專利名稱：3900納米長波通紅外濾光片的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種紅外測溫儀組件，特別是3900納米紅外濾光片。
背景技術(shù)：
紅外測溫儀由光學系統(tǒng)、光電探測器、信號放大器及信號處理、顯示輸出等部分組成。光電探測器匯聚其視場內(nèi)的目標紅外輻射能量，視場的大小由測溫儀的光學零件及其位置確定。紅外能量聚焦在光電探測器上并轉(zhuǎn)變?yōu)橄鄳?yīng)的電信號。該信號經(jīng)過放大器和信號處理電路，并按照儀器內(nèi)療的算法和目標發(fā)射率校正后轉(zhuǎn)變?yōu)楸粶y目標的溫度值。紅外測溫儀的光電探測器是實現(xiàn)紅外能量(熱量)轉(zhuǎn)換電信號的關(guān)鍵，由于各種生物所發(fā)出來的紅外能量(熱量)是不同的，所以在日常使用中為了觀察某種特定生物的溫度值，人們往往會在光電探測器中添加紅外濾光片，通過紅外濾光片可以使光電探測器只接受特定波段的紅外能量，保證紅外測溫儀的測溫結(jié)果。但是，目前的3900納米長波通紅外濾光片，其信噪比低，精度差，不能滿足市場發(fā)
展的需要。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是為了解決上述技術(shù)存在的不足而提供一種能有效濾除波長在3900納米以下的紅外能量(熱能)的3900納米紅外濾光片。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型所設(shè)計的3900納米紅外濾光片，包括成分為藍寶石(Sapphire)的基板以及分別位于基板兩側(cè)面的第一鍍膜層和第二鍍膜層，其特征是所述第一鍍膜層包含從內(nèi)向外依次排列的厚度為1 納米的Ge層、厚度為264納米的SiO層、 厚度為201納米的Ge層、厚度為475納米的SiO層、厚度為161納米的Ge層、厚度為370 納米的SiO層、厚度為169納米的Ge層、厚度為458納米的SiO層、厚度為185納米的Ge 層、厚度為427納米的SiO層、厚度為156納米的Ge層、厚度為416納米的SiO層、厚度為 179納米的( 層、厚度為461納米的SiO層、厚度為176納米的Ge層、厚度為392納米的 SiO層、厚度為144納米的Ge層、厚度為460納米的SiO層、厚度為200納米的Ge層、厚度為392納米的SiO層、厚度為46納米的Ge層和厚度為200納米的SiO層；所述第二鍍膜層包含從內(nèi)向外依次排列的厚度為58納米的Ge層、厚度為357納米的SiO層、厚度為177納米的Ge層、厚度為230納米的SiO層、厚度為143納米的Ge層、厚度為341納米的SiO層、 厚度為72納米的Ge層、厚度為359納米的SiO層、厚度為148納米的Ge層、厚度為201納米的SiO層、厚度為181納米的Ge層和厚度為715納米的SiO層。上述各材料對應(yīng)的厚度，其允許在公差范圍內(nèi)變化，其變化的范圍屬于本專利保護的范圍，為等同關(guān)系。通常厚度的公差在IOnm左右。本實用新型得到的3900納米長波通紅外濾光片，通過上述的設(shè)計，實現(xiàn)了穩(wěn)定性好，且能適用于物體的溫度感應(yīng)和測量，該濾光片得到半高點波長定位3900士 1 %納米，能實現(xiàn)截止區(qū)透過率小于0. 1%，透過區(qū)的透過率可大于90%，大大提高了信噪比，在用于物體溫度的測量和感應(yīng)時，能有效的提高分辨能力和檢測精度，更好的滿足實際中的使用要求。

圖1是是實施例1的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是實施例紅外光譜實測曲線圖。圖中基板1、第一鍍膜層11、第二鍍膜層12。
具體實施方式
下面通過實施例結(jié)合附圖對本實用新型作進一步的描述。實施例1 如圖1所示，本實施例提供的3900納米紅外濾光片，包括成分為藍寶石 (Sapphire)的基板1，在基板1的兩側(cè)面分別鍍有第一鍍膜層11和第二鍍膜層12，所述第一鍍膜層11包含從內(nèi)向外依次排列的厚度為1 納米的Ge層、厚度為264納米的SiO層、 厚度為201納米的Ge層、厚度為475納米的SiO層、厚度為161納米的Ge層、厚度為370 納米的SiO層、厚度為169納米的Ge層、厚度為458納米的SiO層、厚度為185納米的Ge 層、厚度為427納米的SiO層、厚度為156納米的Ge層、厚度為416納米的SiO層、厚度為 179納米的Ge層、厚度為461納米的SiO層、厚度為176納米的Ge層、厚度為392納米的 SiO層、厚度為144納米的Ge層、厚度為460納米的SiO層、厚度為200納米的Ge層、厚度為392納米的SiO層、厚度為46納米的Ge層和厚度為200納米的SiO層；所述第二鍍膜層 12包含從內(nèi)向外依次排列的厚度為58納米的Ge層、厚度為357納米的SiO層、厚度為177 納米的Ge層、厚度為230納米的SiO層、厚度為143納米的Ge層、厚度為341納米的SiO 層、厚度為72納米的Ge層、厚度為359納米的SiO層、厚度為148納米的Ge層、厚度為201 納米的SiO層、厚度為181納米的Ge層和厚度為715納米的SiO層。上述中的藍寶石(Sapphire)、一氧化硅(SiO)和鍺(Ge)材質(zhì)都為現(xiàn)有市場內(nèi)可直接購買的材質(zhì)，故在此不多做詳細介紹。本實施例的紅外光譜實測曲線圖如圖2所示。本實施例中藍寶石(Sapphire)材質(zhì)的基板1配合兩側(cè)表面交替復(fù)合的Ge、SiO材質(zhì)鍍膜層，使得本發(fā)明創(chuàng)造能有效濾除波長在3900納米以下的紅外能量(熱能)，配合紅外線測溫儀使用，使得紅外線測溫儀的光電探測器部分只接受波長在3900納米以上的紅外能量(熱能)，提升紅外線測溫儀的測試準確性。
權(quán)利要求1. 一種3900納米長波通紅外濾光片，包括成分為藍寶石的基板(1)以及分別位于基板兩側(cè)面的第一鍍膜層(11)和第二鍍膜層(12)，其特征是所述第一鍍膜層(11)包含從內(nèi)向外依次排列的厚度為1 納米的Ge層、厚度為264納米的SiO層、厚度為201納米的Ge 層、厚度為475納米的SiO層、厚度為161納米的Ge層、厚度為370納米的SiO層、厚度為 169納米的Ge層、厚度為458納米的SiO層、厚度為185納米的Ge層、厚度為427納米的 SiO層、厚度為156納米的Ge層、厚度為416納米的SiO層、厚度為179納米的Ge層、厚度為461納米的SiO層、厚度為176納米的Ge層、厚度為392納米的SiO層、厚度為144納米的Ge層、厚度為460納米的SiO層、厚度為200納米的Ge層、厚度為392納米的SiO層、厚度為46納米的Ge層和厚度為200納米的SiO層；所述第二鍍膜層(1 包含從內(nèi)向外依次排列的厚度為58納米的Ge層、厚度為357納米的SiO層、厚度為177納米的Ge層、厚度為 230納米的SiO層、厚度為143納米的Ge層、厚度為341納米的SiO層、厚度為72納米的 Ge層、厚度為359納米的SiO層、厚度為148納米的Ge層、厚度為201納米的SiO層、厚度為181納米的Ge層和厚度為715納米的SiO層。
專利摘要本實用新型公開了一種3900納米長波通紅外濾光片，包括成分為藍寶石的基板以及分別位于基板兩側(cè)面的第一鍍膜層和第二鍍膜層，第一鍍膜層包含從內(nèi)向外依次間隔排列，且厚度不一的Ge層和SiO層；第二鍍膜層也包含從內(nèi)向外依次排列，且厚度不一的Ge層和SiO層；本實用新型得到的3900納米長波通紅外濾光片，通過上述的設(shè)計，實現(xiàn)了穩(wěn)定性好，且能適用于物體的溫度感應(yīng)和測量，該濾光片得到半高點波長定位3900±1％納米，能實現(xiàn)截止區(qū)透過率小于0.1％，透過區(qū)的透過率可大于90％，大大提高了信噪比，在用于物體溫度的測量和感應(yīng)時，能有效的提高分辨能力和檢測精度，更好的滿足實際中的使用要求。
文檔編號G02B5/20GK202305863SQ201220091370
公開日2012年7月4日 申請日期2012年3月12日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月12日
發(fā)明者呂晶 申請人:杭州麥樂克電子科技有限公司