一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法及裝置，用以準確的檢測柱狀隔墊物的缺陷，實時監(jiān)控柱狀隔墊物工藝，確保柱狀隔墊物良率的穩(wěn)定增長。所述檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法，包括獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像；將所述液晶面板俯視圖像以預先設(shè)置的標準圖像的像素大小為單位劃分為若干區(qū)域，將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，確定與所述標準圖像不同的第一子區(qū)域圖像；檢測每個所述第一子區(qū)域圖像的灰度值，確定不在預設(shè)灰度值范圍的第二子區(qū)域圖像；計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標。
【專利說明】一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法及裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示器【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶面板中的柱狀隔墊物的良率會直接影響整個液晶面板的顯示效果，目前，在彩膜工廠使用全數(shù)檢查機檢測柱狀隔墊物的缺陷，并監(jiān)控各個型號產(chǎn)品的柱狀隔墊物良率。柱狀隔墊物的圖像具有周期性，而目前對于柱狀隔墊物的檢出存在很大的漏檢和誤檢，由于在制作柱狀隔墊物工藝中存在柱狀隔墊物異物和柱狀隔墊物缺失等問題，導致嚴重影響其柱狀隔墊物的良率。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)針對柱狀隔墊物檢測是通過五點比對方法來檢測的，具體的檢測如圖1所示。圖中，10表示彩膜基板中的紅色(R)子像素俯視圖，11表示彩膜基板中的綠色(G)子像素俯視圖，12表示彩膜基板中的藍色(B)子像素俯視圖，13、14、15、16和17分別表示位于彩膜基板和陣列基板之間的柱狀隔墊物俯視圖，其中，以柱狀隔墊物俯視圖13為測試點，柱狀隔墊物俯視圖14、15、16和17為參考點，在測試過程中，若13的灰度值為Al，14的灰度值為A2，15的灰度值為A3，16的灰度值為A4，17的灰度值為A5。若上述五個灰度值的大小關(guān)系為:A2<A3<A5<A4<A1，取五個灰度值的中間值A(chǔ)5，當I A1-A5 I大于設(shè)定值時，表示測試的柱狀隔墊物俯視圖13對應(yīng)的柱狀隔墊物存在缺陷，當I A1-A5 I小于設(shè)定值時，表示測試的柱狀隔墊物俯視圖13對應(yīng)的柱狀隔墊物無缺陷，這里的設(shè)定值對于不同的生產(chǎn)工藝其值也不同，目前該設(shè)定值一般為30或50，這種通過五點比對方法來檢測柱狀隔墊物的方法存在一定的弊端，由于柱狀隔墊物是透明狀，對于光源不是特別敏感，其灰度反應(yīng)出來的數(shù)據(jù)波動較小。
[0004]綜上所述，現(xiàn)有技術(shù)中檢測柱狀隔墊物的方法無法準確的檢查出柱狀隔墊物存在的缺陷，并且當有大范圍面積的柱狀隔墊物缺失時，則無法進行檢測，從而無法監(jiān)控柱狀隔
墊物工藝。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明實施例提供了一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法及裝置，用以準確的檢測柱狀隔墊物的缺陷，實時監(jiān)控柱狀隔墊物工藝，確保柱狀隔墊物良率的穩(wěn)定增長。
[0006]本發(fā)明實施例提供的一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法，所述方法包括:
[0007]獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像；
[0008]將所述液晶面板俯視圖像以預先設(shè)置的標準圖像的像素大小為單位劃分為若干區(qū)域，將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，確定與所述標準圖像不同的第一子區(qū)域圖像；
[0009]檢測每個所述第一子區(qū)域圖像的灰度值，確定不在預設(shè)灰度值范圍的第二子區(qū)域圖像；[0010]計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標。
[0011]由本發(fā)明實施例提供的檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法，包括:獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像；將所述液晶面板俯視圖像以預先設(shè)置的標準圖像的像素大小為單位劃分為若干區(qū)域，將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，確定與所述標準圖像不同的第一子區(qū)域圖像；檢測每個所述第一子區(qū)域圖像的灰度值，確定不在預設(shè)灰度值范圍的第二子區(qū)域圖像；計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標，因此，本發(fā)明實施例提供的檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法能夠準確的檢測柱狀隔墊物的缺陷，實時監(jiān)控柱狀隔墊物工藝，確保柱狀隔墊物良率的穩(wěn)定增長。
[0012]較佳地，所述計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標后，所述方法還包括:
[0013]計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物的缺陷類型。
[0014]這樣，由于計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標后，所述方法還包括計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物的缺陷類型，極大的方便了后續(xù)對柱狀隔墊物缺陷的修復。
[0015]較佳地，所述獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像，包括:
[0016]通過CXD相機獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像。
[0017]這樣，通過C⑶相機獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像，在實際檢測過程中方便、簡單。
[0018]較佳地，所述將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，包括:通過模板匹配法將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對。
[0019]這樣，通過模板匹配法將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，在實際檢測過程中可以方便、簡單的確定與所述標準圖像不同的第一子區(qū)域圖像。
[0020]本發(fā)明實施例還提供了一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的裝置，所述裝置包括:
[0021]圖像獲取單元，用于獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像；
[0022]圖像比對單元，用于將所述液晶面板俯視圖像以預先設(shè)置的標準圖像的像素大小為單位劃分為若干區(qū)域，將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，確定與所述標準圖像不同的第一子區(qū)域圖像；
[0023]灰度檢測單元，用于檢測每個所述第一子區(qū)域圖像的灰度值，確定不在預設(shè)灰度值范圍的第二子區(qū)域圖像；
[0024]計算單元，用于計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標。
[0025]由本發(fā)明實施例提供的檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的裝置，包括:圖像獲取單元，用于獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像；圖像比對單元，用于將所述液晶面板俯視圖像以預先設(shè)置的標準圖像的像素大小為單位劃分為若干區(qū)域，將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，確定與所述標準圖像不同的第一子區(qū)域圖像；灰度檢測單元，用于檢測每個所述第一子區(qū)域圖像的灰度值，確定不在預設(shè)灰度值范圍的第二子區(qū)域圖像；計算單元，用于計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標，因此，本發(fā)明實施例提供的檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的裝置能夠準確的檢測柱狀隔墊物的缺陷，實時監(jiān)控柱狀隔墊物工藝，確保柱狀隔墊物良率的穩(wěn)定增長。
[0026]較佳地，所述裝置還包括缺陷類型計算單元，用于計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物的缺陷類型。
[0027]這樣，當所述裝置包括用于計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物的缺陷類型的缺陷類型計算單元時，極大的方便了后續(xù)對柱狀隔墊物缺陷的修復。
[0028]較佳地，所述缺陷類型包括:灰度值較正常柱狀隔墊物圖像灰度大的白缺陷和/或灰度值較正常柱狀隔墊物圖像灰度小的黑缺陷。
[0029]這樣，將缺陷類型分為灰度值較正常柱狀隔墊物圖像灰度大的白缺陷和灰度值較正常柱狀隔墊物圖像灰度小的黑缺陷，在實際檢測中更加方便、簡單。
[0030]較佳地，所述圖像獲取單元為CXD相機。
[0031]這樣，圖像獲取單元為CXD相機時，在實際檢測過程中方便、簡單。
[0032]較佳地，所述圖像比對單元具體用于，通過模板匹配法將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對。
[0033]這樣，當所述圖像比對單元具體用于，通過模板匹配法將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，在實際檢測過程中方便、簡單。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0034]圖1為現(xiàn)有技術(shù)檢測柱狀隔墊物缺陷的示意圖；
[0035]圖2為本發(fā)明實施例提供的一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法流程圖；
[0036]圖3為本發(fā)明實施例提供的一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的裝置示意圖。
【具體實施方式】
[0037]本發(fā)明實施例提供了一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法及裝置，用以準確的檢測柱狀隔墊物的缺陷，實時監(jiān)控柱狀隔墊物工藝，確保柱狀隔墊物良率的穩(wěn)定增長。
[0038]如圖2所示，本發(fā)明具體實施例提供了一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法，所述方法包括:
[0039]S201、獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像；
[0040]S202、將所述液晶面板俯視圖像以預先設(shè)置的標準圖像的像素大小為單位劃分為若干區(qū)域，將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，確定與所述標準圖像不同的第一子區(qū)域圖像；
[0041]S203、檢測每個所述第一子區(qū)域圖像的灰度值，確定不在預設(shè)灰度值范圍的第二子區(qū)域圖像；
[0042]S204、計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位
置坐標。
[0043]下面結(jié)合附圖詳細介紹本發(fā)明具體實施例中檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法。
[0044]本發(fā)明具體實施例檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷時，首先需要預先設(shè)置一個標準圖像，并將該標準圖像存入測試系統(tǒng)中，所述標準圖像是從正常的檢測基板上截取下來的圖像，在實際生產(chǎn)過程中，柱狀隔墊物的圖像分布跟正常的RGB圖形分布一樣，也是具有一定的周期性的，在一個周期內(nèi)包括多個尺寸的主要柱狀隔墊物和次要柱狀隔墊物，本發(fā)明具體實施例預先設(shè)置的標準圖像中包含一個周期內(nèi)的正常柱狀隔墊物圖像，所述標準圖像中包含的正常柱狀隔墊物圖像中柱狀隔墊物的具體個數(shù)依據(jù)實際生產(chǎn)得到的柱狀隔墊物圖像而定。另外，在設(shè)置好標準圖像后，本發(fā)明具體實施例還需要設(shè)置一個測試標準模板，并將設(shè)置的測試標準模板寫入檢測系統(tǒng)的軟件中，設(shè)置的標準模板里需要設(shè)置尺寸較大的主要柱狀隔墊物的個數(shù)及尺寸、尺寸較小的次要柱狀隔墊物的個數(shù)及尺寸，同時還需要設(shè)置柱狀隔墊物一個周期的分布情況，具體如表1所示。
[0045]表1
[0046]
【權(quán)利要求】
1.一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括: 獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像； 將所述液晶面板俯視圖像以預先設(shè)置的標準圖像的像素大小為單位劃分為若干區(qū)域，將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，確定與所述標準圖像不同的第一子區(qū)域圖像； 檢測每個所述第一子區(qū)域圖像的灰度值，確定不在預設(shè)灰度值范圍的第二子區(qū)域圖像； 計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標后，所述方法還包括: 計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物的缺陷類型。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像，包括: 通過CCD相機獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，包括:通過模板匹配法將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對。
5.一種檢測液晶面板柱狀隔墊物缺陷的裝置，其特征在于，所述裝置包括: 圖像獲取單元，用于獲取包含所述柱狀隔墊物的液晶面板俯視圖像； 圖像比對單元，用于將所述液晶面板俯視圖像以預先設(shè)置的標準圖像的像素大小為單位劃分為若干區(qū)域，將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對，確定與所述標準圖像不同的第一子區(qū)域圖像； 灰度檢測單元，用于檢測每個所述第一子區(qū)域圖像的灰度值，確定不在預設(shè)灰度值范圍的第二子區(qū)域圖像； 計算單元，用于計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物在所述液晶面板俯視圖像中的位置坐標。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括缺陷類型計算單元，用于計算所述第二子區(qū)域圖像中的柱狀隔墊物的缺陷類型。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述缺陷類型包括:灰度值較正常柱狀隔墊物圖像灰度大的白缺陷和/或灰度值較正常柱狀隔墊物圖像灰度小的黑缺陷。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述圖像獲取單元為CCD相機。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述圖像比對單元具體用于，通過模板匹配法將每個區(qū)域的圖像與所述標準圖像進行比對。
【文檔編號】G02F1/1339GK103885217SQ201410086067
【公開日】2014年6月25日 申請日期:2014年3月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月10日
【發(fā)明者】羅鵬, 王賀, 劉響 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 合肥鑫晟光電科技有限公司