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      主動(dòng)組件數(shù)組基板的制作方法

      文檔序號(hào):2761134閱讀:197來源:國知局
      專利名稱:主動(dòng)組件數(shù)組基板的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型是有關(guān)于一種組件數(shù)組基板,且特別是有關(guān)于一種能應(yīng)用于顯示器 Wi^^lL^^iELSIS-Cactive device array substrate)
      背景技術(shù)
      主動(dòng)組件數(shù)組基板是目前薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display, TFT-LCD)的重要組件,而主動(dòng)組件數(shù)組基板能利用電場(electric field)來改變液晶分子的排列,以控制背光模塊(backlight module)所發(fā)出的光線對(duì)彩色 濾光基板(color filter substrate)的穿透,進(jìn)而讓薄膜晶體管液晶顯示器顯示影像。在目前薄膜晶體管液晶顯示器的制造過程中,當(dāng)主動(dòng)組件數(shù)組基板制造完成之 后,隨即對(duì)主動(dòng)組件數(shù)組基板進(jìn)行檢測,以盡量將不良的主動(dòng)組件數(shù)組基板篩選出來,并且 讓不良的主動(dòng)組件數(shù)組基板進(jìn)行重工或報(bào)廢。這樣可避免不良的主動(dòng)組件數(shù)組基板繼續(xù)進(jìn) 行后續(xù)程序,以減少后續(xù)程序在材料使用上的浪費(fèi)。
      發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型提供一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,其包括多個(gè)檢測接墊,而檢測機(jī)臺(tái)能經(jīng) 由這些檢測接墊來對(duì)主動(dòng)組件數(shù)組基板進(jìn)行檢測。本實(shí)用新型提出一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,其包括一基板、一畫素?cái)?shù)組(pixel array)、多個(gè)端子(terminal)以及多個(gè)檢測接墊(test pad)?;寰哂幸黄矫妫矫婢?有一顯示區(qū)。畫素?cái)?shù)組配置在顯示區(qū)內(nèi),并包括多條訊號(hào)線,其中這些訊號(hào)線彼此交錯(cuò)而呈 網(wǎng)狀排列。這些端子與檢測接墊皆配置在平面上,并且皆配置在顯示區(qū)以外的區(qū)域,其中 這些端子分別電性連接這些訊號(hào)線,而各個(gè)檢測接墊連接其中一條訊號(hào)線。各個(gè)檢測接墊 與顯示區(qū)之間的距離小于各個(gè)端子與顯示區(qū)之間的距離,且相鄰二個(gè)檢測接墊之間的間距 (pitch)大于相鄰二個(gè)端子之間的間距。在本實(shí)用新型一實(shí)施例中,各個(gè)檢測接墊的寬度大于各個(gè)端子的寬度。在本實(shí)用新型一實(shí)施例中,至少一條訊號(hào)線連接于其中一個(gè)檢測接墊與其中一個(gè) 端子之間。在本實(shí)用新型一實(shí)施例中,至少一個(gè)檢測接墊連接于其中一條訊號(hào)線與其中一個(gè) 端子之間。在本實(shí)用新型一實(shí)施例中,這些檢測接墊位于這些端子與顯示區(qū)之間。在本實(shí)用新型一實(shí)施例中,上述顯示區(qū)位于這些檢測接墊之間,而這些訊號(hào)線包 括多條第一訊號(hào)線與多條第二訊號(hào)線。這些第一訊號(hào)線彼此并列,并連接于一些檢測接墊 與一些端子之間,而這些第二訊號(hào)線彼此并列,其中另一些檢測接墊連接于這些第二訊號(hào) 線與另一些端子之間,而這些第一訊號(hào)線與這些第二訊號(hào)線并列。在本實(shí)用新型一實(shí)施例中,各個(gè)連接第一訊號(hào)線的檢測接墊與各個(gè)連接第二訊號(hào) 線的檢測接墊分別位于顯示區(qū)的相對(duì)二側(cè)。[0012]在本實(shí)用新型一實(shí)施例中,其中一條第一訊號(hào)線位于相鄰二條第二訊號(hào)線之間。在本實(shí)用新型一實(shí)施例中,上述顯示區(qū)劃分成至少一第一區(qū)域與至少一第二區(qū) 域。第一區(qū)域與第二區(qū)域并列,其中這些第一訊號(hào)線位于第一區(qū)域內(nèi),而這些第二訊號(hào)線位 于第二區(qū)域內(nèi)。在本實(shí)用新型一實(shí)施例中,這些第一訊號(hào)線與這些第二訊號(hào)線皆多條掃描線 (scan line)或多條資料線(data line)。基于上述,由于各個(gè)檢測接墊連接其中一條訊號(hào)線,因此檢測機(jī)臺(tái)能透過這些檢 測接墊來對(duì)主動(dòng)組件數(shù)組基板進(jìn)行檢測,而且本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單,符合市場的要求。為讓本實(shí)用新型的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉實(shí)施例,并配合所附 圖式,作詳細(xì)說明如下。

      [0017]圖1A是本實(shí)用新型第一實(shí)施例的主動(dòng)組件I數(shù)組基板的俯視示意圖。[0018]圖1B是圖1A的局部放大示意圖。[0019]圖2是本實(shí)用新型第二實(shí)施例的主動(dòng)組件■〔組基板的俯視示意圖。[0020]圖3是本實(shí)用新型第三實(shí)施例的主動(dòng)組件■〔組基板的俯視示意圖。[0021]圖4是本實(shí)用新型第四實(shí)施例的主動(dòng)組件■〔組基板的俯視示意圖。[0022]主要組件符號(hào)說明[0023]100、200、300、400主動(dòng)組件數(shù)組基板[0024]110基板[0025]112平面[0026]1 12顯示區(qū)[0027]120,320畫素?cái)?shù)組[0028]122d、122s訊號(hào)線[0029]124畫素單元[0030]130端子[0031]140檢測接墊[0032]150走線[0033]322d、322s第一訊號(hào)線[0034]324d、324s第二訊號(hào)線[0035]D1、D2、D3、D4、G1、G2距離[0036]P1、P2、P3間距[0037]WUW2寬度[0038]ZlcUZls第一區(qū)域[0039]Z2d、Z2s第二區(qū)域。
      具體實(shí)施方式圖1A是本實(shí)用新型第一實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板的俯視示意圖。請(qǐng)參閱圖1A,第一實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板100能應(yīng)用于顯示器,并且包括一基板110、一畫素?cái)?shù)組 120、多個(gè)端子130、多個(gè)檢測接墊140以及多條走線(traCe)150,其中上述顯示器可以是液 晶顯示器,例如薄膜晶體管液晶顯示器?;?10具有一平面112,而平面112具有一顯示區(qū)112a,其中畫素?cái)?shù)組120配置 在顯示區(qū)112a內(nèi),而這些端子130、檢測接墊140以及走線150皆配置在平面112上,并且 配置在顯示區(qū)112a以外的區(qū)域。也就是說,這些端子130、檢測接墊140以及走線150皆位 在畫素?cái)?shù)組120旁。畫素?cái)?shù)組120包括多條訊號(hào)線122d、122s以及多個(gè)畫素單元(pixel unit) 124, 其中這些訊號(hào)線122d皆為數(shù)據(jù)線,而這些訊號(hào)線122s皆為掃描線。這些訊號(hào)線122d、122s 皆電性連接這些畫素單元124,并且彼此交錯(cuò)而呈網(wǎng)狀排列。另外,就結(jié)構(gòu)而言,畫素單元 124可以與現(xiàn)有主動(dòng)組件數(shù)組基板的畫素單元相同。詳細(xì)而言,各個(gè)畫素單元124可以包括一畫素電極(pixel electrode,未繪示)與 一主動(dòng)組件(未繪示),其中主動(dòng)組件電性連接畫素電極,并能控制施加在畫素電極的電場 的強(qiáng)度(intensity)及方向,讓畫素電極可以改變液晶分子的排列。此外,主動(dòng)組件可以是 一種晶體管,其例如是薄膜晶體管。這些端子130分別電性連接這些訊號(hào)線122d、122s,并能用來電性連接至少一個(gè) 芯片(chip)。詳細(xì)而言,在這芯片裝設(shè)在基板110上之后,芯片的多個(gè)接腳(lead)會(huì)個(gè)別 電性連接這些端子130。如此,透過這些端子130,芯片得以電性連接訊號(hào)線122d、122s,并 且可經(jīng)由訊號(hào)線122d、122s來控制這些畫素單元124。各個(gè)檢測接墊140連接其中一條訊號(hào)線122d或其中一條訊號(hào)線122s,即各個(gè)檢測 接墊140連接于一條數(shù)據(jù)線(即訊號(hào)線122d)或一條掃描線(即訊號(hào)線122s)。此外,至少 一個(gè)檢測接墊140連接于其中一條訊號(hào)線(即訊號(hào)線122d或122s)與其中一個(gè)端子130之 間,而在圖1A中,各個(gè)檢測接墊140連接于一條訊號(hào)線(即訊號(hào)線122d或122s)與一個(gè)端 子130之間。各條走線150連接于其中一個(gè)檢測接墊140與其中一個(gè)端子130之間,因此這些 端子130會(huì)透過檢測接墊140而分別電性連接這些訊號(hào)線122d、122s。另外,在第一實(shí)施例 中,這些檢測接墊140位于這些端子130與顯示區(qū)112a之間,如圖1A所示。圖1B是圖1A的局部放大示意圖。請(qǐng)參閱圖1A與圖1B,各個(gè)檢測接墊140與顯 示區(qū)112a之間的距離D1、D3小于各個(gè)端子130與顯示區(qū)112a之間的距離D2、D4。也就是 說,檢測接墊140比較接近顯示區(qū)112a,而端子130比較遠(yuǎn)離顯示區(qū)112a。另外,相鄰二個(gè)檢測接墊140之間的間距(pitch) PI會(huì)大于相鄰二個(gè)端子130之 間的間距P2,其中間距P1等于各個(gè)檢測接墊140的寬度W1加上相鄰二個(gè)檢測接墊140之 間的距離G1,而間距P2等于各個(gè)端子130的寬度W2加上相鄰二個(gè)端子130之間的距離G2, 如圖1B所示。一般而言,相鄰二個(gè)畫素單元124之間的間距P3大于間距P2,加上目前芯片的接 腳分布密度越來越高,即相鄰二個(gè)接腳之間的距離越來越短,以至于端子130之間的間距 P2有越做越小的趨勢,造成端子130之間的間距P2越來越小于畫素單元124之間的間距 P3。由于檢測接墊140比較接近顯示區(qū)112a,而端子130比較遠(yuǎn)離顯示區(qū)112a,因此檢測接墊140之間的間距P1可被設(shè)計(jì)成相當(dāng)于畫素單元124之間的間距P3,以至于間距 P1會(huì)大于間距P2。如此,各個(gè)檢測接墊140的寬度W1所允許的最大值可大于各個(gè)端子130 的寬度W2所允許的最大值,而在本實(shí)施例中,寬度W1可以大于寬度W2?;谏鲜?,由于檢測接墊140之間的間距P1大于端子130之間的間距P2,因此,在 目前芯片的接腳分布密度越來越高的發(fā)展趨勢下,當(dāng)檢測已完成的主動(dòng)組件數(shù)組基板100 時(shí),相較于現(xiàn)有技術(shù),檢測機(jī)臺(tái)的多根探針(probe)能較為順利地與這些檢測接墊140個(gè)別 接觸,提高檢測機(jī)臺(tái)對(duì)主動(dòng)組件數(shù)組基板100檢測的準(zhǔn)確度。圖2是本實(shí)用新型第二實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板的俯視示意圖。請(qǐng)參閱圖2,第 二實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板200與第一實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板100 二者的應(yīng)用領(lǐng)域 及功能皆相同,且結(jié)構(gòu)相似,惟二者主要差異在于主動(dòng)組件數(shù)組基板200包括多個(gè)檢測接 墊140,而這些檢測接墊140的所在位置與第一實(shí)施例不同。詳細(xì)而言,主動(dòng)組件數(shù)組基板200也包括基板110、畫素?cái)?shù)組120、多個(gè)端子130與 檢測接墊140,而有別于第一實(shí)施例,第二實(shí)施例中的各條訊號(hào)線(即訊號(hào)線122d或122s) 連接于其中一個(gè)檢測接墊140與其中一個(gè)端子130之間,即各條訊號(hào)線122d與各條訊號(hào)線 122s 二者的相對(duì)二端分別連接一個(gè)檢測接墊140與一個(gè)端子130。另外,各個(gè)檢測接墊140與顯示區(qū)112a之間的距離D1、D3仍然小于各個(gè)端子130 與顯示區(qū)112a之間的距離D2、D4,而相鄰二個(gè)檢測接墊140之間的間距P1仍大于相鄰二 個(gè)端子130之間的間距P2。如此,相較于現(xiàn)有技術(shù),檢測機(jī)臺(tái)的探針也可以較順利地與檢測 接墊140個(gè)別接觸,讓檢測機(jī)臺(tái)能準(zhǔn)確地檢測主動(dòng)組件數(shù)組基板200。圖3是本實(shí)用新型第三實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板的俯視示意圖。請(qǐng)參閱圖3,第 三實(shí)施例的應(yīng)用領(lǐng)域以及功能皆相同于第一實(shí)施例及第二實(shí)施例。不過,第三實(shí)施例的結(jié) 構(gòu)是第一實(shí)施例與第二實(shí)施例二者結(jié)構(gòu)的組合。詳細(xì)而言,第三實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板300包括基板110、一畫素?cái)?shù)組320、多 個(gè)端子130、檢測接墊140以及走線150,其中畫素?cái)?shù)組320配置在顯示區(qū)112a內(nèi),而端子 130、檢測接墊140與走線150仍配置在顯示區(qū)112a以外的區(qū)域。畫素?cái)?shù)組320包括多條 訊號(hào)線與多個(gè)畫素單元124,而訊號(hào)線電性連接畫素單元124。承上述,這些訊號(hào)線包括多條第一訊號(hào)線322d、322s以及多條第二訊號(hào)線324d、 324s,而且這些第一訊號(hào)線322d、322s與第二訊號(hào)線324d、324s皆與前述實(shí)施例中的訊號(hào) 線122d、122s相同。詳細(xì)而言,第一訊號(hào)線322d與第二訊號(hào)線324d皆為多條數(shù)據(jù)線,而第 一訊號(hào)線322s與第二訊號(hào)線324s皆為多條掃描線。第一訊號(hào)線322d彼此并列,而第二訊號(hào)線324d彼此并列,其中第一訊號(hào)線322d 與第二訊號(hào)線324d并列。其次,第一訊號(hào)線322s彼此并列,而第二訊號(hào)線324s彼此并列, 其中第一訊號(hào)線322s與第二訊號(hào)線324s并列,且二者與第一訊號(hào)線322d及第二訊號(hào)線 324d交錯(cuò)。因此,這些訊號(hào)線(即第一訊號(hào)線322d、322s與第二訊號(hào)線324d、324s)會(huì)彼此 交錯(cuò)而呈網(wǎng)狀排列。這些第一訊號(hào)線322d、322s連接于一些檢測接墊140與一些端子130之間,而另 一些檢測接墊140連接于這些第二訊號(hào)線324d、324s與另一些端子130之間。換句話說, 這些第一訊號(hào)線322d、322s連接于一些檢測接墊140與一些端子130,而這些第二訊號(hào)線 324d、324s連接于另一些檢測接墊140與另一些端子130。[0060]基于上述,從圖1A、圖2與圖3可以看出,第一實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板100所 包括的訊號(hào)線122s、122d分別是第二訊號(hào)線324s、324d,第二實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板 200所包括的訊號(hào)線122s、122d分別是第一訊號(hào)線322s、322d,而第三實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù) 組基板300同時(shí)包括第一訊號(hào)線322s、322d與第二訊號(hào)線324s、324d。由此可見,主動(dòng)組件 數(shù)組基板300的結(jié)構(gòu)是主動(dòng)組件數(shù)組基板100、200 二者結(jié)構(gòu)的組合。在第三實(shí)施例中,各個(gè)連接第一訊號(hào)線322s的檢測接墊140與各個(gè)連接第二訊號(hào) 線324s的檢測接墊140分別位于顯示區(qū)112a的相對(duì)二側(cè),而各個(gè)連接第一訊號(hào)線322d的 檢測接墊140與各個(gè)連接第二訊號(hào)線324d的檢測接墊140也分別位于顯示區(qū)112a的相對(duì) 二側(cè),因此顯示區(qū)112a位于這些檢測接墊140之間,并且被檢測接墊140所圍繞。另外,第一訊號(hào)線322d可以與第二訊號(hào)線324d交錯(cuò)排列,而第一訊號(hào)線322s可 以與第二訊號(hào)線324s交錯(cuò)排列,例如其中一條第一訊號(hào)線322d位于相鄰二條第二訊號(hào)線 324d之間,以及其中一條第一訊號(hào)線322s位于相鄰二條第二訊號(hào)線324s之間,如圖3所 示。這樣可以拉大相鄰二個(gè)檢測接墊140之間的間距P1,讓檢測機(jī)臺(tái)的探針可以更順利地 與檢測接墊140個(gè)別接觸。圖4是本實(shí)用新型第四實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板的俯視示意圖。請(qǐng)參閱圖4,第 四實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板400與第三實(shí)施例的主動(dòng)組件數(shù)組基板300相似,例如主動(dòng) 組件數(shù)組基板400也包括多條第一訊號(hào)線322d、322s與多條第二訊號(hào)線324d、324s,而各個(gè) 連接第一訊號(hào)線322d、322s的檢測接墊140與各個(gè)連接第二訊號(hào)線324d、324s的檢測接墊 140分別位于顯示區(qū)112a的相對(duì)二側(cè)。不過,主動(dòng)組件數(shù)組基板300、400 二者之間仍存有差異,其在于二者對(duì)第一訊號(hào) 線322d、322s與第二訊號(hào)線324d、324s的排列方式并不相同。詳細(xì)而言,根據(jù)資料線,即第一訊號(hào)線322d與第二訊號(hào)線324d,基板110的顯示區(qū) 112a劃分成多個(gè)第一區(qū)域Zld與多個(gè)第二區(qū)域Z2d,且第一區(qū)域Zld與第二區(qū)域Z2d并列。 根據(jù)掃描線,即第一訊號(hào)線322s與第二訊號(hào)線324s,顯示區(qū)112a劃分成多個(gè)第一區(qū)域Zls 與多個(gè)第二區(qū)域Z2s,且第一區(qū)域Zls與第二區(qū)域Z2s并列。承上述,這些第一訊號(hào)線322d位于第一區(qū)域Zld內(nèi),而這些第一訊號(hào)線322s位于 第一區(qū)域Zls內(nèi),其中位于各個(gè)第一區(qū)域Zld內(nèi)的第一訊號(hào)線322d的數(shù)量為多個(gè),而位于 各個(gè)第一區(qū)域Zls內(nèi)的第一訊號(hào)線322s的數(shù)量為多個(gè)。同樣地,這些第二訊號(hào)線324d位 于第二區(qū)域Z2d內(nèi),而這些第二訊號(hào)線324s位于第二區(qū)域Z2s內(nèi),其中位于各個(gè)第二區(qū)域 Z2d內(nèi)的第二訊號(hào)線324d的數(shù)量為多個(gè),而位于各個(gè)第二區(qū)域Z2s內(nèi)的第二訊號(hào)線324s的 數(shù)量為多個(gè)。第一區(qū)域Zld與第二區(qū)域Z2d可以交錯(cuò)排列,例如相鄰二個(gè)第二區(qū)域Z2d之間可 以隔著一個(gè)第一區(qū)域Zld。同樣地,第一區(qū)域Zls與第二區(qū)域Z2s也可以交錯(cuò)排列,例如相 鄰二個(gè)第二區(qū)域Z2s之間可以隔著一個(gè)第一區(qū)域Zls。因此,在顯示區(qū)112a的其中一側(cè), 多個(gè)檢測接墊140會(huì)各自聚集在第一區(qū)域內(nèi)(例如Zld或Zls)或第二區(qū)域內(nèi)(例如Z2d或 Z2s)。目前有些檢測機(jī)臺(tái)具有多個(gè)探針座以及多根探針,而這些探針裝設(shè)于這些探針 座,其中各個(gè)探針座所裝設(shè)的探針的數(shù)量通常小于數(shù)據(jù)線(即第一訊號(hào)線322d與第二訊號(hào) 線324d)的數(shù)量或掃描線(即第一訊號(hào)線322s與第二訊號(hào)線324s)的數(shù)量。因此,當(dāng)這種檢測機(jī)臺(tái)檢測主動(dòng)組件數(shù)組基板400時(shí),這些探針座會(huì)固定在主動(dòng)組件數(shù)組基板400上,并 且讓所有的數(shù)據(jù)線與掃描線都能接觸探針。由于在顯示區(qū)112a的其中一側(cè),多個(gè)檢測接墊140各自聚集在第一區(qū)域內(nèi)(例如 Zld或Zls)或第二區(qū)域內(nèi)(例如Z2d或Z2s),因此當(dāng)這些探針座全部固定在主動(dòng)組件數(shù)組 基板400上時(shí),可以減少這些探針座在機(jī)構(gòu)上發(fā)生彼此干涉的情形,以避免某一個(gè)探針座 因?yàn)楸黄渌结樧恋K而不能固定在主動(dòng)組件數(shù)組基板400上,進(jìn)而讓這些探針可以接 觸所有的數(shù)據(jù)線與掃描線。須說明的是,在其它實(shí)施例中,顯示區(qū)112a可以劃分成一個(gè)第一區(qū)域Zld與一個(gè) 第二區(qū)域Z2d,以及劃分成一個(gè)第一區(qū)域Zls與一個(gè)第二區(qū)域Z2s,即主動(dòng)組件數(shù)組基板400 可以只具有一個(gè)第一區(qū)域Zld、一個(gè)第一區(qū)域Zls、一個(gè)第二區(qū)域Z2d以及一個(gè)第二區(qū)域 Z2s。因此,雖然圖4繪示出多個(gè)第一區(qū)域Zld、Zls以及多個(gè)第二區(qū)域Z2d、Z2s,但圖4所 示的第一區(qū)域Zld、Zls與第二區(qū)域Z2d、Z2s的數(shù)量僅為舉例說明,并非限定本實(shí)用新型。另外,要強(qiáng)調(diào)的是,本實(shí)用新型的主動(dòng)組件數(shù)組基板有多種實(shí)施例,而以上第一至 第四實(shí)施例以及所有圖式僅揭露本實(shí)用新型的某些實(shí)施例,并未沒有揭露本實(shí)用新型的所 有實(shí)施例。因此,以上所有圖式所繪示的主動(dòng)組件數(shù)組基板皆用來舉例說明,而非限定本實(shí) 用新型。舉例而言,在第一實(shí)施例中,主動(dòng)組件數(shù)組基板100的其中一條訊號(hào)線122s可以 是第一訊號(hào)線322s ;或者,其中一條訊號(hào)線122d可以是第一訊號(hào)線322d,也就是說,主動(dòng)組 件數(shù)組基板100可以只有一條訊號(hào)線122d (或122s)連接于其中一個(gè)檢測接墊140與其中 一個(gè)端子130之間。同理,在第二實(shí)施例中,主動(dòng)組件數(shù)組基板200的其中一條訊號(hào)線122s可以是第 二訊號(hào)線324s ;或者,其中一條訊號(hào)線122d可以是第二訊號(hào)線324d,即主動(dòng)組件數(shù)組基板 200可以只有一個(gè)檢測接墊140連接于其中一條訊號(hào)線122d(或122s)與其中一個(gè)端子140 之間。綜上所述,由于本實(shí)用新型的主動(dòng)組件數(shù)組基板的各個(gè)檢測接墊連接其中一條訊 號(hào)線,因此檢測機(jī)臺(tái)能透過這些檢測接墊來對(duì)主動(dòng)組件數(shù)組基板進(jìn)行檢測,來將不良的主 動(dòng)組件數(shù)組基板篩選出來。如此,本實(shí)用新型可以避免不良的主動(dòng)組件數(shù)組基板繼續(xù)進(jìn)行 后續(xù)程序,并且減少后續(xù)程序在材料使用上的浪費(fèi)。其次,由于相鄰二個(gè)檢測接墊之間的間距大于相鄰二個(gè)端子之間的間距,因此相 較于習(xí)知技術(shù)而言,本實(shí)用新型能讓檢測機(jī)臺(tái)的多根探針可以順利地與這些檢測接墊個(gè)別 接觸,進(jìn)而提高檢測機(jī)臺(tái)對(duì)本實(shí)用新型的主動(dòng)組件數(shù)組基板檢測的準(zhǔn)確度。再者,由于各個(gè)檢測接墊與顯示區(qū)之間的距離小于各個(gè)端子與顯示區(qū)之間的距 離,因此即使本實(shí)用新型的主動(dòng)組件數(shù)組基板的端子分布密度變高,檢測接墊之間的間距 仍可以大于端子之間的間距,讓探針仍可以順利地與檢測接墊個(gè)別接觸,進(jìn)而也能提高檢 測機(jī)臺(tái)的準(zhǔn)確度。如此,本實(shí)用新型的主動(dòng)組件數(shù)組基板能滿足目前芯片朝向接腳分布密 度越來越高的發(fā)展趨勢。雖然本實(shí)用新型以前述實(shí)施例揭露如上,然其并非用以限定本實(shí)用新型,任何熟 習(xí)相像技藝者,在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍內(nèi),所作更動(dòng)與潤飾的等效替換,仍為本 實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
      權(quán)利要求一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于,包括一基板,具有一平面,而該平面具有一顯示區(qū);一畫素?cái)?shù)組,配置在該顯示區(qū)內(nèi),并包括多條訊號(hào)線,而該些訊號(hào)線彼此交錯(cuò)而呈網(wǎng)狀排列;多個(gè)端子,配置在該平面上,并且配置在該顯示區(qū)以外的區(qū)域,其中該些端子分別電性連接該些訊號(hào)線;以及多個(gè)檢測接墊,配置在該平面上,并且配置在該顯示區(qū)以外的區(qū)域,各該檢測接墊連接其中一條訊號(hào)線,其中各該檢測接墊與該顯示區(qū)之間的距離小于各該端子與該顯示區(qū)之間的距離,且相鄰二個(gè)檢測接墊之間的間距大于相鄰二個(gè)端子之間的間距。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于其中各該檢測接墊的寬度 大于各該端子的寬度。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于其中至少一條訊號(hào)線連接 于其中一個(gè)檢測接墊與其中一個(gè)端子之間。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于其中至少一個(gè)檢測接墊連 接于其中一條訊號(hào)線與其中一個(gè)端子之間。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于其中該些檢測接墊位于該 些端子與該顯示區(qū)之間。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于其中該顯示區(qū)位于該些檢 測接墊之間,而該些訊號(hào)線包括多條第一訊號(hào)線,彼此并列,并連接于一些檢測接墊與一些端子之間;以及多條第二訊號(hào)線,彼此并列,其中另一些檢測接墊連接于該些第二訊號(hào)線與另一些端 子之間,而該些第一訊號(hào)線與該些第二訊號(hào)線并列。
      7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于其中各該連接該第一訊號(hào) 線的檢測接墊與各該連接該第二訊號(hào)線的檢測接墊分別位于該顯示區(qū)的相對(duì)二側(cè)。
      8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于其中一條第一訊號(hào)線位于 相鄰二條第二訊號(hào)線之間。
      9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于其中該顯示區(qū)劃分成至少 一第一區(qū)域與至少一第二區(qū)域,該第一區(qū)域與該第二區(qū)域并列,且該些第一訊號(hào)線位于該 第一區(qū)域內(nèi),該些第二訊號(hào)線位于該第二區(qū)域內(nèi)。
      10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的主動(dòng)組件數(shù)組基板,其特征在于其中該些第一訊號(hào)線與 該些第二訊號(hào)線皆多條掃描線或多條數(shù)據(jù)線。
      專利摘要本實(shí)用新型涉及一種主動(dòng)組件數(shù)組基板,其包括一基板、一畫素?cái)?shù)組、多個(gè)端子與多個(gè)檢測接墊。基板具有一平面,而平面具有一顯示區(qū)。畫素?cái)?shù)組配置在顯示區(qū)內(nèi),并包括多條訊號(hào)線。這些訊號(hào)線彼此交錯(cuò)而呈網(wǎng)狀排列。這些端子與檢測接墊皆配置在平面上,并且皆配置在顯示區(qū)以外的區(qū)域,其中這些端子分別電性連接這些訊號(hào)線,而各個(gè)檢測接墊連接其中一條訊號(hào)線。各個(gè)檢測接墊與顯示區(qū)之間的距離小于各個(gè)端子與顯示區(qū)之間的距離,且相鄰二個(gè)檢測接墊之間的間距大于相鄰二個(gè)端子之間的間距。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單,有利于檢測臺(tái)檢測,具有較好的市場價(jià)值。
      文檔編號(hào)G02F1/13GK201689237SQ20102020409
      公開日2010年12月29日 申請(qǐng)日期2010年5月26日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月26日
      發(fā)明者洪孟鋒, 鄧印翔 申請(qǐng)人:福州華映視訊有限公司;中華映管股份有限公司
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