液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法
【專利摘要】一種液晶陣列基板的測試方法，包括步驟：通過掃描線輸入關閉信號控制像素區(qū)域的第一TFT晶體管以及第二TFT晶體管處于關閉狀態(tài)；對主區(qū)導電片施加第一電壓以及對子區(qū)導電片施加第二電壓；偵測像素區(qū)域的主區(qū)以及子區(qū)的電壓是否相同；如果相同，則判定主區(qū)以及子區(qū)存在短路。本發(fā)明還提供一種方便檢測像素區(qū)主區(qū)和子區(qū)是否短路的低色偏設計的液晶陣列基板。本發(fā)明的液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法，能夠較易地檢測出該液晶陣列基板是否合格。
【專利說明】液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種基板，特別涉及一種液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法。
【背景技術】
[0002]目前，液晶電視、液晶顯示器等液晶電子裝置越來越普遍。一般的液晶電子裝置均具有多角度的顯示模式，在多角度的顯示模式下，由于在不同視角西觀察到的液晶分子的指向不同，會導致大視角下觀察到的顏色失真。目前，為了改善大視角的顏色失身，在液晶分子像素設計時，會將一個像素分為兩個部分，一部分為主(main)區(qū)，另一部分為子(sub)區(qū)。通過控制該兩個區(qū)的電壓來改善大視角失真。其中，該分為主區(qū)以及子區(qū)的設計一般稱為LCS(Low Color Shift，低色彩偏移)設計。
[0003]相應地，為了保證液晶電子裝置的質量，對其制造過程中的檢測是必不可少的。為提高良率和降低成本，在液晶陣列基板制造完成后，會對其進行電性測試，而對于有LCS設計的像素，常規(guī)手法很難檢測出主區(qū)以及子區(qū)的像素短路即不合格，而容易導致面板降等甚至報廢。

【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明提供一種液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法，能夠較易地檢測該液晶陣列基板是否合格。
[0005]一種液晶陣列基板，包括多個像素區(qū)域，該像素區(qū)域包括主區(qū)、子區(qū)以及一調控TFT晶體管，該調控TFT晶體管用于調控主區(qū)與子區(qū)的電壓比而實現低色彩偏移，其中，主區(qū)包括第一 TFT晶體管以及主區(qū)陣列電路公共電極走線，子區(qū)包括第二 TFT晶體管以及子區(qū)陣列電路公共電極走線，其中，該主區(qū)陣列電路公共電極走線以及子區(qū)陣列電路公共電極走線相互電隔離；其中，第一 TFT晶體管的柵極與第一掃描線連接，源極與數據線連接，漏極與像素電極連接且與主區(qū)陣列電路公共電極走線耦接，第二 TFT晶體管的柵極與第一掃描線連接，源極與數據線連接，漏極與像素電極連接且與子區(qū)陣列電路公共電極走線耦接；該調控TFT晶體管的源極與該第二 TFT晶體管的漏極電連接，漏極與第一 TFT晶體管的漏極耦接，該調控TFT晶體管的柵極與第二掃描線連接。
[0006]其中，該液晶陣列基板的所有像素區(qū)域中的主區(qū)陣列電路公共電極走線均與一主區(qū)導電片連接，所有像素區(qū)域中的子區(qū)陣列電路公共電極走線均與一子區(qū)導電片連接。
[0007]其中，該第一掃描線用于產生開啟或關閉信號控制該第一 TFT晶體管導通或關閉，該數據線用于在第一 TFT晶體管導通時輸入數據驅動信號，而控制主區(qū)的顯示。
[0008]其中，該第一掃描線用于產生開啟或關閉信號控制該第二 TFT晶體管導通或關閉，該數據線用于在第二 TFT晶體管導通時輸入數據驅動信號，而控制子區(qū)的顯示。
[0009]一種液晶陣列基板的測試方法，包括步驟:通過掃描線輸入關閉信號控制像素區(qū)域的第一 TFT晶體管以及第二 TFT晶體管處于關閉狀態(tài)；對主區(qū)導電片施加第一電壓以及對子區(qū)導電片施加第二電壓；其中，該主區(qū)導電片與所有像素區(qū)域的主區(qū)陣列電路公共電極走線電連接，該子區(qū)導電片與所有像素區(qū)域的子區(qū)陣列電路公共電極走線電連接，其中該主區(qū)陣列電路公共電極走線與子區(qū)陣列電路公共電極走線相互電隔離；偵測像素區(qū)域的主區(qū)以及子區(qū)的電壓是否相同；如果有，則判定主區(qū)以及子區(qū)存在短路。
[0010]其中，該方法還包括步驟:如果像素區(qū)域的主區(qū)以及子區(qū)的電壓不相同，則判定主區(qū)以及子區(qū)不存在短路。
[0011]其中，該步驟“對主區(qū)導電片施加第一電壓以及對子區(qū)導電片施加第二電壓”包括:對主區(qū)導電片施加高電位以及對子區(qū)導電片施加零電位。
[0012]其中，該步驟“對主區(qū)導電片施加第一電壓以及對子區(qū)導電片施加第二電壓”包括:對主區(qū)導電片施加零電位以及對子區(qū)導電片施加高電位。
[0013]其中，該方法還包括:對液晶陣列基板存在短路的像素區(qū)域進行維修。
[0014]本發(fā)明的液晶陣列基板及液晶陣列基板測試方法，通過將主區(qū)陣列電路公共電極走線以及子區(qū)陣列電路公共電極走線相互電隔離，能夠較易地檢測出該液晶陣列基板是否合格。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1是本發(fā)明一實施方式中的液晶陣列基板的示意圖。
[0016]圖2是本發(fā)明一實施方式中的液晶陣列基板中的一個像素區(qū)域的具體示意圖。
[0017]圖3是本發(fā)明一實施方式中的液晶陣列基板的檢測方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0018]請一并參閱圖1及圖2，圖1為本發(fā)明一實施方式中液晶陣列基板100的示意圖，圖2為液晶陣列基板100包括的一像素區(qū)域I的具體示意圖。在本發(fā)明中，該液晶陣列基板100為低色偏設計的液晶陣列基板。該液晶陣列基板100包括多個呈陣列分布的像素區(qū)域1，該像素區(qū)域I包括主區(qū)11、子區(qū)12以及調控TFT晶體管T。其中，主區(qū)11包括第—TFT (thin film transistor,薄膜晶體管)晶體管Tl以及主區(qū)陣列電路公共電極走線Main-Acom0子區(qū)包括第二 TFT晶體管T2以及子區(qū)陣列電路公共電極走線Sub-Acom。其中，該調控TFT晶體管T用于調控主區(qū)11與子區(qū)12的電壓比，而實現液晶陣列基板100的低色彩偏移設計。
[0019]其中，每一像素區(qū)域I中的該第一 TFT晶體管Tl以及第二 TFT晶體管T2的柵極均與第一掃描線111連接。該第一 TFT晶體管Tl以及第二 TFT晶體管T2的源極均與數據線222連接。該第一 TFT晶體管Tl的漏極與主區(qū)陣列電路公共電極走線Main-Acom耦接，該第二 TFT晶體管T2的漏極與子區(qū)陣列電路公共電極走線Sub-Acom耦接。其中，該第一TFT晶體管Tl的漏極還與對應的像素電極P連接，該第二 TFT晶體管T2的漏極同樣還與對應的像素電極P電連接。
[0020]具體的，該調控TFT晶體管T的源極與第一 TFT晶體管Tl的漏極耦接，漏極與該第二 TFT晶體管T2的漏極電連接，該調控TFT晶體管T的柵極與第二掃描線112連接。該調控TFT晶體管T用于調控主區(qū)11與子區(qū)12的電壓比，即調節(jié)第一 TFT晶體管Tl連接的像素電極P以及該第二 TFT晶體管T2連接的像素電極P之間的電壓比，實現低色彩偏移。由于與本發(fā)明改進無關，故不再多加描述。[0021]其中，該主區(qū)陣列電路公共電極走線Main-Acom以及子區(qū)陣列電路公共電極走線Sub-Acom相互電隔離。
[0022]其中，如圖1所示，該液晶陣列基板100的所有像素區(qū)域I中的主區(qū)陣列電路公共電極走線Main-Acom均與一主區(qū)導電片MPl連接，所有像素區(qū)域I中的子區(qū)陣列電路公共電極走線Sub-Acom均與一子區(qū)導電片SPl連接。
[0023]其中，與該第一 TFT晶體管Tl以及第二 TFT晶體管T2連接的該第一掃描線111用于產生開啟或關閉信號控制該第一 TFT晶體管Tl以及第二 TFT晶體管T2導通或關閉。該數據線222用于在第一 TFT晶體管Tl以及第二 TFT晶體管T2導通時輸入數據驅動信號，從而分別控制主區(qū)11以及子區(qū)12的顯示。
[0024]其中，該液晶陣列基板100還包括其他元件，例如存儲電容以及耦合電容等，由于與本發(fā)明的改進無關，故未在此贅述。
[0025]請一并參閱圖3，為本發(fā)明的液晶陣列基板100的測試方法的流程圖。首先，通過第一掃描線111輸入關閉信號控制像素區(qū)域I的第一 TFT晶體管T2以及第二 TFT晶體管T2處于關閉/斷開狀態(tài)(S301)。
[0026]然后，對主區(qū)導電片MPl施加第一電壓以及對子區(qū)導電片SPl施加第二電壓(S303)。其中，該第一電壓不同于該第二電壓,在一實施方式中，該第一電壓為高電位,第二電壓為零電位，對主區(qū)導電片MPl施加第一電壓以及對子區(qū)導電片SPl施加第二電壓為:對主區(qū)導電片MPl施加高電位以及對子區(qū)導電片SPl施加零電位。在其他實施方式中，該第一電壓為零電位，該第二電壓為高電位，對主區(qū)導電片MPl施加第一電壓以及對子區(qū)導電片SPl施加第二電壓為:對主區(qū)導電片MPl施加零電位以及對子區(qū)導電片SPl施加高電位。
[0027]偵測像素區(qū)域I的主區(qū)11以及子區(qū)12的電壓是否相同(S305)。
[0028]如果相同，則判定主區(qū)11以及子區(qū)12不存在短路，S卩，該液晶陣列基板100合格(S307)。
[0029]如果不相同，則判定主區(qū)11以及子區(qū)12存在短路，即該液晶陣列基板100不合格(S309)。
[0030]以及對液晶陣列基板100存在短路的像素區(qū)域I進行維修(S311)。
[0031]從而，本發(fā)明中，將該主區(qū)陣列電路公共電極走線Main-Acom以及子區(qū)陣列電路公共電極走線Sub-Acom相互電隔離，由于主區(qū)陣列電路公共電極走線Main-Acom與主區(qū)11電連接，而子區(qū)陣列電路公共電極走線Sub-Acom又與子區(qū)12電連接。從而，若主區(qū)11以及子區(qū)12不存在短路時，當對主區(qū)導電片MPl施加第一電壓以及對子區(qū)導電片SPl施加第二電壓，則該主區(qū)11以及子區(qū)12將分別具有該第一電壓以及第二電壓而電壓不相同。如果主區(qū)11以及子區(qū)12存在短路，主區(qū)11以及子區(qū)12的電壓將會相同。其中，該主區(qū)11以及子區(qū)12是否存在短路是指:主區(qū)11的第一 TFT晶體管Tl連接的像素電極P與子區(qū)12的第二 TFT晶體管T2連接的像素電極P是否存在短路。
[0032]以上【具體實施方式】對本發(fā)明進行了詳細的說明，但這些并非構成對本發(fā)明的限制。本發(fā)明的保護范圍并不以上述實施方式為限，但凡本領域普通技術人員根據本發(fā)明所揭示內容所作的等效修飾或變化，皆應納入權利要求書中記載的保護范圍內。
【權利要求】
1.一種液晶陣列基板，包括多個像素區(qū)域，每一像素區(qū)域包括主區(qū)、子區(qū)以及一調控TFT晶體管，該調控TFT晶體管用于調控主區(qū)與子區(qū)的電壓比而實現低色彩偏移，其特征在于: 主區(qū)包括第一 TFT晶體管以及主區(qū)陣列電路公共電極走線，子區(qū)包括第二 TFT晶體管以及子區(qū)陣列電路公共電極走線，其中，該主區(qū)陣列電路公共電極走線以及子區(qū)陣列電路公共電極走線相互電隔離；其中，該第一 TFT晶體管的柵極與第一掃描線連接，源極與數據線連接，漏極與像素電極連接且與主區(qū)陣列電路公共電極走線耦接；該第二 TFT晶體管的柵極與第一掃描線連接，源極與數據線連接，漏極與像素電極連接且與子區(qū)陣列電路公共電極走線耦接；該調控TFT晶體管的源極與該第二 TFT晶體管的漏極電連接，漏極與第一TFT晶體管的漏極耦接，該調控TFT晶體管的柵極與第二掃描線連接。
2.如權利要求1所述的液晶陣列基板，其特征在于，該液晶陣列基板的所有像素區(qū)域中的主區(qū)陣列電路公共電極走線均與一主區(qū)導電片連接，所有像素區(qū)域中的子區(qū)陣列電路公共電極走線均與一子區(qū)導電片連接。
3.如權利要求1或2所述的液晶陣列基板，其特征在于，該第一掃描線用于產生開啟或關閉信號控制該第一 TFT晶體管導通或關閉，該數據線用于在第一 TFT晶體管導通時輸入數據驅動信號，而控制主區(qū)的顯示。
4.如權利要求3所述的液晶陣列基板，其特征在于，該第一掃描線用于產生開啟或關閉信號控制該第二 TFT晶體管導通或關閉。
5.如權利要求4所述的液晶陣列基板，其特征在于，該數據線用于在第二TFT晶體管導通時輸入數據驅動信號，而控制子區(qū)的顯示。
6.一種液晶陣列基板的測試方法，包括步驟: 通過掃描線輸入關閉信號控制像素區(qū)域的第一 TFT晶體管以及第二 TFT晶體管處于關閉狀態(tài)； 對主區(qū)導電片施加第一電壓以及對子區(qū)導電片施加第二電壓；其中，該主區(qū)導電片與所有像素區(qū)域的主區(qū)陣列電路公共電極走線電連接，該子區(qū)導電片與所有像素區(qū)域的子區(qū)陣列電路公共電極走線電連接，其中該主區(qū)陣列電路公共電極走線與子區(qū)陣列電路公共電極走線相互電隔離； 偵測像素區(qū)域的主區(qū)以及子區(qū)的電壓是否相同； 如果相同，則判定主區(qū)以及子區(qū)存在短路。
7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，還包括步驟: 如果像素區(qū)域的主區(qū)以及子區(qū)的電壓不相同，則判定主區(qū)以及子區(qū)不存在短路。
8.如權利要求6所述的方法，其特征在于，該步驟“對主區(qū)導電片施加第一電壓以及對子區(qū)導電片施加第二電壓”包括: 對主區(qū)導電片施加高電位以及對子區(qū)導電片施加零電位。
9.如權利要求6所述的方法，其特征在于，該步驟“對主區(qū)導電片施加第一電壓以及對子區(qū)導電片施加第二電壓”包括: 對主區(qū)導電片施加零電位以及對子區(qū)導電片施加高電位。
10.如權利要求6所述的方法，其特征在于，該方法還包括: 對液晶陣列基板存在短路的像素區(qū)域進行維修。
【文檔編號】G02F1/1368GK103513484SQ201310244594
【公開日】2014年1月15日 申請日期:2013年6月19日 優(yōu)先權日:2013年6月19日
【發(fā)明者】姚曉慧, 許哲豪 申請人:深圳市華星光電技術有限公司