專利名稱：間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法。
技術(shù)背景隨著光學成像技術(shù)的發(fā)展，鏡頭模組在各種成像裝置如數(shù)碼相 機、攝像機中得到廣泛的應(yīng)用，而整合有鏡頭模組的手機、筆記本 電腦等電子裝置，則更是得到眾多消費者的青睞。現(xiàn)有的鏡頭模組通常包括收容于鏡筒內(nèi)的多個透鏡、濾光片等 光學元件，以及間隔環(huán)等。所述間隔環(huán)設(shè)置于兩相鄰的光學元件之 間，其用于控制各光學元件之間距離，以防止相鄰光學元件之間發(fā) 生摩擦或碰撞，從而避免透鏡、濾光片等光學元件受損。如圖1所示，常見的間隔環(huán)10包括相對設(shè)置的第一表面101 及第二表面102，用于與鏡筒內(nèi)壁接觸的圓周側(cè)面103,以及可供光 線透過的直徑沿間隔環(huán)10厚度方向漸變的圓臺狀透光孔104。所述 圓臺狀透光孔104連通所述第一表面IOI及第二表面102,并且該 圓臺狀透光孔104的直徑從第 一表面101 —側(cè)至第二表面102 —側(cè) 沿間隔環(huán)厚度方向逐漸變小。在此，定義間隔環(huán)10的第一表面101 為間隔環(huán)10的正面，定義間隔10的第二表面102為間隔環(huán)10的反 面。參見圖2及圖3，當間隔環(huán)10的正面朝向發(fā)散透鏡20的出射 面時，間隔環(huán)10將會阻擋部分經(jīng)由發(fā)散透鏡20發(fā)散的有效光線， 從而會影響鏡頭模組的成像質(zhì)量；而當間隔環(huán)10的反面朝向發(fā)散透 鏡20的出射面時，由于圓臺狀透光孔104的直徑沿光線的傳播方向 逐漸變大，從而可避免遮擋經(jīng)由發(fā)散透鏡20發(fā)散的有效光線。因此， 在將間隔環(huán)組裝入鏡頭模組之前，需要檢測待組裝間隔環(huán)的正反放 置狀態(tài)，以防止將間隔環(huán)的方向裝反。
有鑒于此，有必要提供一種間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法， 其可快速、準確地檢測間隔環(huán)的正反放置狀態(tài)。發(fā)明內(nèi)容下面將以實施例說明一種間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的^r測方法，其 可快速、準確地檢測間隔環(huán)的正反放置狀態(tài)。一種間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其包括步驟提供一個 用于產(chǎn)生激光光束的激光產(chǎn)生裝置以及一個用于探測所述激光光束 的激光探測裝置；將待測間隔環(huán)置于所述激光光束光路中的預(yù)定位 置，該預(yù)定位置的設(shè)置可使待測間隔環(huán)在正反兩種放置狀態(tài)時允許 或阻止激光光束透過其透光孔，相應(yīng)的，所述激光探測裝置則能或 不能探測到激光光束；啟動激光產(chǎn)生裝置以產(chǎn)生激光光束并利用激 光探測裝置探測激光束，根據(jù)激光探測裝置是否探測到激光光束檢 測間隔環(huán)的放置狀態(tài)。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其采 用激光光束照射待測間隔環(huán)，由于待測間隔環(huán)處于正反兩種不同的 放置狀態(tài)時將允許或阻止激光光束穿過間隔環(huán)的透光孔，進而可根 據(jù)激光探測裝置是否探測到激光光束來判別間隔環(huán)的放置狀態(tài)，其 可快速、準確地;險測間隔環(huán)的正反放置狀態(tài)。


圖l是現(xiàn)有的間隔環(huán)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是圖l所示間隔環(huán)與發(fā)散透鏡以第一種狀態(tài)配合組裝時的入 射光線光路圖。圖3是圖1所示間隔環(huán)與發(fā)散透鏡以第二種狀態(tài)配合組裝時的入 射光線光路圖。圖4是本發(fā)明實施例激光探測裝置探測到激光光束的示意圖。 圖5是本發(fā)明實施例激光探測裝置未探測到激光光束的示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實施例作進一步詳細說明。參見圖4至圖5,本發(fā)明實施例提供的間隔環(huán)10正反放置狀態(tài) 的檢測方法包括步驟(1) 提供一個激光產(chǎn)生裝置30及一個激光探測裝置40。 該激光產(chǎn)生裝置30用于產(chǎn)生激光光束(圖中箭頭所示)。所述激光產(chǎn)生裝置30可采用紅外波段的激光器，如二氧化碳激光器，二極 管激光器，以及摻釹釔鋁石榴石(Nd-YAG)激光器、鐿釔鋁石榴石 (Yd-YAG)激光器、釹釩酸鹽(Nd-Vanadate)激光器等固態(tài)激光器。該 激光探測裝置40用于探測激光產(chǎn)生裝置30產(chǎn)生的激光光束，從而 所述激光產(chǎn)生裝置30與激光探測裝置40之間形成激光光束的光路 (圖中箭頭所示)。該激光探測裝置40可為激光感測器。(2) 提供一個間隔環(huán)10，將該間隔環(huán)IO置于所述激光光束光路 中的預(yù)定位置。所述間隔環(huán)10為環(huán)狀，其具有第一表面101，第二表面102及 圓臺狀透光孔104。所述透光孔104的直徑沿間隔環(huán)IO的厚度方向 漸變，并且該透光孔104與間隔環(huán)10的第一表面101及第二表面 102的交接處分別形成第 一開口 1041及第二開口 1042。所述第一開 口 1041的直徑大于第二開口 1042的直徑。間隔環(huán)10的第一開口 1041在第二表面102上的投影與第二開口 1042之間形成 一 個環(huán)形 區(qū)域1020。間隔環(huán)10的第二開口 1042在第一表面101所處平面上 的投影與第 一開口 1041之間形成一個虛擬的環(huán)形區(qū)域1010。將間隔環(huán)IO置于激光產(chǎn)生裝置30與激光探測裝置40之間的激 光光束光路中時，該間隔環(huán)IO具有兩種放置狀態(tài)(a).正放置狀態(tài)， 即間隔環(huán)10的第 一表面101朝向激光產(chǎn)生裝置30，而第二表面102 朝向激光探測裝置40(如圖4所示)。(b).反放置狀態(tài)，即間隔環(huán)10 的第二表面102朝向激光產(chǎn)生裝置30，而第一表面101朝向激光探 測裝置40(如圖5所示)。所述預(yù)定位置使得間隔環(huán)10處于正放置狀態(tài)時，激光光束可穿 過間隔環(huán)IO的透光孔104;間隔環(huán)IO處于反放置狀態(tài)時，激光光束不能穿過間隔環(huán)10的透光孔104。參見圖4，當間隔環(huán)10處于正放置狀態(tài)時，激光產(chǎn)生裝置30 產(chǎn)生的激光光束照向環(huán)形區(qū)域1010，并且該激光光束與透光孔104 軸截面的母線AA'平行。所述激光光束入射至虛擬的環(huán)形區(qū)域1010 后，可穿過透光孔104進而到達激光探測裝置40。參見圖5，當間隔環(huán)IO處于反放置狀態(tài)時，激光產(chǎn)生裝置30 產(chǎn)生的激光光束照向環(huán)形區(qū)域1020。所述激光光束入射至環(huán)形區(qū)域 1020后，被環(huán)形區(qū)域1020阻擋而無法穿過透光孔104，從而激光探 測裝置40無法探測到激光光束。(3)啟動激光產(chǎn)生裝置30以產(chǎn)生激光光束并利用激光探測裝皇 40探測激光束，根據(jù)激光探測裝置40是否探測到激光光束檢測間 隔環(huán)10的放置狀態(tài)。參照第(2)步的預(yù)定位置設(shè)置原則當激光探 測裝置40可以#1測到激光光束時，則間隔環(huán)IO處于正力丈置狀態(tài)； 當激光探測裝置40不能探測到激光光束時，則間隔環(huán)10處于反放 置狀態(tài)。需要說明的是，上述間隔環(huán)正反放置狀態(tài)檢測方法的步驟(2) 中，入射的激光光束并不局限于與透光孔104軸截面的母線AA'平 行，該激光光束的入射方向也可根據(jù)其在環(huán)形區(qū)域1010內(nèi)入射點的 不同而作適當調(diào)整，只要能保證"間隔環(huán)IO處于正放置狀態(tài)時，激 光光束可穿過間隔環(huán)10的透光孔104;間隔環(huán)10處于反放置狀態(tài) 時，激光光束不能穿過間隔環(huán)10的透光孔104"即可。所述間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其采用激光光束照射待 測間隔環(huán)10,由于待測間隔環(huán)10處于正反兩種不同的放置狀態(tài)時 將允許或阻止激光光束穿過間隔環(huán)10的透光孔104,進而可根據(jù)激 光探測裝置40是否探測到激光光束來判別間隔環(huán)10的放置狀態(tài)， 其可快速、準確地檢測間隔環(huán)的正反放置狀態(tài)。另外，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可在本發(fā)明精神內(nèi)做其它變化，如適當變換激光產(chǎn)生裝置的種類，激光光束入射的位置、角度等，只要 其不偏離本發(fā)明的技術(shù)效果均可。這些依據(jù)本發(fā)明精神所做的變化，都應(yīng)包含在本發(fā)明所要求保護的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1. 一種間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其包括步驟 提供一個用于產(chǎn)生激光光束的激光產(chǎn)生裝置以及一個用于探測所 述激光光束的激光探測裝置； . 將待測間隔環(huán)置于所述激光光束光路中的預(yù)定位置，該預(yù)定位置 的設(shè)置可使待測間隔環(huán)在正反兩種放置狀態(tài)時允許或阻止激光光 束透過其透光孔，相應(yīng)的，所述激光探測裝置則能或不能探測到 激光光束；啟動激光產(chǎn)生裝置以產(chǎn)生激光光束并利用激光探測裝置探測激光束，根據(jù)激光探測裝置是否探測到激光光束檢測間隔環(huán)的放置狀太心0
2. 如權(quán)利要求1所述的間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其特征在 于，所述間隔環(huán)的透光孔為直徑沿該間隔環(huán)厚度方向漸變的圓臺狀透光孔。
3. 如權(quán)利要求1所述的間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其特征在 于，所述激光產(chǎn)生裝置為紅外激光器。
4. 如權(quán)利要求3所述的間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其特征在 于，所述紅外激光器選自固態(tài)激光器，二氧化碳激光器及二極管 激光器。
5. 如權(quán)利要求4所述的間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其特征在 于，所述固態(tài)激光器選自摻釹釔鋁石榴石激光器、鐿釔鋁石榴石 激光器及釹釩酸鹽激光器。
6. 如權(quán)利要求1所述的間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其特征在 于，所述激光探測裝置為激光感測器。
7. 如權(quán)利要求1所述的間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法，其特征在 于，所述激光探測裝置位于所述激光產(chǎn)生裝置產(chǎn)生的激光光束光 路中。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種間隔環(huán)的正反放置狀態(tài)的檢測方法，其包括步驟提供一個用于產(chǎn)生激光光束的激光產(chǎn)生裝置以及一個用于探測所述激光光束的激光探測裝置；將待測間隔環(huán)置于所述激光光束光路中的預(yù)定位置，該預(yù)定位置的設(shè)置可使待測間隔環(huán)在正反兩種放置狀態(tài)時允許或阻止激光光束透過其透光孔，相應(yīng)的，所述激光探測裝置則能或不能探測到激光光束；啟動激光產(chǎn)生裝置以產(chǎn)生激光光束并利用激光探測裝置探測激光束，根據(jù)激光探測裝置是否探測到激光光束檢測間隔環(huán)的放置狀態(tài)。該間隔環(huán)正反放置狀態(tài)的檢測方法可快速、準確地檢測間隔環(huán)的正反放置狀態(tài)。
文檔編號G02B7/00GK101144880SQ20061006262
公開日2008年3月19日 申請日期2006年9月15日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月15日
發(fā)明者蕭博元 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司