專利名稱：陣列基板檢測信號分配裝置和檢測設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種液晶面板檢測技木，尤其涉及一種陣列基板檢測信號分配裝置和檢測設(shè)備。
背景技術(shù)：
目前，信息通訊產(chǎn)業(yè)已成為現(xiàn)今的主流產(chǎn)業(yè)，特別是各式通訊顯示產(chǎn)品更是發(fā)展的重點(diǎn)，而平面顯示器為人們提供了溝通信息的界面，因此顯得尤其重要。就平面顯示器而言，具有高畫質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優(yōu)越特性的液晶顯示器已逐漸成為市場的主流。在制作上述液晶顯示器時(shí)，必須對陣列基板上的數(shù)據(jù)線、柵線和像素分別進(jìn)行短路缺陷檢測和斷線及像素缺陷檢測，以確定陣列基板的短路、斷線及像素缺陷?，F(xiàn)有技術(shù)中一般通過光電檢測(又稱Gapping檢測)方法來檢測斷線和像素缺陷，且通過電學(xué)基板篩選(Electronic Substrate Screening,簡稱ESS)檢測方法來檢測短路缺陷。圖I是ー種現(xiàn)有技術(shù)的光電檢測方法的原理結(jié)構(gòu)示意圖，所需的檢測裝置包括檢測臺I、光調(diào)制器(modulator)2、光束分離器(beam splitter) 9、光源3、圖像傳感器5和圖像處理器6。其中，檢測臺I上放置陣列基板7 ;光調(diào)制器2設(shè)置在陣列基板7的上方并包括可控制光通過與否的控光層201和反射層202，當(dāng)陣列基板7和光調(diào)制器2之間施加電壓時(shí)，光調(diào)制器2與陣列基板7的柵線、數(shù)據(jù)線和像素電極等電極8之間形成電場；光束分離器9將從光源3射出的光線傳輸至反射層202，反射層202將該光線反射至圖像傳感器5。當(dāng)陣列基板7上出現(xiàn)斷線或像素缺陷時(shí)，必然會引起該區(qū)域的電場區(qū)別于其他部位，則經(jīng)過光調(diào)制器2傳輸?shù)墓饩€會相應(yīng)的區(qū)別其他位置，圖像傳感器5可檢測到光信號的差異，提供給圖像處理器6即可識別到斷線或像素缺陷的位置。光電檢測方法中要求光調(diào)制器2的面積應(yīng)小于陣列基板7的面積。陣列基板的ESS檢測方法是，將檢測信號分別施加到陣列基板的各個(gè)檢測接墊后，通過分別測定相鄰檢測接墊電流值，來判斷各個(gè)檢測接墊之間的短路缺陷?，F(xiàn)在大型陣列基板的面積通常可以滿足等于或大于光調(diào)制器面積的要求，但是中型或小型陣列基板一般小于光調(diào)制器。所以可以采用多個(gè)面板(Multiple Small Panel，簡稱MSP)功能來實(shí)現(xiàn)，即將多塊排列在一起的中型或小型陣列基板的數(shù)據(jù)線和柵線通過短路桿相連，形成短路群，以達(dá)到不小于光調(diào)制器面積的要求。但是該技術(shù)方案會給ESS檢測方法帶來問題。圖2是ー種現(xiàn)有技術(shù)的適用于大型陣列基板的檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖，從圖中可以看出，該檢測信號分配裝置包括ー個(gè)多路輸出選擇器(Demultiplexer，簡稱DMUX) 10和多個(gè)多路復(fù)用板(Multiplexer Board，簡稱MUX) 11，其中，每個(gè)MUX 11均包括輸入端12、輸出端13和使能端14，DMUX 10的每個(gè)輸出端與每個(gè)MUX 11的使能端14連接，使能端14用于接收DMUX 10的使能信號EN。當(dāng)DMUX 10被使能時(shí)會將使能信號EN依次分配給多個(gè)MUX 11，從而依次開啟多個(gè)MUX 11。各個(gè)MUX 11的輸入端12用于接收驅(qū)動模塊輸入的檢測信號DS，輸出端13的數(shù)量為多個(gè)，MUX 11可以通過各輸出端13將檢測信號DS輸出至陣列基板7的各檢測接墊(pad)15，并通過各檢測接墊15再輸出至陣列基板7上的數(shù)據(jù)線和柵線。圖3是ー種現(xiàn)有技術(shù)的適用于中型或小型陣列基板的檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖。與圖2所示檢測信號分配裝置類似，區(qū)別在于各個(gè)陣列基板7的數(shù)據(jù)線和柵線連接至檢測接墊15之后，由于需要實(shí)現(xiàn)MSP功能，所以對應(yīng)光調(diào)制器2區(qū)域內(nèi)的各個(gè)陣列基板7的檢測接墊15需要通過短路配線16相連，以便形成短路群。對于中型或小型陣列基板而言，由于各個(gè)陣列基板7之間形成了短路群，因此當(dāng)進(jìn)行光電檢測和ESS檢測吋，檢測信號DS可同時(shí)進(jìn)入多個(gè)陣列基板7。但是，發(fā)明人在進(jìn)行本發(fā)明的研究過程中發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中存在如下缺陷當(dāng)基于 該信號分配裝置進(jìn)行ESS檢測時(shí)，對于大型陣列基板而言，不同的MUX可以依次輸入檢測信號，以便短路檢測裝置對相鄰檢測接墊之間的電流進(jìn)行檢測而判斷是否短路。然而對于中型或小型陣列基板而言，由于各個(gè)陣列基板之間通過短路桿和短路配線形成了短路群，所以多個(gè)MUX無法分別向各個(gè)陣列基板輸入檢測信號，因此降低了 ESS檢測的準(zhǔn)確性。若分別采用不同的檢測信號分配裝置和電路，則會降低檢測設(shè)備的通用性，分別檢測也會降低檢測效率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種陣列基板檢測信號分配裝置和檢測設(shè)備，以提高檢測設(shè)備ESS檢測的準(zhǔn)確性。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實(shí)施例提供一種陣列基板檢測信號分配裝置，包括至少兩個(gè)MUX和向所述MUX依次分配使能信號的DMUX，并且還包括多個(gè)繼電器，設(shè)置在所述MUX之間的短路配線上；繼電器控制模塊，與各個(gè)所述繼電器相連，用于在進(jìn)行光電檢測時(shí)輸出閉合信號控制各個(gè)所述繼電器閉合，且在進(jìn)行短路檢測時(shí)輸出斷開信號控制各個(gè)所述繼電器斷開。本發(fā)明實(shí)施例還提供ー種包括上述陣列基板檢測信號分配裝置的陣列基板檢測設(shè)備，還包括檢測臺、光調(diào)制器、光束分離器、光源、圖像傳感器和圖像處理器，其中，在所述檢測臺上設(shè)置有多組陣列基板，每組至少包括兩個(gè)所述陣列基板；所述陣列基板檢測信號分配裝置的輸入端接收驅(qū)動模塊輸入的檢測信號；所述陣列基板檢測信號分配裝置的每個(gè)MUX的輸出端與ー組所述陣列基板的檢測接墊相連，向多組所述陣列基板同時(shí)或依次提供所述檢測信號。由以上技術(shù)方案可知，本發(fā)明實(shí)施例的陣列基板檢測信號分配裝置和檢測設(shè)備，通過設(shè)置多個(gè)繼電器和繼電器控制模塊，能選擇性地控制多個(gè)MUX的開啟，使多個(gè)MUX在進(jìn)行ESS檢測時(shí)依次提供檢測信號，而在進(jìn)行光電檢測時(shí)同時(shí)提供檢測信號，因此提高陣列基板檢測效率的同時(shí)能解決進(jìn)行ESS檢測時(shí)準(zhǔn)確性降低的問題。


為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作ー簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為ー種現(xiàn)有技術(shù)的光電檢測方法的原理結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為ー種現(xiàn)有技術(shù)的適用于大型陣列基板的檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為ー種現(xiàn)有技術(shù)的適用于中型或小型陣列基板的檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖； 圖4為本發(fā)明實(shí)施例一提供的陣列基板檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為本發(fā)明實(shí)施例ニ提供的陣列基板檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為本發(fā)明實(shí)施例三提供的陣列基板檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖；圖7為本發(fā)明實(shí)施例四提供的陣列基板檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖；圖8為本發(fā)明實(shí)施例五提供的陣列基板檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中I —檢測臺2 —光調(diào)制器3—光源4 ー陣列基板檢測信號分配裝置5 一圖像傳感器6 —圖像處理器7—陣列基板8—電極9 —光束分尚器10 —多路輸出選擇器11 一多路復(fù)用板12 —輸入端13 —輸出端14 —使能端15 ー檢測接墊16 —短路配線17—繼電器18—繼電器控制模塊201 —控光層202 —反射層121 一使能信號輸入端122 —檢測信號輸入端131 ー檢測信號輸出端132 —使能信號輸出端133 ー數(shù)據(jù)信號輸出端134 —掃描信號輸出端EN —使能信號DS —檢測信號
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。實(shí)施例一本實(shí)施例提供的陣列基板檢測信號分配裝置，包括至少兩個(gè)MUX和向MUX依次分配使能信號的DMUX，其中，每個(gè)MUX的輸入端包括檢測信號輸入端和使能信號輸入端；每個(gè)MUX的輸出端包括檢測信號輸出端和使能信號輸出端；通過短路配線，ー個(gè)MUX的使能信號輸出端與至少另ー個(gè)MUX的使能端相連。本實(shí)施例的陣列基板檢測信號分配裝置，通過使能信號選擇性地控制多個(gè)MUX的開啟狀態(tài)，由此能使多個(gè)MUX依次提供檢測信號，或者使多個(gè)MUX同時(shí)提供檢測信號，從而在進(jìn)行ESS檢測時(shí)，能依次檢測每組陣列基板，避免了由于ー組或ー組以上陣列基板出現(xiàn)短路缺陷而影響了其它組正常陣列基板的ESS檢測的現(xiàn)象，并且由于進(jìn)行光電檢測時(shí)，能同時(shí)對多組陣列基板進(jìn)行檢測，因此提高了陣列基板檢測效率。圖4為本發(fā)明實(shí)施例一提供的陣列基板檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖。如圖4所示，該陣列基板檢測信號分配裝置包括多個(gè)MUX 11和ー個(gè)DMUX 10，每個(gè)MUX 11包括輸入端12、輸出端13和使能端14，DMUX的輸出端分別與多個(gè)MUX 11的使能端14相連，其中，每個(gè)MUX 11的輸入端12包括檢測信號輸入端122和使能信號輸入端121 ;每個(gè)MUX11的輸出端13包括檢測信號輸出端131和使能信號輸出端132 ;自第一個(gè)MUX 11開始，上 ー個(gè)MUX 11的使能信號輸出端132與下ー個(gè)MUX 11的使能端14通過短路配線16相連。上述檢測信號輸入端包括數(shù)據(jù)信號輸入端和掃描信號輸入端；上述檢測信號輸出端包括數(shù)據(jù)信號輸出端和掃描信號輸出端；其中，數(shù)據(jù)信號輸出端包括第一數(shù)據(jù)信號輸出端、第二數(shù)據(jù)信號輸出端和第三數(shù)據(jù)信號輸出端，并且分別向陣列基板的紅色像素?cái)?shù)據(jù)線、緑色像素?cái)?shù)據(jù)線和藍(lán)色像素?cái)?shù)據(jù)線傳輸檢測信號；掃描信號輸出端包括第一掃描信號輸出端和第二掃描信號輸出端，并且分別向陣列基板的偶數(shù)條柵線和奇數(shù)條柵線傳輸檢測信號。在本實(shí)施例中，當(dāng)進(jìn)行光電檢測吋，DMUX 10向第一個(gè)MUX 11輸出使能信號EN，該MUX 11被使能，并將輸入的檢測信號DS，通過檢測接墊15，向陣列基板7傳輸；與此同吋，該MUX 11輸出使能信號EN，并將該使能信號EN通過短路配線16傳輸給第二個(gè)MUX 11，同樣第二個(gè)MUX 11被使能，將使能信號EN傳輸給第三個(gè)MUX 11，這樣可同時(shí)將多個(gè)MUX 11開啟，使多個(gè)MUX 11同時(shí)傳輸檢測信號DS。當(dāng)進(jìn)行ES S檢測時(shí)，DMUX 10向第一個(gè)MUX 11輸出使能信號EN，該MUX 11被使能，并將輸入的檢測信號DS，通過檢測接墊15，向陣列基板
7傳輸；而在此時(shí)，第一個(gè)MUX 11可以控制使能信號輸出端132，使其不輸出使能信號EN，因此直到DMUX 10向第二個(gè)MUX 11輸出使能信號EN為止，第二個(gè)MUX 11不會被使能，同樣下ー個(gè)MUX 11也不會被使能，從而達(dá)到使多個(gè)MUX 11依次提供檢測信號DS的目的。實(shí)施例ニ圖5為本發(fā)明實(shí)施例ニ提供的陣列基板檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖，如圖5所示，該陣列基板檢測信號分配裝置包括多個(gè)MUX 11和ー個(gè)DMUX 10，每個(gè)MUX 11包括輸入端12、輸出端13和使能端14，DMUX 10的輸出端分別與多個(gè)MUX 11的使能端14相連，其中，每個(gè)MUX 11的輸入端12包括檢測信號輸入端122和使能信號輸入端121 ;每個(gè)MUX 11的輸出端13包括檢測信號輸出端131和使能信號輸出端132 ;通過短路配線16，第ー個(gè)MUX 11的使能信號輸出端132與其他MUX 11的使能端14相連。上述檢測信號輸入端包括數(shù)據(jù)信號輸入端和掃描信號輸入端；上述檢測信號輸出端包括數(shù)據(jù)信號輸出端和掃描信號輸出端；其中，數(shù)據(jù)信號輸出端包括第一數(shù)據(jù)信號輸出端、第二數(shù)據(jù)信號輸出端和第三數(shù)據(jù)信號輸出端，并且分別向陣列基板的紅色像素?cái)?shù)據(jù)線、緑色像素?cái)?shù)據(jù)線和藍(lán)色像素?cái)?shù)據(jù)線傳輸檢測信號；掃描信號輸出端包括第一掃描信號輸出端和第二掃描信號輸出端，并且分別向陣列基板的偶數(shù)條柵線和奇數(shù)條柵線傳輸檢測信號。在本實(shí)施例中，當(dāng)進(jìn)行光電檢測吋，DMUX 10向第一個(gè)MUX 11輸出使能信號EN，該MUX 11被使能，并將輸入的檢測信號DS，通過檢測接墊15，向陣列基板7傳輸；與此同吋，該MUX 11可以控制使能信號輸出端132，使其輸出使能信號EN，并將該使能信號EN通過短路配線16傳輸給其他MUX 11，這樣其他MUX 11均被使能，因此能同時(shí)使多個(gè)MUX 11傳輸檢測信號DS。當(dāng)進(jìn)行ESS檢測吋，DMUX 10向第一個(gè)MUX 11輸出使能信號EN，該MUX11被使能，并將輸入的檢測信號DS，通過檢測接墊15，向陣列基板7傳輸；而在此時(shí)，第一個(gè)MUX 11可以控制使能信號輸出端132，使其不輸出使能信號EN，因此直到DMUX 10向其他MUX 11輸出使能信號EN為止，其他MUX 11不會被使能，從而達(dá)到使多個(gè)MUX 11依次提供檢測信號DS的目的。實(shí)施例三 本實(shí)施例提供的陣列基板檢測信號分配裝置包括至少兩個(gè)MUX和向所述MUX依次分配使能信號的DMUX，并且還包括多個(gè)繼電器，設(shè)置在MUX之間的短路配線上；繼電器控制模塊，與各個(gè)繼電器相連，用于在進(jìn)行光電檢測時(shí)輸出閉合信號控制各個(gè)繼電器閉合，且在進(jìn)行短路檢測時(shí)輸出斷開信號控制各個(gè)繼電器斷開。本實(shí)施例的陣列基板檢測信號分配裝置，通過繼電器和繼電器控制模塊，能使多個(gè)MUX依次提供檢測信號，或者使多個(gè)MUX同時(shí)提供檢測信號，從而在進(jìn)行ESS檢測吋，能依次檢測每組陣列基板，避免了由于ー組或ー組以上陣列基板出現(xiàn)短路缺陷而影響了其它組正常陣列基板的ESS檢測的現(xiàn)象，并且由于進(jìn)行光電檢測時(shí)，能同時(shí)對多組陣列基板進(jìn)行檢測，因此提高了陣列基板檢測效率。圖6為本發(fā)明實(shí)施例三提供的陣列基板檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖。如圖6所示，該陣列基板檢測信號分配裝置包括ー個(gè)DMUX 10、多個(gè)MUX 11、多個(gè)繼電器17和繼電器控制模塊18 ;每個(gè)MUX 11包括輸入端12、輸出端13和使能端14，輸出端13包括數(shù)據(jù)信號輸出端133和掃描信號輸出端134 ；DMUX 10的輸出端分別與多個(gè)MUX 11的使能端14相連；姆個(gè)繼電器17設(shè)置在兩個(gè)相鄰MUX 11的數(shù)據(jù)信號輸出端133之間以及掃描信號輸出端134之間的短路配線16上；繼電器控制模塊18與各個(gè)繼電器17相連，在進(jìn)行光電檢測時(shí)輸出閉合信號控制各個(gè)繼電器17閉合，且在進(jìn)行短路檢測時(shí)輸出斷開信號控制各個(gè)繼電器17斷開。在上述方案的基礎(chǔ)上，上述數(shù)據(jù)信號輸出端可以包括第一數(shù)據(jù)信號輸出端、第二數(shù)據(jù)信號輸出端和第三數(shù)據(jù)信號輸出端；掃描信號輸出端可以包括第一掃描信號輸出端和第二掃描信號輸出端；在兩個(gè)相鄰MUX的第一數(shù)據(jù)信號輸出端之間、第二數(shù)據(jù)信號輸出端之間和第三數(shù)據(jù)信號輸出端之間的短路配線上，設(shè)置有繼電器；在兩個(gè)相鄰MUX的第一掃描信號輸出端之間和第二掃描信號輸出端之間的短路配線上，設(shè)置有繼電器。在本實(shí)施例中，當(dāng)進(jìn)行光電檢測時(shí)，DMUX 10向ー個(gè)MUX 11輸出使能信號EN，該MUX 11被使能，并將輸入的檢測信號DS，通過檢測接墊15，向?qū)?yīng)的陣列基板7傳輸；與此同時(shí)，繼電器控制模塊18使繼電器17閉合，從而使其他MUX 11的輸出端13均同時(shí)輸出檢測信號DS。當(dāng)進(jìn)行ESS檢測吋，DMUX 10向第一個(gè)MUX 11輸出使能信號EN，該MUX 11被使 能，并將輸入的檢測信號DS，通過檢測接墊15，向陣列基板7傳輸；而在此時(shí)，繼電器控制模塊18使繼電器17斷開，因此直到DMUX 10向其他MUX 11輸出使能信號EN為止，其他MUX11不會輸出檢測信號DS，從而達(dá)到使多個(gè)MUX 11依次提供檢測信號DS的目的。實(shí)施例四圖7為本發(fā)明實(shí)施例四提供的陣列基板檢測信號分配裝置的線路結(jié)構(gòu)示意圖，如圖7所示，該陣列基板檢測信號分配裝置包括ー個(gè)DMUX 10、多個(gè)MUX 11、多個(gè)繼電器17和繼電器控制模塊18 ;每個(gè)MUX 11包括輸入端12、輸出端13和使能端14 ；DMUX 10的輸出端分別與多個(gè)MUX 11的使能端14相連；每個(gè)繼電器17設(shè)置在兩個(gè)相鄰MUX 11的使能端14之間的短路配線16上；繼電器控制模塊18與各個(gè)繼電器17與相連，在進(jìn)行光電檢測時(shí)輸出閉合信號控制各個(gè)繼電器17閉合，且在進(jìn)行短路檢測時(shí)輸出斷開信號控制各個(gè)繼電器17斷開。在本實(shí)施例中，當(dāng)進(jìn)行光電檢測時(shí)，DMUX 10向ー個(gè)MUX 11輸出使能信號EN，該 MUX 11被使能，并將輸入的檢測信號DS，通過檢測接墊15，向?qū)?yīng)的陣列基板7傳輸；與此同時(shí)，繼電器控制模塊18使繼電器17閉合，從而使其他MUX 11均被使能并同時(shí)向?qū)?yīng)的陣列基板7提供檢測信號DS。當(dāng)進(jìn)行ESS檢測吋，DMUX 10向第一個(gè)MUX 11輸出使能信號EN,該MUX 11被使能，并將輸入的檢測信號DS，通過檢測接墊15，向陣列基板7傳輸；而在此時(shí)，繼電器控制模塊18使繼電器17斷開，因此直到DMUXlO向其他MUX 11輸出使能信號EN為止，其他MUX 11不會被使能，從而達(dá)到使多個(gè)MUX 11依次提供檢測信號DS的目的。實(shí)施例五圖8為本發(fā)明實(shí)施例五提供的陣列基板檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖，該陣列基板檢測設(shè)備，包括上述實(shí)施例的任ー陣列基板檢測信號分配裝置4，并且還包括檢測臺I、光調(diào)制器2、光束分離器9、光源3、圖像傳感器5和圖像處理器6，其中，在檢測臺I上設(shè)置有多組陣列基板7，每組至少包括兩個(gè)陣列基板7 ;陣列基板檢測信號分配裝置4的輸入端接收驅(qū)動模塊輸入的檢測信號；陣列基板檢測信號分配裝置4的每個(gè)MUX 11的輸出端與一組陣列基板7的檢測接墊15相連，向多組陣列基板7同時(shí)或依次提供檢測信號。本實(shí)施例的陣列基板檢測設(shè)備，通過陣列基板檢測信號分配裝置能選擇性地控制多個(gè)MUX之間的連接狀態(tài)，從而在進(jìn)行ESS檢測吋，能依次對每組陣列基板進(jìn)行檢測，并且在進(jìn)行光電檢測時(shí)，能同時(shí)對多組陣列基板進(jìn)行檢測，在保證陣列基板檢測準(zhǔn)確性的同時(shí)提聞檢測效率。在上述方案的基礎(chǔ)上，一組陣列基板上的多條數(shù)據(jù)線和多條柵線分別連接至數(shù)據(jù)線短路桿和柵線短路桿上；數(shù)據(jù)線短路桿和柵線短路桿的一端分別設(shè)置有數(shù)據(jù)線檢測接墊和柵線檢測接墊；數(shù)據(jù)線檢測接墊和柵線檢測接墊分別與MUX的數(shù)據(jù)信號輸出端和掃描信號輸出端連接。在本實(shí)施例中，陣列基板檢測信號分配裝置可以設(shè)置在檢測臺上。最后應(yīng)說明的是以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種陣列基板檢測信號分配裝置，包括至少兩個(gè)多路復(fù)用板和向所述多路復(fù)用板依次分配使能信號的多路輸出選擇器，其特征在于，還包括 多個(gè)繼電器，設(shè)置在所述多路復(fù)用板之間的短路配線上； 繼電器控制模塊，與各個(gè)所述繼電器相連，用于在進(jìn)行光電檢測時(shí)輸出閉合信號控制各個(gè)所述繼電器閉合，且在進(jìn)行短路檢測時(shí)輸出斷開信號控制各個(gè)所述繼電器斷開。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的陣列基板檢測信號分配裝置，其特征在于 每個(gè)所述繼電器設(shè)置在兩個(gè)相鄰所述多路復(fù)用板的數(shù)據(jù)信號輸出端之間以及掃描信號輸出端之間的短路配線上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板檢測信號分配裝置，其特征在于 所述數(shù)據(jù)信號輸出端包括第一數(shù)據(jù)信號輸出端、第二數(shù)據(jù)信號輸出端和第三數(shù)據(jù)信號輸出端； 所述掃描信號輸出端包括第一掃描信號輸出端和第二掃描信號輸出端； 在兩個(gè)相鄰所述多路復(fù)用板的第一數(shù)據(jù)信號輸出端之間、第二數(shù)據(jù)信號輸出端之間和第三數(shù)據(jù)信號輸出端之間的短路配線上，設(shè)置有所述繼電器； 在兩個(gè)相鄰所述多路復(fù)用板的第一掃描信號輸出端之間和第二掃描信號輸出端之間的短路配線上，設(shè)置有所述繼電器。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的陣列基板檢測信號分配裝置，其特征在于 每個(gè)所述繼電器設(shè)置在兩個(gè)相鄰所述多路復(fù)用板的使能端之間的短路配線上。
5.一種包括權(quán)利要求I 4任一所述陣列基板檢測信號分配裝置的陣列基板檢測設(shè)備，還包括檢測臺、光調(diào)制器、光束分離器、光源、圖像傳感器和圖像處理器，其特征在于 在所述檢測臺上設(shè)置有多組陣列基板，每組至少包括兩個(gè)所述陣列基板； 所述陣列基板檢測信號分配裝置的每個(gè)多路復(fù)用板的輸入端接收驅(qū)動模塊輸入的檢測信號； 所述陣列基板檢測信號分配裝置的每個(gè)多路復(fù)用板的輸出端與一組所述陣列基板的檢測接墊相連，向多組所述陣列基板同時(shí)或依次提供所述檢測信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的陣列基板檢測設(shè)備，其特征在于 一組所述陣列基板上的多條數(shù)據(jù)線和多條柵線分別連接至數(shù)據(jù)線短路桿和柵線短路桿上; 所述數(shù)據(jù)線短路桿和柵線短路桿的一端分別設(shè)置有數(shù)據(jù)線檢測接墊和柵線檢測接墊； 所述數(shù)據(jù)線檢測接墊和柵線檢測接墊分別與所述多路復(fù)用板的數(shù)據(jù)信號輸出端和掃描信號輸出端連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的陣列基板檢測設(shè)備，其特征在于 所述陣列基板檢測信號分配裝置設(shè)置在所述檢測臺上。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種陣列基板檢測信號分配裝置和檢測設(shè)備，該陣列基板檢測信號分配裝置包括至少兩個(gè)MUX和向MUX依次分配使能信號的DMUX，以及多個(gè)繼電器和繼電器控制模塊，其中，所述多個(gè)繼電器設(shè)置在所述MUX之間的短路配線上；所述繼電器控制模塊，與各個(gè)所述繼電器相連，用于在進(jìn)行光電檢測時(shí)輸出閉合信號控制各個(gè)所述繼電器閉合，且在進(jìn)行短路檢測時(shí)輸出斷開信號控制各個(gè)所述繼電器斷開。本發(fā)明的陣列基板檢測設(shè)備包括上述陣列基板檢測信號分配裝置。通過本發(fā)明，使多個(gè)MUX在進(jìn)行ESS檢測時(shí)依次提供檢測信號，而在進(jìn)行光電檢測時(shí)同時(shí)提供檢測信號，因此提高陣列基板檢測效率，提高ESS檢測的準(zhǔn)確性。
文檔編號G02F1/13GK102681226SQ201210147740
公開日2012年9月19日 申請日期2010年1月4日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月4日
發(fā)明者李國烈 申請人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 成都京東方光電科技有限公司