具有多程序兼容性的測試主板的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及LED屏顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種具有多程序兼容性的測試主 板。
【背景技術(shù)】
[0002] LED屏的生產(chǎn)線，其生產(chǎn)一款產(chǎn)品對(duì)應(yīng)制作一程序測試板；當(dāng)需要更換另一款產(chǎn) 品時(shí)，則需要另制作一程序測試板，或者，更換另一程序，然后才能進(jìn)行產(chǎn)品的測試。因此， 現(xiàn)在的生產(chǎn)線，更換產(chǎn)品即需要更換程序測試板或是更換測試程序。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003] 為了解決上述現(xiàn)有的技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供一種具有多程序兼容性的測試主 板，改變撥動(dòng)開關(guān)的狀態(tài)組合，即調(diào)用其內(nèi)存儲(chǔ)的一測試程序，從而進(jìn)行對(duì)應(yīng)產(chǎn)品的測試， 滿足一測試主板對(duì)多產(chǎn)品的測試。
[0004] 本實(shí)用新型解決上述現(xiàn)有的技術(shù)問題，提供一種具有多程序兼容性的測試主板， 包括板體及設(shè)置于所述板體的主控1C，還包括與所述主控IC電性連接的多個(gè)撥動(dòng)開關(guān)；所 述撥動(dòng)開關(guān)具有兩個(gè)檔位，分別對(duì)應(yīng)高電平檔位、低電平檔位。
[0005] 本實(shí)用新型更進(jìn)一步的改進(jìn)如下所述。
[0006] 所述撥動(dòng)開關(guān)具有電源電壓觸點(diǎn)、數(shù)字地或者模擬地觸點(diǎn)。
[0007] 所述撥動(dòng)開關(guān)的執(zhí)行機(jī)構(gòu)連接電源電壓觸點(diǎn)，對(duì)應(yīng)的所述撥動(dòng)開關(guān)為高電平檔 位。
[0008] 所述撥動(dòng)開關(guān)的執(zhí)行機(jī)構(gòu)連接數(shù)字地或者模擬地觸點(diǎn)，對(duì)應(yīng)的所述撥動(dòng)開關(guān)為低 電平檔位。
[0009] 所述撥動(dòng)開關(guān)的數(shù)量大于3。
[0010] 相較于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型的有益效果是：改變撥動(dòng)開關(guān)的狀態(tài)組合，即調(diào)用其 內(nèi)存儲(chǔ)的一測試程序，從而進(jìn)行對(duì)應(yīng)產(chǎn)品的測試，滿足一測試主板對(duì)多產(chǎn)品的測試。
【附圖說明】
[0011] 圖1為本實(shí)用新型具有多程序兼容性的測試主板的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0013] 下面結(jié)合【附圖說明】及【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。
[0014] 如圖1所示，一種具有多程序兼容性的測試主板，包括板體11、設(shè)置于板體11的主 控IC12、與主控IC12電性連接的多個(gè)撥動(dòng)開關(guān)13 ;撥動(dòng)開關(guān)13具有兩個(gè)檔位，分別對(duì)應(yīng)高 電平檔位、低電平檔位。改變撥動(dòng)開關(guān)13的狀態(tài)組合，即調(diào)用其內(nèi)存儲(chǔ)的一測試程序，從而 進(jìn)行對(duì)應(yīng)產(chǎn)品的測試，滿足一測試主板對(duì)多產(chǎn)品的測試。
[0015] 本實(shí)用新型撥動(dòng)開關(guān)13具有電源電壓觸點(diǎn)、數(shù)字地或者模擬地觸點(diǎn)。撥動(dòng)開關(guān)13 的執(zhí)行機(jī)構(gòu)連接電源電壓觸點(diǎn)，對(duì)應(yīng)的撥動(dòng)開關(guān)13為高電平檔位。撥動(dòng)開關(guān)13的執(zhí)行機(jī) 構(gòu)連接數(shù)字地或者模擬地觸點(diǎn)，對(duì)應(yīng)的撥動(dòng)開關(guān)13為低電平檔位。
[0016] 本實(shí)用新型撥動(dòng)開關(guān)13的數(shù)量大于3。假設(shè)，其撥動(dòng)開關(guān)13的數(shù)量為4,分別為 1、2、3、4,當(dāng)撥動(dòng)開關(guān)131、2、3、4全部為低電平檔位時(shí)，控制IC判斷狀態(tài)組合為0000 ;當(dāng) 撥動(dòng)開關(guān)131為高電平檔位，2、3、4為低電平檔位時(shí)，控制IC判斷狀態(tài)組合為0001 ;同理， 當(dāng)撥動(dòng)開關(guān)131、2、3、4全部為高電平檔位時(shí)，控制IC判斷狀態(tài)組合為1111。主控IC12接 收到對(duì)應(yīng)的狀態(tài)組合，能夠通過IF語句對(duì)比判定區(qū)分所需要的程序，以調(diào)出對(duì)應(yīng)的測試程 序，從而達(dá)到兼容的效果。
[0017] 以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能 認(rèn)定本實(shí)用新型的具體實(shí)施只局限于這些說明。對(duì)于本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù) 人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視 為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種具有多程序兼容性的測試主板，包括板體及設(shè)置于所述板體的主控1C，其特征 在于： 還包括與所述主控IC電性連接的多個(gè)撥動(dòng)開關(guān)； 所述撥動(dòng)開關(guān)具有兩個(gè)檔位，分別對(duì)應(yīng)高電平檔位、低電平檔位。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有多程序兼容性的測試主板，其特征在于：所述撥動(dòng)開關(guān) 具有電源電壓觸點(diǎn)、數(shù)字地或者模擬地觸點(diǎn)。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的具有多程序兼容性的測試主板，其特征在于：所述撥動(dòng)開關(guān) 的執(zhí)行機(jī)構(gòu)連接電源電壓觸點(diǎn)，對(duì)應(yīng)的所述撥動(dòng)開關(guān)為高電平檔位。4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的具有多程序兼容性的測試主板，其特征在于：所述撥動(dòng)開關(guān) 的執(zhí)行機(jī)構(gòu)連接數(shù)字地或者模擬地觸點(diǎn)，對(duì)應(yīng)的所述撥動(dòng)開關(guān)為低電平檔位。5. 根據(jù)權(quán)利要求1至4任意一項(xiàng)所述的具有多程序兼容性的測試主板，其特征在于： 所述撥動(dòng)開關(guān)的數(shù)量大于3。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種具有多程序兼容性的測試主板，包括板體及設(shè)置于所述板體的主控IC，還包括與所述主控IC電性連接的多個(gè)撥動(dòng)開關(guān)；所述撥動(dòng)開關(guān)具有兩個(gè)檔位，分別對(duì)應(yīng)高電平檔位、低電平檔位。本實(shí)用新型的有益效果是：改變撥動(dòng)開關(guān)的狀態(tài)組合，即調(diào)用其內(nèi)存儲(chǔ)的一測試程序，從而進(jìn)行對(duì)應(yīng)產(chǎn)品的測試，滿足一測試主板對(duì)多產(chǎn)品的測試。
【IPC分類】G09G3/00
【公開號(hào)】CN204884517
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520611071
【發(fā)明人】陳楚耿, 趙松來, 魏小華
【申請(qǐng)人】深圳市中深光電有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請(qǐng)日】2015年8月14日