專利名稱：同光路準(zhǔn)直器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體激光器領(lǐng)域，尤其涉及一種激光器的同光路準(zhǔn)直器。
背景技術(shù)：
近年來，隨著光電子技術(shù)的發(fā)展，半導(dǎo)體激光器得到了越來越廣泛的應(yīng)用，其具有光電轉(zhuǎn)換效率高、覆蓋波長范圍廣、使用壽命長、能高速調(diào)制、體積小、重量輕、價(jià)格便宜等特點(diǎn)。激光器在完成組裝后需要用光束掃描儀進(jìn)行掃描，以檢測產(chǎn)品是否合格。不同類型的激光器產(chǎn)品的出光位置不盡相同，因此檢測不同類型的激光器時需要重新調(diào)整光源和光束掃描儀，并重新校準(zhǔn)兩者之間的位置關(guān)系，操作繁瑣。

實(shí)用新型內(nèi)容鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，本實(shí)用新型的目的是提出一種簡單易行的激光器的同光路準(zhǔn)直器。本實(shí)用新型的目的將通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)一種同光路準(zhǔn)直器，包括一水平檢測臺，所述水平檢測臺上設(shè)有第一五維調(diào)整架和第二五維調(diào)整架，所述第一五維調(diào)整架上設(shè)有基準(zhǔn)激光光源，所述第二五維調(diào)整架上設(shè)有用于模擬待測激光器的同光路座，所述同光路座的同一軸向上設(shè)有兩個中空的圓筒，所述兩個圓筒相對的端面為開口，相反的端面為封閉的，且所述端面上分別開設(shè)有一個小孔，所述基準(zhǔn)激光光源的出光口正對所述小孔。優(yōu)選的，上述的同光路準(zhǔn)直器，其中所述第二五維調(diào)整架和同光路座之間設(shè)有一基準(zhǔn)墊塊。優(yōu)選的，上述的同光路準(zhǔn)直器，其中所述作業(yè)平臺為磁性平臺，所述第一五維調(diào)整架和第二五維調(diào)整架上分別設(shè)有磁性開關(guān)。上述的同光路準(zhǔn)直器的準(zhǔn)直方法，包括以下步驟步驟一將所述基準(zhǔn)激光光源和光束掃描儀進(jìn)行準(zhǔn)直；步驟二 將與待測的激光器有相同的出光高度及邊緣距離的所述同光路座置于所述第二五維調(diào)整架上，調(diào)整所述第二五維調(diào)整架，使所述同光路座距離光束掃描儀的最小距離等于待測的激光器的工作距離；步驟三調(diào)整所述第一五維調(diào)整架，使所述基準(zhǔn)激光光源的激光通過所述小孔的光功率最大，將此時的光速掃描儀的位置歸零；步驟四除去所述同光路座，在第二五維調(diào)整架上的同一位置用待測的激光器置換，即可開始檢測。本實(shí)用新型的突出效果為本實(shí)用新型提供了一種激光器的同光路準(zhǔn)直器，利用同光路座模擬待測激光器的出光位置進(jìn)行準(zhǔn)直，無需調(diào)整基準(zhǔn)激光光源和光束掃描儀即可 適用于不同類型的激光器產(chǎn)品的檢測，結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，體積小、成本低。以下便結(jié)合實(shí)施例附圖，對本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
作進(jìn)一步的詳述，以使本實(shí)用新型技術(shù)方案更易于理解、掌握。

圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的俯視圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例本實(shí)施例的一種同光路準(zhǔn)直器，包括水平檢測臺，如圖I和圖2所示，水平檢測臺上設(shè)有第一五維調(diào)整架I和第二五維調(diào)整架2，作業(yè)平臺為磁性平臺，第一五維調(diào)整架I和第二五維調(diào)整架2上分別設(shè)有磁性開關(guān)(圖中未標(biāo)示)。第一五維調(diào)整架I上設(shè)有基準(zhǔn)激光光源3，第二五維調(diào)整架2上設(shè)有用于模擬待測激光器的同光路座4，同光路座4的同一軸向上設(shè)有兩個中空的圓筒5，兩個圓筒5相對的端面為開口，相反的端面為封閉的，且端面上分別開設(shè)有一個小孔6，基準(zhǔn)激光光源3的出光口正對小孔6，。第二五維調(diào)整架2和同光路座4之間設(shè)有基準(zhǔn)墊塊7。一種上述的同光路準(zhǔn)直器的準(zhǔn)直方法，包括以下步驟步驟一將基準(zhǔn)激光光源3和光束掃描儀進(jìn)行準(zhǔn)直；步驟二 將與待測的激光器有相同的出光高度及邊緣距離的同光路座4置于第二五維調(diào)整架2上，調(diào)整第二五維調(diào)整架2，使同光路座4距離光束掃描儀的最小距離等于待測的激光器的工作距離；步驟三調(diào)整第一五維調(diào)整架1，使基準(zhǔn)激光光源3的激光8通過小孔6的光功率最大，將此時的光速掃描儀的位置歸零；步驟四除去同光路座4，在第二五維調(diào)整架2上的同一位置用待測的激光器置換，即可開始檢測。本實(shí)施例提供了一種激光器的同光路準(zhǔn)直器，利用同光路座4模擬待測激光器的出光位置進(jìn)行準(zhǔn)直，無需調(diào)整基準(zhǔn)激光光源3和光束掃描儀即可適用于不同類型的激光器產(chǎn)品的檢測，結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，體積小、成本低。本實(shí)用新型尚有多種實(shí)施方式，凡采用等同變換或者等效變換而形成的所有技術(shù)方案，均落在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種同光路準(zhǔn)直器，包括一水平檢測臺，其特征在于所述水平檢測臺上設(shè)有第一五維調(diào)整架和第二五維調(diào)整架，所述第一五維調(diào)整架上設(shè)有基準(zhǔn)激光光源，所述第二五維調(diào)整架上設(shè)有用于模擬待測激光器的同光路座，所述同光路座的同一軸向上設(shè)有兩個中空的圓筒，所述兩個圓筒相對的端面為開口，相反的端面為封閉的，且所述端面上分別開設(shè)有一個小孔，所述基準(zhǔn)激光光源的出光口正對所述小孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的同光路準(zhǔn)直器，其特征在于所述第二五維調(diào)整架和同光路座之間設(shè)有一基準(zhǔn)墊塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的同光路準(zhǔn)直器，其特征在于所述作業(yè)平臺為磁性平臺，所述第一五維調(diào)整架和第二五維調(diào)整架上分別 設(shè)有磁性開關(guān)。
專利摘要本實(shí)用新型揭示了一種同光路準(zhǔn)直器，包括一水平檢測臺，所述水平檢測臺上設(shè)有第一五維調(diào)整架和第二五維調(diào)整架，所述第一五維調(diào)整架上設(shè)有基準(zhǔn)激光光源，所述第二五維調(diào)整架上設(shè)有用于模擬待測激光器的同光路座，所述同光路座的同一軸向上設(shè)有兩個中空的圓筒，所述兩個圓筒相對的端面為開口，相反的端面為封閉的，且所述端面上分別開設(shè)有一個小孔，所述基準(zhǔn)激光光源的出光口正對所述小孔。本實(shí)用新型利用同光路座模擬待測激光器的出光位置進(jìn)行準(zhǔn)直，無需調(diào)整基準(zhǔn)激光光源和光束掃描儀即可適用于不同類型的激光器產(chǎn)品的檢測，結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，體積小、成本低。
文檔編號G02B27/30GK202383363SQ20112054252
公開日2012年8月15日 申請日期2011年12月22日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月22日
發(fā)明者劉理, 姚建波, 季朝華, 管海兵, 陸衍 申請人:維林光電(蘇州)有限公司