專利名稱：自由空間wdm信號檢測器的制作方法
自由空間WDM信號檢測器
背景技術(shù)：
采用波分復(fù)用(w匿)光學(xué)信號的系統(tǒng)能夠?qū)?shù)據(jù)分成多個數(shù)據(jù)通道，并在具有不
同頻率的單色光學(xué)載波束上對每個數(shù)據(jù)通道編碼。然后這些單色光束能夠組合成單個束，
從而形成可以通過單個光學(xué)系統(tǒng)，例如在相同的光纖上傳輸?shù)膚匿信號。與在單色束上使
用相同的數(shù)據(jù)編碼技術(shù)的系統(tǒng)相比，使用多個光學(xué)載波頻率傳輸數(shù)據(jù)因此使光學(xué)系統(tǒng)的數(shù) 據(jù)傳輸帶寬倍增。 W匿信號的接收機(jī)通常使用載波頻率的差來隔離或者分離各個頻率分量。然后能 夠?qū)⒏鱾€信號解碼，以提取所接收的數(shù)據(jù)。通常，這種解碼采用產(chǎn)生與分離的頻率分量對應(yīng) 的電信號的光電二極管或者類似的光檢測器，并且能夠使用傳統(tǒng)的電子電路操縱或者處理 該電信號。 自由空間光學(xué)通信避免了將光學(xué)信號從發(fā)射機(jī)傳送到接收機(jī)的光纖或者波導(dǎo)的 復(fù)雜度和成本。然而，發(fā)射機(jī)和接收機(jī)之間的自由空間距離通常使得更難以對準(zhǔn)。容忍這 些未對準(zhǔn)的系統(tǒng)因此對于自由空間光學(xué)通信是期望或者必需的。也希望有用于W匿光學(xué)通 信的對準(zhǔn)容忍系統(tǒng)，以避免在提供高的數(shù)據(jù)帶寬時需要光纖或者波導(dǎo)。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一方面，用于波分復(fù)用光學(xué)信號的檢測器包括多個類型的檢測器的
陣列。不同類型的檢測器能夠檢測分別具有波長復(fù)用光學(xué)信號的各載波頻率的光。另外，
檢測器被布置在該陣列中，使得波長復(fù)用光學(xué)信號在該陣列上的任何入射區(qū)域?qū)⒖蓹z測的
光量提供至每種類型的至少一個檢測器。分別與檢測器類型對應(yīng)的通道電子器件的單元能
夠連接到對應(yīng)類型的所有檢測器，從而提供來自接收充分照射的檢測器的輸出信號。 根據(jù)本發(fā)明的另一方面， 一種系統(tǒng)能夠包括發(fā)射機(jī)和接收機(jī)，該發(fā)射機(jī)產(chǎn)生具有
多個載波頻率的光學(xué)信號，該接收機(jī)與該發(fā)射機(jī)由該光學(xué)信號通過其傳播的自由空間隔
開。所述接收機(jī)包括多個類型的檢測器的陣列，其中這些類型的檢測器能夠檢測分別具有
所述載波頻率的光。光學(xué)信號入射到檢測器陣列上的入射區(qū)域的位置(location)通常取
決于接收機(jī)相對于發(fā)射機(jī)的未對準(zhǔn)，但檢測器陣列中的檢測器被布置成使得不管入射區(qū)域 在檢測器陣列上的位置如何，每種類型的至少一個檢測器檢測到來自該光學(xué)信號的光。


圖1示出根據(jù)本發(fā)明實施例的使用自由空間波分復(fù)用光學(xué)通信的服務(wù)器系統(tǒng)。
圖2A，圖2B和圖2C示出根據(jù)本發(fā)明實施例的用于自由空間波分復(fù)用通信的檢測 器陣列的平面圖。 圖3A和圖3B示出適合用于圖2A，圖2B或圖2C的檢測器陣列中的檢測器。 圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的檢測器系統(tǒng)的方框圖。 在不同的圖中使用相同的附圖標(biāo)記來表示相似或者相同的部件。
具體實施例方式
根據(jù)本發(fā)明的一方面，用于自由空間波分復(fù)用(w匿)信號的檢測器系統(tǒng)包括不同 類型的檢測器的陣列或者組拼物(mosaic)。為了提供對靜態(tài)和動態(tài)未對準(zhǔn)的容忍，可以將 該陣列制成相對于WDM信號束輪廓(profile)而言較大，這樣即使檢測器的中心與WDM信 號束之間的未對準(zhǔn)大于束寬度，該束也將入射在該陣列的有源區(qū)域上。在該陣列中的不同 類型的檢測器能夠檢測W匿信號束的不同頻率分量。可以將檢測器制成相對于W匿信號束 輪廓而言較小，并將檢測器布置在該陣列中，使得不管W匿信號入射在該陣列上的位置如 何，每種類型的至少一個檢測器將接收到來自W匿信號束的光。 根據(jù)本發(fā)明的檢測器系統(tǒng)能夠用于其中期望高數(shù)據(jù)速率和對準(zhǔn)容忍光學(xué)通信的 各種系統(tǒng)中的通信。圖1圖解說明了根據(jù)本發(fā)明的實施例的使用W匿通信的服務(wù)器系統(tǒng) 100的例子。系統(tǒng)100包括安裝在共用底板120上的一組刀片(blade) 110。諸如電源變壓 器和冷卻風(fēng)扇之類的附加部件130也能夠連接到底板120，并且整個組件通常被包含在共 用的外殼(未示出)中。用于到服務(wù)器系統(tǒng)100的外部連接的用戶接口和插槽(socket) 可以通過該共用外殼提供。 服務(wù)器系統(tǒng)100中的一些刀片110或者全部刀片110可以是基本上相同的或者具 有不同的設(shè)計以執(zhí)行不同功能。例如，一些刀片IIO可以是服務(wù)器刀片或者是存儲刀片。每 個刀片IIO包括實施刀片110的特定功能的一個或者多個子系統(tǒng)112。子系統(tǒng)112可以以 印刷電路板上的部件的方式被安裝在每個刀片110的一側(cè)或者兩側(cè)上，或刀片110可以包 括外殼，其中子系統(tǒng)112在刀片110的內(nèi)部。這種子系統(tǒng)112的典型例子包括硬盤驅(qū)動器 或者包含傳統(tǒng)的計算機(jī)部件的其它數(shù)據(jù)存儲和處理器子系統(tǒng)，所述傳統(tǒng)的計算機(jī)部件例如 微處理器、存儲器插槽和集成電路存儲器。刀片120的子系統(tǒng)112和一般特征可以是以使 用刀片架構(gòu)的服務(wù)器系統(tǒng)而著名的傳統(tǒng)類型，如可從Hewlett-Packard公司購買的c-級架 構(gòu)的服務(wù)器系統(tǒng)。 每個刀片110附加地包括一個或者多個光學(xué)收發(fā)機(jī)114或者116。每個收發(fā)機(jī)114 被定位在刀片110上，以在刀片110正確安裝在底板120上時與相鄰刀片IIO上的對應(yīng)收發(fā) 機(jī)116標(biāo)稱對準(zhǔn)。收發(fā)機(jī)114和116在其他方面可以彼此基本上等同。在服務(wù)器系統(tǒng)100 的典型配置中，在對應(yīng)的收發(fā)機(jī)114和116之間可以有約5cm的自由空間或者氣隙，并且由 于刀片110的機(jī)械安裝的變化，每對對準(zhǔn)的收發(fā)機(jī)114和116可能經(jīng)受大約500到lOOOum 量級的未對準(zhǔn)。此外，由于例如因冷卻風(fēng)扇的工作而造成的溫度變化和/或機(jī)械振動，收發(fā) 機(jī)114和116的對準(zhǔn)可能經(jīng)受40-50um量級的變化。 收發(fā)機(jī)114或116中的發(fā)射機(jī)部分產(chǎn)生WDM信號118，并且可以是包括本領(lǐng)域眾所 周知的那些設(shè)計的任何適當(dāng)設(shè)計。這類系統(tǒng)通常采用激光二極管和適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)器件，以使 WDM信號118準(zhǔn)直，并且將WDM信號引導(dǎo)至目標(biāo)接收機(jī)。每個收發(fā)機(jī)114或116的接收機(jī)部 分通常包括不同類型的檢測器的陣列。如下文進(jìn)一步描述的檢測器陣列提供對準(zhǔn)容忍，即 使收發(fā)機(jī)114和116經(jīng)受未對準(zhǔn)、指向誤差以及振動時所述對準(zhǔn)容忍也允許刀片110彼此 通信。 根據(jù)本發(fā)明實施例的檢測器陣列能夠被構(gòu)造用于使用任何數(shù)目N的載波頻率的 W匿光學(xué)信號。為了圖解說明目的，圖2A示出適于本發(fā)明的一個特定實施例的檢測器陣列 200的平面圖，其中WDM光學(xué)信號使用9個載波頻率fl-f9。檢測器陣列200是不同類型的檢測器1-9的布置，其中檢測器類型與載波頻率的數(shù)目是一對一的對應(yīng)關(guān)系。如下文進(jìn)一 步所述，相同類型的檢測器能夠被連接在一起，使得檢測器陣列200具有的一組電輸出信 號與WDM光學(xué)信號中的載波頻率也是一對一的對應(yīng)關(guān)系。更具體地，對于圖示的例子，檢測 器陣列200包括9種類型的檢測器1-9，它們分別對應(yīng)于WDM信號中的9個截然不同的頻率 fl-f9，并且檢測器200產(chǎn)生9個輸出信號，每種類型的檢測器有一個輸出信號。
陣列200中的每種類型的檢測器被設(shè)計成將W匿光學(xué)信號中的對應(yīng)頻率與其它頻 率區(qū)分開。例如，檢測器陣列200中的每個檢測器1可以包括光電二極管和使對應(yīng)頻率fl 通過到達(dá)該光電二極管同時阻擋所有其它頻率f2-f9的濾波器。更一般而言，可以通過使 用濾波器、通過設(shè)計光電二極管來有效地檢測對應(yīng)頻率的光子而不吸收或者檢測具有其它 載波頻率的光子，或者通過用于選擇性測量期望頻率分量的幅值的任何其它已知技術(shù)，提 供每個檢測器1-9的頻率選擇能力。這類檢測器在彩色成像領(lǐng)域是已知的，并且例如在美 國專利號3， 971， 065和5， 965， 875中描述了一些傳統(tǒng)的檢測器設(shè)計。 在檢測器1-9中使用的光電二極管每個可具有光敏區(qū)域，該光敏區(qū)域的大小根據(jù) 對應(yīng)頻率通道的數(shù)據(jù)速率而進(jìn)行選擇。對于10Gb/s或者更大的數(shù)據(jù)速率，光敏區(qū)域的寬度 通常需要小于大約40um寬。 能夠通過下列方式而使得使用檢測器陣列200的WDM光學(xué)通信通道容忍未對準(zhǔn) (1)將檢測器陣列200制成足夠大以使得具有預(yù)期范圍內(nèi)的任何未對準(zhǔn)的束仍將入射在檢 測器陣列100上，和(2)以某種模式布置檢測器1-9使得對于WDM束在檢測器陣列200上 的任何入射區(qū)域，可測量的光量將進(jìn)入每種檢測器類型1-9的至少一個。
圖2A示出當(dāng)WDM信號束在檢測器陣列200的中心處具有理想對準(zhǔn)時，與檢測器陣 列200上的WDM信號的地點(position)對應(yīng)的入射區(qū)域210。如圖2A所示，區(qū)域210覆蓋 每種檢測器類型1-9的至少一個或者明顯與每種檢測器類型1-9的至少一個重疊，并且區(qū) 域210通常對應(yīng)于對于檢測器1-9的可靠操作而言具有足夠光強(qiáng)的區(qū)域。更具體地，對于 每種類型的至少一個檢測器l-9，具有入射區(qū)域210的W匿信號提供足夠的光學(xué)功率，以克 服連接到檢測器的電子器件中的技術(shù)噪聲源。 實際上，檢測器陣列200可能經(jīng)受與WDM信號束源的靜態(tài)和動態(tài)未對準(zhǔn)，使得WDM 信號束的實際入射區(qū)域偏離檢測器陣列200的中心。圖2A圖解說明入射區(qū)域220的例子， 所述入射區(qū)域220與理想對準(zhǔn)地點之間的偏離多于束寬度，使得當(dāng)區(qū)域220是W匿信號的 入射區(qū)域時，在理想對準(zhǔn)時用于信號檢測的檢測器沒有一個被充分照射而能夠進(jìn)行信號檢 測。如圖2A所示，盡管區(qū)域220遠(yuǎn)離理想對準(zhǔn)位置，但每種檢測器類型1-9的至少一個仍然 接收來自WDM光學(xué)信號220的光。更一般而言，WDM光學(xué)信號與檢測器陣列200的預(yù)期未對 準(zhǔn)可以使信號的入射區(qū)域置于檢測器上的任何位置，包括可能與區(qū)域210重疊的地點。檢 測器陣列200中檢測器1-9的大小和布置使得對于入射區(qū)域的所有地點，每種類型的至少 一個檢測器被充分照射以用于信號檢測。 在圖2A的具體例子中，這9種類型的檢測器1-9布置成矩形陣列，其中檢測器類 型1-9在每行中順序地布置，并且在每行中的次序相對于相鄰行的次序偏移3個檢測器。 利用這種布置，檢測器陣列200中任何3 X 3方形組的鄰近檢測器包含每種檢測器類型的一 個檢測器。束輪廓210或者220的面積大于9個檢測器1-9的面積，使得束輪廓210或者 220與每種檢測器類型1-9的至少一個重疊。下文進(jìn)一步描述的檢測器1-9的其它模式或者布置也能夠達(dá)到相同結(jié)果。 用于具有N個載波頻率的WDM信號的陣列中檢測器的布置通常取決于載波頻率的 數(shù)目N，以及WDM束橫截面的大小和形狀。例如，當(dāng)數(shù)目N是平方整數(shù)(squared integer) (即，N二n、對于某一整數(shù)n)，N個檢測器(每種類型有一個)能夠布置成方形組，如圖2A
中所示的3X3檢測器組205。然后這些等同的方形組能夠用于平鋪(tile)檢測器陣列的 區(qū)域，如圖2A的例子中那樣，使得大于檢測器上的nXn組的束輪廓應(yīng)該足以覆蓋檢測器類 型的至少一個完整集或者與檢測器類型的至少一個完整集足夠重疊。 當(dāng)載波頻率的數(shù)目N不等于平方整數(shù)時，N個不同類型的檢測器能夠布置成容納 在nXn布置內(nèi)的矩形或者L形的組，其中n2是大于N的最小平方整數(shù)。例如，當(dāng)數(shù)目N等 于n(n-l)時，檢測器能夠布置成nX(n-l)或者(n_l) Xn的矩形組。在這種特定情況下， 能夠用等同的矩形檢測器組來平鋪檢測器區(qū)域。例如，圖2B圖解說明了包含6種類型的檢 測器1-6的檢測器陣列230，該6種類型的檢測器被布置成矩形組235。組235用來平鋪檢 測器陣列230的區(qū)域，并且在圖2B的實施例中成行成列(in rows and columns)。可替代 地，檢測器陣列230的行或者列可以相對于彼此偏移。利用此布置，輪廓面積大于檢測器陣 列230上的nXn組的WDM信號束將向每種類型檢測器1_6的至少一個提供可測量的光。
當(dāng)對于一些正整數(shù)n和k，數(shù)目N能夠表示為r^-k時，其中k〈n或者n〈k < 2n-l，N個不同檢測器類型能夠布置成容納在nXn方形布置內(nèi)的L形組。例如，圖2C圖 解說明包含7種類型的檢測器的檢測器陣列240，即N = 7，n = 3，k = 2。檢測器陣列240 中的L形組245的每一個都包含每種檢測器類型1-7的一個檢測器，并且容納在3X3檢測 器方形內(nèi)。而且，如圖2C所示，L形組245可以像瓦片一樣布置，以覆蓋檢測器陣列240的 區(qū)域。利用此配置，不管束在檢測器陣列240上的入射位置如何，覆蓋大于3X3檢測器組 的區(qū)域的束輪廓將光投射到每種檢測器類型1-7的至少一個中。 更一般而言，N種類型檢測器的許多可替代的平鋪布置是可行的，使得束入射區(qū)域 覆蓋每種檢測器類型的一個檢測器或者明顯與每種檢測器類型的一個檢測器重疊。檢測器 的這種平鋪不局限于方形檢測器或者矩形陣列。 用于服務(wù)器系統(tǒng)中的收發(fā)機(jī)的檢測器陣列的示例性配置大約l-2mm寬，以適應(yīng)在 大約lmm量級上的未對準(zhǔn)。在此實施例中的WDM信號束可以具有大約0. 4_0. 5mm的平場束 腰直徑(其是1/e2功率直徑)。每個檢測器的面積優(yōu)選地小于入射束輪廓的面積除以大于 載波頻率數(shù)目的最小平方整數(shù)。對于圖2A，圖2B和圖2C的實施例，束輪廓具有大約4倍于 單獨的檢測器元件大小的直徑，并且每個檢測器具有小于大約1/9的入射W匿束面積的面 積?？梢允褂妙愃朴谝阎闹圃霤MOS圖像傳感器的那些技術(shù)的技術(shù)在單個集成電路芯片 中和其上制造這種大小的檢測器陣列。 圖3A示出適于用在如上文所述的檢測器陣列中的單個檢測器300。檢測器300包 括半導(dǎo)體層310，半導(dǎo)體層310包括與下面的層形成光電二極管的有源區(qū)315。濾波器320 疊置在有源區(qū)315上，并且能夠選擇性地讓檢測器300感測的波長/頻率的光通過，其中濾 波器320能夠是波導(dǎo)光柵，柵格濾波器(grid filter) ，F(xiàn)abry-Perot或者其它濾波器結(jié)構(gòu)。 作為使用疊置濾波器的一種替代，例如通過鉆孔370能夠圖案化如圖3B所示的光電二極管 350的有源區(qū)域360以創(chuàng)建接受或者拒絕光的特定波長/頻率的干擾效應(yīng)(interference effect)。檢測器300或者350能夠與具有被設(shè)計用于檢測不同光波長的濾波器或者有源層的相似檢測器單片集成。 圖4是根據(jù)本發(fā)明的實施例的解碼系統(tǒng)400的方框圖。解碼系統(tǒng)400包括檢測 器陣列410，該檢測器陣列410包括如上所述布置的N種類型的檢測器；用于N個通道的通 道電子器件420-1至420-N，其分別與這N種類型的檢測器關(guān)聯(lián)；以及數(shù)據(jù)解碼單元430， 其對來自通道電子器件420-1至420-N的電信號進(jìn)行解碼以提取所接收的數(shù)據(jù)。檢測器陣 列410、通道電子器件420-1至420-N以及數(shù)據(jù)解碼單元430能夠全部制造在單個集成電路 中，或者可以在分開的裝置上。 檢測器陣列410包括適于將具有特定頻率或者處于特定頻帶中的光學(xué)信號轉(zhuǎn)換 成電信號的檢測器。如上述公開的，每個這種檢測器可包括光電二極管和濾波器機(jī)構(gòu)，所述 濾波器機(jī)構(gòu)選擇使檢測器產(chǎn)生電信號的光的頻率。通常，只有被W匿信號充分照射的檢測 器將產(chǎn)生有用信號，并且來自受照射檢測器的電壓或者電流幅值通常將取決于入射光的強(qiáng) 度以及被照射的檢測器區(qū)域的部分。其它檢測器將產(chǎn)生噪聲或者不產(chǎn)生信號。
通道電子器件420-1至420-N的每個單元對應(yīng)于檢測器陣列410中的特定類型的 檢測器，并且將來自對應(yīng)類型的所有檢測器的信號進(jìn)行組合。在簡單的實施例中，通道電子 器件420-1至420-N的每個單元是對應(yīng)類型的所有檢測器的輸出端子連接到的節(jié)點。例如， 類型l的所有檢測器的輸出端子可以連接到通道電子器件420-l中的單個節(jié)點，并且類型l 的有源或者受照射的檢測器驅(qū)動通道電子器件420-1的輸出信號。類似地，類型N的所有 檢測器的輸出端子可以連接到通道電子器件420-N中的單個節(jié)點，使得類型N的有源或者 受照射的檢測器驅(qū)動通道電子器件420-N的輸出信號?？商娲?，通道電子器件420-1至 420-N的每個單元能夠包括識別產(chǎn)生有用信號的對應(yīng)類型的檢測器的有源電路。如果對應(yīng) 類型的檢測器的相應(yīng)輸出信號處于指示低信噪比的電平，或者如果這些檢測器遠(yuǎn)離確定的 束位置，則該有源電路例如能夠切斷至這些檢測器的連接。 數(shù)據(jù)解碼單元430接收并解碼分別來自通道電子器件420-1至420-N的N個電信 號。在典型應(yīng)用中，W匿光學(xué)信號的載波頻率的幅值被調(diào)制以表示N個通道中的數(shù)據(jù)。數(shù) 據(jù)解碼單元430對該調(diào)制進(jìn)行解碼，以提取并構(gòu)造所接收的數(shù)據(jù)。 盡管已經(jīng)參照具體的實施例描述了本發(fā)明，但這些描述只是本發(fā)明應(yīng)用的例子， 并不應(yīng)認(rèn)為是限制。例如，上面參照的是光和光學(xué)系統(tǒng)，但該參照并不局限于可見光或者用 于可見光的系統(tǒng)。上述的原則能夠更一般地應(yīng)用于電磁輻射的寬頻譜。公開的實施例的各 特征的各種其它適配和組合都在所附權(quán)利要求書限定的本發(fā)明的范圍之內(nèi)。
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權(quán)利要求
一種用于波分復(fù)用光學(xué)信號的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括多個類型的檢測器的陣列(200)，每個檢測器能夠檢測具有與該檢測器的類型對應(yīng)的頻率的光，其中檢測器被布置成使得所述波長復(fù)用光學(xué)信號在所述陣列上的任何入射區(qū)域(220)向每種類型的至少一個檢測器提供可檢測的光量；以及多個通道電子器件單元(420)，其中每個通道電子器件單元(420)對應(yīng)于其中一種檢測器類型，并連接到對應(yīng)類型的所有檢測器。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述檢測器類型由n2個類型組成，其中n為整數(shù)，并且用112個鄰近檢測器的方形組(205)平鋪檢測器陣列(200)，其中每個方形組(205)包含每種類型的一個檢測器。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述檢測器類型由n(n-l)個類型組成，其中n為整數(shù)，并且用n(n-l)個鄰近檢測器的矩形組(235)平鋪檢測器陣列(230)，其中每個矩形組(235)包含每種類型的一個檢測器。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述檢測器類型由N個類型組成，并且用N個鄰近檢測器的L形組(245)平鋪檢測器陣列(240)，其中每個L形組(245)由每種類型的一個檢測器組成。
5. 根據(jù)前面任一權(quán)利要求所述的系統(tǒng)，其中所述陣列(200)和所述通道電子器件單元(420)是接收機(jī)(116)的部件；所述系統(tǒng)進(jìn)一步包括發(fā)射機(jī)(114)，其產(chǎn)生波分復(fù)用信號，并通過自由空間將所述波分復(fù)用信號發(fā)射到所述接收機(jī)(116);以及所述波分復(fù)用信號入射在所述陣列(200)上的入射區(qū)域(220)的位置取決于所述接收機(jī)(116)相對于所述發(fā)射機(jī)(114)的未對準(zhǔn)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其中所述未對準(zhǔn)具有比所述入射區(qū)域(220)的寬度更大的量值。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的系統(tǒng)，其中所述陣列(200)具有比對于所述未對準(zhǔn)預(yù)期的最大量值更大的寬度。
8. 根據(jù)權(quán)利要求5、6或7所述的系統(tǒng)，其中所述系統(tǒng)包括服務(wù)器系統(tǒng)(IOO)，該服務(wù)器系統(tǒng)包括第一刀片(110)和第二刀片(IIO)，所述發(fā)射機(jī)(114)駐留于第一刀片(110)上并且所述接收機(jī)(116)駐留于第二刀片(110)上。
9. 一種過程，包括通過自由空間將具有多個載波頻率的光學(xué)信號(118)從發(fā)射機(jī)(114)發(fā)射到接收機(jī)(116);在所述接收機(jī)(116)中提供多種類型的檢測器的陣列(200)，該多種類型的檢測器能夠檢測分別具有所述載波頻率的光；在所述陣列(200)上的入射區(qū)域(220)處接收所述光學(xué)信號，其中所述入射區(qū)域(220)的位置取決于所述接收機(jī)(116)相對于所述發(fā)射機(jī)(114)的未對準(zhǔn)；以及用至少其中一個檢測器檢測每個載波頻率，其中所述檢測器能夠檢測該載波頻率，其中所述陣列中的檢測器被布置成使得不管所述入射區(qū)域(220)在所述陣列(200)上的位置如何，每個類型的至少一個檢測器接收來自所述光學(xué)信號(118)的光。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的過程，其中發(fā)射所述光學(xué)信號(118)包括將所述光學(xué)信號(118)從服務(wù)器系統(tǒng)(100)中的第一刀片(110)發(fā)射到所述服務(wù)器系統(tǒng)(100)中的第二 刀片(110)，其中所述光學(xué)信號(118)將數(shù)據(jù)從所述第一刀片(110)傳送到所述第二刀片 (110)。
全文摘要
一種系統(tǒng)(100)可以包括發(fā)射機(jī)(114)和接收機(jī)(116)，發(fā)射機(jī)(114)產(chǎn)生具有多個載波頻率的光學(xué)信號(118)，接收機(jī)(116)與發(fā)射機(jī)(114)由光學(xué)信號(118)通過其傳播的自由空間隔開。接收機(jī)(116)包括多個類型的檢測器的陣列(200)，該多個類型的檢測器能夠檢測分別具有所述載波頻率的光。光學(xué)信號(118)入射到檢測器陣列(200)上的入射區(qū)域(220)的位置通常取決于接收機(jī)(116)相對于發(fā)射機(jī)(114)的未對準(zhǔn)，但檢測器陣列(200)中的檢測器被布置成使得不管入射區(qū)域(220)在檢測器陣列(200)上的位置如何，每種類型的至少一個檢測器檢測來自光學(xué)信號(118)的光。
文檔編號G02B6/28GK101765795SQ200880100851
公開日2010年6月30日 申請日期2008年7月16日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月27日
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