shù)量，且如果確定的具有比所 述預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的所述像素的數(shù)量大于預(yù)定閾值數(shù)，那么調(diào)整設(shè)置的值直至確定 的所述像素的數(shù)量小于所述預(yù)定閾值數(shù)。
[0014] 根據(jù)本發(fā)明的又一方面，提出一種對(duì)具有多個(gè)像素的發(fā)光器件顯示裝置中的非均 勻性進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ǎ龇椒òㄒ韵虏襟E:根據(jù)從第一像素電路的一部分中讀取的測(cè) 量數(shù)據(jù)來(lái)估計(jì)所述第一像素電路的退化，并且根據(jù)對(duì)所述第一像素電路的退化的估計(jì)來(lái)校 正施加于所述第一像素電路或第二像素電路的像素?cái)?shù)據(jù)。
[0015] 本發(fā)明提供一種維持AM0LED顯示裝置的均勻光度的方法。所述AM0LED顯示裝置包 括具有發(fā)光器件的像素陣列。所述發(fā)光器件被構(gòu)造為根據(jù)來(lái)自視頻源的數(shù)字輸入來(lái)發(fā)光。 所述視頻源包括與所述AM0LED顯示裝置中各像素的期望亮度相對(duì)應(yīng)的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。隨著時(shí)間 流逝，所述發(fā)光器件及其關(guān)聯(lián)的驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)的各方面退化且需要補(bǔ)償以繼續(xù)在給定的數(shù)字 輸入情況下發(fā)出相同亮度的光。
[0016] 通過(guò)根據(jù)測(cè)量出或估計(jì)出的像素退化使像素的數(shù)字輸入增加來(lái)補(bǔ)償發(fā)光顯示裝 置中像素的退化。為了使補(bǔ)償發(fā)生，將所述數(shù)字輸入壓縮成小于可用范圍的一系列值。根據(jù) 壓縮因子來(lái)實(shí)施數(shù)字輸入的壓縮，壓縮因子是小于1的數(shù)。在本發(fā)明的實(shí)施例中，將所述數(shù) 字輸入乘以所述壓縮因子，這將所述數(shù)字輸入壓縮至小于所述可用范圍的范圍。數(shù)字范圍 的剩余部分能夠用來(lái)根據(jù)測(cè)量出或估計(jì)出的像素退化對(duì)退化的像素提供補(bǔ)償。本發(fā)明提供 這樣的方法:設(shè)置和調(diào)整壓縮因子以靜態(tài)地或動(dòng)態(tài)地調(diào)整所述壓縮因子，并且在數(shù)字信號(hào) 被發(fā)送至驅(qū)動(dòng)電路前通過(guò)使所述信號(hào)增加來(lái)對(duì)顯示裝置提供補(bǔ)償。
[0017] 鑒于參照附圖進(jìn)行的各種實(shí)施例和/或方面的詳細(xì)說(shuō)明，前述和額外的本發(fā)明方 面和實(shí)施例對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員而言將是顯然的，接下來(lái)提供附圖的簡(jiǎn)要說(shuō)明。
【附圖說(shuō)明】
[0018] 根據(jù)下面參照附圖的說(shuō)明，本發(fā)明的這些和其它特征將更加顯然。
[0019] 圖1圖示了常規(guī)AM0LED系統(tǒng)。
[0020] 圖2圖示了這樣的常規(guī)AM0LED系統(tǒng)：其包括光檢測(cè)器和利用光檢測(cè)器信號(hào)的反饋 方案。
[0021] 圖3圖示了應(yīng)用本發(fā)明實(shí)施例補(bǔ)償方案的發(fā)光顯示系統(tǒng)。
[0022]圖4圖示了圖3的發(fā)光顯示系統(tǒng)的示例。
[0023]圖5圖示了圖5的像素電路的示例。
[0024]圖6圖示了圖3的發(fā)光顯示系統(tǒng)的又一個(gè)示例。
[0025]圖7圖示了圖6的像素電路的示例。
[0026] 圖8圖示了應(yīng)用于圖4系統(tǒng)的補(bǔ)償方案的模塊的示例。
[0027] 圖9圖示了圖7的查找表和補(bǔ)償算法模塊的示例。
[0028]圖10圖示了 TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊的輸入的示例。
[0029]圖11A圖示了以零小時(shí)使用時(shí)間對(duì)各像素輸出相等亮度數(shù)據(jù)的視頻源的實(shí)驗(yàn)結(jié) 果。
[0030] 圖11B圖示了以1000小時(shí)使用時(shí)間將最大亮度數(shù)據(jù)輸出到一些像素且將零亮度數(shù) 據(jù)輸出到其它像素的視頻源的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
[0031] 圖11C圖示了 ：當(dāng)未應(yīng)用補(bǔ)償算法時(shí)，在一些像素接收最大亮度數(shù)據(jù)且其它像素接 收零亮度數(shù)據(jù)達(dá)1000小時(shí)使用時(shí)間后，對(duì)各像素輸出相等亮度數(shù)據(jù)的視頻源的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
[0032] 圖11D圖示了 ：當(dāng)應(yīng)用恒定明亮度補(bǔ)償算法時(shí)，在一些像素接收最大亮度數(shù)據(jù)且其 它像素接收零亮度數(shù)據(jù)達(dá)1〇〇〇小時(shí)使用時(shí)間后，對(duì)各像素輸出相等亮度數(shù)據(jù)的視頻源的實(shí) 驗(yàn)結(jié)果。
[0033] 圖11E圖示了 ：當(dāng)應(yīng)用減小的明亮度補(bǔ)償算法時(shí)，在一些像素接收最大亮度數(shù)據(jù)且 其它像素接收零亮度數(shù)據(jù)達(dá)1〇〇〇小時(shí)使用時(shí)間后，對(duì)各像素輸出相等亮度數(shù)據(jù)的視頻源的 實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
[0034]圖12圖示了灰度階壓縮算法的示例。
[0035]圖13是示出了用來(lái)驅(qū)動(dòng)AM0LED顯示裝置的光度（luminosity)輸入數(shù)據(jù)的壓縮和 補(bǔ)償?shù)臄?shù)據(jù)流程圖。
[0036] 圖14是圖示了根據(jù)顯示需求和像素電路的設(shè)計(jì)來(lái)選擇壓縮因子的方法的流程圖。
[0037] 圖15是圖示了根據(jù)預(yù)定的余量調(diào)整曲線來(lái)選擇壓縮因子的方法的流程圖。
[0038] 圖16是圖示了根據(jù)對(duì)超過(guò)在先補(bǔ)償閾值的退化數(shù)據(jù)進(jìn)行的動(dòng)態(tài)測(cè)量來(lái)選擇壓縮 因子的方法的流程圖。
[0039] 圖17是圖示了根據(jù)對(duì)超過(guò)在先被測(cè)最大值的退化數(shù)據(jù)進(jìn)行的動(dòng)態(tài)測(cè)量來(lái)選擇壓 縮因子的方法的流程圖。
[0040] 圖18是圖示了定期調(diào)整峰值亮度的補(bǔ)償方法的流程圖。
[0041] 圖19是圖示了定期調(diào)整操作條件的補(bǔ)償方法的流程圖。
[0042] 雖然本發(fā)明容易具有各種變型例和替代形式，但是附圖中以示例的方式示出了具 體實(shí)施例，并且將在這里詳細(xì)說(shuō)明它們。然而，應(yīng)理解，本發(fā)明不是意在限于公開(kāi)的特定形 式。而是，本發(fā)明旨在覆蓋落入隨附權(quán)利要求限定的本發(fā)明實(shí)質(zhì)和范圍內(nèi)的所有變型例、等 同物以及替代例。
【具體實(shí)施方式】
[0043]使用包括具有TFT和0LED的像素電路的AM0LED顯示裝置來(lái)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例。 然而，像素電路中的晶體管可以使用非晶硅、納米/微晶硅、多晶硅、有機(jī)半導(dǎo)體技術(shù)(例如， 有機(jī)TFT)、NM0S技術(shù)、CMOS技術(shù)(例如，M0SFET)或它們的組合來(lái)制成。晶體管可以是p型晶體 管或η型晶體管。像素電路可以包括0LED以外的發(fā)光器件。在下面的說(shuō)明中，"像素"和"像素 電路"可以互換使用。
[0044] 圖3圖示了應(yīng)用了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的補(bǔ)償方案的發(fā)光顯示系統(tǒng)100的操作。視頻 源102包含各像素的亮度數(shù)據(jù)且將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)104形式的亮度數(shù)據(jù)發(fā)送至數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器 106。數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106可以進(jìn)行一些數(shù)據(jù)操作功能，例如縮放分辨率或改變顯示色彩。數(shù) 字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)108發(fā)送至數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)108 轉(zhuǎn)換成模擬電壓或電流112。模擬電壓或電流112施加于像素電路114。像素電路114包括TFT 和0LED。像素電路114基于模擬電壓或電流112輸出可見(jiàn)光126。
[0045] 在圖3中，示出一個(gè)像素電路作為示例。然而，發(fā)光顯示系統(tǒng)100包括多個(gè)像素電 路。視頻源102可以類似于圖1和圖2的視頻源12。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110可以類似于圖1和圖2的數(shù) 據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 20。
[0046] 補(bǔ)償功能模塊130被設(shè)置于顯示裝置。補(bǔ)償功能模塊130包括對(duì)來(lái)自像素電路114 的測(cè)量值132(被稱為退化數(shù)據(jù)、被測(cè)退化數(shù)據(jù)、被測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)或被測(cè)TFT和0LED退化數(shù) 據(jù))實(shí)施算法(被稱為TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法)的模塊134,并且輸出計(jì)算出的像素電路退化 數(shù)據(jù)136。注意，在下面的說(shuō)明中，"TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊"和"TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算 法"可以互換使用。
[0047]退化數(shù)據(jù)132是電數(shù)據(jù)，其表示像素電路114的多少部分已經(jīng)退化。從像素電路114 測(cè)量的數(shù)據(jù)例如可以表示像素電路114的一部分的一個(gè)或多個(gè)特征。
[0048] 退化數(shù)據(jù)132例如從一個(gè)或多個(gè)薄膜晶體管(TFT)、一個(gè)有機(jī)發(fā)光二極管(0LED)器 件或它們的組合中測(cè)量。注意，像素電路114的晶體管不限于TFT，且像素電路114的發(fā)光器 件不限于0LED。被測(cè)退化數(shù)據(jù)132可以是數(shù)字或模擬數(shù)據(jù)。系統(tǒng)100根據(jù)來(lái)自像素電路一部 分(例如TFT)的測(cè)量值來(lái)提供補(bǔ)償數(shù)據(jù)，以補(bǔ)償顯示裝置中的非均勻性。所述非均勻性可以 包括明亮度非均勻性、色彩非均勻性或它們的組合。造成這樣的非均勻性的因素可能包括 但是不限于顯示裝置的加工或構(gòu)造不相同、像素的老化等。
[0049] 退化數(shù)據(jù)132可以在定期的時(shí)間處或動(dòng)態(tài)調(diào)整的時(shí)間處來(lái)測(cè)量。計(jì)算出的像素電 路退化數(shù)據(jù)136可以是用來(lái)校正顯示裝置非均勻性的補(bǔ)償數(shù)據(jù)。計(jì)算出的像素電路退化數(shù) 據(jù)136可以包括用來(lái)產(chǎn)生補(bǔ)償數(shù)據(jù)的任何參數(shù)。補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以在定期的時(shí)間（例如，每幀、定 期間隔等)處或動(dòng)態(tài)調(diào)整的時(shí)間處使用。被測(cè)數(shù)據(jù)、補(bǔ)償數(shù)據(jù)或它們的組合可以存儲(chǔ)于存儲(chǔ) 器(例如，圖8的142)。
[0050] TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134或TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處 理器106的組合根據(jù)被測(cè)退化數(shù)據(jù)132來(lái)估計(jì)整個(gè)像素電路的退化。根據(jù)估計(jì)，通過(guò)在數(shù)字 數(shù)據(jù)處理器106處調(diào)整施加于某個(gè)(某些)像素電路的亮度數(shù)據(jù)(數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)104)來(lái)補(bǔ)償像素 電路114的整體退化。
[0051] 系統(tǒng)100可以修改或調(diào)整施加于退化像素電路或非退化像素電路的亮度數(shù)據(jù)104。 例如，如果期望恒定值的可見(jiàn)光126,那么數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106針對(duì)大幅退化的像素增大亮 度數(shù)據(jù)，從而補(bǔ)償退化。
[0052]在圖3中，TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134是與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106分離地設(shè)置的。 然而，TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134可以集成到數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106。
[0053] 圖4圖示了圖3的系統(tǒng)100的示例。圖4的像素電路114包括TFT 116和0LED 120。模 擬電壓或電流112被提供給TFT 116 JFT 116將電壓或電流112轉(zhuǎn)換成流經(jīng)0LED 120的另一 個(gè)電流118ALED 120將電流118轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光126WLED 120具有0LED電壓122,其是0LED兩 端的電壓降。0LED 120也具有效率134,其是發(fā)出的光量與通過(guò)0LED120的電流之比。
[0054]圖4的系統(tǒng)100僅測(cè)量TFT的退化。TFT 116的退化與0LED 120的退化是由使用情況 決定的，且TFT 116和0LED 120在像素電路114中通常是聯(lián)接的。無(wú)論何時(shí)TFT 116受應(yīng)力， 0LED 120也受應(yīng)力。因此，TFT 116的退化與整體像素電路114的退化之間存在可預(yù)測(cè)關(guān)系。 TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134或TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106的 組合根據(jù)僅TFT退化來(lái)估計(jì)整體像素電路的退化。本發(fā)明的實(shí)施例也可以應(yīng)用于獨(dú)立地監(jiān) 測(cè)TFT退化和0LED退化的系統(tǒng)。
[0055]像素電路114具有能夠被測(cè)量的組件。從像素電路114獲得的測(cè)量值以一定的方式 與像素電路的退化相關(guān)聯(lián)。
[0056]圖5圖示了圖4的像素電路114的示例。圖5的像素電路114是4T像素電路。像素電路 114A包括開(kāi)關(guān)電路（其具有TFT 150和152)、參考TFT 154、驅(qū)動(dòng)TFT 156、電容器158和0LED 160〇
[0057] 開(kāi)關(guān)TFT 150的柵極和反饋TFT 152的柵極連接至選擇線Vsel。開(kāi)關(guān)TFT 154的第 一端子和反饋TFT 152的第一端子連接至數(shù)據(jù)線Idata。開(kāi)關(guān)TFT 150的第二端子連接至參 考TFT 154的柵極和驅(qū)動(dòng)TFT 156的柵極。反饋TFT 152的第二端子連接至參考TFT 154的第 一端子。電容器158連接在驅(qū)動(dòng)TFT 156的柵極與地之間。0LED 160連接在供給電壓Vdd與驅(qū) 動(dòng)TFT 156之間。0LED 160在其它系統(tǒng)中也可以連接在驅(qū)動(dòng)TFT 156與地之間（即，漏極連接 方式）。
[0058]當(dāng)對(duì)像素電路114A編程時(shí)，Vsel是高電壓且電壓或電流施加于數(shù)據(jù)線Idata。數(shù)據(jù) Idata最初流經(jīng)TFT 150且對(duì)電容器158充電。隨著電容器電壓升高，TFT 154開(kāi)始導(dǎo)通且 Idata開(kāi)始流經(jīng)TFT 152和154到達(dá)地。在當(dāng)所有Idata流經(jīng)TFT 152和154時(shí)的這一點(diǎn)處，電 容器電壓穩(wěn)定化。流經(jīng)TFT 154的電流被鏡像反映于驅(qū)動(dòng)TFT 156中。
[0059]在像素電路114A中，通過(guò)將Vsel設(shè)置為高電壓且將電壓加載于Idata，能夠測(cè)量流 入Idata節(jié)點(diǎn)的電流?？商娲兀ㄟ^(guò)將Vsel設(shè)置為高電壓且將電流加載于Idata，能夠測(cè)量 Idata節(jié)點(diǎn)處的電壓。隨著TFT退化，被測(cè)電壓（或電流)將變化，這使得能夠記錄退化的測(cè) 量。在本像素電路中，圖4所示的模擬電壓/電流112連接至I data節(jié)點(diǎn)。電壓或電流的測(cè)量能 夠發(fā)生在沿著數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110與TFT 116之間連接的任何地方。
[0060]在圖4中，TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法被應(yīng)用于來(lái)自TFT 116的測(cè)量值132。然而，從TFT 116以外的各種位置讀取的電流/電壓信息可以是可用的。例如，被測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)132可以 包括0LED電壓122。
[00611圖6圖示了圖3的系統(tǒng)100的又一個(gè)示例。圖6的系統(tǒng)100測(cè)量0LED電壓122。因此，被 測(cè)數(shù)據(jù)132與TFT 116和0LED 120退化（圖6的"被測(cè)TFT和0LED電壓退化數(shù)據(jù)132A"）有關(guān)。圖 6的補(bǔ)償功能模塊130對(duì)與TFT退化和0LED退化均有關(guān)的信號(hào)實(shí)施TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法 134 JFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134或TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器 106的組合根據(jù)TFT退化和0LED退化來(lái)估計(jì)整個(gè)像素電路的退化?？梢苑謩e且獨(dú)立地測(cè)量 TFT退化和0LED退化。
[0062]圖7圖示了圖6的像素電路114的示例。圖7的像素電路114B是4T像素電路。像素電 路114B包括開(kāi)關(guān)電路（其具有TFT 170和172)、參考TFT 174、驅(qū)動(dòng)TFT 176、電容器178和 0LED 180〇
[0063] 開(kāi)關(guān)TFT 170的柵極和開(kāi)關(guān)TFT 172的柵極連接至選擇線Vsel。開(kāi)關(guān)TFT 172的第 一端子連接至數(shù)據(jù)線Idata而開(kāi)關(guān)TFT 170的第一端子連接至開(kāi)關(guān)TFT 172的第二端子，開(kāi) 關(guān)TFT 172的第二端子連接至參考TFT174的柵極和驅(qū)動(dòng)TFT 176的柵極。開(kāi)關(guān)TFT 170的第 二端子連接至參考TFT 174的第一端子。電容器178連接在驅(qū)動(dòng)TFT 176的柵極與地之間。驅(qū) 動(dòng)TFT 176的第一端子連接至供給電壓Vdd。參考TFT 174的第二端子和驅(qū)動(dòng)TFT 176的第二 端子連接至0LED 180。
[0064]當(dāng)對(duì)像素電路114B編程時(shí)，Vsel是高電壓且電壓或電流施加于數(shù)據(jù)線Idata。數(shù)據(jù) Idata最初流經(jīng)TFT 172且對(duì)電容器178充電。隨著電容器電壓升高，TFT 174開(kāi)始導(dǎo)通且 Idata開(kāi)始流經(jīng)TFT 170、174和0LED 180到達(dá)地。在當(dāng)所有Idata流經(jīng)TFT 170和174時(shí)的這 一點(diǎn)處，電容器電壓穩(wěn)定化。流經(jīng)TFT 174的電流被鏡像反映于驅(qū)動(dòng)TFT 176中。在像素電路 114B中，通過(guò)將Vsel設(shè)置為高電壓且將電壓加載于Idata，能夠測(cè)量流入Idata節(jié)點(diǎn)的電流。 可替代地，通過(guò)將Vsel設(shè)置為高電壓且將電流加載于Idata，能夠測(cè)量節(jié)點(diǎn)處的電壓。隨著 TFT退化，被測(cè)電壓（或電流）將變化，使得能夠記錄退化的測(cè)量。注意，與圖5的像素電路 i HA不一樣，電流現(xiàn)在流經(jīng)0LED 180。因此，Idata節(jié)點(diǎn)處進(jìn)行的測(cè)量現(xiàn)在部分地與隨著時(shí) 間而降低的0LED電壓有關(guān)。在像素電路114B中，圖6所示的模擬電壓/電流112連接至Idata 節(jié)點(diǎn)。電壓或電流的測(cè)量能夠發(fā)生在沿著數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110與TFT 116之間連接的任何地方。
[0065] 參照?qǐng)D3、圖4和圖6,像素電路114可以使離開(kāi)TFT 116的電流得到測(cè)量且使之用作 被測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)132。像素電路114可以使0LED效率的某一部分得到測(cè)量且使之用作被測(cè) TFT退化數(shù)據(jù)132。像素電路114也可以使節(jié)點(diǎn)被充電，且測(cè)量值可以是此節(jié)點(diǎn)放電花費(fèi)的時(shí) 間。像素電路114可以使它的任何部分被電測(cè)量。此外，給定時(shí)間內(nèi)的放電/充電水平能夠用 于老化檢測(cè)。
[0066] 參照?qǐng)D8,說(shuō)明了應(yīng)用于圖4系統(tǒng)的補(bǔ)償方案的模塊的示例。圖8的補(bǔ)償功能模塊 130包括模擬/數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換器140 j/D轉(zhuǎn)換器140將被測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)132轉(zhuǎn)換成數(shù)字被測(cè) TFT退化數(shù)據(jù)132B。圖4所示的電壓/電流112連接至Idata節(jié)點(diǎn)。電壓或電流的測(cè)量能夠發(fā)生 在沿著數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110與TFT 116之間連接的任何地方。
[0067]在圖4中，TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法被應(yīng)用于來(lái)自TFT 116的測(cè)量值132。然而，從TFT 116以外的各種位置讀取的電流/電壓信息可以是可用的。例如，被測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)132可以 包括OLED電壓122。
[0068] 圖6圖示了圖3的系統(tǒng)100的又一個(gè)示例。圖6的系統(tǒng)100測(cè)量0LED電壓122。因此，被 測(cè)數(shù)據(jù)132與TFT 116和0LED 120退化（圖6的"被測(cè)TFT和0LED電壓退化數(shù)據(jù)132A"）有關(guān)。圖 6的補(bǔ)償功能模塊130對(duì)與TFT退化和0LED退化均有關(guān)的信號(hào)實(shí)施TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法 134 JFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134或TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器 106的組合根據(jù)TFT退化和0LED退化來(lái)估計(jì)整個(gè)像素電路的退化。可以分別且獨(dú)立地測(cè)量 TFT退化和0LED退化。
[0069]圖7圖示了圖6的像素電路114的示例。圖7的像素電路114B是4T像素電路。像素電 路114B包括開(kāi)關(guān)電路（其具有TFT 170和172)、參考TFT 174、驅(qū)動(dòng)TFT 176、電容器178和 0LED 180〇
[0070] 開(kāi)關(guān)TFT 170的柵極和開(kāi)關(guān)TFT 172的柵極連接至選擇線Vsel。開(kāi)關(guān)TFT 172的第 一端子連接至數(shù)據(jù)線Idata而開(kāi)關(guān)TFT 170的第一端子連接至開(kāi)關(guān)TFT 172的第二端子，開(kāi) 關(guān)TFT 172的第二端子連接至參考TFT 174的柵極和驅(qū)動(dòng)TFT 176的柵極。開(kāi)關(guān)TFT 170的第 二端子連接至參考TFT 174的第一端子。電容器178連接在驅(qū)動(dòng)TFT 176的柵極與地之間。驅(qū) 動(dòng)TFT 176的第一端子連接至供給電壓Vdd。參考TFT 174的第二端子和驅(qū)動(dòng)TFT 176的第二 端子連接至0LED 180。
[0071] 當(dāng)對(duì)像素電路114B編程時(shí)，Vsel是高電壓且電壓或電流施加于數(shù)據(jù)線Idata。數(shù)據(jù) Idata最初流經(jīng)TFT 172且對(duì)電容器178充電。隨著電容器電壓升高，TFT 174開(kāi)始導(dǎo)通且 Idata開(kāi)始流經(jīng)TFT 170、174和0LED 180到達(dá)地。在當(dāng)所有Idata流經(jīng)TFT 170和174時(shí)的這 一點(diǎn)處，電容器電壓穩(wěn)定化。流經(jīng)TFT 174的電流被鏡像反映于驅(qū)動(dòng)TFT 176中。在像素電路 114B中，通過(guò)將Vsel設(shè)置為高電壓且將電壓加載于Idata，能夠測(cè)量流入Idata節(jié)點(diǎn)的電流。 可替代地，通過(guò)將Vsel設(shè)置為高電壓且將電流加載于Idata，能夠測(cè)量節(jié)點(diǎn)處的電壓。隨著 TFT退化，被測(cè)電壓（或電流）將變化，使得能夠記錄退化的測(cè)量。注意，與圖5的像素電路 i HA不一樣，電流現(xiàn)在流經(jīng)OLED 180。因此，Idata節(jié)點(diǎn)處進(jìn)行的測(cè)量現(xiàn)在部分地與隨著時(shí) 間而降低的0LED電壓有關(guān)。在像素電路114B中，圖6所示的模擬電壓/電流112連接至Idata 節(jié)點(diǎn)。電壓或電流的測(cè)量能夠發(fā)生在沿著數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110與TFT 116之間連接的任何地方。
[0072] 參照?qǐng)D3、圖4和圖6,像素電路114可以使離開(kāi)TFT 116的電流得到測(cè)量且使之用作 被測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)132。像素電路114可以使0LED效率的某一部分得到測(cè)量且使之用作被測(cè) TFT退化數(shù)據(jù)132。像素電路114也可以使節(jié)點(diǎn)被充電，且測(cè)量值可以是此節(jié)點(diǎn)放電花費(fèi)的時(shí) 間。像素電路114可以使它的任何部分被電測(cè)量。此外，給定時(shí)間內(nèi)的放電/充電水平能夠用 于老化檢測(cè)。
[0073]參照?qǐng)D8,說(shuō)明了應(yīng)用于圖4系統(tǒng)的補(bǔ)償方案的模塊的示例。圖8的補(bǔ)償功能模塊 130包括模擬/數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換器140 j/D轉(zhuǎn)換器140將被測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)132轉(zhuǎn)換成數(shù)字被測(cè) TFT退化數(shù)據(jù)132B。數(shù)字被測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)132B在TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134處轉(zhuǎn)換成 計(jì)算出的像素電路退化數(shù)據(jù)136。計(jì)算出的像素電路退化數(shù)據(jù)136存儲(chǔ)于查找表142中。因?yàn)?從一些像素電路中測(cè)量TFT退化數(shù)據(jù)可能花費(fèi)長(zhǎng)的時(shí)間，所以計(jì)算出的像素電路退化數(shù)據(jù) 136存儲(chǔ)于查找表142以供使用。
[0074]在圖8中，TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法134是數(shù)字算法。數(shù)字TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法134 可以在例如微處理器、FPGA、DSP或其它的器件上得到實(shí)施，但是不限于這些示例。查找表 142可以使用例如SRAM或DRAM等存儲(chǔ)器來(lái)實(shí)施。該存儲(chǔ)器可以在諸如微處理器或FPGA等另 外的器件中或可以是獨(dú)立器件。
[0075]存儲(chǔ)于查找表142中的計(jì)算出的像素電路退化數(shù)據(jù)136總是可用于數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理 器106。因此，無(wú)須每次數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106需要使用數(shù)據(jù)時(shí)都測(cè)量各像素的TFT退化數(shù)據(jù) 132?？梢圆唤?jīng)常地(例如，每20小時(shí)一次或更少地)測(cè)量退化數(shù)據(jù)132。另一種情況是對(duì)退化 測(cè)量使用動(dòng)態(tài)時(shí)間分配，開(kāi)始時(shí)高頻率地提取且老化飽和后低頻率地提取。
[0076]數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106可以包括補(bǔ)償模塊144,其從視頻源102中獲取像素電路114的 輸入亮度數(shù)據(jù)且根據(jù)該像素電路或其它像素電路的退化數(shù)據(jù)來(lái)修改輸入亮度數(shù)據(jù)。在圖8 中，模塊144使用來(lái)自查找表142的信息來(lái)修改亮度數(shù)據(jù)。
[0077]注意，圖8的構(gòu)造可應(yīng)用于圖3和圖6的系統(tǒng)。注意，查找表142是與補(bǔ)償功能模塊 130分離地設(shè)置的，然而，它可以在補(bǔ)償功能模塊130中。注意，查找表142是與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理 器106分離地設(shè)置的，然而，它可以在數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106中。
[0078]圖9圖示了查找表142以及數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106的模塊144的一個(gè)示例。參照?qǐng)D9， TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134的輸出是整數(shù)值。該整數(shù)存儲(chǔ)于查找表142A(對(duì)應(yīng)于圖8的 142)。整數(shù)在查找表142A中的位置與像素在AM0LED顯示裝置中的位置有關(guān)。整數(shù)的值是數(shù) 字，并且相加到數(shù)字亮度數(shù)據(jù)104來(lái)補(bǔ)償退化。
[0079] 例如，針對(duì)像素的明亮度，數(shù)字亮度數(shù)據(jù)可以被表示為使用8位(256個(gè)值）。246這 個(gè)值可以表示像素的最大亮度。128這個(gè)值可以表示約50%的亮度。查找表142A內(nèi)的值可以 被加到亮度數(shù)據(jù)104來(lái)補(bǔ)償退化的數(shù)字。因此，數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106中的補(bǔ)償模塊（圖7的 144)可以由數(shù)字加法器144A來(lái)實(shí)施。注意，根據(jù)使用的驅(qū)動(dòng)1C，數(shù)字亮度數(shù)據(jù)可以由任何數(shù) 量的位數(shù)來(lái)表示(例如，6位、8位、10位、14位等）。
[0080] 在圖3、圖4、圖6、圖8和圖9中，TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134具有作為輸入的被 測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)132或132A和作為輸出的計(jì)算出的像素電路退化數(shù)據(jù)136。然而，也可以存在 輸入系統(tǒng)的用來(lái)計(jì)算補(bǔ)償數(shù)據(jù)的其它輸入，如圖10所示。圖10圖示了 TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算 法模塊134的輸入的示例。在圖10中，TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134根據(jù)額外輸入190(例 如，溫度、其它電壓等）、經(jīng)驗(yàn)常數(shù)192或它們的組合來(lái)處理被測(cè)數(shù)據(jù)（圖3、4、8和9的132;圖5 的132A;圖8和圖9的132B)。
[0081] 額外輸入190可以包括被測(cè)參數(shù)，例如從電流編程像素中讀取的電壓和從電壓編 程像素中讀取的電流。這些像素可能不同于從中獲得被測(cè)信號(hào)的像素電路。例如，測(cè)量值從 "被測(cè)像素"中獲取且與從"參考像素"中獲取的另一個(gè)測(cè)量值組合使用。如下所述，為了確 定如何修改像素的亮度數(shù)據(jù)，可以使用來(lái)自顯示裝置中其它像素的數(shù)據(jù)。額外輸入190可以 包括光測(cè)量值，例如室內(nèi)環(huán)境光的測(cè)量值。分立器件或面板周邊附近某類型的測(cè)試結(jié)構(gòu)可 以用來(lái)測(cè)量環(huán)境光。額外輸入可以包括濕度測(cè)量值、溫度讀數(shù)、機(jī)械應(yīng)力讀數(shù)、其它環(huán)境應(yīng) 力讀數(shù)以及來(lái)自面板上測(cè)試結(jié)構(gòu)的反饋。
[0082]額外輸入也可以包括經(jīng)驗(yàn)參數(shù)192,例如由于效率降低而造成的0LED明亮度損失 (AL)，0LED電壓隨著時(shí)間的偏移（AV〇led)，Vt偏移的動(dòng)態(tài)影響，與Vt、AVt、迀移率(μ)等 TFT性能有關(guān)的參數(shù)，像素間非均勻性，像素電路的直流(DC)偏置電壓，基于電流鏡的像素 電路的變化的增益，像素電路性能的基于短期和長(zhǎng)期的偏移，由于電壓降（IR-drop)和接地 反彈(ground bounce)而造成的像素電路操作電壓變化。
[0083] 參照?qǐng)D8和圖9,模塊134中的TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法和數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106中的補(bǔ) 償算法144 一起工作來(lái)將被測(cè)TFT退化數(shù)據(jù)132轉(zhuǎn)換成亮度校正因子。亮度校正因子具有與 如何修改給定像素的亮度數(shù)據(jù)有關(guān)的信息，以補(bǔ)償該像素的退化。
[0084] 在圖9中，TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134完成該轉(zhuǎn)換的大部分。它整體地計(jì)算亮 度校正值，且數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106中的數(shù)字加法器144A僅將亮度校正值加至數(shù)字亮度數(shù)據(jù) 104。然而，系統(tǒng)100可以實(shí)施為:TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊134僅計(jì)算退化值，并且數(shù)字?jǐn)?shù) 據(jù)處理器106根據(jù)該數(shù)據(jù)來(lái)計(jì)算亮度校正因子。TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法134可以利用模糊邏 輯、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)或其它算法結(jié)構(gòu)來(lái)將退化數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成亮度校正因子。
[0085] 不管像素電路的退化如何，亮度校正因子的值都可以使可見(jiàn)光保持恒定。亮度校 正因子的值可以使退化像素的亮度完全不被改變;相反地，可以使非退化像素的亮度減小。 在這種情況下，整個(gè)顯示裝置可以隨著時(shí)間逐漸失去亮度，然而均勻性可以是高的。
[0086] 可以根據(jù)非均勾性補(bǔ)償算法來(lái)實(shí)施亮度校正因子的計(jì)算，該算法例如是恒定明亮 度算法、減小明亮度算法或它們的組合?？梢栽赥FT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊(例如，圖3的 134)或數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器(例如，圖3的106)上實(shí)施恒定明亮度算法和減小明亮度算法。恒定 明亮度算法被提供用于增加退化像素的明亮度以便匹配非退化像素。減小明亮度算法被提 供用于減小非退化像素244的明亮度以便匹配退化像素?？梢杂蒚FT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模 塊、數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器(例如圖8的144)或它們的組合來(lái)實(shí)施這些算法。注意，這些算法僅是示 例，且非均勻性補(bǔ)償算法不限于這些算法。
[0087] 參照?qǐng)D11A至圖11E，詳細(xì)說(shuō)明非均勻性補(bǔ)償算法的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。在實(shí)驗(yàn)的情況下， AM0LED顯示裝置包括多個(gè)像素電路，并且由如圖3、圖4、圖6、圖8和圖9所示的系統(tǒng)來(lái)驅(qū)動(dòng)。 注意，圖11A至圖11E未示出AM0LED顯示裝置的驅(qū)動(dòng)電路。
[0088] 圖11A示意性地圖示了開(kāi)始操作(操作時(shí)期t = 0小時(shí)）的AM0LED顯示裝置240。視頻 源（圖3、圖4、圖7、圖8和圖9的102)最初將最大亮度數(shù)據(jù)輸出到各像素。因?yàn)轱@示裝置240是 新的，所以沒(méi)有像素退化。結(jié)果是:所有像素輸出相等亮度且因此所有像素顯示出均勻的亮 度。
[0089] 接著，如圖11B所示，視頻源將最大亮度數(shù)據(jù)輸出到顯示裝置中部的一些像素。圖 11B示意性地圖示了已經(jīng)操作例如了一定時(shí)期的AM0LED顯示裝置240,在該時(shí)期內(nèi)，最大亮 度數(shù)據(jù)應(yīng)用于顯示裝置中部的像素。視頻源將最大亮度數(shù)據(jù)輸出至像素242而將最小亮度 數(shù)據(jù)(例如，零亮度數(shù)據(jù))輸出到像素242外圍的像素244。視頻源長(zhǎng)時(shí)期地維持這種情況，例 如1000小時(shí)。結(jié)果是:最大亮度處的像素242將會(huì)退化且零亮度處的像素244將不會(huì)退化。
[0090] 在1000小時(shí)處，視頻源將最大亮度數(shù)據(jù)輸出到所有像素。如圖11C至圖11E所示，結(jié) 果根據(jù)使用的補(bǔ)償算法而不同。
[0091] 圖11C示意性地圖示了未應(yīng)用補(bǔ)償算法的AM0LED顯示裝置240。如圖11C所示，如果 不存在補(bǔ)償算法，那么退化像素242將會(huì)具有比非退化像素244更低的明亮度。
[0092]圖11D示意性地圖示了應(yīng)用了恒定明亮度算法的AM0LED顯示裝置240。恒定明亮度 算法被實(shí)施用于增加退化像素的亮度數(shù)據(jù)，以使退化像素242的亮度數(shù)據(jù)與非退化像素244 的亮度數(shù)據(jù)匹配。例如，增加明亮度算法將增大的電流提供給有應(yīng)力像素242且將恒定不變 的電流提供給無(wú)應(yīng)力像素244。退化和非退化像素都具有相同的明亮度。因此，顯示裝置240 是均勻的。差異性的老化得到補(bǔ)償且明亮度得到維持，然而需要更大的電流。因?yàn)橐恍┫袼?的電流增大，所以這將使顯示裝置隨著時(shí)間消耗更多的電流，且因此隨著時(shí)間消耗更多的 功率(這是因?yàn)楣β氏呐c電流消耗有關(guān)）。
[0093]圖11E示意性地圖示了應(yīng)用減小明亮度算法的AM0LED顯示裝置240。減小明亮度算 法減小非退化像素的亮度數(shù)據(jù)，以使非退化像素244的亮度數(shù)據(jù)與退化像素242的亮度數(shù)據(jù) 匹配。例如，減小明亮度算法將恒定不變的0LED電流提供給有應(yīng)力像素242而將減小的電流 提供給無(wú)應(yīng)力像素244。退化和非退化像素都具有相同的明亮度。因此，顯示裝置240是均勻 的。差異性老化得到補(bǔ)償且需要較低的供給電壓(Vsupply)，然而明亮度隨著時(shí)間而減小。 因?yàn)樵撍惴ú辉黾尤魏蜗袼氐碾娏?，所以它將不?huì)造成功率消耗增加。
[0094] 參照?qǐng)D3,組件（例如，視頻源102和數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110)可以僅使用8位或256個(gè)離散 亮度值。因此，如果視頻源102輸出最大明亮度(255這個(gè)亮度值），那么就無(wú)法加上任何額外 亮度，這是因?yàn)橄袼匾呀?jīng)處在系統(tǒng)中的組件支持的最大明亮度。同樣，如果視頻源102輸出 最小明亮度(〇這個(gè)亮度值），那么就無(wú)法減去任何亮度。數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106可以實(shí)施灰度 階壓縮算法來(lái)保留一些灰度階。圖12圖示了包括有灰度階壓縮算法模塊250的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處 理器106的實(shí)施。灰度階壓縮算法250獲取由256個(gè)亮度值(251)表示的視頻信號(hào)104,并且將 它變換為使用更少的亮度值(252)。例如，代替由灰度階0表示的最小明亮度，可以由灰度階 50表示最小明亮度。同樣，可以由灰度階200表示最大明亮度。這樣，保留一些灰度階以用于 未來(lái)的增大(254)和減小(253)。注意，灰度階偏移不反映實(shí)際期望的灰度階偏移。
[0095] 根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，整體像素電路退化的估計(jì)(預(yù)測(cè))和亮度校正因子的產(chǎn)生的 方案確保顯示裝置的均勻性。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，能夠補(bǔ)償一些組件或整體電路的老化， 從而確保顯示裝置的均勻性。
[0096] 根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法使得能夠改善顯示參數(shù)(例如，包括 面板的隨著時(shí)間的恒定的明亮度均勻性和色彩均勻性）。因?yàn)門FT-像素電路轉(zhuǎn)換算法接受 額外參數(shù)(例如，溫度和環(huán)境光），所以可以補(bǔ)償由于這些額外參數(shù)而造成的任何顯示變化。 [0097] TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法模塊（圖3、圖4、圖6、圖8和圖9的134)、補(bǔ)償模塊（圖8的 144、圖9的144A)、非均勻性補(bǔ)償算法、恒定明亮度算法、減小明亮度算法和灰度階壓縮算法 可以由任何硬件、軟件或具有上述功能的硬件和軟件的組合來(lái)實(shí)施。軟件代碼、指令和/或 語(yǔ)句的全部或部分可以存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中。此外，可以嵌入載波的表示軟件代碼、 指令和/或語(yǔ)句的計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)信號(hào)可以經(jīng)由通信網(wǎng)絡(luò)來(lái)傳輸。這樣的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器和 計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)信號(hào)和/或計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)信號(hào)的載體以及硬件、軟件和它們的組合也在本發(fā)明的 范圍內(nèi)。
[0098]再次參照?qǐng)D3,其圖示了通過(guò)將補(bǔ)償算法應(yīng)用于數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)104的發(fā)光顯示系統(tǒng)100 的操作。特別地，圖3圖示了主動(dòng)矩陣有機(jī)發(fā)光二極管(AM0LED)顯示裝置中的像素的操作。 顯示系統(tǒng)100包括像素陣列。視頻源102包括像素的亮度輸入數(shù)據(jù)。亮度數(shù)據(jù)以數(shù)字輸入數(shù) 據(jù)104的形式發(fā)送至數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106。數(shù)字輸入數(shù)據(jù)104能夠是8位數(shù)據(jù)，其被表示為0與 255之間存在的整數(shù)值，較大的整數(shù)值對(duì)應(yīng)于較高的亮度水平。例如通過(guò)將視頻源102的分 辨率縮放為本機(jī)屏幕分辨率、調(diào)整色彩平衡或?qū)①ゑR（gamma)校正應(yīng)用于視頻源102,數(shù)字 數(shù)據(jù)處理器106能夠可選地操作數(shù)字輸入數(shù)據(jù)104。數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106也能夠根據(jù)退化數(shù) 據(jù)136將退化校正應(yīng)用于數(shù)字輸入數(shù)據(jù)104。在所述操作之后，數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106將產(chǎn)生的 數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)108發(fā)送至數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)集成電路（IC)110。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110將數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)108轉(zhuǎn)換成模 擬電壓或電流輸出112。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)IC 110例如能夠被實(shí)施為含有數(shù)模轉(zhuǎn)換器的模塊。模擬電 壓或電流112被提供給像素電路114。像素電路114能夠包括有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)和薄膜 晶體管(TFT)。像素電路114中的一個(gè)TFT能夠是將驅(qū)動(dòng)電流施加于OLED的驅(qū)動(dòng)TFT。響應(yīng)于 流向OLED的驅(qū)動(dòng)電流，OLED發(fā)出可見(jiàn)光126。發(fā)出的可見(jiàn)光126具有與通過(guò)驅(qū)動(dòng)TFT流向OLED 的電流量有關(guān)的亮度。
[0099]在模擬電壓或電流112是編程電壓的構(gòu)造中，像素電路114內(nèi)的驅(qū)動(dòng)TFT能夠例如 通過(guò)使驅(qū)動(dòng)TFT的柵極偏置根據(jù)模擬電壓或電流112為OLED提供編程電壓。在模擬電壓或電 流112是施加于各像素的編程電流而不是編程電壓的構(gòu)造中，像素電路114也能夠操作。利 用編程電流的顯示系統(tǒng)100能夠使用各像素電路114中的電流鏡來(lái)根據(jù)施加于各像素的編 程電流通過(guò)驅(qū)動(dòng)TFT將驅(qū)動(dòng)電流施加于0LED。
[0100] 發(fā)出的可見(jiàn)光126亮度受到像素電路114內(nèi)的各方面的影響，包括像素電路114內(nèi) 的硬件逐漸退化。驅(qū)動(dòng)TFT具有閾值電壓，且由于驅(qū)動(dòng)TFT的老化和應(yīng)力，閾值電壓會(huì)隨著時(shí) 間而變化。發(fā)出的可見(jiàn)光126亮度能夠受到驅(qū)動(dòng)TFT的閾值電壓、0LED兩端的電壓降和0LED 的效率的影響。OLED的效率是發(fā)出的可見(jiàn)光126的亮度與流經(jīng)OLED的驅(qū)動(dòng)電流之比。此外， 例如由于顯示系統(tǒng)100中像素的差異性老化以及驅(qū)動(dòng)TFT和0LED的制造公差，顯示系統(tǒng)100 上的退化通?？赡苁欠蔷鶆虻摹ｏ@示裝置100中的非均勻性通常被稱為顯示不均勻(mura) 或顯示缺陷。在具有由TFT (其具有均勻的柵極閾值電壓)驅(qū)動(dòng)的OLED (其具有均勻的發(fā)光效 率和閾值電壓）陣列的顯示裝置100中，當(dāng)使用相同的模擬電壓或電流112對(duì)顯示裝置中的 所有像素進(jìn)行編程時(shí)，顯示裝置的亮度將是均勻的。然而，隨著各像素中的0LED和TFT老化 以及退化特征變化，當(dāng)被編程為相同時(shí)，顯示裝置的亮度不再是均勻的。
[0101] 能夠通過(guò)增大被發(fā)送通過(guò)像素電路114中0LED的驅(qū)動(dòng)電流的量來(lái)補(bǔ)償退化。根據(jù) 本發(fā)明的實(shí)施例，能夠通過(guò)調(diào)整數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106輸出的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)108來(lái)實(shí)施對(duì)顯示裝置 100的退化的補(bǔ)償。數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106接收來(lái)自補(bǔ)償模塊130的退化數(shù)據(jù)136。補(bǔ)償模塊130 接收基于像素電路114內(nèi)的參數(shù)測(cè)量值的退化數(shù)據(jù)132?？商娲?，發(fā)送至補(bǔ)償模塊130的退 化數(shù)據(jù)132能夠以像素電路114內(nèi)硬件方面的預(yù)期性能的估計(jì)值為基礎(chǔ)。補(bǔ)償模塊130包括 用于實(shí)施例如TFT-像素電路轉(zhuǎn)換算法等算法134的模塊134。退化數(shù)據(jù)132能夠是這樣的電 數(shù)據(jù):該電數(shù)據(jù)表示像素電路114硬件方面已經(jīng)有多少發(fā)生退化。從像素電路114中測(cè)量或 估計(jì)的退化數(shù)據(jù)132能夠表示像素電路114的一個(gè)或多個(gè)特征。
[0102] 在模擬電壓或電流112是編程電壓的構(gòu)造中，通常由數(shù)字輸入數(shù)據(jù)104確定編程電 壓，該編程電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110中的電壓。本發(fā)明提供一種對(duì)各像素電路114中的非 均勻性特征進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒?，該非均勻性特征影響從各像素發(fā)出的可見(jiàn)光126的亮度。在數(shù) 字?jǐn)?shù)據(jù)108傳遞到數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C 110前，通過(guò)在數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106中調(diào)整數(shù)字輸入數(shù)據(jù)104 來(lái)進(jìn)行補(bǔ)償。
[0103] 圖13是示出了用來(lái)驅(qū)動(dòng)AM0LED顯示裝置的光度輸入數(shù)據(jù)304的壓縮和補(bǔ)償?shù)臄?shù)據(jù) 流程圖。圖13所示的數(shù)據(jù)流程圖包括數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器模塊306，其能夠被認(rèn)為是圖3所示的 數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106的實(shí)施例。再參照?qǐng)D13,視頻源提供光度輸入數(shù)據(jù)304。輸入數(shù)據(jù)304是8 位整數(shù)值的集合。輸入數(shù)據(jù)304包括0與255之間存在的整數(shù)值，這些值表示AM0LED顯示裝置 中像素的256個(gè)可能的可編程光度值。例如，255能夠?qū)?yīng)于使用最大亮度編程的像素，且 127能夠?qū)?yīng)于使用最大亮度的大概一半編程的像素。輸入數(shù)據(jù)304類似于圖3所示的數(shù)字 輸入數(shù)據(jù)104。再次參照?qǐng)D13,輸入數(shù)據(jù)304發(fā)送至數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器模塊304。在數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處 理器模塊304中，輸入數(shù)據(jù)304被乘以四（310)以將8位輸入數(shù)據(jù)304轉(zhuǎn)化為10位結(jié)果數(shù)據(jù) 312。在乘以四（310)之后，結(jié)果數(shù)據(jù)312是0與1020之間存在的10位整數(shù)的集合。
[0104] 通過(guò)將8位輸入數(shù)據(jù)304轉(zhuǎn)化為10位結(jié)果數(shù)據(jù)312,能夠使用與能夠應(yīng)用于8位輸入 數(shù)據(jù)304的步驟相比的更加精細(xì)的步驟來(lái)操作結(jié)果數(shù)據(jù)312以用于亮度退化補(bǔ)償。也能夠根 據(jù)伽馬校正將10位結(jié)果數(shù)據(jù)312更加精確地轉(zhuǎn)化為編程電壓。伽馬校正是顯示技術(shù)領(lǐng)域中 受贊賞的非線性冪次法則(power law)校正。將伽馬校正應(yīng)用于輸入數(shù)據(jù)能夠例如有利于 對(duì)人眼光度感知的自然對(duì)數(shù)作出解釋。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，將輸入數(shù)據(jù)304乘以四 (310)會(huì)將輸入數(shù)據(jù)304轉(zhuǎn)化成更高的量化域。雖然本發(fā)明包括乘以四（310)，但是在實(shí)施 中，輸入數(shù)據(jù)304能夠乘以任何數(shù)來(lái)將輸入數(shù)據(jù)310轉(zhuǎn)化成更高的量化域。有利地，轉(zhuǎn)化能夠 利用乘以二的冪(例如四），但是本發(fā)明不限于此。此外，能夠在不將輸入數(shù)據(jù)304轉(zhuǎn)化為更 高的量化域的情況下實(shí)施本發(fā)明。
[0105] 結(jié)果數(shù)據(jù)312乘以壓縮因子K(314)。壓縮因子K是值小于1的數(shù)。結(jié)果數(shù)據(jù)312乘以K (314)允許將10位結(jié)果數(shù)據(jù)312縮小成壓縮數(shù)據(jù)316。壓縮數(shù)據(jù)316是如下的10位整數(shù)的集 合:這些整數(shù)的值的范圍是從0到Κ與1020的乘積。接著，壓縮數(shù)據(jù)316因顯示裝置硬件退化 而得到補(bǔ)償(318)。通過(guò)將額外數(shù)據(jù)增量與對(duì)應(yīng)于各像素亮度的整數(shù)相加來(lái)補(bǔ)償壓縮數(shù)據(jù) 316(318)。根據(jù)發(fā)送至數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器模塊306的退化數(shù)據(jù)336來(lái)進(jìn)行退化補(bǔ)償。退化數(shù)據(jù) 336是如下的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù):其表示根據(jù)顯示裝置硬件中的與各像素相對(duì)應(yīng)的退化而將被施加 于數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器模塊306內(nèi)的壓縮數(shù)據(jù)316的補(bǔ)償量。在退化補(bǔ)償(318)之后，輸出壓縮數(shù) 據(jù)308。補(bǔ)償數(shù)據(jù)208是10位整數(shù)值的集合，這些值具有0與1023之間的可能值。壓縮數(shù)據(jù)308 在一些方面類似于圖3中的從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器106中輸出的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)108。再次參照?qǐng)D13,壓 縮數(shù)據(jù)308供給到顯示驅(qū)動(dòng)器(例如，含有數(shù)模轉(zhuǎn)換器的顯示驅(qū)動(dòng)器）以創(chuàng)建用于AM0LED顯 示裝置中像素的編程電壓。
[0106] 顯示裝置硬件的退化可能由于不均勻缺陷（非均勻性）、由于0LED電壓降、由于驅(qū) 動(dòng)TFT的電壓閾值和由于0LED發(fā)光效率的變化。顯示裝置硬件中的退化通常分別對(duì)應(yīng)于施 加至像素電路以進(jìn)行退化補(bǔ)償?shù)碾妷侯~外增量。對(duì)于特定像素，硬件退化補(bǔ)償所需的額外 電壓增量能夠被稱為:V不j韻、VTh、Vciled和V效率。根據(jù)V^j韻、VTh、Vciled、V效率的函數(shù)，即D (V不j韻，VTh， V〇LED，V效率)，硬件退化均能夠映射到數(shù)據(jù)步驟中的相應(yīng)增量。例如，上述關(guān)系能夠由表達(dá)式1 給出：D (V不域3，VTh，Vciled，％率）=int [ (2nBits-1) (V不域3+VTh+VciLED+V效率)/VMax]，其中，nBi tS是被 補(bǔ)償?shù)臄?shù)據(jù)集合中的位數(shù)且乂(^是最大編程電壓。在表達(dá)式1中，int□是這樣的函數(shù):評(píng)價(jià) 方括號(hào)的內(nèi)容且返回最接近的整數(shù)。被發(fā)送至數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理器模塊306的退化數(shù)據(jù)336能夠 是根據(jù)表達(dá)式1提供的D(Vf±韻，V Th，Vc〇D，V辦〇的關(guān)系而創(chuàng)建的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。在本發(fā)明的實(shí)施例 中，退化數(shù)據(jù)336能夠是與將被施加于AM0LED顯示裝置中各像素的壓縮數(shù)據(jù)的補(bǔ)償量相對(duì) 應(yīng)的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)陣列。所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)陣列是偏移增量的集合，其能夠通過(guò)將各像素的壓縮數(shù) 據(jù)與偏移增量相加或通過(guò)將各像素的壓縮數(shù)據(jù)減去偏移增量的方式而施加于壓縮數(shù)據(jù)。偏 移增量的集合通常能夠是具有與需要施加于AM0LED顯示裝置中各像素的補(bǔ)償量相對(duì)應(yīng)的 項(xiàng)(entries)的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的集合。補(bǔ)償量能夠是根據(jù)表達(dá)式1進(jìn)行退化補(bǔ)償所需的數(shù)據(jù)步驟 中的增量的量。在構(gòu)造中，退化數(shù)據(jù)336陣列中的位置能夠?qū)?yīng)于AM0LED顯示裝置中像素的 位置。
[0107] 例如，下面的表格1提供了根據(jù)圖13的輸入數(shù)據(jù)壓縮的數(shù)值例。表格1提供了在乘 以四（310)和乘以K(314)之后的輸入數(shù)據(jù)304集合的示例值。在表格1提供的示例中，K值為 0.75。在表格1中，第一列提供了輸入數(shù)據(jù)304集合中的整數(shù)的示例值。第二列提供了在通過(guò) 使相應(yīng)輸入數(shù)據(jù)值乘以四（310)而創(chuàng)建的結(jié)果數(shù)據(jù)312的集合中的整數(shù)的示例值。第三列提 供了在通過(guò)使結(jié)果數(shù)據(jù)312的相應(yīng)值乘以Κ而創(chuàng)建的壓縮數(shù)據(jù)316的集合中的數(shù)的示例值， 其中，Κ的示例值為0.75。最后一列是當(dāng)沒(méi)有應(yīng)用補(bǔ)償時(shí)與第三列所示的示例壓縮數(shù)據(jù)316 相對(duì)應(yīng)的輸出電壓。最后一列被創(chuàng)建用于具有最大編程電壓為18V的不例顯不系統(tǒng)。在表格 1圖示的數(shù)值例中，與具有二百五十五的最大輸入的輸入數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的編程輸出電壓在最 大電壓以下多于4.5V3.5V能夠被認(rèn)為是顯示系統(tǒng)的補(bǔ)償預(yù)算，并且能夠被稱為電壓余量 (V余量)。根據(jù)本發(fā)明的方面，4.5V被用來(lái)提供AM0LED顯示裝置中的像素退化補(bǔ)償。
[0108] 表格1:輸入數(shù)據(jù)壓縮的數(shù)值例
[0109]
[0110] 根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，可用于提供退化補(bǔ)償?shù)碾妷毫渴荲i*的量能夠有利地 得到保留以對(duì)AM0LED顯示裝置中的亮度退化最嚴(yán)重的像素的退化進(jìn)行補(bǔ)償。通過(guò)保留 的量來(lái)補(bǔ)償退化最嚴(yán)重的像素，能夠有利地維持顯示裝置的相對(duì)光度。由這樣的表達(dá)式2給 出對(duì)AM0LED顯示裝置中的具有最大退化量的像素進(jìn)行補(bǔ)償所需的V余量的量:V余i：=max[V不坡3 +VTh+V0LED+V效率]。在表達(dá)式2中，V不均S3、VTh、V〇LED和V效率分別能夠是與對(duì)顯不裝置中的像素進(jìn)行 補(bǔ)償所需的額外電壓的量相對(duì)應(yīng)的值的陣列，并且值的陣列中的項(xiàng)能夠?qū)?yīng)于顯示裝置中 的各像素。即，韻能夠是對(duì)顯示不均勻或非均勻性缺陷進(jìn)行補(bǔ)償所需的電壓的陣列;V Th能 夠是顯示裝置中像素的驅(qū)動(dòng)TFT的閾值電壓的陣列；Vqled能夠是顯示裝置中像素的0LED電 壓的陣列;且V效率能夠是對(duì)顯示裝置中像素的0LED效率退化進(jìn)行補(bǔ)償所需的電壓的陣列。在 表達(dá)式2中，max[]是這樣的函數(shù):評(píng)價(jià)方括號(hào)內(nèi)的值的陣列且返回陣列中的最大值。
[0111] 如參照?qǐng)D13和表格1能夠理解地，K的選擇能夠影響可用來(lái)對(duì)顯示退化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)?_的量。選擇較小值的K導(dǎo)致較大量的V余量。在本發(fā)明的由于顯示裝置老化而造成補(bǔ)償需求 隨著時(shí)間增加的構(gòu)造中，根據(jù)顯示裝置隨著時(shí)間的老化，Κ值能夠有利地隨著時(shí)間減小。Κ的 減小能夠使顯示裝置上的均勻補(bǔ)償成為可能，以使接收相同數(shù)字輸入數(shù)據(jù)的像素實(shí)際上發(fā) 出相同亮度的光，但是均勻補(bǔ)償是以整個(gè)顯示裝置的總體亮度減小為代價(jià)的。圖14至圖17 提供選擇及調(diào)整Κ的方法。
[0112] 圖14是圖示了根據(jù)顯示需求和像素電路設(shè)計(jì)來(lái)選擇壓縮因子的方法的流程圖。在 圖14的流程圖所示的方法的操作中，分析顯示需求和顯示裝置的像素電路設(shè)計(jì)來(lái)估計(jì)顯示 裝置中像素的V不i韻、V Th、VQLED和V效率中的最大值(405)。例如，能夠根據(jù)從與含有和顯示裝置 100中的像素電路類似的像素電路的顯示裝置的老化有關(guān)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果中得到的經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)來(lái) 實(shí)施估計(jì)(405)。可替代地，能夠根據(jù)顯示裝置100中像素電路的預(yù)期性能的數(shù)值模型或基 于軟件的仿真模型來(lái)實(shí)施估計(jì)(405)。估計(jì)(405)也能夠解釋余量電壓的額外安全裕度以說(shuō) 明顯示裝置100的像素電路中的統(tǒng)計(jì)可預(yù)測(cè)變化。響應(yīng)于估計(jì)(405)，計(jì)算出需要的電壓余 量(410)。根據(jù)表達(dá)式2來(lái)計(jì)算出需要的電壓余量V余量。一旦計(jì)算出V余量，就根據(jù)如下的表達(dá)式 3來(lái)計(jì)算出壓縮因子K(415):K=l-V^i/VM ax，其中，Vmm是顯示裝置100的最大編程電壓。然 后，設(shè)置壓縮因子K(420)以用于壓縮和補(bǔ)償算法，例如圖13的數(shù)據(jù)流程圖所示的壓縮算法。
[0113] 圖15是圖示了根據(jù)預(yù)定的余量調(diào)整曲線來(lái)選擇壓縮因子的方法的流程圖。選擇余 量調(diào)整曲線(505)。圖15流程圖中的第一模塊505將三個(gè)可能的余量調(diào)整曲線圖形化地圖示 為曲線1、曲線2和曲線3。圖示的曲線是Κ相對(duì)于時(shí)間的圖形。時(shí)間軸例如能夠是顯示裝置 1 〇〇的使用小時(shí)數(shù)。在所有三個(gè)曲線中，Κ隨著時(shí)間減小。通過(guò)使Κ隨著時(shí)間減小，電壓的添加 量(V余量)可用于補(bǔ)償。第一模塊505中的示例曲線包括曲線1，曲線1將Κ維持在恒定水平直至 達(dá)到時(shí)間閾值且Κ在時(shí)間閾值后隨著使用時(shí)間線性地減小。曲線2是階梯曲線，其將Κ維持在 恒定水平一定時(shí)間然后將Κ減小至更小的值，該更小的值被維持直至另一時(shí)間點(diǎn)，在另一時(shí) 間點(diǎn)該更小的值被再次減小。曲線3是線性減小曲線，其提供的Κ隨著使用時(shí)間線性地逐漸 減小。根據(jù)用戶對(duì)顯示裝置壽命期間使用的補(bǔ)償技術(shù)的偏好，能夠通過(guò)用戶曲線設(shè)置來(lái)選 擇曲線。例如，用戶可能想要在降低亮度前將顯示裝置的總體最大亮度維持特定的使用小 時(shí)數(shù)。另一個(gè)用戶可能接收從顯示裝置壽命的起點(diǎn)開(kāi)始逐漸減小亮度。
[0114] 一旦選擇余量調(diào)整曲線（505)，就監(jiān)測(cè)顯示裝置使用時(shí)間（510)。在給定的使用時(shí) 間，根據(jù)使用時(shí)間和被選曲線來(lái)確定壓縮因子Κ的值(515)。然后，設(shè)置壓縮因子Κ(520)，并 且繼續(xù)監(jiān)測(cè)顯示裝置的使用時(shí)間（510)。在設(shè)置Κ(520)后，Κ能夠用于壓縮和補(bǔ)償算法，例如 圖13的數(shù)據(jù)流程圖所示的壓縮算法。根據(jù)本發(fā)明的方面，圖15所示的設(shè)置和調(diào)整Κ的方法是 設(shè)置和調(diào)整Κ的動(dòng)態(tài)方法，這是因?yàn)棣蹈鶕?jù)顯示裝置100的使用時(shí)間而隨著時(shí)間更新。
[0115] 圖16是圖示了根據(jù)對(duì)超過(guò)在先補(bǔ)償閾值的退化數(shù)據(jù)進(jìn)行的動(dòng)態(tài)測(cè)量來(lái)選擇壓縮 因子的方法的流程圖。從顯示裝置100中像素的像素電路的各方面獲取測(cè)量值，以測(cè)量 V不域3、VTh、VQLED和V?(605)且根據(jù)表達(dá)式2計(jì)算V余量。然后，通過(guò)計(jì)算差值的方式將在當(dāng)前時(shí) 間t2計(jì)算出的V余量值與在先前時(shí)間tl計(jì)算出的V余量值進(jìn)行比較(610)。差值是AV余量且根據(jù)這 樣的表達(dá)式5來(lái)計(jì)算：AV^i=(V余量) t2-(V余量)tl。在表達(dá)式5中，tl是上次用來(lái)調(diào)整補(bǔ)償因子Κ 的時(shí)間且t2是當(dāng)前時(shí)間。表達(dá)式5的右手邊的下標(biāo)表示對(duì)圓括號(hào)內(nèi)的量進(jìn)行評(píng)價(jià)的時(shí)間。
[0116] 然后，將計(jì)算出的Δ 值與補(bǔ)償閾值Vthresh進(jìn)行比較（615)。如果Δ 超過(guò) Vthresh，那么修改K(620)。如果Δ V鑛小于或等于Vthresh，那么不修改K。能夠根據(jù)如下的表達(dá) 式6來(lái)修改K值:K新=Κι日/A-B，其中，K新是K的新值，Κι日是K的舊值，且A和B是為應(yīng)用程序和不同 技術(shù)而設(shè)置的值。例如，能夠根據(jù)從實(shí)驗(yàn)得到的經(jīng)驗(yàn)結(jié)果來(lái)設(shè)置A和B，該實(shí)驗(yàn)檢查由于與用 于驅(qū)動(dòng)各像素 OLED的與顯示裝置100中使用的像素電路類似的像素電路的老化而造成的特 征退化。類似的測(cè)量或用戶輸入也能夠用來(lái)設(shè)置V thresh。然后，設(shè)置壓縮因子K(625)以供用 于壓縮和補(bǔ)償算法，例如圖13的數(shù)據(jù)流程圖所示的壓縮算法。繼續(xù)測(cè)量退化測(cè)量值(605)， 繼續(xù)計(jì)算A V余量(610)，且每當(dāng)Δ V余量超過(guò)Vthresh就根據(jù)表達(dá)式6來(lái)更新Κ(620)。根據(jù)本發(fā)明的 方面，圖16所示的調(diào)整Κ的方法是調(diào)整Κ的動(dòng)態(tài)方法，這是因?yàn)棣蹈鶕?jù)從顯示裝置100內(nèi)的 像素電路收集的退化測(cè)量值而隨著時(shí)間被更新。
[0117]可替代地，能夠根據(jù)基于被測(cè)V余量的表達(dá)式3來(lái)修改壓縮因子(620)。根據(jù)圖16所示 的流程圖提供的方法的方面，當(dāng)修改Κ時(shí)(620)，Κ值得到維持直至閾值事件發(fā)生(615)。實(shí)施 圖16中提供的方法來(lái)調(diào)整壓縮因子Κ能夠?qū)е娄鶕?jù)階梯曲線隨著時(shí)間減小。
[0118] 圖17是圖示了根據(jù)對(duì)超過(guò)先前被測(cè)最大值的退化數(shù)據(jù)進(jìn)行的動(dòng)態(tài)測(cè)量來(lái)選擇壓 縮因子的方法的流程圖。從顯示裝置100中像素的像素電路方面獲取測(cè)量值，以測(cè)量V不i韻、 VTh、Voled和V效率(605)。V不i韻、VTh、Voled和V效率的測(cè)量值被稱為退化測(cè)量值。選擇退化測(cè)量值中 的最大值(710)。能夠根據(jù)表達(dá)式2來(lái)選擇最大退化值。對(duì)退化測(cè)量值進(jìn)行測(cè)量(605)和對(duì)最 大值進(jìn)行選擇(710)的組合被提供用于確定施加于顯示裝置內(nèi)像素的最大補(bǔ)償。將最大值 與先前被測(cè)退化測(cè)量值中的先前被測(cè)最大值進(jìn)行比較(715)。如果當(dāng)前被測(cè)最大值超過(guò)先 前被測(cè)最大值，那么根據(jù)基于當(dāng)前退化測(cè)量值的表達(dá)式2來(lái)計(jì)算￥(410)。接著，根據(jù)表達(dá) 式3來(lái)確定壓縮因子K(720)。設(shè)置壓縮因子(725)且使用新的最大值來(lái)更新最大值以用于比 較(715)。設(shè)置壓縮因子(725)以供用于壓縮和補(bǔ)償算法，例如圖13的數(shù)據(jù)流程圖所示的壓 縮算法。類似于圖16提供的方法，圖17的流程圖所示的方法是根據(jù)從顯示裝置100內(nèi)的像素 電路中不斷地收集的退化測(cè)量值來(lái)調(diào)整Κ的動(dòng)態(tài)方法。
[0119] 能夠通過(guò)組合上面公開(kāi)的設(shè)置和調(diào)整壓縮因子Κ的方法來(lái)實(shí)施本發(fā)明，以創(chuàng)建足 量的電壓余量，所述電壓余量允許在數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)被傳遞到數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)1C前將補(bǔ)償施加于所述數(shù) 字?jǐn)?shù)據(jù)。例如，根據(jù)圖16或圖17的設(shè)置和調(diào)整Κ的方法也能夠如同圖15-樣包括用戶選擇曲 線。
[0120] 在本發(fā)明的實(shí)施例中，圖14至圖17提供的選擇和調(diào)整壓縮因子Κ的方法能夠與圖 13所示的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)操作結(jié)合使用以在維持顯示裝置的均勻光度的同時(shí)操作顯示裝置。在構(gòu) 造中，上述的方法通過(guò)補(bǔ)償顯示裝置內(nèi)的像素的退化以能夠維持顯示裝置的相對(duì)光度。在 構(gòu)造中，上述的方法通過(guò)補(bǔ)償像素的像素電路內(nèi)的退化能夠針對(duì)給定數(shù)字輸入維持顯示陣 列中像素的光度。
[0121] 圖18是圖示了定期調(diào)整峰值亮度的補(bǔ)償方法的流程圖。在步驟802處根據(jù)補(bǔ)償水 平來(lái)調(diào)整在步驟801處由顯示裝置設(shè)置的初始峰值亮度。在步驟803處計(jì)算各像素用來(lái)提供 峰值明亮度的被補(bǔ)償值后，在步驟804處計(jì)算具有比閾值電壓更大的值的像素?cái)?shù)量。如果該 數(shù)大于閾值數(shù)（閾值_誤差），那么在步驟805處減小峰值亮度（明亮度)直至該數(shù)小于閾值_ 誤差。
[0122] 1.能夠通過(guò)對(duì)功率、溫度或任何其它顯示因素進(jìn)行控制的應(yīng)用程序或算法來(lái)設(shè)置 初始明亮度。
[0123] 2.像素值能夠是被傳遞到顯示驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)、像素亮度或像素電流的數(shù)據(jù)。人們 能夠計(jì)算一個(gè)以上像素值以與一個(gè)以上閾值進(jìn)行比較。
[0124] 3.能夠根據(jù)例如最大可用被補(bǔ)償余量和老化加速因子等不同條件來(lái)設(shè)置閾值。例 如，當(dāng)像素電流增大以補(bǔ)償0LED老化時(shí)，0LED老化加速。因此，人們能夠設(shè)置閾值來(lái)限制老 化加速。所述閾值能夠是一個(gè)以上且能夠針對(duì)各子像素而不同。
[0125] 4.能夠?qū)㈤撝礯誤差設(shè)置為具有錯(cuò)誤補(bǔ)償水平的像素的最大容許數(shù)。對(duì)于不同的 閾值(像素值)能夠存在不同的閾值_誤差值。
[0126] 5.在多個(gè)閾值的情況下，能夠存在優(yōu)先級(jí)列表，在列表中，具有較高優(yōu)先級(jí)的值的 條件需要首先被固定。
[0127] 6.補(bǔ)償因子能夠包括均勻性補(bǔ)償、老化補(bǔ)償、溫度補(bǔ)償和與顯示性能有關(guān)的其它 調(diào)整。
[0128] 7.能夠在事件(例如，通電、斷電、重新調(diào)整補(bǔ)償因子等）中或在用戶(應(yīng)用程序)請(qǐng) 求中進(jìn)行定期調(diào)整。
[0129] 圖19是圖示了定期調(diào)整操作條件的補(bǔ)償方法的流程圖。在步驟901處設(shè)置初始操 作條件(例如，電壓、電流、灰度級(jí)等），在步驟902處計(jì)算用于像素的補(bǔ)償因子。在于步驟903 處計(jì)算用于峰值明亮度補(bǔ)償?shù)南袼刂岛螅诓襟E904處計(jì)算具有比閾值更大的值的像素?cái)?shù)。 如果該數(shù)大于閾值數(shù)(閾值_誤差），那么在步驟905處調(diào)整操作條件以致具有大于閾值的值 的像素?cái)?shù)小于閾值_誤差。然后，在步驟906處，根據(jù)新的電壓水平來(lái)重新調(diào)整閾值。
[0130] 1.能夠通過(guò)對(duì)功率、溫度或任何其它顯示因素進(jìn)行控制的應(yīng)用程序或算法來(lái)設(shè)置 初始操作條件。
[0131] 2.像素值能夠是傳遞到顯示驅(qū)動(dòng)器的數(shù)據(jù)、像素亮度或像素電流。人們能夠計(jì)算 一個(gè)以上像素值以與一個(gè)以上閾值進(jìn)行比較。
[0132] 3.能夠根據(jù)例如最大可用被補(bǔ)償余量等不同條件來(lái)設(shè)置閾值。
[0133] 4.能夠?qū)㈤撝礯誤差設(shè)置為具有錯(cuò)誤補(bǔ)償水平的最大容許像素。對(duì)于不同的閾值 (像素值)能夠存在不同的閾值_誤差。
[0134] 5.補(bǔ)償因子能夠包括均勻性補(bǔ)償、老化補(bǔ)償、溫度補(bǔ)償和與顯示性能有關(guān)的其它 調(diào)整。
[0135] 6.在多個(gè)閾值的情況下，能夠存在優(yōu)先級(jí)列表，其列表中，具有較高優(yōu)先級(jí)的值的 條件需要首先被固定。
[0136] 7.能夠在事件(例如，通電、斷電、重新調(diào)整補(bǔ)償因子等）中或在用戶(應(yīng)用程序)請(qǐng) 求中進(jìn)行定期調(diào)整。
[0137] 亮度調(diào)整和顯示操作條件的組合，即混合調(diào)整可以用來(lái)滿足閾值_誤差值。
[0138] 1.在一種情況下，將不同的閾值分配給不同的參數(shù)(例如，將一些分配給亮度調(diào)整 且將一些分配給顯示操作條件）。例如，能夠?qū)⒗匣铀僖蜃娱撝捣峙浣o亮度調(diào)整且能夠?qū)?均勻性值分配給顯示操作條件算法。此外，一些閾值相對(duì)于其它閾值能夠具有優(yōu)先級(jí)以便 首先固定較高優(yōu)先級(jí)的值。
[0139] 2.在另一種情況下，能夠存在對(duì)各參數(shù)的百分比校正。例如，能夠限制亮度的最大 變化(或亮度的減小率）。在這種情況下，如果根據(jù)允許的速率進(jìn)行亮度調(diào)整后，留有一些閾 值_誤差，那么通過(guò)操作條件調(diào)整來(lái)固定它們。
[0140] 3.在又一種情況下，人們能夠使用前述兩種情況的混合(一些閾值受到具體參數(shù) 的控制(例如，老化加速受到亮度調(diào)整算法的控制）），且將一些閾值分配給這兩種算法。
[0141] 本發(fā)明說(shuō)明了對(duì)AM0LED顯示裝置的均勻光度進(jìn)行維持，但是提出的技術(shù)不限于 此。本發(fā)明可應(yīng)用于含有如下器件的陣列的一系列系統(tǒng):所述器件具有響應(yīng)于數(shù)據(jù)輸入而 受激的特征，并且尋求均勻地維持所述特征。例如，本發(fā)明適用于傳感器陣列、存儲(chǔ)單元和 固態(tài)發(fā)光二極管顯示裝置。本發(fā)明對(duì)激發(fā)感興趣的特征的數(shù)據(jù)輸入進(jìn)行修改以維持均勻 性。雖然把用于壓縮和補(bǔ)償數(shù)字光度數(shù)據(jù)來(lái)維持AM0LED顯示裝置光度的本發(fā)明說(shuō)明為利用 了 TFT和0LED，但是本發(fā)明適用于具有包括發(fā)光器件陣列的顯示裝置的類似設(shè)備。
[0142] 雖然已經(jīng)圖示和說(shuō)明了本發(fā)明的特定實(shí)施例和用途，但是應(yīng)理解:本發(fā)明不限于 本文中公開(kāi)的精確構(gòu)造和組成，并且根據(jù)前述說(shuō)明，在不偏離隨附權(quán)利要求限定的本發(fā)明 的實(shí)質(zhì)和范圍的情況下，各種變型、改變和變化能夠是顯然的。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種對(duì)OLED顯示裝置中像素的編程值進(jìn)行調(diào)整以補(bǔ)償所述顯示裝置的非均勻性或 老化的方法，所述方法包括： 設(shè)置初始峰值亮度值， 計(jì)算所述顯示裝置中所述像素的補(bǔ)償值， 確定具有比補(bǔ)償預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的像素的數(shù)量，且 如果確定的具有比所述預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的所述像素的數(shù)量大于預(yù)定閾值數(shù)，那 么減小設(shè)置的所述初始峰值亮度值直至確定的所述像素的數(shù)量小于所述預(yù)定閾值數(shù)。2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，通過(guò)對(duì)功率、溫度或其它顯示因素進(jìn)行控制的應(yīng)用 程序或算法來(lái)設(shè)置所述初始峰值亮度值。3. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述補(bǔ)償值是像素驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)、像素亮度數(shù)據(jù)和像素 電流數(shù)據(jù)中的至少一者。4. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述補(bǔ)償預(yù)定閾值以最大可用補(bǔ)償余量和老化加速 因子中的至少一者為基礎(chǔ)。5. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述預(yù)定閾值數(shù)是具有錯(cuò)誤補(bǔ)償水平的像素的最大 容許數(shù)。6. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述補(bǔ)償值以對(duì)所述顯示裝置的非均勻性、老化、溫 度和其它顯示性能因素中的至少一者進(jìn)行的補(bǔ)償為基礎(chǔ)。7. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，響應(yīng)于預(yù)定的事件或響應(yīng)于用戶發(fā)起的請(qǐng)求，定期 地實(shí)現(xiàn)所述減小。8. -種對(duì)0LED顯示裝置中像素的操作條件進(jìn)行調(diào)整以補(bǔ)償所述顯示裝置的非均勻性 或老化的方法，所述方法包括： 設(shè)置初始操作條件值， 計(jì)算所述顯示裝置中所述像素的補(bǔ)償值， 確定具有比補(bǔ)償預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的像素的數(shù)量，且 如果確定的具有比所述預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的所述像素的數(shù)量大于預(yù)定閾值數(shù)，那 么調(diào)整設(shè)置的初始操作條件值直至確定的所述像素的數(shù)小于所述預(yù)定閾值數(shù)。9. 如權(quán)利要求8所述的方法，其中，通過(guò)對(duì)功率、溫度或其它顯示因素進(jìn)行控制的應(yīng)用 程序或算法來(lái)設(shè)置所述初始操作值。10. 如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述補(bǔ)償值是像素驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)、像素亮度數(shù)據(jù)和像素 電流數(shù)據(jù)中的至少一者。11. 如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述補(bǔ)償預(yù)定閾值以最大可用補(bǔ)償余量和老化加 速因子中的至少一者為基礎(chǔ)。12. 如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述預(yù)定閾值數(shù)是具有錯(cuò)誤補(bǔ)償水平的像素的最 大容許數(shù)。13. 如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述補(bǔ)償值以對(duì)所述顯示裝置的非均勻性、老化、 溫度和其它顯示性能因素中的至少一者進(jìn)行的補(bǔ)償為基礎(chǔ)。14. 如權(quán)利要求8所述的方法，其中，響應(yīng)于預(yù)定的事件或響應(yīng)于用戶發(fā)起的請(qǐng)求來(lái)定 期地實(shí)現(xiàn)所述減小。15. -種對(duì)0LED顯示裝置中像素的操作條件進(jìn)行調(diào)整以補(bǔ)償所述顯示裝置的非均勻性 或老化的方法，所述方法包括： 設(shè)置初始的峰值亮度值和初始的操作條件值， 計(jì)算所述顯示裝置中所述像素的補(bǔ)償值， 確定具有比補(bǔ)償預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的像素的數(shù)量，且 如果確定的具有比所述預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的所述像素的數(shù)量大于預(yù)定閾值數(shù)，那 么調(diào)整設(shè)置的所述峰值亮度值和所述操作條件值直至確定的所述像素的數(shù)量小于所述預(yù) 定閾值數(shù)。16. -種對(duì)OLED顯示裝置中像素的編程值進(jìn)行調(diào)整以補(bǔ)償所述顯示裝置的非均勻性或 老化的顯示退化補(bǔ)償系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括控制器，所述控制器被編程用來(lái)： 設(shè)置初始峰值亮度值， 計(jì)算所述顯示裝置中所述像素的補(bǔ)償值， 確定具有比補(bǔ)償預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的像素的數(shù)量，且 如果確定的具有比所述預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的所述像素的數(shù)量大于預(yù)定閾值數(shù)，那 么減小設(shè)置的所述初始峰值亮度值直至確定的所述像素的數(shù)量小于所述預(yù)定閾值數(shù)。17. 如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中，通過(guò)對(duì)功率、溫度或其它顯示因素進(jìn)行控制的應(yīng) 用程序或算法來(lái)設(shè)置所述初始峰值亮度值。18. 如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中，所述補(bǔ)償值是像素驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)、像素亮度數(shù)據(jù)和像 素電流數(shù)據(jù)中的至少一者。19. 如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中，所述補(bǔ)償預(yù)定閾值以最大可用補(bǔ)償余量和老化加 速因子中的至少一者為基礎(chǔ)。20. 如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中，所述預(yù)定閾值數(shù)是具有錯(cuò)誤補(bǔ)償水平的像素的最 大容許數(shù)。21. 如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中，所述補(bǔ)償值以對(duì)所述顯示裝置的非均勻性、老化、 溫度和其它顯示性能因素中的至少一者進(jìn)行的補(bǔ)償為基礎(chǔ)。22. 如權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中，響應(yīng)于預(yù)定的事件或響應(yīng)于用戶發(fā)起的請(qǐng)求來(lái)定 期地實(shí)現(xiàn)所述減小。23. -種對(duì)OLED顯示裝置中像素的操作條件進(jìn)行調(diào)整以補(bǔ)償所述顯示裝置的非均勻性 或老化的顯示退化補(bǔ)償系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括控制器，所述控制器被編程用來(lái)： 設(shè)置初始操作條件值， 計(jì)算所述顯示裝置中所述像素的補(bǔ)償值， 確定具有比補(bǔ)償預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的像素的數(shù)量，且 如果確定的具有比所述預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的所述像素的數(shù)量大于預(yù)定閾值數(shù)，那 么調(diào)整設(shè)置的初始操作條件值直至確定的所述像素的數(shù)小于所述預(yù)定閾值數(shù)。24. 如權(quán)利要求23所述的系統(tǒng)，其中，通過(guò)對(duì)功率、溫度或其它顯示因素進(jìn)行控制的應(yīng) 用程序或算法來(lái)設(shè)置所述初始操作值。25. 如權(quán)利要求23所述的系統(tǒng)，其中，所述補(bǔ)償值是像素驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)、像素亮度數(shù)據(jù)和像 素電流數(shù)據(jù)中的至少一者。26. 如權(quán)利要求23所述的系統(tǒng)，其中，所述補(bǔ)償預(yù)定閾值以最大可用補(bǔ)償余量和老化加 速因子中的至少一者為基礎(chǔ)。27. 如權(quán)利要求23所述的系統(tǒng)，其中，所述預(yù)定閾值數(shù)是具有錯(cuò)誤補(bǔ)償水平的像素的最 大容許數(shù)。28. 如權(quán)利要求23所述的系統(tǒng)，其中，所述補(bǔ)償值以對(duì)所述顯示裝置的非均勻性、老化、 溫度和其它顯示性能因素中的至少一者進(jìn)行的補(bǔ)償為基礎(chǔ)。29. 如權(quán)利要求23所述的系統(tǒng)，其中，響應(yīng)于預(yù)定的事件或響應(yīng)于用戶發(fā)起的請(qǐng)求來(lái)定 期地實(shí)現(xiàn)所述減小。30. -種對(duì)OLED顯示裝置中像素的操作條件進(jìn)行調(diào)整以補(bǔ)償所述顯示裝置的非均勻性 或老化的顯示退化補(bǔ)償系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括控制器，所述控制器被編程用來(lái)： 設(shè)置初始的峰值亮度值和初始的操作條件值， 計(jì)算所述顯示裝置中所述像素的補(bǔ)償值， 確定具有比補(bǔ)償預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的像素?cái)?shù)，且 如果確定的具有比所述預(yù)定閾值更大的補(bǔ)償值的像素的數(shù)量大于預(yù)定閾值數(shù)，那么調(diào) 整設(shè)置的所述峰值亮度值和所述操作條件值直至確定的所述像素的數(shù)量小于所述預(yù)定閾 值數(shù)。
【文檔編號(hào)】G09G3/3225GK106030690SQ201480075889
【公開(kāi)日】2016年10月12日
【申請(qǐng)日】2014年12月15日
【發(fā)明人】阿羅基亞·內(nèi)森, 戈?duì)柪斎鹪で〖? 斯特凡·亞力山大, 佩曼·塞爾提, 理查德·艾-恒·黃, 科賓·丘奇
【申請(qǐng)人】伊格尼斯創(chuàng)新公司