專利名稱：電光學(xué)裝置和電子設(shè)備、以及指示物體的位置檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示裝置等的電光學(xué)裝置和電子設(shè)備、以及 指示物體的位置檢測方法。
背景技術(shù)：
以往，提供了常說的觸控式面板。這是一種可以通過檢測出 在圖像顯示面上的用戶的手指等的接觸位置，將該用戶的意 圖 指令等傳達(dá)給該裝置的裝置。這種觸控式面板允許直覺性的
操作，所以極其具有用戶親和力，作為售票機(jī)、銀行的ATM、汽 車導(dǎo)航系統(tǒng)等的組成部分被廣泛應(yīng)用。
通常，這種觸控式面板與電光學(xué)裝置具有一體的關(guān)系，所述 電光學(xué)裝置具有液晶顯示裝置等的、由于獲取了適當(dāng)提供的電位 或電流而使其光學(xué)特性發(fā)生變化的電光學(xué)元件。這種電光學(xué)裝置 具有上述在圖像顯示面上顯示圖像的功能。
例如，下列專利文獻(xiàn)1公開了眾所周知的上述觸控式面板或 電光學(xué)裝置。
專利文獻(xiàn)1: JP特開2004-318819號公報
但是，上述液晶顯示裝置中要進(jìn)行常說的極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動。這 里所說的極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動是指例如按照每個作為顯示一個畫面的 圖像的單位時間的"幀周期"，使外加到液晶上的電壓的極性反 轉(zhuǎn)的驅(qū)動方法。例如，在第(2p+l)個幀周期(p=0， 1， 2…) 中，如果將作為夾持液晶的一方的電極的第1電極的電位，設(shè)定 得比作為另外一方的電極的第2電極的電位高，則在第2p個幀 周期中，進(jìn)行與其相反的設(shè)定。
這種極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動是為了防止由于施加直流電流而導(dǎo)致液 晶變差等現(xiàn)象的發(fā)生而進(jìn)行的。但是，在這種極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動和上述觸控式面板組合中，會出 現(xiàn)以下的問題。
也就是說，在極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動中，從其性質(zhì)上來講，必然存在 第1和第2電極之間的電位差的極性發(fā)生反轉(zhuǎn)的時刻。例如，第
1電極的電位從VI變化為V2( >V1)，或從V2變化為VI的時亥U。 另一方面，上述觸控式面板上的接觸位置的檢測是通過檢測 出例如手指等指示物體在接觸地點上的光量相對于其他地點上 的光量的變化的方式而進(jìn)行的。在該方式中，為了察覺到圖像顯 示面上的上述光量的變化，要按照一定的時刻，針對該圖像顯示 面的整體或一部分，監(jiān)視該光量(這也可以稱為一種"圖像讀 取")。
但是，這種情況下，當(dāng)正在進(jìn)行上述圖像讀取時，如果與上 述極性反轉(zhuǎn)的時刻重疊了，就有可能在液晶顯示裝置上發(fā)生顯示 圖像紊亂的情況。另外，這種圖像的紊亂可能會導(dǎo)致讀取到與本 來應(yīng)該讀取到的光量不同的光量。其結(jié)果就是可能無法正確地進(jìn) 行接觸位置的檢測。
另外，上述問題在采用上述方法以外的方法進(jìn)行觸控式面板 的接觸位置的檢測時，或多或少也會發(fā)生。
上述專利文獻(xiàn)1中提出了在觸控式面板中應(yīng)該"進(jìn)行高精確 度的坐標(biāo)檢測"(專利文獻(xiàn)1的第0004段)等各種設(shè)計上的方案。 其中，在"連續(xù)的顯示幀周期的間歇"設(shè)置用于拍攝入射光的"拍 攝幀周期"的技術(shù)(參照專利文獻(xiàn)1的技術(shù)方案11或第0092段 之后的記載)可以認(rèn)為與上述觀點有若干的關(guān)聯(lián)性。
但是，該技術(shù)內(nèi)容也僅僅描述到上段中所述的程度，根本沒 有提及"極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動"與觸控式面板的關(guān)系。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的課題是提供一種可以解決上述課題的至少一部分 的電光學(xué)裝置和電子設(shè)備、以及指示物體的位置檢測方法。
另外，本發(fā)明的另外一個課題是提供一種可以解決上述方式的電光學(xué)裝置和電子設(shè)備、以及指示物體的位置檢測方法中所 產(chǎn)生的問題的電光學(xué)裝置和電子設(shè)備、以及指示物體的位置檢測 方法。
為了解決上述課題，本發(fā)明的電光學(xué)裝置具備電光學(xué)元件， 其由第1和第2電極，以及夾持在它們之間，并且由于所提供的 規(guī)定的電位而使其光學(xué)特性發(fā)生變化的電光學(xué)物質(zhì)構(gòu)成；位置檢 測單元，其用于檢測與顯示由該電光學(xué)元件構(gòu)成的圖像的圖像 顯示面上所接觸的物體的、在該圖像顯示面上的位置；以及物理 量測量單元，其包含在該位置檢測單元內(nèi)，并且，測量與上述物 體接觸到上述圖像顯示面時的該圖像顯示面的全部或一部分相 關(guān)的所規(guī)定的物理量。上述位置檢測單元，根據(jù)由上述物理量測 量單元所測量的上述物理量的測量結(jié)果，并且根據(jù)除去了上述第 1和第2電極之間的電位差的極性反轉(zhuǎn)時刻的、上述物理量測量 單元的測量結(jié)果的測量結(jié)果，進(jìn)行上述物體的在上述圖像顯示面 上的位置的檢測。
根據(jù)本發(fā)明構(gòu)成了上述的觸控式面板。也就是說，假設(shè)存在 多個上述電光學(xué)元件，則借助它們，可以在圖像顯示面上適宜地 進(jìn)行圖像顯示，并且，與在該圖像顯示面上顯示的按鈕、開關(guān)、 或圖標(biāo)等的圖像要素接觸后的手指等的物體的位置，可以通過位 置檢測單元以及其中,所包含的物理量測量單元的協(xié)作而被檢測 出來。另外，本發(fā)明中所說的"物理量"，具體來說，可以相當(dāng) 于例如上述例中的"光量值"，也可以相當(dāng)于每個電光學(xué)元件中 所設(shè)置的電容器的"積蓄電荷量"或基于其產(chǎn)生的"電流值"。 在前者的情況下，"位置檢測單元"或"物理量測量單元"包括 例如各種光傳感器；在后者的情況下，包括上述電容器等。關(guān)于 "物理量"的具體形式、或與其相應(yīng)的"位置檢測單元"或"物 理量測量單元"的具體形式，除上述之外還可以有各種形式。
另外，本發(fā)明中，特別是圖像顯示面上的物體位置的檢測是 根據(jù)除去了上述反轉(zhuǎn)時刻的物理量測量單元的測量結(jié)果后的測 量結(jié)果而進(jìn)行的。因此，如上所述，不會發(fā)生與反轉(zhuǎn)時刻之時相
8重疊的圖像讀取，或者即使發(fā)生該讀取，也不會根據(jù)該結(jié)果進(jìn)行 位置檢測。從上述內(nèi)容可以看出根據(jù)本發(fā)明，可以極大地減小發(fā)生圖 像紊亂等情況的可能性，或可以高精確度地檢測出物體的接觸位 置。另外。本發(fā)明所說的"電光學(xué)裝置"，如上所述包括具有觸 控式面板的結(jié)構(gòu)，所以，更準(zhǔn)確地說，該"電光學(xué)裝置"也可以 被稱為"帶有觸控式面板的圖像顯示裝置"。本發(fā)明的電光學(xué)裝置中，上述物理量測量單元可以設(shè)置成-僅在時間上先后的2個反轉(zhuǎn)時刻之間測量上述物理量。根據(jù)該方式，在反轉(zhuǎn)時刻時，原本就不進(jìn)行物理量的測量， 所以，該物理量不會被提供給位置檢測單元。因此，根據(jù)該方式， 可以獲得更加實效的上述本發(fā)明的效果。關(guān)于該方式中所說的"2個"，從上下文可以看出，是應(yīng)該聯(lián) 系"時間上先后的"去讀解的術(shù)語。因此，本方式所說的"2個 反轉(zhuǎn)時刻"典型地表示本發(fā)明的電光學(xué)裝置被極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動的情 況下的"所有反轉(zhuǎn)時刻"(更詳細(xì)而言，"時間上先后的2個反轉(zhuǎn) 時刻"是指:從所有反轉(zhuǎn)時刻中任意選擇的連續(xù)的2個反轉(zhuǎn)時刻)。關(guān)于該內(nèi)容，本發(fā)明的其他部分所使用的"2個反轉(zhuǎn)時刻"(或"n個反轉(zhuǎn)時刻")的術(shù)語也同樣適宜。另外，本發(fā)明的電光學(xué)裝置中，'可以采用以下結(jié)構(gòu)上述物理量測量單元在時間上先后的2個反轉(zhuǎn)時刻之間以及在該2個反 轉(zhuǎn)時刻之時，測量上述物理量；上述位置檢測單元忽略上述2個 反轉(zhuǎn)時刻之時的上述物理量測量單元的測量結(jié)果，進(jìn)行在上述圖 像顯示面上的上述物體的位置的檢測。根據(jù)該方式，反轉(zhuǎn)時刻之時雖然進(jìn)行物理量的測量，但是位 置檢測單元忽略該檢測結(jié)果。因此，根據(jù)該方式，可以獲得更加 實效的上述本發(fā)明的效果。在這種方式中，上述物理量測量單元可以采用以下的構(gòu)成按照每個劃分上述圖像顯示面的多個測量區(qū)域，測量上述物理量，并且，重新測量關(guān)于與上述反轉(zhuǎn)時刻之時檢測出的上述物 理量對應(yīng)的上述測量區(qū)域的、該反轉(zhuǎn)時刻之時以外的時候的物理根據(jù)該方式，可以實現(xiàn)不僅是位置檢測單元忽略反轉(zhuǎn)時刻 之時的物理量的測量結(jié)果，物理量測量單元不測量該反轉(zhuǎn)時刻之 時測量到的物理量，而重新測量關(guān)于此時以外的時候的該測量區(qū) 域的物理量，將其提供給位置檢測單元。因此，根據(jù)本方式，可 以獲得更加實效的上述本發(fā)明的效果。另外，本發(fā)明的電光學(xué)裝置中，可以采用以下結(jié)構(gòu)存在多 個上述電光學(xué)元件，并且，它們按照矩陣狀排列來進(jìn)行排列。上 述物理量測量單元包括與上述電光學(xué)元件的每規(guī)定的個數(shù)對應(yīng) 的多個物理量測量元件；和用于讀出這些物理量測量元件的測量 結(jié)果的信號線。通過上述信號線的上述物理量的讀出是在時間上連續(xù)的n個反轉(zhuǎn)時刻(n為正的整數(shù))的第m個反轉(zhuǎn)時刻(m=l， 2，…n-1)之后，針對與上述矩陣狀排列中的某一行對應(yīng)的上述 物理量測量元件中的1/ (n-l)個的物理量測量元件而進(jìn)行的。根據(jù)該方式，首先可以想到以下的方式，即，由于電光學(xué)元 件按照矩陣狀排列而進(jìn)行排列，并且，物理量測量元件按照這種 電光學(xué)元件的每規(guī)定的個數(shù)相對應(yīng)，所以，典型地，該物理量測 量元件也是按照與電光學(xué)元件的矩陣狀排列相應(yīng)的所規(guī)定的矩 陣狀排列來排列的。這種情況下，例如，上述信號線的一部分可 以沿著意識到這些物理量測量元件的行或者列，并且按每行或每 列來設(shè)置。另外，作為信號線的其他部分，其一端和在與上述信 號線的一部分之間設(shè)置的電路(為了將通過多個信號線傳遞的多 個信號進(jìn)行適當(dāng)處理時所需的電路等)等連接，并且，另外一端 與該信號的最終處理相應(yīng)的電路等相連接。但是，這種情況下的信號線具有其自身的寄生電容等，所以， 在較短時間內(nèi)進(jìn)行上述物理量的讀出(特別是其"正確的"讀出) 是很困難的。因為有時會發(fā)生由于上述寄生電容等的存在，該信 號線的電位等從讀出開始時刻起隨著時間的經(jīng)過逐漸上升的情況。本方式可以更好地解決這種不利情況。因為，在本方式中， 設(shè)置為僅進(jìn)行某一行中的一部分的物理量測量元件的物理量的 測量，所以，可以將測量時間設(shè)定得比較長。由此，信號線的電 位等達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)的可能性增大(若設(shè)想一下在相同的時間，所 有物理量測量元件一起進(jìn)行測量的情況，則可以更加明確地看到 這種優(yōu)點)。綜上所述，根據(jù)本方式，可以獲取更能反映現(xiàn)實情況的正確 的物理量。另外，也可能有與上述例子不同的其他具體方式，也就是說， 就算電光學(xué)元件是按照"矩陣狀排列"進(jìn)行排列的，也很難說物 理量測量元件同樣是按照"矩陣狀排列"進(jìn)行排列的，但是，本 方式并沒有積極地排除那種情況的意圖。因為，即使在那種情況 下，為了讀出物理量測量元件的測量結(jié)果，只要需要某種意義上 的"信號線"的存在，通過本方式的構(gòu)成，就可以毫無變化地獲 得與上述同樣的作用效果。而且，上述的構(gòu)成中，例如，假設(shè)設(shè)定為2個反轉(zhuǎn)時刻(即，n=2)，優(yōu)選在第1個反轉(zhuǎn)時刻之后，進(jìn)行1/2的物理量測量元件 的讀出，而在第2個反轉(zhuǎn)時刻之后，進(jìn)行"剩下的"1/2的物理 量測量元件的讀出。由此，可.以有效地進(jìn)行該行中的所有物理量 測量元件的讀出。關(guān)于這一點的更具體化的方式，在后面所述的 第2實施方式中會涉及。另外，本發(fā)明的電光學(xué)裝置中，上述物理量測量單元也可以具有以下構(gòu)成在上述圖像顯示面的一部分中包含不顯示上述圖像的區(qū)域的情況下，在應(yīng)該驅(qū)動與該區(qū)域?qū)?yīng)的上述電光學(xué)元件 的時刻之時，測量上述物理量。根據(jù)該方式，由于是在驅(qū)動與不顯示圖像的區(qū)域?qū)?yīng)的電光 學(xué)元件的時刻之時測量物理量，所以，最終可以測量到避開了反 轉(zhuǎn)時刻之時的物理量。這是因為該時刻之時，通常不進(jìn)行本發(fā)明 所說的"極性的反轉(zhuǎn)"。因此，根據(jù)本方式，除了可以獲得更加實際的上述本發(fā)明的 效果，還具有可以更迅速地獲取 確保位置檢測所需要的物理量 的全部測量結(jié)果的優(yōu)點。另外，本發(fā)明的電光學(xué)裝置中，也可以具有以下構(gòu)成上述 第1和第2電極的至少一方按照矩陣狀排列來進(jìn)行排列，上述電 位的極性的反轉(zhuǎn)是以上述矩陣狀排列中的行或列作為一個單位 而進(jìn)行的。這種方式可以很合適地應(yīng)用于進(jìn)行所說的線反轉(zhuǎn)驅(qū)動的電 光學(xué)裝置。另外，本發(fā)明的電子設(shè)備具有用于解決上述課題的上述各種 電光學(xué)裝置。本發(fā)明的電子設(shè)備包括了上述各種電光學(xué)裝置，也就是說， 由于是設(shè)計成根據(jù)將反轉(zhuǎn)時刻測量到的物理量的測量結(jié)果除去 之后的測量結(jié)果進(jìn)行物體位置的檢測，所以可以顯示高畫質(zhì)的圖 像，或可以更精確地進(jìn)行該位置檢測。另一方面，本發(fā)明的指示物體的位置檢測方法是用于解決 上述課題的、檢測對顯示圖像的圖像顯示面上的某個地點進(jìn)行指 示的物體的、在該圖像顯示面上的位置的位置檢測方法，包括 電位設(shè)定工序，為了改變在構(gòu)成形成上述圖像的電光學(xué)元件的第 1和第2電極之間所夾持的電光學(xué).物質(zhì)的光學(xué)特性，在這些第1 和第2電極之間施加所規(guī)定的電位差；物理量測量工序，測量與 上述物體接觸到上述圖像顯示面時的該圖像顯示面的全部或一 部分有關(guān)的所規(guī)定的物理量；和位置檢測工序，根據(jù)上述物理量 測量工序的上述物理量的測量結(jié)果，檢測在上述圖像顯示面上所 接觸的物體的、在該圖像顯示面上的位置。上述電位設(shè)定工序包 括使上述第1和第2電極之間的電位差的極性反轉(zhuǎn)的極性反轉(zhuǎn) 工序，上述位置檢測工序包括根據(jù)將上述極性的反轉(zhuǎn)時刻的上 述物理量測量單元的測量結(jié)果除去之后的測量結(jié)果，檢測上述物 體在上述圖像顯示面上的位置的工序。根據(jù)本發(fā)明，可以獲得與上述本發(fā)明的電光學(xué)裝置所獲得的12作用效果本質(zhì)上相同的作用效果?；蛘哒f，本發(fā)明的方法為電光 學(xué)裝置的運用提供了作為最合適的運用方法中的一個方法。
本發(fā)明的指示物體的位置檢測方法中，可以具有以下構(gòu)成 上述物理量測量工序包括僅在時間上先后的2個反轉(zhuǎn)時刻之間測 量上述物理量的工序。
另外，在本發(fā)明的指示物體的位置檢測方法中，可以具有以 下構(gòu)成上述物理量測量工序包括在時間上先后的2個反轉(zhuǎn)時刻 之間以及在該2個反轉(zhuǎn)時刻之時，測量上述物理量的工序。在上 述位置檢測工序中，忽略上述2個反轉(zhuǎn)時刻之時的上述物理量測 量單元的測量結(jié)果，進(jìn)行上述物體的、在上述圖像顯示面上的位 置的檢測。
該方式中，也可以具有以下構(gòu)成上述物理量測量工序包括 按照每個劃分上述圖像顯示面的多個測量區(qū)域，進(jìn)行上述物理量 測量的工序，并且，包括重新測量與上述反轉(zhuǎn)時刻之時檢測出 的上述物理量對應(yīng)的上述測量區(qū)域的該反轉(zhuǎn)時刻之時以外的時 候的物理量的工序。
另外，本發(fā)明的指示物體的位置檢測方法中，也可以具有以 下構(gòu)成存在多個上述電光學(xué)元件，并且，它們按照矩陣狀排列 來進(jìn)行排列。上述物理量測量工序的進(jìn)行使用了與上述電光學(xué) 元件的每規(guī)定的個數(shù)對應(yīng)的多個物理量測量單元；和用于讀出這 些物理量測量單元的測量結(jié)果的信號線。利用上述信號線的上述 物理量的讀出是在時間上連續(xù)的n個反轉(zhuǎn)時刻(n為正的整數(shù)) 中的第m個反轉(zhuǎn)時刻(m=l， 2，…n-1)之后，針對與上述矩陣 狀排列中的某一行對應(yīng)的上述物理量測量元件中的1/ (n-1)個 的物理量測量元件進(jìn)行的。
另外，本發(fā)明的指示物體的位置檢測方法中，也可以具有以 下構(gòu)成上述物理量測量工序是在上述圖像顯示面的一部分中包 括不顯示上述圖像的區(qū)域的情況下，應(yīng)該驅(qū)動與該區(qū)域?qū)?yīng)的上 述電光學(xué)元件的時刻時進(jìn)行的。
另外，本發(fā)明的指示物體的位置檢測方法中，也可以具有以下構(gòu)成上述第1及上述第2電極的至少一方按照矩陣狀排列來
進(jìn)行排列；上述極性反轉(zhuǎn)工序是以上述矩陣狀排列中的行或列作 為一個單位而進(jìn)行的。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的方法的各種方式，可以獲得與通過 上述本發(fā)明的電光學(xué)裝置的各種方式所獲得的作用效果在本質(zhì) 上相同的作用效果。
圖1:表示本發(fā)明的第1實施方式的電光學(xué)裝置的整體構(gòu)成 的框圖。
圖2:是構(gòu)成圖1的電光學(xué)裝置的液晶元件以及光量檢測元 件的等效電路的圖。
圖3:表示對置電極的極性反轉(zhuǎn)以及其反轉(zhuǎn)時刻之間的圖像 讀出的情況的時序圖。
圖4:關(guān)于獲取基準(zhǔn)圖像的處理(初始化處理)的流程圖。
圖5:關(guān)于用于檢測出圖像顯示面上的物體位置的處理的流 程圖。
圖6:表示用戶的手指接觸圖像顯示面上的情況，以及由此 而形成的影子的情況等的圖。
圖7:表示圖5所示的對象圖像讀出處理(步驟S201)的更 詳細(xì)內(nèi)容的流程圖。
圖8:表示本發(fā)明的第2實施方式中的液晶元件和光量檢測 元件的排列方式的一個例子的圖。
圖9:表示圖8所示的用于從光量檢測元件讀出光量數(shù)據(jù)的 電路構(gòu)成的圖。
圖10:表示本發(fā)明的第2實施方式的對象圖像讀出處理的內(nèi) 容的流程圖。
圖11:與圖3意義相同的時序圖，特別表示顯示讀出信號 的波形隨時間的經(jīng)過逐漸上升這一情況時的例子。
圖12:表示本發(fā)明的第3實施方式中的對象圖像讀出處理的
14內(nèi)容的流程圖。
圖13:表示本發(fā)明的實施方式的一個變形例中的對象圖像讀 出處理的內(nèi)容的流程圖。
圖14:表示本發(fā)明的電子設(shè)備的方式(便攜式個人電腦)的 立體圖。
圖15:表示本發(fā)明的電子設(shè)備的方式(移動電話機(jī))的立體圖。
圖16:表示本發(fā)明的電子設(shè)備的方式(便攜式信息終端)的 立體圖。
圖中1…電光學(xué)裝置，7a…圖像顯示面，8(8R、 8G、 8B)… 液晶元件，13…像素電極，5…對置電極，LQ…液晶層，3…掃描 線，6…數(shù)據(jù)線，31…掃描線驅(qū)動電路，61…數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路， 50 ( 50-1、 2、 14400)…光量檢測元件，30…傳感器用掃描線， 60…傳感器用信號線，301…傳感器用掃描線驅(qū)動電路，601…受 光信號讀出電路，610 (610-1、 2、…10)…多路轉(zhuǎn)換器，C…控 制電路，Cl…物體位置檢測電路，F(xiàn)…手指，SW…影子，Kl、 K2、 K3、 K4…反轉(zhuǎn)時刻。
具體實施例方式
(第l實施方式)
以下，參照圖1以及圖2對本發(fā)明的第1實施方式進(jìn)行說明。 另外，除了此處提到的圖1和圖2，在以下將要參照的各附圖中， 還包括圖3、圖11所示的時序圖上的曲線的大小或比例尺，各部 分的尺寸的比例有時會與實際有適當(dāng)?shù)牟煌?br>
如圖1所示，第1實施方式的電光學(xué)裝置1具有液晶元件 (電光學(xué)元件)8、掃描線3、數(shù)據(jù)線6、掃描線驅(qū)動電路31和 數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路61等。
其中的液晶元件8，如圖2中詳細(xì)所示，由像素電極13、對 置電極5、蓄積電容70、以及開關(guān)晶體管Tr構(gòu)成。
像素電極13在圖中沒有顯示的元件基板上，按照矩陣狀排列來排列(參照圖1)。
1個1個的像素電極13以俯視觀察時，具有矩形、長圓等形狀。
這樣排列為矩陣狀的像素電極13之中，每行排列的像素電
極13共同連接在該各行上配設(shè)的掃描線3上，另外，每列排列的像素電極13共同連接在該各列上配設(shè)的數(shù)據(jù)線6上(參照圖2等)。開關(guān)晶體管Tr設(shè)置在這些掃描線3以及數(shù)據(jù)線6和像素電極13之間。該開關(guān)晶體管Tr根據(jù)提供給掃描線3的選擇信號，在導(dǎo)通狀態(tài)和截止?fàn)顟B(tài)之間轉(zhuǎn)移。像素電極13在開關(guān)晶體管Tr為導(dǎo)通狀態(tài)時，接受通過數(shù)據(jù)線6提供的圖像信號。
另外，圖2所示的蓄積電容70蓄積與該圖像信號電平相應(yīng)的電荷。而且，應(yīng)該提供給數(shù)據(jù)線6的圖像信號的有無以及內(nèi)容、或提供時刻等由數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路61負(fù)責(zé)。同樣，應(yīng)該提供給掃描線3的選擇信號的提供時刻等由掃描線驅(qū)動電路31負(fù)責(zé)。
對置電極5具有覆蓋上述像素電極13的整個形成區(qū)域的矩形形狀(也就是說，該對置電極5具有像覆蓋元件基板的整個面的形狀)。也就是說，對置電極5作為整個像素電極13所共享的1個電極發(fā)揮功能。該對置電極5在與例如形成了上述像素電極13的元件基板相對置的對置基板上形成。
而且，在該對置電極5與上述像素電極13之間，夾持液晶層LQ。作為液晶層LQ，可以優(yōu)選采用例如0CB (OpticallyCompensated Bend)模式等高速響應(yīng)的液晶。
根據(jù)以上的構(gòu)成，液晶層LQ根據(jù)外加到各像素電極13與對置電極5之間的電位差，取向狀態(tài)發(fā)生變化。由此，來自圖中沒有顯示的照明裝置的射出光之中，透過觀察側(cè)的光量的比例(透過率)按照每個像素電極13進(jìn)行控制。
由此可見，在電光學(xué)裝置l中，可以顯示具有所希望的含義內(nèi)容的圖像。圖1中所示的符號"7a"表示應(yīng)該顯示該圖像的大概的區(qū)域。下面，將其稱為"圖像顯示面7a"(該圖像顯示面7a的大小可以說與整個像素電極13的形成區(qū)域、或?qū)χ秒姌O5的形成區(qū)域幾乎一致。另外，在第1實施方式中，更實際而言，"圖
16像顯示面7a"是指允許用戶的手指等物理性接觸的面。關(guān)于這種面，例如，相當(dāng)于形成對置電極5的玻璃板的上述對置基板，在該對置基板上層疊的偏光板、在該偏光板上再次層疊的保護(hù)用玻璃板、在該保護(hù)用玻璃板上形成的適當(dāng)?shù)谋Ｗo(hù)膜等等的"表面"，從更具體的意義上來說都包括在內(nèi)。)。
另外，第1實施方式中，特別是在上述的、對像素電極13以及對置電極5之間外加電位的情況下，該極性在每個固定的期間內(nèi)被反轉(zhuǎn)。關(guān)于這一點，后面將進(jìn)行說明。
除了上述的部分.以外，如圖l所示，第l實施方式的電光學(xué)裝置1特別具有光量檢測元件(物理量測量元件)50、傳感器用掃描線驅(qū)動電路301以及受光信號讀出電路601。
光量檢測元件50測量由液晶元件8射出的光、或有無從電光學(xué)裝置1的外部入射的光、以及其程度。具體來說，可以優(yōu)選使用例如光電二極管等。如圖1或圖2所示，該光量檢測元件50按照每3個上述液晶元件8， 1個該光量檢測元件50的比例進(jìn)行設(shè)置。如上所述，像素電極13被按照矩陣狀排列來排列(通過上述說明可以看出，這也可以換成另外一種說法，即，液晶元件8本身按照矩陣狀排列來排列)，因此，光量檢測元件50，雖然與該矩陣狀排列方式有所不同，但也是按照同種矩陣狀排列來排列的(參照圖1)。
第l實施方式中，通過3個液晶元件8和l個光量測量元件50形成了所謂的1個單位結(jié)構(gòu)。另外，通過設(shè)置例如圖中沒有顯示的彩色濾光片等，3個液晶元件8可以各自用作紅色、綠色、藍(lán)色發(fā)光。圖2所示的符號"8R" 、 "8G"、以及"8B"表示相關(guān)情況(另外，第1實施方式以及圖中的符號"8"是作為上述符號"8R" 、 "8G"、以及"8B"的總稱而使用的)。通過將對應(yīng)于這3種顏色的液晶元件8的集合(參照圖1或圖2中的符號P)作為一個單位來處理，在第1實施方式中可以顯示彩色圖像。
如圖1或圖2所示，這種光量檢測元件50與沿著其矩陣狀排列中的行方向延伸的傳感器用掃描線30連接。傳感器用掃描線驅(qū)動電路301通過該傳感器用掃描線30，針對每一行，負(fù)責(zé)位
于各行中的光量檢測元件50的驅(qū)動時刻。另外，光量檢測元件50與沿著其矩陣狀排列中的列方向延伸的傳感器用信號線60連接。光量檢測元件50所測量的光量通過該傳感器用信號線60，被提供給受光信號讀出電路601。
另外，圖1等中所示的標(biāo)有符號50的四角箱(即"光量檢測元件50")表示可以包含用于將變換了檢測出的光量的電信號適當(dāng)?shù)卣蔚碾娐返绕渌璧碾娐贰?br>
最后，控制電路C進(jìn)行控制，以使整個電光學(xué)裝置l和諧地運作。更具體地說，如圖1所示，控制電路C向掃描線驅(qū)動電路31和數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路61，以及傳感器用掃描線驅(qū)動電路301和受光信號讀出電路601提供時鐘信號。另外，控制電路C向數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路61提供上述圖像信號、或接受由受光信號讀出電路601讀出的光量數(shù)據(jù)的提供。
由此，控制電路C,通過例如掃描線驅(qū)動電路31，進(jìn)行每一行的并且按照線順序的各液晶元件8的選擇，或者，通過數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路61，進(jìn)行針對被選擇的液晶元件8的適時的時刻的圖像信號的提供等。
另外，在第l實施方式中，特別是該控制電路C進(jìn)行與在像素13以及對置電極5之間外加的電位的極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動有關(guān)的控制。另外，在控制電路C的內(nèi)部內(nèi)置有物體位置檢測電路Cl。該物體位置檢測電路Cl根據(jù)上述光量數(shù)據(jù)的內(nèi)容，檢測出與上述圖像顯示面7a接觸的用戶的手指、筆尖等物體的在該圖像顯示面7a上的位置。關(guān)于此內(nèi)容的更詳細(xì)的有關(guān)處理的說明將在后面敘述。
另外，作為本發(fā)明所說的"位置檢測單元"的一個具體例，如上所述，由光量檢測元件50、或用于對其進(jìn)行驅(qū)動或讀出其光量測量結(jié)果的結(jié)構(gòu)(即，受光信號讀出電路601等)、圖像顯示面7a、以及上述控制電路C等構(gòu)成。
下面，針對上述第1實施方式的電光學(xué)裝置1的作用，即其
18工作方式的一例，除了上述已經(jīng)參照的圖1、圖2，另外還參照
圖3至圖6進(jìn)行說明。
首先，進(jìn)入核心內(nèi)容之前，對關(guān)于像素電極13以及對置電極5之間的電位差的極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動進(jìn)行說明。在第1實施方式中，控制電路C在每個所規(guī)定的期間內(nèi)，使像素電極13以及對置電極5之間的電位差的極性反轉(zhuǎn)。
這里所說的「所規(guī)定的期間」是以根據(jù)上述選擇信號來選擇例如掃描線3中的1根的期間等為基礎(chǔ)所決定的。g卩，更加詳細(xì)的說明如下所示首先，如圖3所示，l幀期間的開始是根據(jù)開始脈沖SP來劃分的。這樣一來，之后，就例如圖l中由上開始的順序，1根1根地選擇掃描線3。在這種情況下，按照以下方式設(shè)定各電極(13， 5)的電位例如當(dāng)選擇了最初的1根掃描線3時，像素電極13的電位比對置電極5的電位高；當(dāng)選擇了接下來的1根掃描線3時，像素電極13的電位比對置電極5的電位低。也就是說，在這種情況下，當(dāng)選擇了第奇數(shù)根的掃描線3時，像素電極13的電位更高，當(dāng)選擇了第偶數(shù)根的掃描線3時，對置電極5的電位更高。
無論如何，進(jìn)行這樣的極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動的話，就可以盡可能地防止液晶層LQ的不斷變差。并且，在第1實施方式中特別令人注意的是，在進(jìn)行該極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動的情況下，必然地，如圖3中的從上數(shù)第2段的時序圖中的虛線箭頭的各點(例如，參照符號"K1"、 "K2")所示，這些點是電位的「反轉(zhuǎn)時刻」發(fā)生的點(關(guān)于這一點在后面另行闡述)。
另外，圖3中的從上數(shù)第2段的時序圖僅僅描述了對置電極5的電位VC0M (以下稱之為「共同電位VC0M」)的反轉(zhuǎn)或轉(zhuǎn)移的狀態(tài)。像素電極13的電位，根據(jù)該共同電位VC0M的反轉(zhuǎn)，來獲取適宜及適當(dāng)?shù)碾娢?并且，毋庸置疑像素電極13的電位也要根據(jù)圖像信號的內(nèi)容)。
另外，上述所說的"1幀"是作為具有以下含義的術(shù)語來使用的從選擇最初的掃描線3，而向與其對應(yīng)的各像素電極13提供上述圖像信號時開始，到選擇最后的掃描線3，而向與其對
應(yīng)的各像素電極13提供圖像數(shù)據(jù)時為止的期間(在這種情況下，所謂1幀與在圖像顯示面7a上可以顯示1個具有統(tǒng)一的內(nèi)容的圖像的期間幾乎是含義相同的)。具體如圖3所示，該1幀的長度用頻率表示，被規(guī)定為"60Hz"等。
在上述前提下，在第1實施方式中，圖像顯示面7a的物體位置檢測的基本處理按如下進(jìn)行。
首先，如圖4所示，進(jìn)行基準(zhǔn)圖像的獲取(圖4的步驟S101)。這里所說的「基準(zhǔn)圖像」是指作為后面提到的對象圖像的比較對象而預(yù)先獲取的圖像，意思是其全部基本上是通過固定不動的光量所規(guī)定的圖像。具體地，例如選擇幾乎沒有用戶的手指等與圖像顯示面7a接觸的可能、并且電光學(xué)裝置1的電源剛剛接入后的時間等，進(jìn)行該基準(zhǔn)圖像的獲取。
然后，如圖5所示，進(jìn)行手指等的物體位置檢測處理。該處理首先通過「對象圖像」的讀出開始(圖5的步驟S201)。該對象圖像的讀出處理包含第1實施方式的特征性處理，關(guān)于這一點，在后面另行闡述。另外，對象圖像的讀出處理，或者是上述的基準(zhǔn)圖像的獲取處理都是使用上述光量檢測元件50、受光信號讀出電路601等進(jìn)行的。
然后，計算該對象圖像與上述基準(zhǔn)圖像的差分?jǐn)?shù)據(jù)(圖5的步驟S202)。該差分?jǐn)?shù)據(jù)的計算以及下面即將敘述的物體位置檢測處理是在上述控制電路C、或者物體位置檢測電路Cl中進(jìn)行的。另外，為了可以更合適地進(jìn)行這種處理，可以在控制電路C內(nèi)等，設(shè)置可以將所讀出的對象圖像或基準(zhǔn)圖像存儲一定期間以上的存儲裝置。
然后，根據(jù)這個差分?jǐn)?shù)據(jù)，進(jìn)行用戶的手指等的物體位置檢測(圖5的步驟S203)。在這里，關(guān)于該差分?jǐn)?shù)據(jù)的更具體的內(nèi)容，可以通過參照例如圖6從視覺上來掌握。
艮P，在圖6中描述了用戶的手指F接觸圖像顯示面7a上某一點的情況。在這種情況下，在該手指F的接觸地點上形成了影子SW?；蛘?，在該手指F的表面上，從液晶單元8射出的光適當(dāng)?shù)胤瓷?、散射?？傊?，通過手指F的接觸，產(chǎn)生這種現(xiàn)象，其結(jié)果是，在該接觸地點的光量與其他部分的區(qū)域的光量不同。
這里，已經(jīng)闡述的基準(zhǔn)圖像，是作為例如沒有圖6的影子SW等的圖像而準(zhǔn)備的，所以，最終上述所說的差分?jǐn)?shù)據(jù)是作為構(gòu)成好像僅僅抽出了影子SW等的圖像的數(shù)據(jù)來計算的。而且，在這種情況下，比較容易掌握該影子SW等的圖像顯示面7a上的位置，這是顯而易見的(參照圖6中的符號"Xf"以及"Yf")。
另外，在進(jìn)行以上的檢測手指F的接觸位置的處理之際，例如，結(jié)合圖6所示，在圖像顯示面7a上，可以適當(dāng)?shù)仡A(yù)先顯示各種信息M或按鍵Btl、 Bt2等的圖像要素。
綜合上述，根據(jù)第1實施方式的電光學(xué)裝置1，可以進(jìn)行在圖像顯示面7a上的手指F的位置檢測。
在上述基本處理中，在第l實施方式中，特別是關(guān)于圖5的對象圖像讀出處理(圖5的步驟S201)的內(nèi)容很有特點。該處理，如圖7所示進(jìn)行。
艮口，首先，控制電路C判斷是否存在關(guān)于共同電位VC0M的極性反轉(zhuǎn)(圖7的步驟S301)。也就是說，判斷是否發(fā)生了曾經(jīng)參照圖3所指出的、虛線箭頭的各點所示的「反轉(zhuǎn)時刻」(并且，從圖中可以明確得知，圖3中的虛線箭頭并沒有指向所有的反轉(zhuǎn)時刻)。后面即將闡述的「圖像讀出處理」等是進(jìn)行該判斷之后進(jìn)行的，所以，最終該「圖像讀出處理」是避開反轉(zhuǎn)時刻而進(jìn)行的。
然后，在發(fā)生共同電位VCOM的極性反轉(zhuǎn)的情況下(圖7的步驟S301:"是")，進(jìn)行1行的圖像讀出處理(圖7的步驟S302)。
艮P，如圖3所示，傳感器用掃描線驅(qū)動電路301,通過發(fā)出關(guān)于第i行(i是正整數(shù)，是不超過液晶元件8的行數(shù)的數(shù)。參照圖1或圖2)的傳感器用驅(qū)動信號，驅(qū)動位于該第i行上的光量檢出元件50。由此，傳感器用信號線60接收該光量檢測元件50受光并且適當(dāng)變換了的、與光量相應(yīng)的電信號或光量數(shù)據(jù)
21(參照圖1)的供給。受光信號讀出電路601讀出該電信號或光量數(shù)據(jù)，將其提供給控制電路c。
在這種情況下，圖7的步驟S303意味著始終監(jiān)視關(guān)于位于該第i行的所有光量檢測元件50的讀出是否完成(從這種意義上來看，圖7的步驟S302以及S303是一體地、或同時并行地進(jìn)行的處理)。
另外，關(guān)于圖3所示的第i行的讀出信號的波形例，以來自位于例如該第i行且與任意的某1列交叉的部分的1個光量檢測示件50 (參照圖1)的讀出信號、或光量數(shù)據(jù)的波形例為代表來表示。關(guān)于這一點，在圖3的最下段，即關(guān)于第(i + l)行的讀出信號的波形例，或者后面要敘述的第2實施方式中進(jìn)行說明，關(guān)于圖11所示的讀出信號的波形例也一樣。
上述處理在針對所有掃描線的圖像讀出處理結(jié)束之前，反復(fù)進(jìn)行(圖7的步驟S304)。例如，如圖3所示，在成為與位于第i行的光量檢測元件50相關(guān)的讀出處理的契機(jī)的反轉(zhuǎn)時刻Kl之后，繼續(xù)發(fā)生反轉(zhuǎn)時刻K2，然后，進(jìn)行與位于第(i + l)行的光量檢測元件50相關(guān)的讀出處理。
根據(jù)上述處理，在第l實施方式中，產(chǎn)生以下效果。即，在第1實施方式中，從上述說明可以明確，使用了光量檢測元件50的對象圖像的讀出處理，是在避開反轉(zhuǎn)時刻之時、或者利用反轉(zhuǎn)時刻以外的時間進(jìn)行的。
假設(shè)，與上述處理相反，假設(shè)在反轉(zhuǎn)時刻之時同時進(jìn)行圖像讀出處理的情況，在這種情況下，本申請發(fā)明人確認(rèn)了顯示圖像產(chǎn)生紊亂的可能性非常高。并且，如果發(fā)生這種圖像紊亂，則被讀出的光量數(shù)據(jù)就可能無法正確反映現(xiàn)實情況(例如圖6所示的情況)，因此，有可能會發(fā)生上述的物體位置檢測處理不能正確進(jìn)行的情況。
然而，在第l實施方式中，如上所述，光量數(shù)據(jù)是在避開反轉(zhuǎn)時刻被讀出的，所以在上述差分?jǐn)?shù)據(jù)計算處理(圖5的步驟S202)、或者物體位置檢測處理(圖5的步驟S203)中，就不能利用在反轉(zhuǎn)時刻之時所讀出的光量數(shù)據(jù)、或當(dāng)時獲取的對象圖 像。
如上所述，根據(jù)第l實施方式，可以極大地降低發(fā)生圖像紊 亂等的可能性，或者可以精確地進(jìn)行物體的接觸位置檢測。 (第2實施方式)
下面，參照圖8至圖11對本發(fā)明的第2實施方式進(jìn)行說明。 另外，由于第2實施方式的電光學(xué)裝置1的構(gòu)成、或涉及物體位 置檢測處理的基本處理等的內(nèi)容，與第l實施方式相同，所以對 重復(fù)部分的說明進(jìn)行簡述，或者適當(dāng)省略。
首先，在第2實施方式中，如圖8所示，針對每12個液晶 元件8，設(shè)置1個光量檢測元件50。不過，12個液晶元件8中， 構(gòu)成1組(參照圖8中的符號P)的3個液晶元件8的排列狀態(tài) 與第l實施方式相同，從圖中左側(cè)按順序排列紅色、綠色以及藍(lán) 色發(fā)光用的液晶元件8R、 8G以及8B。所有的12個液晶元件8 是按照縱向2組，橫向2組的排列方式排列的。另外，從圖示可 以明確，這種情況下也和第1是實施方式一樣，光量檢測元件50 是按照所規(guī)定的矩陣狀排列來進(jìn)行排列的。
這樣，在第2實施方式中，由12個液晶元件8和1個光量 檢測元件50可以構(gòu)成了 1個單位結(jié)構(gòu)。
在第2實施方式中，這種單位結(jié)構(gòu)，如圖9所示，在圖中左 右方向上排列120個，上下方向上排列120個(因此，當(dāng)然，光 量檢測元件50也一樣按照120個、120個排列)。從與圖8對應(yīng) 的角度來說，由3個液晶元件8構(gòu)成的上述1組(或者也可以稱 為"像素")的數(shù)目為在圖中左右方向上240個，上下方向上 240個，如果將1個液晶元件8作為一個單位，則其數(shù)目也同樣 為1440個、480個(但是，在圖9中都沒有顯示)。
并且，在第2實施方式中，如圖9所示，在受光信號讀出電 路601的內(nèi)部，設(shè)置有10個多路轉(zhuǎn)換器(multiplexer) 610-1 610-IO(并且，要注意的是，受光信號讀出電路601的圖示位置 與圖1相比，上下顛倒)。
23在該多路轉(zhuǎn)換器610中，連接了傳感器用信號線60，其連接 方式如圖所示。如果舉例說明，則例如，在圖中最左端的多路轉(zhuǎn)
換器610-1，首先，連接了與光量檢測元件50-1、 11、 21、 31、 41、 51各自連接的傳感器用信號線60。另外，通過借助開關(guān)與 這些傳感器用信號線60連接的其他傳感器用信號線60，在多路 轉(zhuǎn)換器610-1，另外分別連接了光量檢測元件50-61、 71、 81、 91、 101、 111。其結(jié)果是，在圖9的結(jié)構(gòu)中，在某一時刻，可以 獲取來自光量檢測元件50-1、 11、 21、 31、 41、 51的光量數(shù)據(jù)， 另一方面，在其他時刻，可以獲取來自光量檢測元件50-61、 71、 81、 91、 101、 lll的光量數(shù)據(jù)。并且，這樣獲取到的各個光量數(shù) 據(jù)，可以適當(dāng)?shù)赝ㄟ^外部信號線60A,從多路轉(zhuǎn)換器610-1提供 給控制電路C。
關(guān)于其他的多路轉(zhuǎn)換器610-2、 3、…、10，如圖所示，與多 路轉(zhuǎn)換器610-l相同。
根據(jù)以上實施方式，最終在圖9的構(gòu)成中，可以在某一時刻 獲取來自光量檢測元件50-1、 2、…、60的光量數(shù)據(jù)，在其他時 刻獲取來自光量檢測元件50-61、 62、…、120的光量數(shù)據(jù)。也 就是說，在某1時刻，從位于1條掃描線上的光量檢測元件50 中，可以獲取1/2個的來自光量檢測元件50的光量數(shù)據(jù)。
以上述構(gòu)成為基礎(chǔ)，在第2實施方式中，關(guān)于圖5的對象圖 像讀出處理(圖5的步驟S201)的內(nèi)容很有特點。該處理是按圖 IO所示進(jìn)行的。
艮P，首先，控制電路C判斷是否發(fā)生了共同電位VCOM的極 性反轉(zhuǎn)(圖10的步驟S401)。其意義與對關(guān)于上述圖7的步驟 S301的描述相同。
然后，在發(fā)生了共同電位VCOM的極性反轉(zhuǎn)的情況(圖10的 步驟S401:"是")下，進(jìn)行1/2條掃描線的圖像讀出處理(圖 10的步驟S402)。在此，由已經(jīng)參照圖9進(jìn)行的說明可以明確， 所說的[1/2條掃描線的圖像讀 處理]是指獲取來自光量檢測 元件50-1、 2、…、60的光量數(shù)據(jù)。另外，該光量數(shù)據(jù)的獲取，當(dāng)然是在反轉(zhuǎn)時刻以外的時間進(jìn)
行的，圖10的步驟S402以及S403與圖7的步驟S302以及S303 相同，是一體地、或同時并行地進(jìn)行的處理，關(guān)于相關(guān)的內(nèi)容等， 與上述第1實施方式相同(關(guān)于這一點，即將說明的圖10的步 驟S405以及S406也相同)。
然后，上述"1/2條掃描線的圖像讀出處理"結(jié)束以后，控 制電路C再次判斷是否發(fā)生了共同電位VC0M的極性反轉(zhuǎn)(圖10 的步驟S404)。并且，在是肯定的情況下，進(jìn)行"剩下的"1/2 條掃描線的圖像讀出處理(圖1.0的步驟S405)。此處所說的"剩 下的"1/2條掃描線的圖像讀出處理是指獲取來自光量檢測元 件50-61、 62、…、120的光量數(shù)據(jù)。
以上的處理針對所有的掃描線，并且到圖像讀出處理結(jié)束為 止反復(fù)進(jìn)行(圖10的步驟S407)。
根據(jù)以上處理，第2實施方式可以獲得以下的效果。 首先，根據(jù)該第2實施方式，對象圖像的讀出與上述第1實 施方式一樣，是避開反轉(zhuǎn)時刻而進(jìn)行的。所以，很明顯第2實施 方式的效果和第1實施方式的效果在本質(zhì)上是相同的。也就是說， 根據(jù)第2實施方式也可以極大地降低圖像發(fā)生紊亂等情況的可能 性，或可以精確地進(jìn)行物體的接觸位置的檢測。
另外，根據(jù)第2實施方式還可以獲得如下的效果。 首先，在上述圖10的步驟S402、或步驟S405的處理中，雖 然有"1/2條掃描線"的差異，但是基本上與圖3—樣，進(jìn)行關(guān) 于第i行、第(i + l)行等的傳感器用驅(qū)動信號、和以此為契機(jī) 的位于該第i行、第(i + l)行等上的光量檢測元件50的光量數(shù) 據(jù)的讀出。
不過，圖3中的讀出信號的波形是作為一種理想的波形而描 述的。在這種情況下，被讀出的光量數(shù)據(jù)是否是充分可靠的數(shù)據(jù) 這一點幾乎不會成為問題。這是因為該波形(或光量數(shù)據(jù))因該 瞬間地正確反映了實際情況(例如，圖6所示的情況)，另外還 因為，無論是取反轉(zhuǎn)時刻Kl和K2之間的時間的哪一段，基本上都返回固定的值。
但是，更現(xiàn)實的光量數(shù)據(jù)的讀出波形，例如，如圖11所示， 顯示了從讀出開始那一刻隨著時間的經(jīng)過逐漸上升的這一現(xiàn)象。 這是因為傳感器用信號線60自身、或外部信號線60A自身具有
寄生電容等。若將這種現(xiàn)實的波形試著用在圖3的情況中，則出
現(xiàn)了不能獲取正確地反映現(xiàn)實情況的光量數(shù)據(jù)的可能性。因為，
可能會發(fā)生在反轉(zhuǎn)時刻Kl與K2之間這一比較限定的時間內(nèi)，傳 感器用信號線60等的電位等只能上升到例如圖11所示的A點為 止的情況。
可以說光量檢測元件50的排列所遵從的矩陣狀排列越大， 這種問題就會變得越嚴(yán)重。因為，那種情況下，很有可能傳感器 用信號線60變得更長。
在第2實施方式中，可以更好地克服這種不良情況。因為， 在第2實施方式中，在圖11的反轉(zhuǎn)時刻K3和K4之間這一事先 規(guī)定的較短時間的一次機(jī)會中，應(yīng)該獲取的光量數(shù)據(jù)的也可以說 是絕對量是事先就被限定的。這里所說的"限定"不言而喻是指 上述的"1/2條掃描線"。也就是說，在第2實施方式中，光量數(shù) 據(jù)的獲取是在上述機(jī)會中，僅僅是某一行中的1/2個的光量檢測 元件50進(jìn)行的，所以，即使在那種比較短的時間之間，傳感器 用信號線60等的電位等也可以達(dá)到充分穩(wěn)定的狀態(tài)。因此，獲 得更加準(zhǔn)確的光量數(shù)據(jù)的可能性被提高(參照圖11的符號"Z")。 若設(shè)想一下以相同時間一起進(jìn)行所有的光量檢測元件50的光量 數(shù)據(jù)的獲取以及處理的情況，這種優(yōu)點就變得更明確。
如上所述，根據(jù)第2實施方式，可以獲得能更好地反映實際 情況的準(zhǔn)確的光量數(shù)據(jù)。
另外，圖9所示的光量檢測元件50的個數(shù)、或多路轉(zhuǎn)換器 610的個數(shù)等只不過是其中的一個例子。
另外，用于讀出圖9所示的光量數(shù)據(jù)的構(gòu)成也只不過是其中 的一個例子。用于將光量數(shù)據(jù)，以整理順序的形式(例如，正確 掌握與某1個光量數(shù)據(jù)對應(yīng)的光量檢測元件50是哪一個等等的
26狀態(tài)等)從多個光量檢測元件50中比較迅速地讀出的具體電路 構(gòu)成還有其他各種形式，但無論是什么樣的形式，本發(fā)明基本上 對采用這些形式的可能性不予否定。
而且，上述構(gòu)成中，利用2個相當(dāng)于時間上先后的反轉(zhuǎn)時刻 之間的期間，在前者中進(jìn)行1/2條掃描線，在后者中進(jìn)行剩下的 1/2條掃描線的圖像讀出處理。但本發(fā)明不局限于該方式。
例如，根據(jù)不同情況，在有時間上先后的4個反轉(zhuǎn)時刻Ll、 L2、 L3和L4的情況下，也可以在Ll和L2之間進(jìn)行1/3條掃描 線，在L2和L3之間進(jìn)行接下來的1/3條掃描線，在L3和L4之 間進(jìn)行剩下的1/3條掃描線的圖像讀出處理。 (第3實施方式)
以下，參照圖12對本發(fā)明的第3實施方式進(jìn)行說明。另外， 第3實施方式的電光學(xué)裝置1的構(gòu)成、或關(guān)于物體位置檢測處理 的基本處理的內(nèi)容等與第1實施方式相同，因此，對重復(fù)部分進(jìn) 行簡述，或適當(dāng)省略。
在第3實施方式中，圖5的對象圖像讀出處理(圖5的步驟 S201)的內(nèi)容很有特點。該處理如圖12所示進(jìn)行。
也就是說，首先，控制電路C與上述第1以及第2實施方式 不同，可以說是直接開始1條掃描線的圖像讀出處理(圖12的 步驟S503)。在這一點上，與上述兩實施方式中最開始要進(jìn)行是 否發(fā)生了共同電位VCOM的極性反轉(zhuǎn)的判斷(圖7的步驟S301、 或圖10的步驟S401)是不同的。
接下來，控制電路C判斷是否發(fā)生了與上述處理一體地、或 同時并行地進(jìn)行的共同電位VCOM的極性反轉(zhuǎn)(圖12的步驟S504)， 并且，在沒有發(fā)生的情況下(圖12的步驟S504:"否")，監(jiān)測 位于第i行的光量檢測元件50的所有讀出是否結(jié)束(圖12的步 驟S505)。涉及這些步驟的處理之間的關(guān)系與上述圖7的步驟 S302以及S303、或圖10的步驟S405以及S406等的情況相同。
在這種處理正進(jìn)行當(dāng)中，在發(fā)生了共同電位VCOM的極性反 轉(zhuǎn)的情況下(圖12的步驟S504:"是")，在該時刻正在進(jìn)行的1
27200910167350.6 條掃描線的圖像讀出處理被中斷(圖12的步驟S507)。然后，控 制電路C將該中斷時刻的作為圖像讀出對象的第i行的掃描線重 新作為圖像讀出的對象掃描線進(jìn)行設(shè)定(圖12的步驟S508)， 然后，再次進(jìn)行該第i行的掃描線的1條掃描線的圖像讀出處理 (圖12的步驟S503)。也就是說，在第3實施方式中，該i行的 線的光量數(shù)據(jù)被重新獲取。接著，只要在重新獲取光量數(shù)據(jù)之時， 不發(fā)生共同電位VC0M的反轉(zhuǎn)(參照圖12的步驟S504),最終就 可以從頭到尾地獲取避開了反轉(zhuǎn)時刻的時刻的該第i行的光量數(shù) 據(jù)。
另外，通過以上的說明可以明確的是在該第3實施方式中，
本發(fā)明所說的"測量區(qū)域"是將"與1條傳感器用掃描線30連 接的光量檢測元件50"作為一個單位而規(guī)定的。更簡單地講，1 個"測量區(qū)域"就是所說的1條掃描線的區(qū)域。
根據(jù)以上處理，第3實施方式可以獲得以下效果。 也就是說，在該第3實施方式中，對象圖像的讀出不是避開 反轉(zhuǎn)時刻進(jìn)行的。相反，在該第3實施方式的圖像讀出處理中， 己經(jīng)考慮了反轉(zhuǎn)時刻的時刻可能到來的這一情況。
但是，第3實施方式中，在該時刻獲取到的光量數(shù)據(jù)在進(jìn)行 物體位置檢測處理(圖5的步驟S203)時不被直接使用。這是因 為，從對上述圖12的步驟S507以及S508的處理進(jìn)行的說明也 可以明確地知道在該時刻獲取到的光量數(shù)據(jù)被設(shè)置為廢棄的、 或被忽略的數(shù)據(jù)。并且，在第3實施方式中設(shè)置成以下方式作 為彌補的方式，重新進(jìn)行具有上述障礙的1條掃描線的圖像讀出 處理，由此得到的新的光量數(shù)據(jù)被供給物體位置檢測處理來使 用。
從以上說明可以清楚地知道，根據(jù)上述第3實施方式，最終 也可以獲得與第1實施方式本質(zhì)上相同的效果。也就是說，根據(jù) 第3實施方式也可以極大地降低圖像紊亂等情況發(fā)生的可能性， 或可以精確地進(jìn)行物體的接觸位置檢測。
另外，在上述內(nèi)容中，在1條掃描線的圖像讀取處理正進(jìn)行當(dāng)中反轉(zhuǎn)時刻到來的情況下，雖然重新進(jìn)行了關(guān)于同一條掃描線
的圖像讀取處理(圖12的步驟S508)，但是，根據(jù)不同情況，也 有可能省略該重新進(jìn)行的圖像讀取處理。因為就算缺少涉及該1 條掃描線的對象圖像的信息，從物體位置檢測的精確度上講，可 以認(rèn)為有時也不會特別出現(xiàn)問題。關(guān)于這種情況下的處理流程， 例如，若用圖12所示，則可以認(rèn)為直接從步驟S507進(jìn)入到步驟 S506。由此，可以實現(xiàn)對象圖像獲取的簡化、快速化等。
雖然如此，與這種方式相比，上述的第3實施方式在物體位 置檢測方面精確度更高、更有優(yōu)勢，這一點是毋庸置疑的。 (變形例)
以上，對本發(fā)明的實施方式進(jìn)行了說明，但本發(fā)明的電光學(xué) 裝置不局限于上述方式，可以進(jìn)行各種變形。
(1)上述各實施方式中，關(guān)于例如圖3所示的反轉(zhuǎn)時刻Kl 以及K2之間的時間，專門(=上述第1以及第2實施方式)或主要 (=上述第3實施方式)對利用連續(xù)的反轉(zhuǎn)時刻的間歇的時間，讀 出對象圖像、或獲取光量數(shù)據(jù)的例子進(jìn)行了說明，但本發(fā)明不局 限于上述方式。
例如，如圖13所示，對象圖像讀出處理可以設(shè)置成是在圖 像顯示面7a的一部分上包括不顯示圖像的區(qū)域(以下，稱為"非 顯示區(qū)域")的情況下，應(yīng)該驅(qū)動與該非顯示區(qū).域?qū)?yīng)的液晶元 件8的時刻之時(以下，稱為"非顯示時")進(jìn)行的(參照圖13 的從步驟S601到S602的流程)。在該非顯示區(qū)域中，由于不必 實質(zhì)上驅(qū)動液晶元件8，所以，通常，不會進(jìn)行圖3等所示的極 性反轉(zhuǎn)驅(qū)動(也就是說，在一段時間內(nèi)，共同電位VCOM—直維 持在0或1的狀態(tài)。)。因此，根據(jù)這樣的處理也可以獲取避開 反轉(zhuǎn)時刻之時的光量數(shù)據(jù)。
并且，根據(jù)將這種方式和上述各實施方式結(jié)合在一起實施的 方式，不僅在反轉(zhuǎn)時刻之間等的時間，在上述非顯示時，也可以 進(jìn)行光量數(shù)據(jù)的獲取處理，所以，可以獲得以下優(yōu)點可以更迅 速地獲取 確保 處理物體位置檢測時所需的光量數(shù)據(jù)的全部測量結(jié)果(例如，l個畫面的光量數(shù)據(jù))。
另外，在這種變形例的情況下，只要存在非顯示區(qū)域，通常， 就不必獲取圖像顯示面7a的整個面上的光量數(shù)據(jù)。在這種情況 下，可以認(rèn)為屬于本發(fā)明所說的"測量與圖像顯示面的…一部分 相關(guān)的所規(guī)定的物理量"的情況的一個例子。不過，這里所說的 "與一部分相關(guān)的所規(guī)定的物理量"的測量這一說法可以是指
雖然在圖像顯示面7a的整個面上都顯示了圖像(即，不存在非 顯示區(qū)域)，但是物體位置檢測可以僅僅在該圖像顯示面7a的限 定的區(qū)域內(nèi)進(jìn)行這一情況下的"一部分"的測量。
(2) 在上述各實施方式中，雖然進(jìn)行了基于光量檢測元件 50的光量數(shù)據(jù)的獲取、以及在其基礎(chǔ)上的物體位置檢測，但本發(fā) 明不局限于該方式。
作為與圖像顯示面7a接觸的物體的位置檢測方式(即，實 現(xiàn)觸控式面板的方式)，可以有例如靜電容量式、SAW (Surface Acoustic Wave)式、電磁誘導(dǎo)式、光檢測式等各種方式。其中， 例如，在靜電容量式中，根據(jù)物體是否接觸了圖像顯示面，在該 圖像顯示面內(nèi)，例如被排列成矩陣狀的電容器積蓄的電荷中產(chǎn)生 變化(該電容器可以采用例如具有2個對置的島狀電極的結(jié)構(gòu)、 或通過2個長形電極交叉的部分構(gòu)成的結(jié)構(gòu)等具體方式)。因此， 這種情況下，例如"根據(jù)該電容器中積蓄的、或從該電容器釋放 的龜荷的電流量"等屬于本發(fā)明所說的"物理量"。另外，在上 述各實施方式中，不言而喻，該"物理量"中當(dāng)然包括了 "光量"。
如上所述，本發(fā)明基本上對物體位置檢測的方式不做限定。
(3) 在上述各實施方式中，作為極性反轉(zhuǎn)驅(qū)動的例子，僅 對線反轉(zhuǎn)驅(qū)動的情況進(jìn)行了說明，但本發(fā)明不局限于該方式。
另外，本發(fā)明當(dāng)然也適用以1幀周期為極性反轉(zhuǎn)周期的基準(zhǔn) 的幀反轉(zhuǎn)驅(qū)動的情況。
或者，本發(fā)明也適用于點反轉(zhuǎn)驅(qū)動的情況。點反轉(zhuǎn)是按照以 下方式進(jìn)行的液晶元件8的每一個，或上述像素(圖2或圖8 所示的液晶元件8R、 8G、 8B的一組)的每一個，或根據(jù)情況不同，參照圖8所說明的那種單位構(gòu)成(即，12個液晶元件8)的
每一個等等，也就是說，以1個液晶元件8作為基本的基準(zhǔn)進(jìn)行
極性反轉(zhuǎn)。
(4) 關(guān)于上述各實施方式中的光量檢測元件50的排列形式， 只不過表示了其中的一個例子。例如，作為極端的例子，可以每 一個液晶元件8設(shè)置1個光量檢測元件50。另外，光量檢測元件 50不一定需要作為整體都按照矩陣狀排列而排列。
(5) 在上述各實施方式中，為了求得差分?jǐn)?shù)據(jù)，僅單純地 進(jìn)行了 "基準(zhǔn)圖像-對象圖像"這一計算(參照圖5)，但本發(fā)明 不局限于該方式。例如，可以認(rèn)為進(jìn)行以下的處理更為優(yōu)選
艮P，首先，作為基準(zhǔn)圖像，預(yù)先獲取與共同電位VC0M為0 和1的這兩種情況對應(yīng)的2種"基準(zhǔn)圖像(0)"和"基準(zhǔn)圖像(1)" (參照圖4)。其次，將通過圖5的步驟S201所獲取的對象圖像、 或光量數(shù)據(jù)，按照是在共同電位為0時獲取的、還是在1時獲取 的，進(jìn)行劃分(參照圖3)。接下來，在圖5的步驟S202的處理 中，在對共同電位VCOM=0時獲取的光量數(shù)據(jù)進(jìn)行計算的情況下， 使用"基準(zhǔn)圖像(O)"作為基準(zhǔn)，在對VC0M=1時獲取的光量數(shù) 據(jù)進(jìn)行計算的情況下，使用"基準(zhǔn)圖像(l)"作為基準(zhǔn)。也就是 說，假如將前者和后者的光量數(shù)據(jù)命名為"對象圖像(O)"和"對 象圖像(l)"，則在前者的情況下進(jìn)行"基準(zhǔn)圖像(0)-對象圖 像(O)"，在后者的情況下進(jìn)行"基準(zhǔn)圖像(1)-對象圖像(l)"， 來求出差分?jǐn)?shù)據(jù)。
通過進(jìn)行這種處理，可以進(jìn)行考慮了共同電位VC0M的電平 差異給構(gòu)成圖像的光量帶來的影響的更精確的物體位置檢測。例 如，假如，事先僅準(zhǔn)備了上述"對象圖像(O)"，只使用它來求 出差分?jǐn)?shù)據(jù)(即，將與共同電位VC0M=1時的對象圖像(1)相關(guān) 的差分?jǐn)?shù)據(jù)也作為"基準(zhǔn)圖像(0)-對象圖像(l)"而求出)， 則有可能圖6的影子SW等的抽出不能順利地進(jìn)行。
上述的事先準(zhǔn)備2種基準(zhǔn)圖像(0)和(1)的措施，具有將 對象圖像和基準(zhǔn)圖像的獲取條件、或它們的背景情況進(jìn)行統(tǒng)一的
31意義，因此，可以適當(dāng)?shù)乇苊馍鲜霾焕闆r的發(fā)生。
(6)在上述第1和第2實施方式中，對象圖像的讀出處理
的開始與共同電位VC0M的反轉(zhuǎn)的有無緊密相關(guān)(圖7的步驟 S301、圖10的步驟S401以及步驟S404)。這種情況下，由于極 性反轉(zhuǎn)驅(qū)動是由控制電路C來控制的，所以可以說"共同電位 VCOM的極性是否反轉(zhuǎn)了"，基本上由控制電路C本身確認(rèn)"是否 發(fā)出了關(guān)于極性反轉(zhuǎn)的指令"即可。也就是說，該指令的發(fā)令時 刻就可以認(rèn)為是"反轉(zhuǎn)時刻"。
但是，實際上，在將某個電極設(shè)定為所規(guī)定的電位時，需要 考慮在上述第2實施方式中已經(jīng)說明的、該電極本身所具有的寄 生電容。也就是說，在共同電位VCOM的反轉(zhuǎn)中，能期待圖3中 那樣的從上數(shù)第2段中所示的瞬間響應(yīng)是很少有的，如參照圖11 所說明的那樣，反復(fù)進(jìn)行伴隨著電位的緩緩上升或下降的所謂緩 慢反轉(zhuǎn)這一現(xiàn)象發(fā)生的可能性很大。特別是，如上述那樣，對置 電極5是具有覆蓋整個像素電極13的形成區(qū)域的比較大的面積 的電極，所以，其具有的寄生電容遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過在圖11的前提下的 傳感器用信號線60等所具有的寄生電容。因此，可以說更可能 發(fā)生上述的不利情況。并且，在這種情況下，有可能獲取基于所 說的反轉(zhuǎn)中的狀態(tài)的光量數(shù)據(jù)，也就是說，獲取到其中存在一定 的不準(zhǔn)確信息的光量數(shù)竭的可能性增大。
因此，在上述第l和第2實施方式中，若將"共同電位VCOM 的極性是否反轉(zhuǎn)"的判斷，置換為"共同電位VCOM的反轉(zhuǎn)后的 電位是否穩(wěn)定"的判斷，則更為優(yōu)選。在這種情況下，由于不能 將控制電路C所發(fā)的上述指令的發(fā)令時刻與"反轉(zhuǎn)時刻"等同看 待，所以，例如，重新設(shè)置監(jiān)視對置電極5的電位的共同電位檢 測電路，可以使控制電路C通過參照該輸出結(jié)果，進(jìn)行上述判斷。
根據(jù)這種方式，可以更實效地獲得上述的各種效果。
另外，在上述第3實施方式中，無論有極性反轉(zhuǎn)還是沒有， 都進(jìn)行對象圖像的讀出處理(參照圖12)，所以，上述內(nèi)容基本 不適用。另外，若共同電位VCOM的反轉(zhuǎn)開始，則可以說僅由此
32就中斷該處理(參照圖12的步驟S507)反而為優(yōu)選，所以，也 可以說在第3實施方式中，優(yōu)選遵從涉及極性反轉(zhuǎn)的指令的發(fā)令
時刻二 "反轉(zhuǎn)時刻"這一觀點。
盡管如此，在第3實施方式中，在圖12的步驟S504的判斷 處理時，也不是沒有適用上述觀點的余地，本發(fā)明沒有試圖積極 地排除那種情況(無論采用哪種觀點，在第3實施方式中，由于 再次進(jìn)行被中斷的圖像讀出處理，可以說不會產(chǎn)生多大的差別。)
(7)在上述的第2實施方式中，雖然進(jìn)行了利用時間上先 后的2個反轉(zhuǎn)時刻之間的期間的1/2條掃描線的圖像讀出處理， 但該第2實施方式的宗旨不一定與上述第3實施方式的宗旨相違 背。例如，如第3實施方式那樣，雖然將不管有極性反轉(zhuǎn)還是無 極性反轉(zhuǎn)都進(jìn)行圖像讀出處理設(shè)置為通常狀態(tài)，在1個反轉(zhuǎn)時刻 之間的期間內(nèi)，不是不可能實施基本上進(jìn)行1/2條掃描線的圖像 讀出處理這一處理。
在這種意義上，上述第2和第3實施方式可以并存。另外， 根據(jù)同樣的意義，第1和第3實施方式也可以并存。 (應(yīng)用例)
接下來，對利用了本發(fā)明的電光學(xué)裝置的電子設(shè)備進(jìn)行說 明。圖14或圖16中顯示了釆用以上所說明的實施方式中的液晶 顯示裝置的電子設(shè)備的方式。
圖14為顯示采用液晶顯示裝置的便攜式個人電腦的構(gòu)成的 立體圖。個人電腦2000具備顯示各種圖像的液晶顯示裝置100; 和設(shè)置了電源開關(guān)2001或鍵盤2002的本體部2010。
圖15為顯示利用了液晶顯示裝置100的移動電話機(jī)的構(gòu)成 的立體圖。移動電話機(jī)3000具備多個操作鍵3001;滾動鍵3002; 以及顯示各種圖像的液晶顯示裝置100。通過操作滾動鍵3002， 滾動顯示在液晶顯示裝置上的畫面。
圖16為表示利用了液晶顯示裝置100的便攜式信息終端 (PDA: Personal Digital Assistance)的構(gòu)成的立體圖。便攜 式信息終端4000具備多個操作鍵4001和電源開關(guān)4002，以及顯示各種圖像的液晶顯示裝置100。若操作多個操作鍵4001，則 住址錄或記事本這樣的各種信息就顯示在液晶顯示裝置ioo上。
作為利用本發(fā)明的電光學(xué)裝置的電子設(shè)備，除了圖14到圖 16舉例所示的設(shè)備之外，還可以舉出數(shù)碼相機(jī)、電視、攝像機(jī)、
尋呼機(jī)、電子記事本、電子紙、計算器、字處理器、工作站、電
視電話、POS終端、打印機(jī)、掃描器、復(fù)印機(jī)、視頻播放器、觸 控式面板等設(shè)備。
權(quán)利要求
1.一種電光學(xué)裝置，其特征在于，具備電光學(xué)元件，其由第1和第2電極，以及夾持在它們之間，并且由于所提供的規(guī)定的電位而使其光學(xué)特性發(fā)生變化的電光學(xué)物質(zhì)構(gòu)成；位置檢測單元，其用于檢測與顯示由該電光學(xué)元件構(gòu)成的圖像的圖像顯示面上所接觸的物體的、在該圖像顯示面上的位置；以及物理量測量單元，其包含在該位置檢測單元內(nèi)，并且，測量與上述物體接觸到上述圖像顯示面時的該圖像顯示面的全部或一部分相關(guān)的所規(guī)定的物理量，上述位置檢測單元，根據(jù)由上述物理量測量單元所測量的上述物理量的測量結(jié)果，并且根據(jù)除去了上述第1和第2電極之間的電位差的極性反轉(zhuǎn)時刻的、上述物理量測量單元的測量結(jié)果的測量結(jié)果，進(jìn)行上述物體的在上述圖像顯示面上的位置的檢測。
2. 如權(quán)利要求1記載的電光學(xué)裝置，其特征在于上述物理量測量單元，僅在時間上先后的2個反轉(zhuǎn)時刻之間測量上述物理量。
3. 如權(quán)利要求1記載的電光學(xué)裝置，其特征在于上述物理量測量單元，在時間上先后的2個反轉(zhuǎn)時刻之間以 及在該2個反轉(zhuǎn)時刻之時，測量上述物理量，-上述位置檢測單元，忽略上述2個反轉(zhuǎn)時刻之時的上述物理 量測量單元的測量結(jié)果，進(jìn)行在上述圖像顯示面上的上述物體的 位置的檢測。
4. 如權(quán)利要求3記載的電光學(xué)裝置，其特征在于上述物理量測量單元按照每個劃分上述圖像顯示面的多個 測量區(qū)域，測量上述物理量，并且，重新測量關(guān)于與上述反轉(zhuǎn)時 刻之時檢測出的上述物理量對應(yīng)的上述測量區(qū)域的、該反轉(zhuǎn)時刻 之時以外的時候的物理量。
5. 如權(quán)利要求1至4的任一項記載的電光學(xué)裝置，其特征在于存在多個上述電光學(xué)元件，并且，它們按照矩陣狀排列來進(jìn) 行排列；上述物理量測量單元，包括與上述電光學(xué)元件的每規(guī)定的個數(shù)對應(yīng)的多個物理量測量 元件；和用于讀出這些物理量測量元件的測量結(jié)果的信號線， 通過上述信號線的上述物理量的讀出是在時間上連續(xù)的n 個反轉(zhuǎn)時刻的第m個反轉(zhuǎn)時刻之后，針對與上述矩陣狀排列中的 某一行對應(yīng)的上述物理量測量元件中的1/ (n-l)個的物理量測 量元件而進(jìn)行的，其中n為正的整數(shù)，m二l、 2、…n-l。
6. 如權(quán)利要求1至5的任一項記載的電光學(xué)裝置，其特征 在于上述物理量測量單元，在上述圖像顯示面的一部分中包含不 顯示上述圖像的區(qū)域的情況下，在應(yīng)該驅(qū)動與該區(qū)域?qū)?yīng)的上述 電光學(xué)元件的時刻之時，測量上述物理量。
7. 如權(quán)利要求1至6的任一項記載的電光學(xué)裝置，其特征在于上述第1和第2電極的至少一方按照矩陣狀排列來進(jìn)行排列，上述電位的極性的反轉(zhuǎn)是以上述矩陣狀排列中的行或列作 為一個單位而進(jìn)行的。
8. —種電子設(shè)備，其特征在于具備權(quán)利要求1至7的任一項記載的電光學(xué)裝置。
9. 一種指示物體的位置檢測方法，檢測對顯示圖像的圖像顯 示面上的某個地點進(jìn)行指示的物體的、在該圖像顯示面上的位置，其特征在于，包括電位設(shè)定工序，為了改變在構(gòu)成形成上述圖像的電光學(xué)元件 的第1和第2電極之間所夾持的電光學(xué)物質(zhì)的光學(xué)特性，在這些第1和第2電極之間施加所規(guī)定的電位差；物理量測量工序，測量與上述物體接觸到上述圖像顯示面時 的該圖像顯示面的全部或一部分有關(guān)的所規(guī)定的物理量；以及位置檢測工序，根據(jù)上述物理量測量工序的上述物理量的測 量結(jié)果，檢測在上述圖像顯示面上所接觸的物體的、在該圖像顯 示面上的位置，上述電位設(shè)定工序，包括使上述第1和第2電極之間的電 位差的極性反轉(zhuǎn)的極性反轉(zhuǎn)工序，上述位置檢測工序，包括根據(jù)將上述極性的反轉(zhuǎn)時刻的上 述物理量測量單元的測量結(jié)果除去之后的測量結(jié)果，檢測上述物 體在上述圖像顯示面上的位置的工序。
10. 如權(quán)利要求9記載的指示物體的位置檢測方法，其特征 在于上述物理量測量工序，包括僅在時間上先后的2個反轉(zhuǎn)時 刻之間測量上述物理量的工序。
11. 如權(quán)利要求9記載的指示物體的位置檢測方法，其特征 在于上述物理量測量工序，包括在時間上先后的2個反轉(zhuǎn)時刻 之間以及在該2個反轉(zhuǎn)時刻之時，測量上述物理量的工序，在上述位置檢測工序中，忽略上述2個反轉(zhuǎn)時刻之時的上述物理量測量單元的測量結(jié)果，進(jìn)行上述物體的、在上述圖像顯示 面上的位置的檢測。
12. 如權(quán)利要求11記載的指示物體的位置檢測方法，其特征在于上述物理量測量工序，包括按照每個劃分上述圖像顯示面 的多個測量區(qū)域，進(jìn)行上述物理量測量的工序，并且，包括重 新測量與上述2個反轉(zhuǎn)時刻之時檢測出的上述物理量對應(yīng)的上述 測量區(qū)域的該反轉(zhuǎn)時刻之時以外的時候的物理量的工序。
13. 權(quán)利要求9至12的任一項記載的指示物體的位置檢測方法，其特征在于存在多個上述電光學(xué)元件，并且，它們按照矩陣狀排列來進(jìn)行排列；上述物理量測量工序的進(jìn)行使用了與上述電光學(xué)元件的每規(guī)定的個數(shù)對應(yīng)的多個物理量測量單元；和用于讀出這些物理量 測量單元的測量結(jié)果的信號線，利用上述信號線的上述物理量的讀出是在時間上連續(xù)的n 個反轉(zhuǎn)時刻的第m個反轉(zhuǎn)時刻之后，針對與上述矩陣狀排列中的 某一行對應(yīng)的上述物理量測量元件中的1/ (n-l)個的物理量測 量元件進(jìn)行的，其中，n為正的整數(shù)，m=l、 2、…n-l。
14. 如權(quán)利要求9至13的任一項記載的指示物體的位置檢 測方法，其特征在于上述物理量測量工序是在上述圖像顯示面的一部分中包括 不顯示上述圖像的區(qū)域的情況下，在應(yīng)該驅(qū)動與該區(qū)域?qū)?yīng)的上 述電光學(xué)元件的時刻之時進(jìn)行的。
15. 如權(quán)利要求9至14的任一項記載的指示物體的位置檢 測方法，其特征在于上述第l及上述第2電極的至少一方按照矩陣狀排列來進(jìn)行 排列，上述極性反轉(zhuǎn)工序是以上述矩陣狀排列中的行或列作為一 個單位而進(jìn)行的。
全文摘要
提供一種可以防止圖像紊亂、高精確性地檢測出圖像顯示面上的物體位置的電光學(xué)裝置。指示圖像顯示面上的某個地點的手指、筆尖等的物體的位置檢測，是根據(jù)光量檢測元件測量的該圖像顯示面的整個面上的光量進(jìn)行的。上述圖像通過液晶元件顯示，該液晶元件包括第1電極和第2電極，以及夾持在它們之間，并由于提供所規(guī)定的電位而使其光學(xué)特性發(fā)生變化的液晶。在這種情況下，這些第1和第2電極之間所施加的電位差的極性以所規(guī)定的周期被反轉(zhuǎn)(圖中“VCOM”表示第1和第2電極中的一方的電位的波形)。并且，上述位置檢測是根據(jù)除去上述極性的反轉(zhuǎn)時刻(K1，K2)中的上述光量檢測元件的測量結(jié)果后的測量結(jié)果進(jìn)行的(參照圖中“讀出信號”的波形)。
文檔編號G02F1/133GK101661177SQ200910167350
公開日2010年3月3日 申請日期2009年8月21日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月22日
發(fā)明者茅野岳人 申請人:精工愛普生株式會社