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      液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法及其裝置的制作方法

      文檔序號(hào):2808414閱讀:312來源:國(guó)知局
      專利名稱:液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法及其裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種液晶顯示器的檢測(cè)方法及其裝置,特別是一種液晶顯示 器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法及其裝置。
      背景技術(shù)
      液晶顯示器(Liquid Crystal Display, LCD)具有體積小、功耗低、無 輻射等特點(diǎn),現(xiàn)已占據(jù)了平面顯示領(lǐng)域的主導(dǎo)地位。液晶顯示器的主體結(jié)構(gòu) 包括對(duì)盒在一起并將液晶夾設(shè)其間的陣列基板和彩膜基板,陣列基板上形成 有提供掃描信號(hào)的柵線、提供數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)線、形成像素點(diǎn)的像素電極以 及提供公共電壓的陣列公共電極,彩膜基板上形成有黑矩陣、彩色樹脂圖形 以及彩膜公共電極。
      為保證產(chǎn)品質(zhì)量,陣列基板和彩膜基板對(duì)盒后必須進(jìn)行檢測(cè),以發(fā)現(xiàn)不 良并進(jìn)行相應(yīng)維修。圖6為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu) 示意圖。如圖6所示,現(xiàn)有技術(shù)這種檢測(cè)裝置是一種利用公共電極檢測(cè)亮點(diǎn) 或暗點(diǎn)不良的技術(shù)方案,其主體結(jié)構(gòu)包括電壓輸入端20、運(yùn)算放大器A、第 一電阻R1、第二電阻R2和電壓輸出端40,電壓輸入端20與電源裝置連接, 電壓輸出端40與陣列公共電極和彩膜公共電極連接,通過向陣列公共電極和 彩膜公共電極輸入相同的檢測(cè)電壓信號(hào),以檢測(cè)液晶顯示器是否存在亮點(diǎn)或 暗點(diǎn)不良。
      由于液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)不良包括陣列基板不良和盒內(nèi)不良,現(xiàn)有技 術(shù)這種檢測(cè)裝置雖然可以檢測(cè)到液晶顯示器的亮點(diǎn)或暗點(diǎn)不良,但卻無法區(qū) 分出該亮點(diǎn)或暗點(diǎn)不良是陣列基板不良,還是盒內(nèi)不良。實(shí)際生產(chǎn)表明,準(zhǔn) 確區(qū)分出不良類型對(duì)后續(xù)維修是非常重要的。在對(duì)盒工藝后,陣列基板不良可通過激光維修工藝進(jìn)行修復(fù),而盒內(nèi)不良是不可維修的?,F(xiàn)有技術(shù)目前通
      常采用顯微鏡;險(xiǎn)測(cè)方式確定不良類型,但有些亮點(diǎn)或暗點(diǎn)不良(如TFT溝道 區(qū)域不良、黑矩陣遮蓋區(qū)域不良)是顯微鏡無法觀測(cè)的區(qū)域,因此現(xiàn)有技術(shù) 這種檢測(cè)方式無法完全區(qū)分出不良類型。為了保證產(chǎn)品品質(zhì),現(xiàn)有技術(shù)對(duì)無 法區(qū)分亮點(diǎn)或暗點(diǎn)不良類型的產(chǎn)品只能做不合格處理,不作維修,該情況在 生產(chǎn)中所占比重較大,廢棄成本高,損失嚴(yán)重。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的目的是提供一種液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法及其裝置,有 效解決現(xiàn)有液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置無法區(qū)分不良類型的技術(shù)缺陷。
      為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法, 包括
      步驟1、向彩膜基板的彩膜公共電極加載第一檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極 與陣列基板的像素電極之間形成第 一 電壓差;
      步驟2、判斷液晶顯示器是否出現(xiàn)亮點(diǎn)或暗點(diǎn),是執(zhí)行步驟3,否則執(zhí)行 步驟7;
      步驟3、采集此時(shí)所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)的第一亮度值;
      步驟4、將加載在所述彩膜公共電極上的第一檢測(cè)電壓切換成第二檢測(cè) 電壓,在彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間形成第二電壓差;
      步驟5、采集此時(shí)所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)的第二亮度值;
      步驟6、判斷所述第一亮度值與第二亮度值之間的差距,當(dāng)I第一亮度 值-第二亮度值l《A時(shí),確定所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)為盒內(nèi)不良;當(dāng)I第一亮度值 -第二亮度值I >B時(shí),確定所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)為陣列基板不良;其中A為預(yù)先 設(shè)定的第一偏差值,B為預(yù)先設(shè)定的第二偏差值;
      步驟7、檢測(cè)結(jié)束。
      對(duì)于常白模式的液晶顯示器,所述步驟1具體包括向彩膜基板的彩膜公共電極加載第 一檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間形 成第一電壓差,使液晶顯示器顯示為黑色。
      對(duì)于常黑模式的液晶顯示器,所述步驟1具體包括向彩膜基板的彩膜 公共電極加載第一檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間形 成第一電壓差,使液晶顯示器顯示為白色。
      在上述技術(shù)方案基礎(chǔ)上,所述第一偏差值為10-30個(gè)灰度值,所述第二 偏差值為50~100個(gè)灰度值。
      為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供了一種液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝 置,包括電源裝置,還包括向陣列基板的陣列公共電極加載檢測(cè)電壓的陣列 輸出端和向彩膜基板的彩膜公共電極加載檢測(cè)電壓使所述彩膜公共電極與陣 列基板的像素電極之間形成電壓差的彩膜輸出端,所述電源裝置與彩膜輸出 端之間還設(shè)置有改變所述電壓差的開關(guān)。
      所述電源裝置與第一運(yùn)算放大單元和第二運(yùn)算放大單元連接;第一運(yùn)算放 大單元包括運(yùn)算放大器、第一電阻和第二電阻,第一電阻并接在運(yùn)算放大器的 正輸入端與輸出端之間,第二電阻連接在電源裝置與運(yùn)算放大器的正輸入端之 間,運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端接地,運(yùn)算放大器的輸出端與陣列輸出端連接;第 二運(yùn)算放大單元包括運(yùn)算放大器、第一電阻、第二電阻和第三電阻,第一電阻 并接在運(yùn)算放大器的正輸入端與輸出端之間,第二電阻和第三電阻的一端連接 運(yùn)算放大器的正輸入端,另一端分別連接開關(guān)的二個(gè)切換端,運(yùn)算放大器的負(fù) 輸入端接地,運(yùn)算放大器的輸出端與彩膜輸出端連接,開關(guān)的控制端與電源裝 置連接。
      所述電源裝置與第二運(yùn)算放大單元連接,第二運(yùn)算放大單元包括運(yùn)算放 大器、第一電阻、第二電阻和第三電阻,第一電阻并接在運(yùn)算放大器的正輸 入端與輸出端之間,第二電阻和第三電阻的一端連接運(yùn)算放大器的正輸入端, 另一端分別連接開關(guān)的二個(gè)切換端,運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端接地,運(yùn)算放大 器的輸出端分別與陣列輸出端和彩膜輸出端連接,開關(guān)的控制端與所述電源裝置連接。
      在上述技術(shù)方案基礎(chǔ)上,所述第二電阻的電阻值是第三電阻的電阻值的
      1. 5 ~ 3. 5倍。
      所述電源裝置包括提供第 一檢測(cè)電壓的第 一 電源裝置和提供第二檢測(cè)電 壓的第二電源裝置,第一電源裝置與陣列電壓輸出端連接,第一電源裝置和 第二電源裝置分別連接開關(guān)的二個(gè)切換端,開關(guān)的控制端與彩膜電壓輸出端 連接。
      所述電源裝置包括提供第 一檢測(cè)電壓的第 一 電源裝置和提供第二檢測(cè)電 壓的第二電源裝置,第一電源裝置和第二電源裝置分別連接開關(guān)的二個(gè)切換 端,開關(guān)的控制端與陣列電壓輸出端和彩膜電壓輸出端連接。
      在上述技術(shù)方案基礎(chǔ)上,所述第二檢測(cè)電壓的電壓值是第一檢測(cè)電壓的 電壓值的1.5~3. 5倍。
      本發(fā)明提供了 一種液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法及其裝置,分別向陣 列基板的陣列公共電極和彩膜基板的彩膜公共電極加載檢測(cè)電壓,并通過加 載在彩膜公共電極上檢測(cè)電壓的改變,使彩膜公共電極與陣列基板的像素電 極之間的電壓差改變,即可明確區(qū)分出盒內(nèi)不良或陣列基板不良。與現(xiàn)有技 術(shù)只能判斷亮點(diǎn)或暗點(diǎn)不良但卻無法區(qū)分出不良類型的技術(shù)方案相比,本發(fā) 明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作簡(jiǎn)便,類型確定準(zhǔn)確,可為不良分析和維修提供有利的依 據(jù),從而有效避免了產(chǎn)品廢棄,降低了損失。
      下面通過附圖和實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。


      圖1為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法的流程圖; 圖2為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖3為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖4為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置第三實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;圖5為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置第四實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖; 圖6為現(xiàn)有技術(shù)液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。 附圖標(biāo)記說明
      10—電源裝置; 11 —第一電源裝置; 12 —第二電源裝置;
      20—電壓輸入端; 21 —陣列電壓輸入端; 22—彩膜電壓輸入端;
      31—第一運(yùn)算放大單元;32—第二運(yùn)算放大單元;40—電壓輸出端; 41一陣列電壓輸出端; 42—彩膜電壓輸出端; 50—開關(guān)。
      具體實(shí)施例方式
      圖1為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法的流程圖,具體包括 步驟1、向彩膜基板的彩膜公共電極加載第一檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極
      與陣列基板的像素電極之間形成第 一 電壓差;
      步驟2、判斷液晶顯示器是否出現(xiàn)亮點(diǎn)或暗點(diǎn),是執(zhí)行步驟3,否則執(zhí)行
      步驟7;
      步驟3、采集此時(shí)所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)的第一亮度值;
      步驟4、將加載在所述彩膜公共電極上的第一檢測(cè)電壓切換成第二檢測(cè) 電壓,在彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間形成第二電壓差;
      步驟5、采集此時(shí)所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)的第二亮度值;
      步驟6、判斷所述第一亮度值與第二亮度值之間的差距,當(dāng)I第一亮度 值-第二亮度值l《A時(shí),確定所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)為盒內(nèi)不良;當(dāng)I第一亮度值 -第二亮度值I >B時(shí),確定所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)為陣列基板不良;其中A為預(yù)先 設(shè)定的第一偏差值,B為預(yù)先設(shè)定的第二偏差值;
      步驟7、檢測(cè)結(jié)束。
      本發(fā)明上述技術(shù)方案是通過改變加載在彩膜公共電極上的檢測(cè)電壓,使 彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間的電壓差變化,以明確區(qū)分出不良 類型。在實(shí)際應(yīng)用中,第二檢測(cè)電壓的電壓值可以大于第一檢測(cè)電壓的電壓值,也可以小于第一檢測(cè)電壓的電壓值,只要使彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間的電壓差變化即可。對(duì)于亮點(diǎn)的亮度值以灰度值為計(jì)量單位時(shí),
      第一偏差值A(chǔ)可以為10-30個(gè)灰度值,第二偏差值B可以為50~100個(gè)灰度值。
      下面通過本發(fā)明的檢測(cè)原理進(jìn)一步說明本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn);險(xiǎn)測(cè)方法的技術(shù)方案。
      對(duì)于常白模式的液晶顯示器,檢測(cè)時(shí),分別向陣列公共電極和彩膜公共電極加載第一檢測(cè)電壓,使彩膜基板上彩膜公共電極與陣列基板上像素電極之間的電壓差最大,液晶為最大偏轉(zhuǎn),使液晶顯示器顯示為黑色(LO)。之后對(duì)液晶顯示器的顯示進(jìn)行觀察,判斷液晶顯示器是否出現(xiàn)亮點(diǎn),由于此時(shí)液晶顯示器為L(zhǎng)O模式,所以亮點(diǎn)很容易發(fā)現(xiàn)。當(dāng)未觀察到亮點(diǎn)時(shí),說明液晶顯示器沒有亮點(diǎn)不良,則結(jié)束該液晶顯示器的檢測(cè)過程。當(dāng)觀察到亮點(diǎn)時(shí),則采集此時(shí)該亮點(diǎn)的第一亮度值,開始進(jìn)行不良類型的判斷。將向彩膜公共電極加載的第 一檢測(cè)電壓切換成第二檢測(cè)電壓,改變了彩膜公共電極與像素電極之間的電壓差,液晶偏轉(zhuǎn)改變,使液晶顯示器的顯示灰度改變。彩膜公共電極與像素電極之間的電壓差改變后,亮點(diǎn)可能出現(xiàn)二種情況。
      第一種情況亮點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小,雖然彩膜公共電極切換檢測(cè)電壓后使液晶顯示器的顯示灰度改變,但亮點(diǎn)仍然為亮點(diǎn)。判斷亮點(diǎn)的亮度是否改變可以采用亮度值比較方法,采集此時(shí)亮點(diǎn)的第二亮度值,判斷第一亮度值與第二亮度值之間的差距,當(dāng)I第一亮度值-第二亮度值I《A時(shí),則認(rèn)為亮點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小,其中A為預(yù)先設(shè)定的第一偏差值。實(shí)際應(yīng)用中,可以用灰度值度量亮點(diǎn)的亮度, 一般情況下,亮點(diǎn)的第一亮度值為L(zhǎng)200 L255,因此第一偏差值A(chǔ)可以預(yù)先設(shè)定為10~30個(gè)灰度值,即第二亮度值與第一亮度值的偏差小于或等于10~30個(gè)灰度值時(shí),認(rèn)為亮點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小。亮點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小 味著亮點(diǎn)處液晶兩端的電壓差沒有改變,即彩膜公共電極與像素電極之間電壓差的改變沒有影響亮點(diǎn)處液晶的電壓差,說明亮點(diǎn)不良是由盒間液晶中粒子導(dǎo)致短路造成的,因此可確定亮點(diǎn)為盒內(nèi)不良,結(jié)束該液晶顯示器的檢測(cè)過程。
      第二種情況亮點(diǎn)的亮度變暗,雖然彩膜公共電極切換檢測(cè)電壓后使液晶顯示器的顯示灰度改變,但亮點(diǎn)變暗更加嚴(yán)重,甚至變?yōu)槿?。判斷亮點(diǎn)的亮度是否改變同樣采用亮度值比較方法,采集此時(shí)亮點(diǎn)的第二亮度值,判斷第一亮度值與第二亮度值之間的差距,當(dāng)I第一亮度值-第二亮度值l >B時(shí),則認(rèn)為亮點(diǎn)的亮度明顯改變,其中B為預(yù)先設(shè)定的第二偏差值。同樣用灰度值度量亮點(diǎn)的亮度, 一般情況下,亮點(diǎn)的第二亮度值為L(zhǎng)0-L50,因此第二偏差值B可以預(yù)先設(shè)定為50~100個(gè)灰度值,即第二亮度值與第一亮度值的偏差大于或等于50~100個(gè)灰度值時(shí),認(rèn)為亮點(diǎn)的亮度明顯變化。亮點(diǎn)的亮度明顯變化意味著亮點(diǎn)處液晶兩端的電壓差發(fā)生改變,即彩膜公共電極與像素電極之間電壓差的改變直接影響了亮點(diǎn)處液晶的電壓差,說明亮點(diǎn)不良是由陣列基板上TFT溝道不良等原因造成的,因此可確定亮點(diǎn)為陣列基板不良,結(jié)束該液晶顯示器的檢測(cè)過程。
      對(duì)于常黑模式的液晶顯示器,檢測(cè)時(shí),分別向陣列公共電極和彩膜公共
      電極加載第 一檢測(cè)電壓,使彩膜基板上彩膜公共電極與陣列基板上像素電極之間的電壓差最大,液晶為最大偏轉(zhuǎn),使液晶顯示器顯示為白色(L255)。之后對(duì)液晶顯示器的顯示進(jìn)行觀察,判斷液晶顯示器是否出現(xiàn)暗點(diǎn),由于此時(shí)液晶顯示器為L(zhǎng)255模式,所以暗點(diǎn)很容易發(fā)現(xiàn)。當(dāng)未觀察到暗點(diǎn)時(shí),說明液晶顯示器沒有亮點(diǎn)不良,則結(jié)束該液晶顯示器的檢測(cè)過程。當(dāng)觀察到暗點(diǎn)時(shí),則采集此時(shí)該亮點(diǎn)的第一亮度值,開始進(jìn)行暗點(diǎn)不良類型的判斷。將向彩膜公共電極加載的第一檢測(cè)電壓切換成第二檢測(cè)電壓,改變了彩膜公共電極與像素電極之間的電壓差,液晶偏轉(zhuǎn)改變,使液晶顯示器的顯示灰度改變。彩膜公共電極與像素電極之間的電壓差改變后,暗點(diǎn)可能出現(xiàn)二種情況。
      第一種情況暗點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小,雖然彩膜公共電極切換檢測(cè)電壓后使液晶顯示器的顯示灰度改變,但暗點(diǎn)仍然為暗點(diǎn)。判斷暗點(diǎn)的
      ii亮度是否改變的方法同前所述。暗點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小意味著暗點(diǎn)處液晶兩端的電壓差沒有改變,即彩膜公共電極與像素電極之間電壓差的改變沒有影響暗點(diǎn)處液晶的電壓差,說明暗點(diǎn)不良是由盒間液晶中粒子導(dǎo)致短路造成的,因此可確定暗點(diǎn)為盒內(nèi)不良,結(jié)束該液晶顯示器的檢測(cè)過程。
      第二種情況暗點(diǎn)的亮度變亮,雖然彩膜公共電極切換;險(xiǎn)測(cè)電壓后使液晶顯示器的顯示灰度改變,但暗點(diǎn)變亮更加嚴(yán)重,甚至變?yōu)槿住E袛喟迭c(diǎn)的亮度是否改變的方法同前所述。暗點(diǎn)的亮度明顯變化意味著暗點(diǎn)處液晶兩端的電壓差發(fā)生改變,即彩膜公共電極與像素電極之間電壓差的改變直接影響了暗點(diǎn)處液晶的電壓差,說明暗點(diǎn)不良是由陣列基板上TFT溝道不良等原因造成的,因此可確定暗點(diǎn)為陣列基板不良,結(jié)束該液晶顯示器的檢測(cè)過程。
      本發(fā)明上述技術(shù)方案提供了一種液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法,分別向陣列基板的陣列公共電極和彩膜基板的彩膜公共電極加載檢測(cè)電壓,并通過加載在彩膜公共電極上檢測(cè)電壓的改變,使彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間的電壓差變化,即可明確區(qū)分出盒內(nèi)不良或陣列基板不良。與現(xiàn)有技術(shù)只能判斷亮點(diǎn)或暗點(diǎn)不良但卻無法區(qū)分出不良類型的技術(shù)方案相比,本發(fā)明檢測(cè)方法簡(jiǎn)單,類型確定準(zhǔn)確,可為不良分析和維修提供有利的依據(jù),從而有效避免了產(chǎn)品廢棄,降低了損失。
      圖2為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示,本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置的主體結(jié)構(gòu)包括一個(gè)電源裝置和二個(gè)基板模塊,電源裝置10同時(shí)與陣列基板模塊和彩膜基板模塊連接,用于提供檢測(cè)電壓。本實(shí)施例中的陣列基板模塊包括依次連接的陣列電壓輸入端21、第一運(yùn)算放大單元31和陣列電壓輸出端41,陣列電壓輸入端21與電源裝置10連接,陣列電壓輸出端41與陣列基板的陣列公共電極連接,用于向陣列公共電極加載第一檢測(cè)電壓。其中第一運(yùn)算放大單元31包括運(yùn)算放大器A、第一電阻R1和第二電阻R2,第一電阻R1并接在運(yùn)算放大器A的正輸入端與輸出端之間,第二電阻R2連接在陣列電壓輸入端21與
      12運(yùn)算放大器A的正輸入端之間,運(yùn)算放大器A的負(fù)輸入端接地。本實(shí)施例中 的彩膜基板模塊包括依次連接的彩膜電壓輸入端22、開關(guān)50、第二運(yùn)算放大 單元32和彩膜電壓輸出端42,彩膜電壓輸入端22與電源裝置10連接,彩 膜電壓輸出端42與彩膜基板的彩膜公共電極連接,用于向彩膜公共電極加載 第一檢測(cè)電壓或第二檢測(cè)電壓。第二運(yùn)算放大單元32包括運(yùn)算放大器A、第 一電阻R1、第二電阻R2和第三電阻R3,第一電阻R1并接在運(yùn)算放大器A的 正輸入端與輸出端之間,第二電阻R2和第三電阻R3并聯(lián)連接在開關(guān)50與運(yùn) 算放大器A的正輸入端之間,運(yùn)算放大器A的負(fù)輸入端接地。開關(guān)50的控制 端與彩膜電壓輸入端22連接,開關(guān)50的一個(gè)切換端連接第二電阻R2,開關(guān) 50的另一個(gè)切換端連接第三電阻R3,開關(guān)50通過切換與之連接的第二電阻 R2或第三電阻R3,使彩膜基板模塊向彩膜公共電極加載第一檢測(cè)電壓或第二 檢測(cè)電壓。實(shí)際應(yīng)用中,第一電阻Rl和第三電阻R3為lkQ ~ 2000kQ,其 比例關(guān)系可根據(jù)實(shí)際需求設(shè)計(jì)。
      對(duì)于常白模式的液晶顯示器,本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置 的工作過程為首先,將開關(guān)50的控制端與連接第二電阻R2的切換端連接, 電源裝置10提供檢測(cè)電壓,由于陣列基板模塊和彩膜基板模塊結(jié)構(gòu)完全相 同,陣列電壓輸出端41和彩膜電壓輸出端42分別向陣列公共電極和彩膜公 共電極加載相同的第一檢測(cè)電壓,使彩膜基板上彩膜公共電極與陣列基板上 像素電極之間的電壓差最大,液晶為最大偏轉(zhuǎn),液晶顯示器顯示為黑色(LO)。 對(duì)液晶顯示器的顯示進(jìn)行觀察,判斷液晶顯示器是否出現(xiàn)亮點(diǎn)。當(dāng)觀察到亮 點(diǎn)時(shí),將開關(guān)50的控制端與連接第三電阻R3的切換端連接,使彩膜電壓輸 出端42向彩膜公共電極加載第二檢測(cè)電壓,而陣列電壓輸出端41向陣列公 共電極加載的第一檢測(cè)電壓不變。由于彩膜公共電極上加載電壓改變,改變 了彩膜公共電極與像素電極之間的電壓差,液晶偏轉(zhuǎn)改變,使液晶顯示器的 顯示灰度改變。對(duì)液晶顯示器的亮點(diǎn)進(jìn)行觀察,判斷亮點(diǎn)的亮度是否改變, 當(dāng)亮點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小時(shí),確定亮點(diǎn)為盒內(nèi)不良,當(dāng)亮點(diǎn)的亮度變暗甚至變?yōu)槿跁r(shí),確定亮點(diǎn)為陣列基板不良。
      對(duì)于常黑模式的液晶顯示器,本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置
      的工作過程為首先,將開關(guān)50的控制端與連接第二電阻R2的切換端連接, 電源裝置10提供檢測(cè)電壓,由于陣列基板模塊和彩膜基板模塊結(jié)構(gòu)完全相 同,陣列電壓輸出端41和彩膜電壓輸出端42分別向陣列公共電極和彩膜公 共電極加載相同的第一檢測(cè)電壓,使彩膜基板上彩膜公共電極與陣列基板上 像素電極之間的電壓差最大,液晶為最大偏轉(zhuǎn),液晶顯示器顯示為白色 (L255)。對(duì)液晶顯示器的顯示進(jìn)行觀察,判斷液晶顯示器是否出現(xiàn)暗點(diǎn)。當(dāng) 觀察到暗點(diǎn)時(shí),將開關(guān)50的控制端與連接第三電阻R3的切換端連接,使彩 膜電壓輸出端42向彩膜公共電極加栽第二檢測(cè)電壓,而陣列電壓輸出端41 向陣列公共電極加載的第一檢測(cè)電壓不變。由于彩膜公共電極上加載電壓改 變,改變了彩膜公共電極與像素電極之間的電壓差,液晶偏轉(zhuǎn)改變,使液晶 顯示器的顯示灰度改變。對(duì)液晶顯示器的暗點(diǎn)進(jìn)行觀察,判斷暗點(diǎn)的亮度是 否改變,當(dāng)暗點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小時(shí),確定暗點(diǎn)為盒內(nèi)不良,當(dāng)暗 點(diǎn)的亮度變暗甚至變?yōu)槿讜r(shí),確定亮點(diǎn)為陣列基板不良。
      圖3為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意 圖。如圖3所示,本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置是前述第一實(shí)施 例的一種結(jié)構(gòu)變形,主體結(jié)構(gòu)包括一個(gè)電源裝置和一個(gè)基板模塊,電源裝置 10用于提供檢測(cè)電壓,基板模塊用于分別向陣列基板的陣列公共電極和彩膜 基板的彩膜公共電極加載第一檢測(cè)電壓或第二檢測(cè)電壓。本實(shí)施例中的基板 模塊包括電壓輸入端20、開關(guān)50、第二運(yùn)算放大單元32、陣列電壓輸出端 41和彩膜電壓輸出端42。其中電壓輸入端20與電源裝置10連接,陣列電壓 輸出端41連接在第二運(yùn)算放大單元32與陣列基板的陣列公共電極之間,彩 膜電壓輸出端42連接在第二運(yùn)算放大單元32與彩膜基板的彩膜公共電極之 間。第二運(yùn)算放大單元32包括運(yùn)算放大器A、第一電阻R1、第二電阻R2和 第三電阻R3,第一電阻Rl并接在運(yùn)算放大器A的正輸入端與輸出端之間,第二電阻R2和第三電阻R3并聯(lián)連接在開關(guān)50與運(yùn)算放大器A的正輸入端之 間,運(yùn)算放大器A的負(fù)輸入端接地。電壓輸入端20與開關(guān)50的控制端連接, 開關(guān)50的一個(gè)切換端連接第二電阻R2,開關(guān)50的另一個(gè)切換端連接第三電 阻R3,開關(guān)50通過切換與之連接的第二電阻R2或第三電阻R3,使陣列電壓 輸出端41和彩膜電壓輸出端42分別向陣列公共電極和彩膜公共電極加載第 一檢測(cè)電壓或第二檢測(cè)電壓。
      本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置的工作過程與前述第一實(shí)施例 基本相同,與第一實(shí)施例不同的是,本實(shí)施例在檢測(cè)過程中改變了施加在陣 列公共電極上的檢測(cè)電壓,但由于陣列公共電極上的電壓變化對(duì)亮點(diǎn)或暗點(diǎn) 不良的影響較小,因此不僅不會(huì)影響本實(shí)施例對(duì)不良類型的判斷,而且具有 結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的特點(diǎn)。
      圖4為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置第三實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意 圖。如圖4所示,本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置的主體結(jié)構(gòu)包括 二個(gè)電源裝置、二個(gè)電壓輸出端和一個(gè)開關(guān)。具體地,第一電源裝置ll用于 提供第一檢測(cè)電壓,并通過陣列電壓輸入端21向陣列基板的陣列公共電極加 載該第一檢測(cè)電壓;第二電源裝置12用于提供第二檢測(cè)電壓,第一電源裝置 11和第二電源裝置12通過開關(guān)50和彩膜電壓輸出端42向彩膜基板的彩膜 公共電極加載第一檢測(cè)電壓或第二檢測(cè)電壓。具體地,開關(guān)50的一個(gè)切換端 連接第一電源裝置ll,開關(guān)50的另一個(gè)切換端連接第二電源裝置12,開關(guān) 50的控制端連接彩膜電壓輸出端42,第一電源裝置11還與陣列電壓輸出端 41連接。實(shí)際應(yīng)用中,第二檢測(cè)電壓的電壓值可以大于第一檢測(cè)電壓的電壓 值,也可以小于第一檢測(cè)電壓的電壓值,只要使彩膜公共電極與陣列基板的 像素電極之間的電壓差變化即可。
      對(duì)于常白模式的液晶顯示器,本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置 的工作過程為首先,將開關(guān)50的控制端與連接第一電源裝置11的切換端 連接,提供第一^f企測(cè)電壓的第一電源裝置11通過陣列電壓輸出端41和彩膜相同的第一檢測(cè)電 壓,使液晶顯示器顯示為黑色(LO)。對(duì)液晶顯示器的顯示進(jìn)行觀察,判斷液 晶顯示器是否出現(xiàn)亮點(diǎn)。當(dāng)觀察到亮點(diǎn)時(shí),將開關(guān)50的控制端與連接第二電 源裝置12的切換端連接,陣列電壓輸出端41仍然向陣列公共電極加載第一 檢測(cè)電壓。對(duì)液晶顯示器的亮點(diǎn)進(jìn)行觀察,判斷亮點(diǎn)的亮度是否改變,當(dāng)亮 點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小時(shí),確定亮點(diǎn)為盒內(nèi)不良,當(dāng)亮點(diǎn)的亮度變暗 甚至變?yōu)槿跁r(shí),確定亮點(diǎn)為陣列基板不良。
      對(duì)于常黑模式的液晶顯示器,本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置 的工作過程為首先,將開關(guān)50的控制端與連接第一電源裝置11的切換端 連接,提供第一檢測(cè)電壓的第一電源裝置11通過陣列電壓輸出端41和彩膜 電壓輸出端42分別向陣列公共電極和彩膜公共電極加載相同的第一檢測(cè)電 壓,使液晶顯示器顯示為白色(L255)。對(duì)液晶顯示器的顯示進(jìn)行觀察,判斷 液晶顯示器是否出現(xiàn)暗點(diǎn)。當(dāng)觀察到暗點(diǎn)時(shí),將開關(guān)50的控制端與連接第二 電源裝置12的切換端連接,陣列電壓輸出端41仍然向陣列公共電極加載第 一檢測(cè)電壓。對(duì)液晶顯示器的暗點(diǎn)進(jìn)行觀察,判斷暗點(diǎn)的亮度是否改變,當(dāng) 暗點(diǎn)的亮度沒有變化或變化很小時(shí),確定暗點(diǎn)為盒內(nèi)不良,當(dāng)暗點(diǎn)的亮度變 暗甚至變?yōu)槿讜r(shí),確定暗點(diǎn)為陣列基板不良。
      圖5為本發(fā)明液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置第四實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意 圖。如圖5所示,本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置是前述第三實(shí)施 例的一種結(jié)構(gòu)變形,主體結(jié)構(gòu)包括二個(gè)電源裝置、二個(gè)電壓輸出端和一個(gè)開 關(guān)。具體地,第一電源裝置11用于提供第一檢測(cè)電壓,第二電源裝置12用 于提供第二檢測(cè)電壓,第一電源裝置11和第二電源裝置12通過開關(guān)50分別 向陣列基板的陣列公共電極和彩膜基板的彩膜公共電極加載第 一檢測(cè)電壓或 第二檢測(cè)電壓。具體地,開關(guān)50的一個(gè)切換端連接第一電源裝置11,開關(guān) 50的另一個(gè)切換端連接第二電源裝置12,開關(guān)50的控制端分別連接陣列電 壓輸入端21和彩膜電壓輸出端42。本實(shí)施例液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置的工作過程與前述第二實(shí)施例 基本相同,與第三實(shí)施例不同的是,本實(shí)施例在檢測(cè)過程中改變了施加在陣 列公共電極上的檢測(cè)電壓,但由于陣列公共電極上的電壓變化對(duì)亮點(diǎn)或暗點(diǎn) 不良的影響較小,因此不僅不會(huì)影響本實(shí)施例對(duì)不良類型的判斷,而且具有 結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的特點(diǎn)。
      本發(fā)明上述實(shí)施例提供了一種液晶顯示器亮點(diǎn)檢測(cè)裝置,分別向陣列基 板的陣列公共電極和彩膜基板的彩膜公共電極加載檢測(cè)電壓,并通過加栽在 彩膜公共電極上檢測(cè)電壓的改變,使彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之 間的電壓差改變,即可明確區(qū)分出盒內(nèi)不良或陣列基板不良。與現(xiàn)有技術(shù)只 能判斷亮點(diǎn)或暗點(diǎn)不良但卻無法區(qū)分出不良類型的技術(shù)方案相比,本發(fā)明結(jié) 構(gòu)簡(jiǎn)單,操作簡(jiǎn)便,類型確定準(zhǔn)確,不僅保證了產(chǎn)品品質(zhì),而且為后續(xù)維修 提供了可靠的依據(jù),有效避免了產(chǎn)品廢棄,降低了損失。
      最后應(yīng)說明的是以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制, 盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng) 理解,可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換,而不脫離本發(fā)明技 術(shù)方案的精神和范圍。
      權(quán)利要求
      1.一種液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于,包括步驟1、向彩膜基板的彩膜公共電極加載第一檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間形成第一電壓差;步驟2、判斷液晶顯示器是否出現(xiàn)亮點(diǎn)或暗點(diǎn),是執(zhí)行步驟3,否則執(zhí)行步驟7;步驟3、采集此時(shí)所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)的第一亮度值;步驟4、將加載在所述彩膜公共電極上的第一檢測(cè)電壓切換成第二檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間形成第二電壓差;步驟5、采集此時(shí)所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)的第二亮度值;步驟6、判斷所述第一亮度值與第二亮度值之間的差距,當(dāng)|第一亮度值-第二亮度值|≤A時(shí),確定所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)為盒內(nèi)不良;當(dāng)|第一亮度值-第二亮度值|≥B時(shí),確定所述亮點(diǎn)或暗點(diǎn)為陣列基板不良;其中A為預(yù)先設(shè)定的第一偏差值,B為預(yù)先設(shè)定的第二偏差值;步驟7、檢測(cè)結(jié)束。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于, 對(duì)于常白模式的液晶顯示器,所述步驟1具體包括向彩膜基板的彩膜公共 電極加載第 一檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間形成第 一電壓差,使液晶顯示器顯示為黑色。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于, 對(duì)于常黑模式的液晶顯示器,所述步驟1具體包括向彩膜基板的彩膜公共 電極加載第一檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之間形成第 一電壓差,使液晶顯示器顯示為白色。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求1~3中任一權(quán)利要求所述的液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢 測(cè)方法,其特征在于,所述第一偏差值為10~30個(gè)灰度值,所述第二偏差值 為50~100個(gè)灰度值。
      5. —種液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置,包括電源裝置,其特征在于, 還包括向陣列基板的陣列公共電極加載檢測(cè)電壓的陣列輸出端和向彩膜基板 的彩膜公共電極加載檢測(cè)電壓使所述彩膜公共電極與陣列基板的像素電極之 間形成電壓差的彩膜輸出端,所述電源裝置與彩膜輸出端之間還設(shè)置有改變 所述電壓差的開關(guān)。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于, 所述電源裝置與第一運(yùn)算放大單元和第二運(yùn)算放大單元連接;第一運(yùn)算放大 單元包括運(yùn)算放大器、第一電阻和第二電阻,第一電阻并接在運(yùn)算放大器的 正輸入端與輸出端之間,第二電阻連接在電源裝置與運(yùn)算放大器的正輸入端 之間,運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端接地,運(yùn)算放大器的輸出端與陣列輸出端連接; 第二運(yùn)算放大單元包括運(yùn)算放大器、第一電阻、第二電阻和第三電阻,第一 電阻并接在運(yùn)算放大器的正輸入端與輸出端之間,第二電阻和第三電阻的一 端連接運(yùn)算放大器的正輸入端,另一端分別連接開關(guān)的二個(gè)切換端,運(yùn)算放 大器的負(fù)輸入端接地,運(yùn)算放大器的輸出端與彩膜輸出端連接,開關(guān)的控制 端與電源裝置連接。
      7. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于, 所述電源裝置與第二運(yùn)算放大單元連接,第二運(yùn)算放大單元包括運(yùn)算放大器、 第一電阻、第二電阻和第三電阻,第一電阻并接在運(yùn)算放大器的正輸入端與 輸出端之間,第二電阻和第三電阻的一端連接運(yùn)算放大器的正輸入端,另一 端分別連接開關(guān)的二個(gè)切換端,運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端接地,運(yùn)算放大器的 輸出端分別與陣列輸出端和彩膜輸出端連接,開關(guān)的控制端與所述電源裝置 連接。
      8. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)裝置,其特征在于, 所述電源裝置包括提供第 一檢測(cè)電壓的第 一 電源裝置和提供第二檢測(cè)電壓的 第二電源裝置,第一電源裝置與陣列電壓輸出端連接,第一電源裝置和第二 電源裝置分別連接開關(guān)的二個(gè)切換端,開關(guān)的控制端與彩膜電壓輸出端連接。
      9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn);險(xiǎn)測(cè)裝置,其特征在于, 所述電源裝置包括提供第 一檢測(cè)電壓的第 一電源裝置和提供第二檢測(cè)電壓的 第二電源裝置,第一電源裝置和第二電源裝置分別連接開關(guān)的二個(gè)切換端, 開關(guān)的控制端與陣列電壓輸出端和彩膜電壓輸出端連接。
      全文摘要
      本發(fā)明涉及一種液晶顯示器亮點(diǎn)或暗點(diǎn)檢測(cè)方法及其裝置。檢測(cè)方法包括向彩膜公共電極加載第一檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極與像素電極之間形成第一電壓差;發(fā)現(xiàn)亮點(diǎn)或暗點(diǎn)后,采集亮點(diǎn)或暗點(diǎn)的第一亮度值;將加載在彩膜公共電極上的第一檢測(cè)電壓切換成第二檢測(cè)電壓,在彩膜公共電極與像素電極之間形成第二電壓差;采集亮點(diǎn)或暗點(diǎn)的第二亮度值;判斷第一亮度值與第二亮度值之間的差距,當(dāng)|第一亮度值-第二亮度值|≤A時(shí),確定亮點(diǎn)或暗點(diǎn)為盒內(nèi)不良;當(dāng)|第一亮度值-第二亮度值|≥B時(shí),確定亮點(diǎn)或暗點(diǎn)為陣列基板不良。本發(fā)明可明確區(qū)分出盒內(nèi)不良或陣列基板不良,為不良分析和維修提供有利的依據(jù),從而有效避免了產(chǎn)品廢棄,降低了損失。
      文檔編號(hào)G02F1/13GK101661169SQ20081011913
      公開日2010年3月3日 申請(qǐng)日期2008年8月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月27日
      發(fā)明者彭志龍, 麗 李 申請(qǐng)人:北京京東方光電科技有限公司
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