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      一種測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置的制造方法

      文檔序號(hào):10211778閱讀:399來源:國知局
      一種測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型屬于教學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置,尤其涉及用數(shù)顯游標(biāo)卡尺來改裝測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]光的衍射現(xiàn)象是光的波動(dòng)性的一種表現(xiàn),研究光的衍射,不僅有助于加深對(duì)光的本性的理解,同時(shí)對(duì)近代光學(xué)技術(shù)如X光晶體衍射、光譜分析、全息分析、光信息處理等實(shí)驗(yàn),也是重要實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。傳統(tǒng)的光強(qiáng)分布實(shí)驗(yàn)裝置一般采用氦氖激光器,移動(dòng)位置測量裝置一般采用手搖鼓輪加絲桿裝置,這種裝置不僅成本高,而且測量時(shí)讀數(shù)不方便,回程調(diào)節(jié)慢。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置,用以高等院校大學(xué)物理實(shí)驗(yàn),能準(zhǔn)確方便地測量單絲、單縫以及雙絲和雙縫的衍射光強(qiáng)分布。
      [0004]本實(shí)用新型所提供的測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置,其結(jié)構(gòu)如圖1所示。包括激光器二維調(diào)節(jié)架1、半導(dǎo)體激光器2、光刻衍射屏3、游標(biāo)尺測量裝置4、固定滑塊5、可微調(diào)滑塊6、光學(xué)導(dǎo)軌7、雙立柱固定滑塊8,其中:
      [0005]半導(dǎo)體激光器2、光刻衍射屏3和游標(biāo)尺測量裝置4分別通過滑塊固定在光學(xué)導(dǎo)軌7上;其中半導(dǎo)體激光器2裝在激光器二維調(diào)節(jié)架I上,二維調(diào)節(jié)架I可以調(diào)節(jié)激光器的出射光線的俯仰角和水平面上的左右角度,二維調(diào)節(jié)架I下部通過固定滑塊5固定在導(dǎo)軌7的最左側(cè);光刻衍射屏3安裝在可微調(diào)滑塊6上,可微調(diào)滑塊6可以在垂直導(dǎo)軌方向前后微調(diào)10毫米距離,用以改變激光通過光刻衍射屏的位置,該滑塊一般固定在靠近激光器的一側(cè);游標(biāo)尺測量裝置4通過雙立柱固定滑塊8固定在導(dǎo)軌7的右端。
      [0006]本實(shí)用新型中,所述半導(dǎo)體激光器2出射光線與光刻衍射屏3中的測量狹縫以及游標(biāo)尺測量裝置4中探測器處于同一直線。
      [0007]本實(shí)用新型中,所述半導(dǎo)體激光器2安裝在激光器二維調(diào)節(jié)支架I上,二維調(diào)節(jié)支架I后部設(shè)有兩個(gè)微調(diào)螺絲,激光器出射光線可以通過二維調(diào)節(jié)支架I后部的兩個(gè)微調(diào)螺絲來改變俯仰角和水平方向左右角。
      [0008]本實(shí)用新型中,所述光刻衍射屏3上可有三種孔徑的單縫、單絲,和雙縫、雙絲,共12組衍射測量線。
      [0009]本實(shí)用新型中,所述雙立柱固定滑塊8為滑塊在垂直導(dǎo)軌方向安裝有兩個(gè)立柱,如圖2所示,這樣保證上部游標(biāo)尺測量裝置4能夠在垂直導(dǎo)軌方向移動(dòng)以滿足光強(qiáng)分布測量要求。
      [0010]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于,較之傳統(tǒng)的光強(qiáng)分布測量裝置具有裝置簡單、成本低、位置讀數(shù)調(diào)零方便等特點(diǎn),特別適合于高等院?;A(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)。
      【附圖說明】
      [0011 ]圖1為本實(shí)用新型的裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0012]圖2為游標(biāo)尺測量裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0013]圖中標(biāo)號(hào):I為激光器二維調(diào)節(jié)架、2為半導(dǎo)體激光器、3為光刻衍射屏、4為游標(biāo)尺測量裝置、5為固定滑塊、6為可微調(diào)滑塊、7為光學(xué)導(dǎo)軌、8為雙立柱固定滑塊。9為探測器輸出接頭,10為光電探測器,11為游標(biāo)尺顯示架,12為游標(biāo)尺主尺,13為游標(biāo)尺固定架,14為雙立柱。
      【具體實(shí)施方式】
      [0014]本實(shí)用新型包括激光器二維調(diào)節(jié)架1、半導(dǎo)體激光器2、光刻衍射屏3、游標(biāo)尺測量裝置4、固定滑塊5、可微調(diào)滑塊6、光學(xué)導(dǎo)軌7、雙立柱固定滑塊8,其中:
      [0015]其中所述半導(dǎo)體激光器2、光刻衍射屏3和游標(biāo)尺測量裝置4通過三個(gè)滑塊固定在80厘米長光學(xué)導(dǎo)軌上,其中所述光刻衍射屏3固定滑塊具有垂直導(dǎo)軌方向10毫米微調(diào)裝置,可以改變激光器照射的位置,光刻屏上刻有不同孔徑的單絲、單縫、雙絲和雙縫,可以滿足不同的衍射實(shí)驗(yàn)要求。
      [0016]本實(shí)用新型中,游標(biāo)尺測量裝置4由一把長度150毫米數(shù)顯游標(biāo)卡尺改裝而來,如圖2所示。其包括:探測器輸出接頭9、光電探測器10、游標(biāo)尺顯示架11、游標(biāo)尺主尺12、游標(biāo)尺固定架13、雙立柱14。游標(biāo)尺主尺12固定在游標(biāo)尺固定架13上,并在底部留出足夠空間,利于實(shí)驗(yàn)者手推動(dòng)游標(biāo)尺顯示架11移動(dòng),游標(biāo)尺顯示架11后部連接有一塊線路板,線路板上面安裝光電探測器10,探測器通過輸出接頭9連接到顯示屏裝置,可以顯示探測光強(qiáng)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,包括激光器二維調(diào)節(jié)架、半導(dǎo)體激光器、光刻衍射屏、游標(biāo)尺測量裝置、固定滑塊、可微調(diào)滑塊、光學(xué)導(dǎo)軌、雙立柱固定滑塊,其中: 所述半導(dǎo)體激光器、光刻衍射屏和游標(biāo)尺測量裝置(4)分別通過滑塊固定在光學(xué)導(dǎo)軌上;其中半導(dǎo)體激光器安裝在激光器二維調(diào)節(jié)架上,二維調(diào)節(jié)架用以調(diào)節(jié)激光器的出射光線的俯仰角和水平面上的左右角度,二維調(diào)節(jié)架下部通過固定滑塊(5)固定在導(dǎo)軌的最左偵h光刻衍射屏安裝在可微調(diào)滑塊上,可微調(diào)滑塊可以在垂直導(dǎo)軌方向前后微調(diào)10毫米距離,用以改變激光通過光刻衍射屏的位置,該滑塊固定在靠近激光器的一側(cè);游標(biāo)尺測量裝置通過雙立柱固定滑塊固定在導(dǎo)軌的右端。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,所述半導(dǎo)體激光器出射光線與光刻衍射屏中的測量狹縫以及游標(biāo)尺測量裝置中探測器處于同一直線。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,所述二維調(diào)節(jié)支架后部設(shè)有兩個(gè)微調(diào)螺絲,激光器出射光線可以通過二維調(diào)節(jié)支架后部的兩個(gè)微調(diào)螺絲來改變俯仰角和水平方向左右角。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,所述光刻衍射屏上有三種孔徑的單縫、單絲,和雙縫、雙絲,共12組衍射測量線。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,所述游標(biāo)尺測量裝置由一把長度150毫米數(shù)顯游標(biāo)卡尺改裝而來;其包括:探測器輸出接頭、光電探測器、游標(biāo)尺顯示架、游標(biāo)尺主尺、游標(biāo)尺固定架、雙立柱;游標(biāo)尺主尺固定在游標(biāo)尺固定架上,并在底部留出足夠空間,利于實(shí)驗(yàn)者手推動(dòng)游標(biāo)尺顯示架移動(dòng),游標(biāo)尺顯示架后部連接有一塊線路板,線路板上面安裝光電探測器,探測器通過輸出接頭連接到顯示屏裝置,用以顯示探測光強(qiáng)。
      【專利摘要】本實(shí)用新型屬于教學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種測量光強(qiáng)分布的實(shí)驗(yàn)裝置。本實(shí)驗(yàn)裝置包括激光器兩維調(diào)節(jié)支架、半導(dǎo)體激光器、衍射光刻屏、游標(biāo)尺光強(qiáng)測量裝置、固定滑塊、可微調(diào)滑塊和光學(xué)導(dǎo)軌。其中半導(dǎo)體激光器、衍射光刻屏和游標(biāo)尺光強(qiáng)測量裝置通過三個(gè)滑塊固定在光學(xué)導(dǎo)軌上,衍射光刻屏固定滑塊具有垂直導(dǎo)軌方向微調(diào)裝置,游標(biāo)尺光強(qiáng)測量裝置可由是一把數(shù)顯游標(biāo)卡尺改裝而來,在數(shù)顯移動(dòng)端上部裝有一光電探測器,用以測量激光經(jīng)過衍射之后的光強(qiáng),數(shù)顯游標(biāo)卡尺通過固定支架安裝在滑塊上部,可以垂直導(dǎo)軌方向移動(dòng),并通過數(shù)顯讀出位置讀數(shù)。由于數(shù)顯游標(biāo)尺有調(diào)零按鈕且讀數(shù)精度高,所以該光強(qiáng)分布實(shí)驗(yàn)裝置調(diào)節(jié)方便、測量準(zhǔn)確,特別適合于高等院校基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)。
      【IPC分類】G09B23/22
      【公開號(hào)】CN205122058
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520917323
      【發(fā)明人】時(shí)晨, 張晨波, 夏原
      【申請(qǐng)人】上海復(fù)旦天欣科教儀器有限公司
      【公開日】2016年3月30日
      【申請(qǐng)日】2015年11月17日
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