專利名稱：判定液晶顯示板磨削量的指示符和檢測磨削故障的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種液晶顯示板，尤其涉及一種用來判定液晶顯示板磨削量的指示符和用該指示符檢測磨削故障的方法。雖然本發(fā)明適于較寬的應(yīng)用范圍，不過本發(fā)明尤其適于在把較大的母板襯底切割為多個(gè)單位液晶板之后，簡化磨削單個(gè)液晶顯示板的邊緣部分中的磨削檢測過程。
按照慣例，通過用一切割輪(wheel)在母板襯底的表面上形成一條劃線的方法，進(jìn)行單位LCD板的切割，該切割輪的硬度大于玻璃并且能在母板襯底上劃出一條劃線。以下將參照附圖描述一種LCD裝置的制造方法。


圖1是一示意性剖視圖，它示出包括薄膜晶體管陣列襯底的第一母板襯底和包括濾色器襯底的第二母板襯底。第一母板襯底和第二母板襯底相互附著在一起，由此形成多個(gè)單位LCD板。
參見圖1，形成這些單位LCD板，以使薄膜晶體管陣列襯底1的一側(cè)形成得突出于濾色器襯底2。這是因?yàn)檫x通襯墊(gate pad)單元(圖中未示)和數(shù)據(jù)襯墊(data pad)單元(圖中未示)形成于未與濾色器襯底2交疊的薄膜晶體管陣列襯底1的邊緣部分處。
因此，對于虛擬區(qū)31的區(qū)域來說，形成于第二母板襯底30上的濾色器襯底2是分開形成的，虛擬區(qū)31對應(yīng)于薄膜晶體管陣列襯底1在第一母板襯底20上伸出的區(qū)域。
而且，令各單位LCD板定位于有效利用第一母板襯底20和第二母板襯底30。根據(jù)該模型，對于虛擬區(qū)32的區(qū)域來說，單位LCD板是分開形成的。
包括薄膜晶體管陣列襯底1的第一母板襯底20和包括濾色器襯底2的第二母板襯底30相互附著在一起。之后，將這些LCD板切割成單獨(dú)的板。此時(shí)，同時(shí)去除形成第二母板襯底30的濾色器襯底2的虛擬區(qū)31和用來分開單位LCD板的虛擬區(qū)32。
在將第二母板襯底30切割成多個(gè)單位LCD板之后，去除用來阻止靜電的一條短線，該短線形成于薄膜晶體管陣列襯底1的邊緣部分處。在該方法中，單位LCD板的銳角轉(zhuǎn)角受到磨削。當(dāng)在薄膜晶體管陣列襯底1上形成導(dǎo)電膜時(shí)，短線上可能發(fā)生靜電。而且，通過磨削LCD板的銳角轉(zhuǎn)角，工件不會因?yàn)橥饬_撞而與單位LCD板的轉(zhuǎn)角分開，并且能夠在制造過程中防止操作人員因單位LCD板銳角轉(zhuǎn)角而受到傷害。
以下將參照附圖描述傳統(tǒng)單位LCD板的磨削方法和磨削量的檢測方法。
圖2是該傳統(tǒng)單位LCD板的示意性平面圖。
參見圖2，一單位LCD板10包括一圖像顯示單元13，液晶盒以一矩陣形式排列；一選通襯墊單元14，它用來將圖像顯示單元13的多條選通線GL1至GLm接至選通驅(qū)動集成電路(圖中未示)，該電路加有一選通信號；和一數(shù)據(jù)襯墊單元15，它用來將圖像顯示單元13的多條數(shù)據(jù)線DL1至DLn接至數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路(圖中未示)，該電路加有圖像信息。在薄膜晶體管陣列襯底1的邊緣部分上，形成選通襯墊單元14和數(shù)據(jù)襯墊單元15，與濾色器襯底2相比，該邊緣部分的兩個(gè)側(cè)邊都是突出的。
在數(shù)據(jù)線DL1至DLn與選通線GL1至GLm垂直交叉的區(qū)域上，其中形成一用來開關(guān)液晶盒的薄膜晶體管。形成一象素電極，以使其接至薄膜晶體管，用以驅(qū)動液晶盒。在整個(gè)表面上形成一鈍化膜，以保護(hù)數(shù)據(jù)線DL1至DLn、選通線GL1至GLm、各薄膜晶體管和各電極。
而且，用來電短路導(dǎo)電膜的短線(圖中未示)形成于薄膜晶體管陣列襯底1的邊緣部分，以去除可能產(chǎn)生于在薄膜晶體管陣列襯底1上形成數(shù)據(jù)線DL1至DLn、選通線GL1至Glm和電極中的靜電。
在圖像顯示單元13的濾色器襯底2上，通過具有黑色矩陣的液晶盒區(qū)涂敷和分開多個(gè)濾色器。在薄膜晶體管陣列襯底1上形成與象素電極相對應(yīng)的公共透明電極。
在薄膜晶體管陣列襯底1與濾色器襯底2之間形成盒間隙，以便兩個(gè)襯底相互間隔開并且相互面對。通過一密封單元(圖中未示)連接薄膜晶體管陣列襯底1和濾色器襯底2，該密封單元形成于圖像顯示單元13的外部。在薄膜晶體管陣列襯底1與濾色器襯底2之間的空間形成一液晶層(圖中未示)。
另一方面，形成多個(gè)標(biāo)記50a至50j并且使其相互分開，用以為數(shù)據(jù)線DL1至DLn、選通線GL1至GLm定位，以接觸選通驅(qū)動集成電路和數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路的多個(gè)管腳。
必須磨削上面的單位LCD板10，以使其如圖2中擴(kuò)展區(qū)EX1所示，自單位LCD板10的端部到磨削線R1有一斜邊。但是，單位LCD板10的實(shí)際磨削線有一自磨削線R1開始的誤差范圍D1。若該誤差在誤差范圍D1之外，則確定該磨削有故障。
為了檢測該故障，操作人員必須使受磨削的單位LCD板10離開生產(chǎn)線達(dá)一預(yù)定時(shí)間段。然后，應(yīng)當(dāng)借助位于測量設(shè)備中的高放大率照相機(jī)或投影儀，用另外的設(shè)備檢測單位LCD板10的實(shí)際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
在傳統(tǒng)液晶顯示板的磨削檢測方法中，使受磨削的單位液晶板10離開生產(chǎn)線達(dá)一預(yù)定時(shí)間段。然后，借助另外的設(shè)備檢測該單位LCD板，以用位于測量設(shè)備中的高放大率照相機(jī)或投影儀確定該單位LCD板10的實(shí)際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
如前所述，在操作人員將單位液晶板與生產(chǎn)線分開以測量受切割單位LCD板磨削量之后，用測量設(shè)備檢驗(yàn)?zāi)ハ髁康牟僮骱軓?fù)雜，也很麻煩。這樣，產(chǎn)量降低得如測量單位LCD板磨削量的時(shí)間那么多。
由于額外需要一種昂貴的測量設(shè)備，所以增加了安裝費(fèi)用和保養(yǎng)與維修費(fèi)用，由此提高了產(chǎn)品的成本。
而且，由于在一預(yù)定時(shí)間段內(nèi)通過對單位LCD板采樣來進(jìn)行磨削量的測量，所以降低了檢測的可靠性。還有，完成的單位LCD板可能會受到處理。操作停止，并且包括未采樣板的所有液晶顯示板的磨削量都應(yīng)在磨削出現(xiàn)故障時(shí)受到檢測。因此嚴(yán)重地浪費(fèi)了原材料和時(shí)間。
本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提供一種用來判定液晶顯示板磨削量的指示符和用該指示符檢測磨削故障的方法，該方法簡化了在切割裝配在母板襯底上液晶顯示板之后磨削單位LCD板邊緣部分過程中的磨削檢測過程。
本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點(diǎn)將在以下的描述中列出，根據(jù)該描述，它們一部分將變得很明顯，或者可以通過對本發(fā)明的實(shí)踐得以學(xué)會。通過在以下所寫的說明書及其權(quán)利要求書以及附圖中特別指出的結(jié)構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)和得到部分的這些目的和其他優(yōu)點(diǎn)。
為了實(shí)現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明目的的這些和其他優(yōu)點(diǎn)，如所具體實(shí)施和概括描述的那樣，一種用來判定一液晶顯示板磨削量的指示符包括至少一個(gè)形成于液晶顯示板的一選通襯墊單元和一數(shù)據(jù)襯墊單元上的定位標(biāo)記；和至少一個(gè)用來檢測選通襯墊單元和定位標(biāo)記的第一端部與數(shù)據(jù)襯墊單元和定位標(biāo)記的第二端部之間磨削量的圖案。
在本發(fā)明的另一個(gè)方面，一種液晶顯示板磨削量的檢測方法包括磨削一液晶顯示板的邊緣部分，該邊緣部分在一選通襯墊單元和一數(shù)據(jù)襯墊單元上具有至少一個(gè)定位標(biāo)記，并且該邊緣部分有一用來檢測選通襯墊單元和定位標(biāo)記的第一端部與數(shù)據(jù)襯墊單元和定位標(biāo)記的第二端部之間磨削量的圖案；通過檢驗(yàn)該圖案，判定液晶顯示板的磨削量。
應(yīng)理解的是，前面總的描述和以下詳細(xì)的描述都是示例和解釋性的，意欲用它們提供如所要求保護(hù)的本發(fā)明的進(jìn)一步解釋。
這些附圖中圖1是一示意性剖視圖，它示出將包括薄膜晶體管陣列襯底的第一母板襯底和包括濾色器襯底的第二母板襯底相互附著以形成多個(gè)液晶顯示(LCD)板；圖2是一傳統(tǒng)單位LCD板的平面圖和定位標(biāo)記部分的放大圖；圖3是一示意圖，它示出根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例用于檢測一LCD板磨削量的指示符；圖4是一示意圖，它示出根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例用于檢測一LCD板磨削量的指示符。
圖3是一示意圖，它示出根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例具有用于檢測一LCD板磨削量圖案的指示符。
如圖3所示，一單位LCD板100包括圖像顯示單元113，它具有以矩陣形式排列的液晶盒；選通襯墊單元114，它用來將圖像顯示單元113的多條選通線GL1至GLm接至選通驅(qū)動集成電路(圖中未示)，該電路上加有一選通信號；和一數(shù)據(jù)襯墊單元115，它用來將圖像顯示單元113的多條數(shù)據(jù)線DL1至DLn接至數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路(圖中未示)，該電路上加有圖像信息。此時(shí)，在薄膜晶體管陣列襯底101突出得比濾色器襯底102長的邊緣部分上，形成選通襯墊單元114和數(shù)據(jù)襯墊單元115。
在數(shù)據(jù)線DL1至DLn與選通線GL1至GLm垂直相交的區(qū)域，形成一用于開關(guān)液晶盒的薄膜晶體管。形成一象素電極，以使其接至該薄膜晶體管，用以驅(qū)動液晶盒。在整個(gè)表面上形成一鈍化膜，以保護(hù)數(shù)據(jù)線DL1至DLn、選通線GL1至GLm、各薄膜晶體管和各電極。
而且，用來電短路導(dǎo)電膜的短線(圖中未示)形成于薄膜晶體管陣列襯底101的邊緣部分，以消除可能產(chǎn)生于在薄膜晶體管陣列襯底101上形成導(dǎo)電膜如一數(shù)據(jù)線、一選通線和一電極中的靜電。
在圖像顯示單元113的濾色器襯底102上，通過具有黑色矩陣的液晶盒區(qū)涂敷和分開多個(gè)濾色器。在薄膜晶體管陣列襯底101上形成與象素電極相對應(yīng)的公共透明電極。
在薄膜晶體管陣列襯底101與濾色器襯底102之間形成盒間隙，以便兩個(gè)襯底相互間隔開并且相互面對。通過一密封層(圖中未示)連接薄膜晶體管陣列襯底101和濾色器襯底102，該密封層形成于圖像顯示單元113的外部。在薄膜晶體管陣列襯底101與濾色器襯底102之間的空間形成一液晶層(圖中未示)。
另一方面，形成預(yù)定數(shù)目的敲制標(biāo)記(tap mark)150a至150j并且使其相互分開，用以為數(shù)據(jù)線DL1至DLn、選通線GL1至GLm定位，以接觸選通驅(qū)動集成電路和數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路的多個(gè)管腳。例如，如圖3所示，在選通襯墊單元114上形成三個(gè)敲制標(biāo)記150a至150c并且使其相互分開，在數(shù)據(jù)襯墊單元115上形成7個(gè)敲制標(biāo)記150d至150j以使其相互分開。
必須磨削上面的單位LCD板100，以使其如圖3中擴(kuò)展區(qū)EX1所示，自單位LCD板100的端部到磨削線R1有一斜邊。但是，單位LCD板100的實(shí)際磨削線有一自磨削線R1開始的誤差范圍D1。這樣，若該誤差在誤差范圍D1之外，則確定該磨削有故障。
按照慣例，操作人員必須從生產(chǎn)線上取出受磨削的單位液晶顯示板100達(dá)一預(yù)定時(shí)間段。用另外的設(shè)備檢測所選的單位液晶顯示板，以用位于該檢測設(shè)備上的高放大率照相機(jī)或投影儀確定該單位LCD板100的實(shí)際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
但是，在本發(fā)明的實(shí)施例中，如圖3所示，在與誤差范圍D1相對應(yīng)的區(qū)上形成判斷磨削量的圖案120。在誤差范圍D1的中間形成磨削線R1。此時(shí)，將誤差范圍D1設(shè)定為從磨削線R1起約±100□。理想的是，當(dāng)在選通襯墊單元114上形成判斷磨削量120的圖案時(shí)，同時(shí)形成該圖案和選通線GL1至GLm。當(dāng)在數(shù)據(jù)襯墊單元115上形成判斷磨削量120的圖案時(shí)，同時(shí)形成該圖案和數(shù)據(jù)線DL1至DLn。
所以，用裸眼確定單位液晶顯示板100的實(shí)際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
也就是說，如果用來判定完成的單位LCD板100磨削量120的所觀察的圖案根本沒有受到磨削，那么應(yīng)當(dāng)進(jìn)行更進(jìn)一步的磨削。如果所觀察的圖案彎曲受到了磨削以致沒有留下圖案的任何一部分，那么磨削得過度了。
采用根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例用來判定LCD板磨削量的圖案和用該圖案檢測磨削故障的方法，無需另外的測量儀器，并且與傳統(tǒng)的LCD及其方法不同，對所有的單位LCD板100確定磨削故障。
圖4是一示意圖，它示出了具有根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例用來檢測LCD板磨削量的圖案的指示符。
圖4中的單位LCD板100包括圖像顯示單元113，它具有以矩陣形式排列的液晶盒；選通襯墊單元114，它用來將圖像顯示單元113的多條選通線GL1至GLm接至選通驅(qū)動集成電路(圖中未示)，該電路上加有一選通信號；和一數(shù)據(jù)襯墊單元115，它用來將圖像顯示單元113的多條數(shù)據(jù)線DL1至DLn接至數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路(圖中未示)，該電路上加有圖像信息。在薄膜晶體管陣列襯底101從濾色器襯底102伸出的垂直和水平邊構(gòu)成的邊緣部分上，形成選通襯墊單元114和數(shù)據(jù)襯墊單元115。
在數(shù)據(jù)線DL1至DLn與選通線GL1至GLm垂直相交的區(qū)域，形成一用于開關(guān)液晶盒的薄膜晶體管。形成一象素電極，以使其接至該薄膜晶體管，用以驅(qū)動液晶盒。在整個(gè)表面上形成一鈍化膜，以保護(hù)數(shù)據(jù)線DL1至DLn、選通線GL1至GLm、各薄膜晶體管和各電極。
而且，用來電短路導(dǎo)電膜的短線(圖中未示)形成于薄膜晶體管陣列襯底101的邊緣部分，以去除可能產(chǎn)生于在薄膜晶體管陣列襯底101上形成導(dǎo)電膜如一數(shù)據(jù)線、一選通線和一電極中的靜電。
在圖像顯示單元113的濾色器襯底102上，形成通過具有黑色矩陣的液晶盒區(qū)分開的多個(gè)濾色器，并且在薄膜晶體管陣列襯底101上形成與象素電極相對應(yīng)的公共透明電極。
在薄膜晶體管陣列襯底101與濾色器襯底102之間形成盒間隙，以便兩個(gè)襯底相互間隔開并且相互面對。通過一密封層(圖中未示)連接薄膜晶體管陣列襯底101和濾色器襯底102，該密封層形成于圖像顯示單元113的外部。在薄膜晶體管陣列襯底101與濾色器襯底102之間的空間形成一液晶層(圖中未示)。
形成多個(gè)敲制標(biāo)記150a至150j并且使其相互分開，用以為數(shù)據(jù)線DL1至DLn、選通線GL1至GLm定位，以接觸選通驅(qū)動集成電路和數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路的多個(gè)管腳。例如，如圖4所示，在選通襯墊單元114上形成三個(gè)敲制標(biāo)記150a至150c并且使其相互分開，在數(shù)據(jù)襯墊單元115上均勻地分開形成7個(gè)敲制標(biāo)記150d至150j。
必須磨削上面的單位LCD板100，以使其如圖3中擴(kuò)展區(qū)EX1所示，自單位LCD板100的端部END1到磨削線R1有一斜邊。單位LCD板100的實(shí)際磨削線可以有一自磨削線R1開始的誤差范圍D1。若該實(shí)際磨削線在誤差范圍D1之外，則確定該磨削有故障。
在本發(fā)明的第二實(shí)施例中，在誤差范圍D1的區(qū)上分開形成判斷磨削量的多個(gè)圖案220a至220o，該誤差范圍D1包括在誤差范圍區(qū)中間的磨削線R1。
通過將一距離劃分成一恒定的標(biāo)度，用裸眼檢驗(yàn)用來檢測一磨削量的圖案220a至220o，該距離例如是從誤差范圍D1的中間部分內(nèi)磨削線R1起約±100□。這樣，這些圖案可以有約200□的寬度。
例如，如圖4所示，當(dāng)在中央部分形成用來檢測一磨削量的三個(gè)圖案220g至220i時(shí)，第一區(qū)處于向單位LCD板100的端部END1的方向上，第二區(qū)處于向敲制標(biāo)記150j的方向上。用磨削線R1分開第一區(qū)和第二區(qū)。
具有用來檢測一磨削量的圖案220b至220f的第一區(qū)形成得更靠近敲制標(biāo)記150j。與圖案220b相同的圖案220a形成于距中央圖案220g至220i最遠(yuǎn)處。
具有用來檢測一磨削量的圖案220j至220n的第二區(qū)在一恒定距離水平上形成得更靠近單位LCD板100的端部END1。類似地，與圖案220n相同的圖案220o形成于距中央圖案220g至220i最遠(yuǎn)處。
形成在最遠(yuǎn)處外側(cè)形成的圖案220a和220o，用以可靠地判斷磨削故障，同時(shí)形成于中央部分上的三個(gè)圖案220g至220i用來確定單位LCD板100的實(shí)際受磨削的線和磨削線R1是否彼此相同。
可以用多個(gè)顯示標(biāo)記檢測單位LCD板100的實(shí)際磨削量。例如，可以在對應(yīng)于圖案220a至220o形成敲制標(biāo)記150j的區(qū)的邊緣部分以一恒定的標(biāo)度采用數(shù)字符號如(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)。如果誤差范圍D1是從磨削線R1起約±100□，則數(shù)字(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)的標(biāo)度約為10□。
根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例，可以通過裸眼的檢驗(yàn)確定單位LCD板100的實(shí)際磨削線是否在誤差范圍D1之外。
例如，當(dāng)沒有觀察到側(cè)邊緣部分處的圖案220a和220b而觀察到完成的單位LCD板100的圖案220a至220o時(shí)，確定發(fā)生故障，因?yàn)槟ハ鬟^量。相反，若另一個(gè)側(cè)邊緣部分處的圖案220a和220o根本沒有受到磨削，則確定發(fā)生故障，因?yàn)樾枰M(jìn)一步磨削。
可以通過用裸眼檢驗(yàn)來檢測單位LCD板100實(shí)際受到磨削的線和磨削線R1。此外，可以通過用高放大率的照相機(jī)檢測與圖案220a至220o相對應(yīng)的數(shù)字(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)，在約20□的誤差范圍內(nèi)檢測單位LCD板100的實(shí)際磨削量。
當(dāng)形成劃分區(qū)以具有更多的圖案200a至200o從而形成更細(xì)小的標(biāo)度時(shí)，可以減小約20□的誤差范圍。
因此，當(dāng)開始將誤差范圍D1設(shè)定到從磨削線R1起約±100，然后變至約±80□時(shí)，根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例，仍然可以通過用高放大率的照相機(jī)檢測與圖案220a至220o相對應(yīng)的數(shù)字(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)來進(jìn)行操作。
所以，根據(jù)本發(fā)明，提高了產(chǎn)量，因?yàn)椴僮魅藛T不必從生產(chǎn)線上取出單位LCD板以檢驗(yàn)所切割單位LCD板的磨削量，從而測量磨削量。而且，由于無需測量設(shè)備，所以降低了安裝費(fèi)用和保養(yǎng)與維修費(fèi)用。
此外，由于可以通過用裸眼簡單地檢驗(yàn)來確定所有單位LCD板的磨削故障，所以與需要取出單位LCD板達(dá)一時(shí)間段的傳統(tǒng)方法不同，它提高了檢驗(yàn)的可靠性。
按照慣例，當(dāng)發(fā)生磨削故障時(shí)，必須停止制造過程以檢驗(yàn)包括采樣和未采樣板的整個(gè)板。因此，可能會因磨削故障不得不處理某些已經(jīng)完成的單位板。所以，大大浪費(fèi)了原材料和時(shí)間。但是，本發(fā)明通過在生產(chǎn)線上檢查整個(gè)單位產(chǎn)品，避免了以上的問題。
借助用來判定LCD板磨削量的圖案和用該圖案檢測磨削故障的方法，在誤差范圍變窄時(shí)也不難執(zhí)行檢測過程，因?yàn)橛门c判斷磨削量的圖案相對應(yīng)的數(shù)字檢測單位LCD板的實(shí)際磨削量。
對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說很明顯的是，在不脫離本發(fā)明實(shí)質(zhì)或范圍的情況下，可以在用來判定一液晶顯示板磨削量的指示符和用本發(fā)明的該指示符檢測磨削故障的方法中作各種修改和變換。這樣，假定本發(fā)明的這些修改和變換落在所附權(quán)利要求書的范圍內(nèi)，則意欲使本發(fā)明覆蓋它們及其等同物。
權(quán)利要求
1.一種用來判定一液晶顯示板磨削量的指示符，包括至少一個(gè)形成于液晶顯示板的一選通襯墊單元和一數(shù)據(jù)襯墊單元上的定位標(biāo)記；和至少一個(gè)用來判定選通襯墊單元和定位標(biāo)記的第一端部與數(shù)據(jù)襯墊單元和定位標(biāo)記的第二端部之間磨削量的圖案。
2.權(quán)利要求1的指示符，其中定位標(biāo)記是一敲制標(biāo)記(tap mark)。
3.權(quán)利要求1的指示符，其中磨削量最佳位于該圖案在磨削方向上的中部。
4.權(quán)利要求3的指示符，其中該圖案的寬度在磨削量誤差范圍之內(nèi)。
5.權(quán)利要求4的指示符，其中該誤差范圍是從圖案的中部起約±100□。
6.權(quán)利要求1的指示符，其中該圖案形成為具有一不連續(xù)形狀。
7.權(quán)利要求1的指示符，其中該圖案沿一最佳磨削線分為第一區(qū)和第二區(qū)。
8.權(quán)利要求7的指示符，其中第一區(qū)自最佳磨削線起比第二區(qū)更靠近液晶顯示板的端部。
9.權(quán)利要求7的指示符，其中第二區(qū)自最佳磨削線起比第一區(qū)更靠近定位標(biāo)記。
10.權(quán)利要求7的指示符，還包括對應(yīng)于每一個(gè)圖案顯示在第二區(qū)以下的一個(gè)標(biāo)記，以表示一磨削量。
11.一種液晶顯示板磨削量的判定方法，包括磨削一液晶顯示板的邊緣部分，該邊緣部分在一選通襯墊單元和一數(shù)據(jù)襯墊單元上具有至少一個(gè)定位標(biāo)記，并且該邊緣部分有一用來判定選通襯墊單元和定位標(biāo)記的第一端部與數(shù)據(jù)襯墊單元和定位標(biāo)記的第二端部之間磨削量的圖案；以及通過檢驗(yàn)該圖案，判定液晶顯示板的磨削量。
12.權(quán)利要求11的方法，其中液晶顯示板具有多條選通線和數(shù)據(jù)線。
13.權(quán)利要求11的方法，其中同時(shí)形成其選通襯墊單元和選通線中的圖形。
14.權(quán)利要求11的方法，其中同時(shí)形成在數(shù)據(jù)襯墊單元和數(shù)據(jù)線中的圖形。
15.權(quán)利要求11的方法，其中定位標(biāo)記是一敲制標(biāo)記。
16.權(quán)利要求11的方法，其中磨削量最佳位于該圖案在磨削方向上的中部。
17.權(quán)利要求16的方法，其中該圖案的寬度在磨削量誤差范圍之內(nèi)。
18.權(quán)利要求17的方法，其中該誤差范圍是從圖案的中部起約±100□。
19.權(quán)利要求11的方法，其中該圖案形成為具有一不連續(xù)形狀。
20.權(quán)利要求11的方法，其中該圖案沿一最佳磨削線分為第一區(qū)和第二區(qū)。
21.權(quán)利要求20的方法，其中第一區(qū)自最佳磨削線起比第二區(qū)更靠近液晶顯示板的端部。
22.權(quán)利要求20的方法，其中第二區(qū)自最佳磨削線起比第一區(qū)更靠近定位標(biāo)記。
23.權(quán)利要求20的方法，其中通過顯示在第二區(qū)以下的一個(gè)標(biāo)記區(qū)分該圖案。
全文摘要
本發(fā)明中公開了一種用來判定一液晶顯示板磨削量的指示符和采用該指示符的磨削量故障判定方法。該指示符包括至少一個(gè)形成于液晶顯示板的一選通襯墊單元和一數(shù)據(jù)襯墊單元上的定位標(biāo)記；和至少一個(gè)用來檢測選通襯墊單元和定位標(biāo)記的第一端部與數(shù)據(jù)襯墊單元和定位標(biāo)記的第二端部之間磨削量的圖案。
文檔編號G02F1/1333GK1443628SQ0211894
公開日2003年9月24日 申請日期2002年4月30日 優(yōu)先權(quán)日2002年3月13日
發(fā)明者蔡景洙, 秋憲銓, 林種高 申請人:Lg.菲利浦Lcd株式會社