光電耦合模組的制作方法
【專利摘要】一種光電耦合模組，包括固定一光纖的機構(gòu)件、發(fā)光單元和檢測單元，機構(gòu)件具有相對的第一表面和第二表面以及第一凹槽和第二凹槽，第一凹槽和第二凹槽由第一表面向第二表面凹陷，第一凹槽具有相互垂直的第一反射面和第二反射面，第一反射面朝向光纖，第一反射面和第二反射面與第一表面之間的夾角均為45度，第二凹槽具有平行第一反射面的第三反射面，發(fā)光單元發(fā)出的光信號入射至第一反射面和第二反射面上，被第一反射面和第二反射面反射后，一部份光信號耦合進入光纖，另一部份光信號經(jīng)第三反射面反射后被檢測單元所接收。
【專利說明】光電耦合模組
【技術(shù)領域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種光電耦合模組。
【背景技術(shù)】 [0002]光電耦合模組用于將光信號發(fā)射裝置與光纖之間或者光纖與光信號接收裝置之間進行連接，實現(xiàn)光信號的耦合以及光信號與電信號之間的相互轉(zhuǎn)換。
[0003]在高頻光電轉(zhuǎn)換模塊中，光信號發(fā)射裝置的穩(wěn)定度直接影響高頻傳輸?shù)男?，但是，傳統(tǒng)的光電耦合模組直接將光信號發(fā)射裝置的信號耦合至光纖，并無法得知所述光信號是否符合預期，例如光信號強度以及光信號的穩(wěn)定性情況，如果光信號不符合預期，將導致所述光學通訊模塊的效率以及穩(wěn)定性降低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，有必要提供一種可檢測光信號發(fā)射狀態(tài)的光電耦合模組。
[0005]—種光電稱合模組，包括固定一光纖的機構(gòu)件、發(fā)光單兀和檢測單兀，所述機構(gòu)件具有相對的第一表面和第二表面以及第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽和第二凹槽由所述第一表面向所述第二表面凹陷，所述第一凹槽具有相互垂直的第一反射面和第二反射面，所述第一反射面朝向所述光纖，所述第一反射面和第二反射面與所述第一表面之間的夾角均為45度，所述第二凹槽具有平行所述第一反射面的第三反射面，所述發(fā)光單元和檢測單元朝向所述第二表面，所述發(fā)光單元發(fā)出的光信號入射至所述第一反射面和第二反射面上，被所述第一反射面和第二反射面反射后，一部份光信號耦合進入所述光纖，另一部份光信號經(jīng)所述第三反射面反射后被所述檢測單元所接收。
[0006]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明實施例的光電耦合模組通過設置具有分光作用的第一凹槽將發(fā)光單元發(fā)出的光信號分成兩部份，并將其中一部份光信號耦合至光纖，將另一部份光信號通過第二凹槽反射至檢測單元，因此，能夠?qū)崟r對發(fā)光單元發(fā)出的光信號進行偵測，發(fā)光單元根據(jù)檢測單元反饋的檢測結(jié)果以調(diào)整發(fā)出的光信號，以保證光信號的強度及穩(wěn)定性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1是本發(fā)明實施例光電耦合模組的示意圖。
[0008]圖2是本發(fā)明實施例光電耦合模組中機構(gòu)件的示意圖。
[0009]圖3是圖1中II1-1II之截面示意圖。
[0010]主要元件符號說明
【權(quán)利要求】
1.一種光電耦合模組，包括固定一光纖的機構(gòu)件、發(fā)光單元和檢測單元，所述機構(gòu)件具有相對的第一表面和第二表面以及第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽和第二凹槽由所述第一表面向所述第二表面凹陷，所述第一凹槽具有相互垂直的第一反射面和第二反射面，所述第一反射面朝向所述光纖，所述第一反射面和第二反射面與所述第一表面之間的夾角均為45度，所述第二凹槽具有平行所述第一反射面的第三反射面，所述發(fā)光單元和檢測單元朝向所述第二表面，所述發(fā)光單元發(fā)出的光信號入射至所述第一反射面和第二反射面上，被所述第一反射面和第二反射面反射后，一部份光信號耦合進入所述光纖，另一部份光信號經(jīng)所述第三反射面反射后被所述檢測單元所接收。
2.如權(quán)利要求1所述的光電耦合模組，其特征在于，所述光電耦合模組進一步包括電路板，所述發(fā)光單元和檢測單元位于所述電路板上。
3.如權(quán)利要求1所述的光電耦合模組，其特征在于，所述第二表面對應所述第一凹槽的位置具有第一透鏡，所述光信號經(jīng)所述第一透鏡入射至所述第一反射面和第二反射面。
4.如權(quán)利要求1所述的光電耦合模組，其特征在于，所述機構(gòu)件上具有容置孔用來固定所述光纖。
5.如權(quán)利要求4所述的光電耦合模組，其特征在于，所述機構(gòu)件上對應所述容置孔具有第二透鏡。
6.如權(quán)利要求2所述的光電耦合模組，其特征在于，所述第二表面上具有墊高層，所述墊高層與所述電路板相接觸。
7.如權(quán)利要求2所述的光電耦合模組，其特征在于，所述發(fā)光單元為發(fā)光二極管，所述檢測單元為光電檢測器。
8.如權(quán)利要求2所述的光電耦合模組，其特征在于，所述電路板為硬板或軟板。
9.如權(quán)利要求3所述的光電耦合模組，其特征在于，所述第一透鏡的光軸穿過所述第一反射面。
【文檔編號】G02B6/42GK103676029SQ201210340481
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2012年9月14日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月14日
【發(fā)明者】林奕村 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司