專利名稱：用于液晶模組的測試裝置及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶模組測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于液晶模組的測試裝置及測試方法，以測試是否存在液晶量異常。
背景技術(shù)：
薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,簡稱TFT-1XD)是利用液晶分子的光學(xué)各向異性和雙折射特性通過TFT開關(guān)以及訊號電壓的輸入來控制光的穿透來顯示圖像。液晶顯示面板(Panel)中,彩膜(Color filter)基板和TFT基板通過框膠成盒在一起，兩層基板中間有間隔物(Photo Spacer)支撐以在所述兩層基板之間形成一定間隔(Cell gap)，從而在所述兩層基板之間形成液晶填充區(qū)以填充液晶，液晶填充區(qū)內(nèi)的液晶分子在外加電場影響下改變排列方向，以控制透過彩膜基板的光量。液晶模組是指在液晶顯示面板(Panel)上組裝背光單元(Back Light Unit)后的成品。當(dāng)液晶顯示面板中的液晶填充量不夠,或填充時存在空氣以及其他原因，液晶顯示面板在成盒以后，將可能出現(xiàn)氣泡(Bubble),造成產(chǎn)品的異常,如圖1所示。對于液晶量的異常測試，目前的測試方法為:一是用手拍打液晶顯示面板的表面，拍打確認(rèn)產(chǎn)品是否有氣泡出現(xiàn)；二是使用按壓棒在液晶顯示面板的表面位置進(jìn)行按壓，確認(rèn)產(chǎn)品是否存在氣泡；三是用鋼球沿一圓筒鋼管從某一固定高度跌落，撞擊液晶顯示面板的表面，撞擊確認(rèn)產(chǎn)品是否存在氣泡。以上對液晶量的異常測試方法均為單點靜態(tài)確認(rèn)，測試的準(zhǔn)確性不高，液晶顯示產(chǎn)品的質(zhì)量難以得到保證，容易遭受客戶投訴。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種用于液晶模組的測試裝置及測試方法，旨在提高液晶量異常測試的準(zhǔn)確性。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種用于液晶模組的測試裝置，包括可在垂直方向振動的振動平臺、罩蓋及數(shù)個撞擊元件，所述罩蓋可拆卸地安裝在所述振動平臺上，并在所述振動平臺與罩蓋之間形成容置空間以用于容納待測的液晶模組及所述數(shù)個撞擊元件，所述數(shù)個撞擊元件設(shè)于所述容置空間內(nèi)，用于在所述振動平臺振動時對所述待測的液晶模組的面板進(jìn)行撞擊以驗證是否存在液晶量異常。優(yōu)選地，所述撞擊元件為球狀。優(yōu)選地，所述撞擊兀件為金屬球。優(yōu)選地，所述罩蓋包括頂壁及由所述頂壁的周緣向下延伸的側(cè)壁，在所述容置空間內(nèi)放置所述待測的液晶模組后，所述罩蓋的頂壁與所述待測的液晶模組的面板之間的距離為所述撞擊元件的高度的五倍以上。優(yōu)選地，所述罩蓋的側(cè)壁的底端向外延伸有凸緣，所述凸緣上設(shè)有第一固定件以將所述罩蓋與所述振動平臺相固定，所述罩蓋的側(cè)壁上于靠近其底端的位置設(shè)有第二固定件以用于將所述待測的液晶模組與所述罩蓋相固定。
本發(fā)明還提供一種用于液晶模組的測試方法，包括如下步驟:提供測試裝置及待測的液晶模組，所述測試裝置包括可在垂直方向振動的振動平臺、罩蓋及數(shù)個撞擊元件；將所述待測的液晶模組平放于所述振動平臺上，并使所述待測的液晶模組的面板朝上；將所述數(shù)個撞擊元件放置在所述待測的液晶模組的面板上；將所述罩蓋固設(shè)于所述振動平臺上，并將所述數(shù)個撞擊元件及待測的液晶模組罩設(shè)于所述罩蓋內(nèi)；啟動所述振動平臺，所述振動平臺帶動所述待測的液晶模組在垂直方向上振動，所述待測的液晶模組的振動傳導(dǎo)至所述數(shù)個撞擊元件，使所述數(shù)個撞擊元件彈起后落下，對所述待測的液晶模組的面板進(jìn)行撞擊；停止所述振動平臺，取出經(jīng)撞擊后的液晶模組。優(yōu)選地，所述用于液晶模組的測試方法還包括:在所述將所述待測的液晶模組平放于所述振動平臺上的步驟之前，對所述待測的液晶模組的面板的進(jìn)行畫面初始檢查，獲取初始檢查結(jié)果；在所述停止所述振動平臺，取出經(jīng)撞擊后的液晶模組的步驟之后，對所述經(jīng)撞擊后的液晶模組的面板的進(jìn)行畫面再次檢查，獲取再次檢查結(jié)果并與初始檢查結(jié)果進(jìn)行對t匕，以判斷是否存在液晶量異常。優(yōu)選地，所述將所述罩蓋固設(shè)于所述振動平臺上，并將所述數(shù)個撞擊元件及待測的液晶模組罩設(shè)于所述罩蓋內(nèi)的步驟中，將所述罩蓋的頂壁與所述待測的液晶模組的面板之間的距離設(shè)置為所述撞擊元件的高度的五倍以上。 優(yōu)選地，所述撞擊元件選用球狀物。優(yōu)選地,所述撞擊兀件選用金屬球。本發(fā)明用于液晶模組的測試裝置及測試方法中，通過將待測的液晶模組與數(shù)個撞擊元件一起封閉于罩蓋與振動平臺之間，通過振動平臺的振動，使所述數(shù)個撞擊元件對待測的液晶模組的面板進(jìn)行動態(tài)、多點撞擊，能夠更好、更準(zhǔn)確的確認(rèn)待測的液晶模組是否存在液晶量的異常，從而提升產(chǎn)品質(zhì)量，減少客戶投訴。


圖1為本發(fā)明用于液晶模組的測試裝置一較佳實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本發(fā)明用于液晶模組的測試方法的流程示意圖。本發(fā)明目的的實現(xiàn)、功能特點及優(yōu)點將結(jié)合實施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。
具體實施例方式應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施方式
僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。如圖1所示，為本發(fā)明用于液晶模組的測試裝置的一較佳實施例。本發(fā)明用于液晶模組的測試裝置，用于對液晶模組10進(jìn)行液晶量的異常測試，所述液晶模組10包括背光單元11及面板12。
所述用于液晶模組的測試裝置包括可在垂直方向振動的振動平臺20、罩蓋30及數(shù)個撞擊元件40，所述罩蓋30可拆卸地安裝在振動平臺20上，并在所述振動平臺20與罩蓋30之間形成容置空間50，以用于容納待測的液晶模組10及所述數(shù)個撞擊元件40，所述數(shù)個撞擊元件40設(shè)于所述容置空間50內(nèi)，用于在所述振動平臺20振動時對所述待測的液晶模組10的面板12進(jìn)行撞擊以驗證是否存在液晶量異常。所述振動平臺20為現(xiàn)有公知裝置，其結(jié)構(gòu)形式并未特殊要求，只要能夠?qū)崿F(xiàn)垂直方向振動的平臺均可作為本發(fā)明用于液晶模組的測試裝置中的振動平臺20。通常，所述振動平臺20包括支架、臺面及振動機(jī)構(gòu)，振動機(jī)構(gòu)可選用振動電機(jī)。所述振動平臺20還可以設(shè)置減震機(jī)構(gòu)。所述撞擊元件40優(yōu)選為球狀，可以在撞擊面上自由活動且不具有尖銳外形，以便在對液晶模組10的面板12進(jìn)行撞擊時不至于損壞(例如刮傷)脆弱的面板12。為使所述撞擊兀件40達(dá)到較佳的撞擊力度,所述撞擊兀件優(yōu)選為金屬球,例如鋼球。撞擊兀件40的數(shù)量、重量以及振動平臺20振動的加速度、時間等根據(jù)面板12的尺寸及玻璃厚度設(shè)置，例如玻璃厚度為0.7mm的32英寸液晶模組，可以采用9顆50g的鋼球，振動條件設(shè)置為隨機(jī)波(Random Wave)，振動參數(shù)為振動lGrms、I 200Hz，振動時間為30分鐘。若玻璃厚度減薄，則減小鋼球重量；若面板12的尺寸增大，則增加鋼球數(shù)量。所述罩蓋30包括頂壁31及由所述頂壁31的周緣向下延伸的側(cè)壁32，在所述容置空間50內(nèi)放置所述待測的液晶模組10后，所述罩蓋30的頂壁31與所述待測的液晶模組10的面板12之間的距離優(yōu)選為所述撞擊元件40的高度的五倍以上，以使撞擊元件40能夠?qū)Υ郎y的液晶模組10的面板12實施足夠的撞擊。所述罩蓋30的側(cè)壁32的底端向外延伸有凸緣321，所述凸緣321上設(shè)有第一固定件60例如螺釘，以將所述罩蓋30與所述振動平臺20相固定，所述罩蓋30的側(cè)壁32上于靠近其底端的位置設(shè)有第二固定件70例如螺釘，以用于將所述待測的液晶模組10與所述罩蓋30相固定。所述待測的液晶模組10也可以是直接固定于所述振動平臺20上。請同時參照圖2，本發(fā)明的用于液晶模組的測試方法，采用圖1所示的用于液晶模組的測試裝置10對液晶模組10進(jìn)行液晶量的異常測試。所述用于液晶模組的測試方法，包括如下步驟:提供測試裝置及待測的液晶模組10，其中所述測試裝置包括可在垂直方向振動的振動平臺20、罩蓋30及數(shù)個撞擊元件40 ；將所述待測的液晶模組10平放于所述振動平臺20上，并使所述待測的液晶模組10的面板12朝上；將所述數(shù)個撞擊元件40放置在所述待測的液晶模組10的面板12上；將所述罩蓋30固設(shè)于所述振動平臺20上，并將所述數(shù)個撞擊元件40及待測的液晶模組10罩設(shè)于所述罩蓋30內(nèi)；啟動所述振動平臺20進(jìn)行測試，其中，所述振動平臺20帶動所述待測的液晶模組10在垂直方向上振動，所述待測的液晶模組10的振動傳導(dǎo)至所述數(shù)個撞擊元件40，使所述數(shù)個撞擊元件40彈起后落下，在不同位置對所述待測的液晶模組10的面板12進(jìn)行撞擊；停止所述振動平臺20，取出經(jīng)撞擊后的液晶模組10。所述用于液晶模組的測試方法還包括:
在所述將所述待測的液晶模組10平放于所述振動平臺20上的步驟之前，對所述待測的液晶模組10的面板12的進(jìn)行畫面初始檢查，獲取初始檢查結(jié)果；在所述停止所述振動平臺20，取出經(jīng)撞擊后的液晶模組10的步驟之后，對所述經(jīng)撞擊后的液晶模組10的面板12的進(jìn)行畫面再次檢查，獲取再次檢查結(jié)果并與初始檢查結(jié)果進(jìn)行對比，以判斷是否存在液晶量異常。若再次檢索結(jié)果相對初始檢索結(jié)果發(fā)生變化，表示存在液晶量異常，否則，表示不存在液晶量異常。所述將所述罩蓋30固設(shè)于所述振動平臺上，并將所述數(shù)個撞擊元件40及待測的液晶模組10罩設(shè)于所述罩蓋30內(nèi)的步驟中，將所述罩蓋30的頂壁31與所述待測的液晶模組10的面板12之間的距離設(shè)置為所述撞擊元件40的高度的五倍以上，以使撞擊元件40能夠?qū)Υ郎y的液晶模組10的面板12實施足夠的撞擊。所述撞擊元件40選用球狀物，以便在對液晶模組10的面板12進(jìn)行撞擊時不至于損壞面板12。為使所述撞擊兀件40達(dá)到較佳的撞擊力度,所述撞擊兀件40優(yōu)選金屬球,例如鋼球。上述用于液晶模組的測試裝置及測試方法中，通過將待測的液晶模組與數(shù)個撞擊元件一起封閉于罩蓋與振動平臺之間，通過振動平臺的振動，使所述數(shù)個撞擊元件對待測的液晶模組的面板進(jìn)行動態(tài)、多點撞擊，能夠更好、更準(zhǔn)確的確認(rèn)待測的液晶模組是否存在液晶量的異常，從而提升產(chǎn)品質(zhì)量，減少客戶投訴。本發(fā)明并不局限于以上實施方式，在上述實施方式公開的技術(shù)內(nèi)容下，還可以進(jìn)行各種變化。凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種用于液晶模組的測試裝置，其特征在于，包括可在垂直方向振動的振動平臺、罩蓋及數(shù)個撞擊元件，所述罩蓋可拆卸地安裝在所述振動平臺上，并在所述振動平臺與罩蓋之間形成容置空間以用于容納待測的液晶模組及所述數(shù)個撞擊元件，所述數(shù)個撞擊元件設(shè)于所述容置空間內(nèi)，用于在所述振動平臺振動時對所述待測的液晶模組的面板進(jìn)行撞擊以驗證是否存在液晶量異常。
2.按權(quán)利要求1所述的用于液晶模組的測試裝置，其特征在于，所述撞擊元件為球狀。
3.按權(quán)利要求2所述的用于液晶模組的測試裝置，其特征在于，所述撞擊元件為金屬球。
4.按權(quán)利要求1至3項中任意一項所述的用于液晶模組的測試裝置，其特征在于，所述罩蓋包括頂壁及由所述頂壁的周緣向下延伸的側(cè)壁，在所述容置空間內(nèi)放置所述待測的液晶模組后，所述罩蓋的頂壁與所述待測的液晶模組的面板之間的距離為所述撞擊元件的高度的五倍以上。
5.按權(quán)利要求1所述的用于液晶模組的測試裝置，其特征在于，所述罩蓋的側(cè)壁的底端向外延伸有凸緣，所述凸緣上設(shè)有第一固定件以將所述罩蓋與所述振動平臺相固定，所述罩蓋的側(cè)壁上于靠近其 底端的位置設(shè)有第二固定件以用于將所述待測的液晶模組與所述罩蓋相固定。
6.一種用于液晶模組的測試方法，其特征在于，包括如下步驟: 提供測試裝置及待測的液晶模組，所述測試裝置包括可在垂直方向振動的振動平臺、罩蓋及數(shù)個撞擊元件； 將所述待測的液晶模組平放于所述振動平臺上，并使所述待測的液晶模組的面板朝上； 將所述數(shù)個撞擊元件放置在所述待測的液晶模組的面板上； 將所述罩蓋固設(shè)于所述振動平臺上，并將所述數(shù)個撞擊元件及待測的液晶模組罩設(shè)于所述罩蓋內(nèi)； 啟動所述振動平臺，所述振動平臺帶動所述待測的液晶模組在垂直方向上振動，所述待測的液晶模組的振動傳導(dǎo)至所述數(shù)個撞擊元件，使所述數(shù)個撞擊元件彈起后落下，對所述待測的液晶模組的面板進(jìn)行撞擊； 停止所述振動平臺，取出經(jīng)撞擊后的液晶模組。
7.按權(quán)利要求6所述的用于液晶模組的測試方法，其特征在于，還包括: 在所述將所述待測的液晶模組平放于所述振動平臺上的步驟之前，對所述待測的液晶模組的面板的進(jìn)行畫面初始檢查，獲取初始檢查結(jié)果； 在所述停止所述振動平臺，取出經(jīng)撞擊后的液晶模組的步驟之后，對所述經(jīng)撞擊后的液晶模組的面板的進(jìn)行畫面再次檢查，獲取再次檢查結(jié)果并與初始檢查結(jié)果進(jìn)行對比，以判斷是否存在液晶量異常。
8.按權(quán)利要求6所述的用于液晶模組的測試方法，其特征在于，所述將所述罩蓋固設(shè)于所述振動平臺上，并將所述數(shù)個撞擊元件及待測的液晶模組罩設(shè)于所述罩蓋內(nèi)的步驟中，將所述罩蓋的頂壁與所述待測的液晶模組的面板之間的距離設(shè)置為所述撞擊元件的高度的五倍以上。
9.按權(quán)利要求6所述的用于液晶模組的測試方法，其特征在于，所述撞擊元件選用球狀物。
10.按權(quán)利要求9所述的用于液晶模組的測試方法，其特征在于，所述撞擊元件選用金屬球 。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用于液晶模組的測試裝置及測試方法。所述測試裝置包括可在垂直方向振動的振動平臺、罩蓋及數(shù)個撞擊元件，所述罩蓋可拆卸地安裝在所述振動平臺上，并在所述振動平臺與罩蓋之間形成容置空間以用于容納待測的液晶模組及所述數(shù)個撞擊元件，所述數(shù)個撞擊元件設(shè)于所述容置空間內(nèi)，用于在所述振動平臺振動時對所述待測的液晶模組的面板進(jìn)行撞擊以驗證是否存在液晶量異常。采用本發(fā)明的測試裝置對液晶模組進(jìn)行液晶量異常測試時，所述數(shù)個撞擊元件可對待測的液晶模組的面板進(jìn)行動態(tài)、多點撞擊，能夠更好、更準(zhǔn)確的確認(rèn)待測的液晶模組是否存在液晶量的異常，從而提升產(chǎn)品質(zhì)量，減少客戶投訴。
文檔編號G02F1/13GK103091881SQ20131004637
公開日2013年5月8日 申請日期2013年2月5日 優(yōu)先權(quán)日2013年2月5日
發(fā)明者黃笑宇, 廖學(xué)士 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司