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      液晶基板及其檢查裝置的制作方法

      文檔序號:2735344閱讀:150來源:國知局
      專利名稱:液晶基板及其檢查裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種液晶基板及其檢查裝置。
      背景技術(shù)
      液晶顯示面板業(yè)已被廣泛使用于各種領(lǐng)域,然而隨著近年來高精細化的進展,液晶基板電路圖案的寬度和圖案的間距亦呈現(xiàn)變窄的趨勢。
      必須檢查液晶基板的圖案的導通狀態(tài),以便在面板組裝前檢測出圖案短路或斷線的不良產(chǎn)品。對于該圖案的檢查,一般的檢查方法是以探針接觸于與一圖案相鄰接的圖案,再藉由該圖案之間是否導通來判斷圖案有無產(chǎn)生短路。上述的檢查方法包括有利用探針以掃描方式依序?qū)D案進行檢查的方法和利用復數(shù)探針同時檢查復數(shù)圖案的導通狀態(tài)的方法。
      在上述的檢查方法中,對于圖案寬度和圖案間距小的液晶基板就很難進行檢查,故會存在無法穩(wěn)定檢查的問題。
      本發(fā)明的目的是解決上述背景技術(shù)中存在的問題。

      發(fā)明內(nèi)容
      為了達到上述目的,本發(fā)明提出一種液晶基板,它具有大致成平行排列的圖案,其特征在于在上述圖案的端部具有檢查用的延伸部分,并且在所述圖案中相鄰的兩個圖案的所述延伸部分是互相往對方圖案方向延伸的。在上述結(jié)構(gòu)中,由于延伸部分是往對方圖案方向延伸,故在該延伸部分可得到按照與圖案寬度相同的寬度來延伸的效果。為此,可進行精確度高且穩(wěn)定的圖案檢查。
      上述延伸部分是設(shè)置于圖案的端部,并交互地設(shè)置于相異端部較佳。亦即,在圖案1的一個端部設(shè)置延伸部分的同時,在其相鄰的其他圖案中于與上述端部相反側(cè)的另一端部設(shè)置延伸部分。藉由以上結(jié)構(gòu),可形成不會與其他圖案產(chǎn)生互相干涉的延伸部分。
      此外,還可以設(shè)置于復數(shù)圖案的一個端部的復數(shù)延伸部分是往同一方向延伸出去、而設(shè)置于另一端部的復數(shù)延伸部分則往與該同一方向相差180°的方向延伸出去來構(gòu)成較佳。藉由以上結(jié)構(gòu)并以延伸部分的延伸方向作為掃描方向,就可連續(xù)地進行精密度高且穩(wěn)定的檢查。
      延伸部分的前端是以延伸至相鄰圖案的相反側(cè)邊的延長線位置附近較佳。藉由上述結(jié)構(gòu)可擴大延伸部的長度。液晶基板圖案端部的端子,其間距比圖案部份小些。為了掃描如上所述的間距不同的端部,故在上述端部設(shè)置令間距成為相同間距的調(diào)整部分,并令上述延伸部分連接于該間距調(diào)整部分來構(gòu)成,以同樣地進行穩(wěn)定且高精密度的檢查。
      更進一步的是,本發(fā)明的液晶基板的檢查裝置是在使探針接觸于液晶基板的圖案的同時還進行掃描,來檢查圖案的導通狀態(tài),所述的檢查裝置包括第一探針,可與圖案1的上述延伸部分相接觸;第二探針,可與鄰接于上述圖案1的另一圖案的上述延伸部分相接觸;以及第三探針,可與鄰接于上述另一圖案的又一圖案的上述延伸部分相接觸。藉由使用如上所述的三個探針,就可達成一邊接觸于延伸部分、一邊有效率地進行穩(wěn)定的高精密度檢查的效果。


      圖1示出本發(fā)明的一個實施例的概略圖。
      圖2示出本發(fā)明的另一個實施例的動作概略圖。
      符號說明1~圖案、2~圖案、5~延伸部分、6~延伸部分、7~間距調(diào)整部分、8~檢查裝置、10~一端、11~另一端、12~外邊、13~內(nèi)邊、15~引線、20~一端部、21~另一端部、22~外邊、23~內(nèi)邊、50~直線部分、51~前端、52~底端、60~直線部分、61~前端、62~底端、80~檢查裝置、81~探針、82~探針、83~探針
      具體實施例方式
      下文就本發(fā)明的實施例參照附圖進行說明。
      在圖1中,利用曝光技術(shù)或其他方法將玻璃制造的玻璃基板A以大致平行且大致等間距的方式形成復數(shù)透明電路圖案1、2,并將兩片上述液晶基板A疊合而形成液晶顯示面板。
      圖案1、2是大致呈長方形,并以復數(shù)形成于液晶基板A上,然而在圖1中僅以4條圖案1、2表示,其余則省略。
      圖案1在兩端具有一端10及另一端11,并具有面向于鄰近的圖案2的內(nèi)邊13及相反側(cè)的外邊12。
      同樣地,圖案2在兩端具有一端部20及另一端部21,并具有面向于鄰近的圖案1的內(nèi)邊23及相反側(cè)的外邊22。
      上述圖案1、2的結(jié)構(gòu)與公知的結(jié)構(gòu)相同。
      在上述結(jié)構(gòu)的圖案1的一端10側(cè)連續(xù)一體地形成有延伸部分5。延伸部分5是由與圖案1連接的直線部分50和大致往垂直正交于圖案1的方向延伸的直線部分50構(gòu)成的,圖案1與延伸部分5大致以呈L字型的方式形成的。
      同樣地,在圖案2的另一端部21側(cè)連續(xù)一體地形成有延伸部分6。上述延伸部分6亦同樣地是由與圖案2連接的直線部分60和大致垂直正交于圖案2的直線部分60構(gòu)成的,圖案2跟延伸部分6大致以呈L字型的方式形成的。
      圖案1的延伸部分5是往圖案2方向延伸出去,而圖案2的延伸部分6是往圖案1方向延伸出去。延伸部分5的前端51延伸至與外邊22的延長線大致切齊處,而延伸部分6的前端61則延伸至與外邊12的延長線大致切齊處。
      藉由以上結(jié)構(gòu),圖案1和圖案2即可達到以相互交錯組合成L字型的形狀來配置。
      在以上所說明的實施例中,圖案1、2的寬度W是等同被擴大成具有與延伸部分6的長度相同的效果。此外,間距亦同樣地等同被擴大成由圖案1到下一個圖案1或由圖案2到下一個圖案2的效果。
      為了檢查上述結(jié)構(gòu)的圖案1、2的導通狀態(tài),故使用檢查裝置80朝箭頭所示的檢查方向連續(xù)地以掃描方式來檢測短路。上述的檢查裝置80具有探針81、82、83,藉由令上述探針跟延伸部分5、6相接觸而往箭頭方向進行掃描,即以圖案1與圖案2導通、圖案2與下一個圖案1導通、下一個圖案1與下一個圖案2導通,如此這般的構(gòu)成,以便依序進行圖案間的導通檢查。
      由于延伸部分5、6比圖案1、2的寬度大些,因此可進行穩(wěn)定而高精確度的檢查。
      圖2示出另一實施例。
      在本實施例中,圖案1、2形成引線15,令該引線15之間的間距變窄,而成為與圖案1、2之間的間距不相同。
      接著,在延伸部分5與引線15之間設(shè)置間距調(diào)整部分7,以將線的位置調(diào)整回到與圖案1、2同樣的位置而令其間距跟圖案1、2相同。
      由于延伸部分5、6的結(jié)構(gòu)與上述的實施例相同,故在此省略其說明。
      另外,雖然上文是以進行掃描的檢查方法作為導通檢查來說明的,但是即使是在利用多探針同時檢查復數(shù)圖案的情況下亦可達到能進行穩(wěn)定而高精確度的檢查的效果。
      發(fā)明效果綜上所述,根據(jù)本發(fā)明的液晶基板具有可進行穩(wěn)定而高精確度的導通檢查的效果。
      權(quán)利要求
      1.一種液晶基板,具有大致成平行排列的圖案,其特征在于上述圖案的端部具有檢查用的延伸部分;以及上述圖案中相鄰的兩個圖案的上述延伸部分是互相往對方圖案方向延伸。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶基板,其特征在于,所述的延伸部分是設(shè)置于一個圖案的一個端部,而且上述的延伸部分還設(shè)置于一個圖案的相鄰其他圖案的另一端部。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶基板,其特征在于,設(shè)置于上述圖案的一個端部的延伸部分是往同一方向延伸出去,而設(shè)置于上述圖案的另一端部的延伸部則往跟該同一方向相差180°的方向延伸出去。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的液晶基板,其特征在于,所述的圖案延伸部分的前端延伸至相鄰圖案的相反側(cè)邊的延長線位置附近。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3或4所述的液晶基板,其特征在于所述的圖案具有間距不同的端部;在所述的端部設(shè)置有令間距成為相同的間距調(diào)整部分;以及所述的延伸部分連接于該間距調(diào)整部。
      6.一種檢查裝置,在使探針接觸于液晶基板的圖案的同時還進行掃描來檢查圖案的導通狀態(tài),其特征在于,包括第一探針,可與一個圖案的所述延伸部分相接觸;第二探針,可與鄰接于上述圖案的另一圖案的所述延伸部分相接觸;以及第三探針,可與鄰接于上述另一圖案的又一圖案的所述延伸部分相接觸。
      全文摘要
      本發(fā)明提供一種可進行高精密度且穩(wěn)定的導通檢查的液晶基板。在圖案1和2的端部分別形成延伸部分5和6,使探針81、82、83跟該延伸部分5和6相接觸來進行導通檢查。
      文檔編號G02F1/1345GK1376928SQ0210171
      公開日2002年10月30日 申請日期2002年1月14日 優(yōu)先權(quán)日2001年3月22日
      發(fā)明者中山勝 申請人:株式會社阿迪泰克工程
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