顯示面板的測試單元結(jié)構(gòu)與顯示面板的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其設置于顯示面板之周邊區(qū)域，其中多條第一導線與第二導線由顯示面板的顯示區(qū)域延伸至周邊區(qū)域，且第一導線與第二導線具有相同數(shù)量。測試單元結(jié)構(gòu)包括設于第一測試區(qū)之第一測試晶體管、設于第二測試區(qū)之第二測試晶體管以及第一短路棒。第一測試晶體管之漏極分別電性連接于第一導線，第一測試晶體管之源極分別電性連接于第一短路棒，第二測試晶體管之源極分別電性連接于第一測試晶體管之漏極，第二測試晶體管之漏極則分別電性連接于第二導線，且第一測試區(qū)位于第二測試區(qū)與顯示區(qū)域之間。
【專利說明】顯示面板的測試單元結(jié)構(gòu)與顯示面板

【技術領域】
[0001]本發(fā)明系關于一種測試單元結(jié)構(gòu)與包含該測試單元結(jié)構(gòu)的顯示面板，尤指一種能同時測試周邊區(qū)域與顯示區(qū)域之導線缺陷的測試單元結(jié)構(gòu)及包含該測試單元結(jié)構(gòu)的顯示面板。

【背景技術】
[0002]隨著科技發(fā)展，各種顯示面板已普遍應用于日常生活的各樣電子產(chǎn)品中。一般而言，顯示面板包含多個像素區(qū)域與多條導線，并通過這些導線傳送信號至各像素以顯示畫面。因此，在顯示面板的工藝中需要對導線進行測試以了解是否有斷線等缺陷。習知測試方式系在顯示面板之周邊區(qū)域設置與各導線電性連接的短路配線，在進行測試后另以雷射刀將短路配線切斷以使顯示面板能正常運作。然而，上述測試方式的缺點是必須多一道切斷短路配線之工序，且短路配線切斷后便無法再被利用，卻仍占用了部分面板空間。再者，由于導線在接近芯片處的線距會逐漸縮小，若欲在芯片附近對各導線另外設置測試元件，也會有空間不足之問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明之目的之一在于提供一測試單元結(jié)構(gòu)與包含該測試單元結(jié)構(gòu)之顯示面板，其中該測試單元結(jié)構(gòu)包含設置于不同位置之第一測試晶體管與第二測試晶體管，以提供能同時測試出導線在周邊區(qū)域與顯示區(qū)域之部分是否有缺陷之功能。
[0004]為達上述目的，本發(fā)明提供一種顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其至少設置于一顯示面板之一周邊區(qū)域，且該周邊區(qū)域位于該顯示面板之一顯示區(qū)域的至少一側(cè)，其中多條第一導線以及多條第二導線由該顯示區(qū)域延伸至該周邊區(qū)域，該些第一導線與該些第二導線具有相同數(shù)量，該測試單元結(jié)構(gòu)包括:多個第一測試晶體管，設于一第一測試區(qū)內(nèi)，其中該些第一測試晶體管之漏極分別電性連接于該些第一導線；多條第一短路棒(shortingbar)，其中該些第一測試晶體管之源極分別電性連接于該些第一短路棒；以及多個第二測試晶體管，設于一第二測試區(qū)，該第一測試區(qū)位于該第二測試區(qū)以及該顯示區(qū)域之間，其中該些第二測試晶體管之源極分別電性連接于該些第一測試晶體管之漏極，而該些第二測試晶體管之漏極分別電性連接于該些第二導線。
[0005]上述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其中該些第一測試晶體管位于該些第二測試晶體管以及該顯示區(qū)域之間。
[0006]上述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其另包括多條第二短路棒，各該第二短路棒分別電性連接于對應之該第二測試晶體管之漏極以及對應之該第二導線之間或電性連接于對應之該第一測試晶體管之漏極與對應之該第二測試晶體管之源極之間。
[0007]上述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其中該等第二測試晶體管系位于該些第二短路棒以及該些第一短路棒之間。
[0008]上述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其另包括一第一測試柵極線，電性連接于各該第一測試晶體管之柵極。
[0009]上述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其另包括一第二測試柵極線，電性連接于各該第二測試晶體管之柵極。
[0010]上述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其中該些第一導線與該些第二導線于一導線扇出區(qū)內(nèi)之部分系以不平行之方式并排，該導線扇出區(qū)位于該第一測試區(qū)與該第二測試區(qū)之間，在該導線扇出區(qū)內(nèi)，該些第一導線與該些第二導線之線距系由該導線扇出區(qū)鄰近于該第一測試區(qū)之一側(cè)向著鄰近于該第二測試區(qū)之一側(cè)縮小。
[0011]上述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其中該些第一測試晶體管、該些第二測試晶體管以及通過同一個該測試單元結(jié)構(gòu)之該些第一導線之數(shù)量系相同。
[0012]上述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其中該等第一導線之數(shù)量為等于或大于3。
[0013]為達到上述目的，本發(fā)明還提供一種顯示面板，其具有一顯示區(qū)域與一周圍區(qū)域，該顯示面板包括:多個上述之測試單元結(jié)構(gòu)，并排設于該周圍區(qū)域；一像素陣列，位于該顯示區(qū)域內(nèi)，該些第一導線以及該些第二導線系與該像素陣列電性連接；以及一芯片，與該些第一導線以及該些第二導線電性連接。
[0014]上述之顯示面板，另包括多個接合墊，各該接合墊分別電性連接于對應之該第一導線或該等第二導線與該芯片之間。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)與顯示面板之第一實施例的等效電路示意圖；
[0016]圖2為本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)之第一實施例的部分放大示意圖；
[0017]圖3為本發(fā)明顯示面板之第一實施例包含芯片的部分放大示意圖；
[0018]圖4為本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)與顯示面板之第二實施例的部分放大示意圖。其中，附圖標記:
[0019]10測試單元結(jié)構(gòu)12第一測試區(qū)
[0020]14第二測試區(qū)16第一短路棒區(qū)
[0021]20第二短路棒區(qū)
[0022]22、22a、22b、22c、22d、22e、22f 第一測試晶體管
[0023]221,241 源極222、242 漏極
[0024]223、243半導體通道層
[0025]24、24a、24b、24c、24d、24e、24f 第二測試晶體管
[0026]26、26a、26b、26c、26d、26e、26f 第一短路棒
[0027]28、28a、28b、28c、28d、28e、28f 第二短路棒
[0028]30第一測試柵極線32第二測試柵極線
[0029]100顯示面板102顯示區(qū)域
[0030]104周邊區(qū)域106基板
[0031]108、108a、108b、108c、108d、108e、108f 第一導線
[0032]110、110a、110b、110c、110d、110e、110f 第二導線
[0033]112導線扇出區(qū)114芯片設置區(qū)
[0034]116薄膜晶體管118液晶電容
[0035]120第三導線122像素
[0036]124、126 接合墊128 芯片
[0037]第二方向X第一方向Y

【具體實施方式】
[0038]為使熟習本發(fā)明所屬【技術領域】之一般技藝者能更進一步了解本發(fā)明，下文特列舉本發(fā)明之較佳實施例，并配合所附圖式，詳細說明本發(fā)明的構(gòu)成內(nèi)容及所欲達成之功效。
[0039]請參考圖1與圖2，圖1為本發(fā)明顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)與顯示面板之第一實施例的等效電路示意圖，而圖2為本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)的部分放大示意圖，其中本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)之各元件的詳細結(jié)構(gòu)設計與相對設置位置請參考圖2。本發(fā)明提供了顯示面板100與顯示面板100之測試單元結(jié)構(gòu)10。顯示面板100包括基板106，其表面定義有顯示區(qū)域102與周邊區(qū)域104，且周邊區(qū)域104位于顯示區(qū)域102的至少一側(cè)，如圖1所示，本實施例之周邊區(qū)域104位于顯示區(qū)域102的下側(cè)，但不以此為限。顯示面板100另包括多條第一導線108與多條第二導線110設置于基板106上，由顯示區(qū)域102延伸至周邊區(qū)域104，例如第一導線108與第二導線110系以平行于第一方向Y的方向延伸。在較佳實施例中，第一導線108與第二導線110具有相同之數(shù)量。顯示面板100還可包括多條第三導線120，第三導線120在顯示區(qū)域102內(nèi)沿著第二方向X延伸，在本實施例中，第一導線108與第二導線110為信號線，第三導線120為掃描線，因此第三導線120與各第一導線108、第二導線110相交而定義出多個像素區(qū)(也可稱為次像素區(qū))，而像素122分別位于像素區(qū)內(nèi)，但不以此為限。因此，顯示面板100可視為包括由多個像素122構(gòu)成之像素陣列，電性連接于第一導線108與第二導線110。舉例而言，本實施例之顯示面板100為一液晶顯示面板，各像素122內(nèi)包括薄膜晶體管116與液晶電容118，液晶電容118可由一共通電極與一像素電極及兩者之間所夾之絕緣層所構(gòu)成(圖未示)，其中當顯示面板100在操作時共通電極系被提供共通電壓，而像素電極電性連接于薄膜晶體管116的漏極，且各像素122分別用來產(chǎn)生紅光、藍光或綠光，但不以此為限。顯示面板100也可為其他各種顯示面板，且其像素122內(nèi)所包含之元件不受前述所限。此外，顯示面板100另包括設置于周邊區(qū)域104的導線扇出區(qū)112與芯片設置區(qū)114，其中芯片設置區(qū)114為預定設置芯片之位置，而導線扇出區(qū)112位于芯片設置區(qū)114與顯示區(qū)域102之間。第一導線108與第二導線110由顯示區(qū)域102延伸至周邊區(qū)域104后會經(jīng)過導線扇出區(qū)112再進入芯片設置區(qū)114。芯片設置區(qū)114內(nèi)設置有多個接合墊124、126，其中，較接近顯示區(qū)域102之接合墊124為輸出(output)接合墊，分別電性連接于一條第一導線108或第二導線110，用來將芯片的信號輸出給第一導線108與第二導線110，而設置于較遠離顯示區(qū)域102的接合墊126則為輸入(input)接合墊，用來將外部控制信號傳送給芯片。一般來說，在顯示區(qū)域102中，相鄰的任兩條第一導線108及/或第二導線110舉例系保持固定的線距，彼此平行排列，而第一導線108與第二導線110在導線扇出區(qū)112內(nèi)之部分的線距會由導線扇出區(qū)112鄰近于顯示區(qū)域102之一側(cè)向著鄰近于芯片設置區(qū)114之一側(cè)逐漸縮小，如圖2所示，亦即第一導線108與第二導線110在導線扇出區(qū)112的部分系以不平行之方式并排，在第一導線108與第二導線110進入芯片設置區(qū)114后再次平行并排，但此時導線之間的線距比在顯示區(qū)域102中的部分減少了許多。舉例而言，在顯示區(qū)域102內(nèi)的相鄰第一導線108及/或第二導線110之間的線距為20至40微米，可視為像素尺寸(pixel pitch)，而芯片設置區(qū)114中的第一導線108及/或第二導線110之間的線距為10至15微米，可視為接合墊間距(pad pitch)。
[0040]另一方面，本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)10系設置于顯示面板100的周邊區(qū)域104，用來測試顯示面板100的導線是否有缺陷，本實施例系以測試第一導線108與第二導線110為例而說明之。在本實施例中，顯示面板100包括數(shù)個測試單元結(jié)構(gòu)10，在周邊區(qū)域104依序并排設置。為簡化圖式并使圖式清晰易懂，圖1僅繪示出兩個測試單元結(jié)構(gòu)10，且測試單元結(jié)構(gòu)10的各元件間的彼此相對位置與連接關系請參考圖2。本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)10基本上區(qū)分為第一測試區(qū)12、第二測試區(qū)14以及可選擇性的再區(qū)分出第一短路棒區(qū)16與第二短路棒區(qū)20，其中第一測試區(qū)12系位于第二測試區(qū)14與顯示區(qū)域102之間，第一短路棒區(qū)16位于第一測試區(qū)12與第二測試區(qū)14之間，而第二短路棒區(qū)20位于第二測試區(qū)14之外側(cè)，即第二測試區(qū)14位于第二短路棒區(qū)20以及第一測試區(qū)12之間，且本實施例的第二測試區(qū)14與第二短路棒區(qū)20系位于顯示面板100的芯片設置區(qū)114內(nèi)，但不以此為限。此外，導線扇出區(qū)112系位于第一測試區(qū)12與第二測試區(qū)14之間。以最左邊的測試單元結(jié)構(gòu)10為例，單一個測試單元結(jié)構(gòu)10包括多個第一測試晶體管22、多條第一短路棒(shorting bar) 26與多個第二測試晶體管24，分別設置在第一測試區(qū)12、第一短路棒區(qū)16及第二測試區(qū)14，其中第一測試晶體管22與第二測試晶體管24舉例為薄膜晶體管，其薄膜堆疊結(jié)構(gòu)可類似于像素122中的薄膜晶體管116，且第一測試晶體管22較佳系位于第二測試晶體管24與顯示區(qū)域102之間。再者，本實施例之測試單元結(jié)構(gòu)10可選擇性地另包括第一測試柵極線30與第二測試柵極線32，分別設置在第一測試區(qū)12與第二測試區(qū)14，其中第一測試柵極線30與第二測試柵極線32之一部分分別用來當作第一測試晶體管22與第二測試晶體管24之柵極。根據(jù)本發(fā)明，第一測試晶體管22包括源極221、漏極222、半導體通道層223與柵極(第一測試柵極線30)，其中各第一測試晶體管22的漏極222分別電性連接于所對應之第一導線108，且第一測試晶體管22之源極221分別電性連接于第一短路棒26。第二測試晶體管24包括源極241、漏極242、半導體通道層243及柵極(第二測試柵極線32)，各第二測試晶體管24之源極241分別電性連接于對應之第一測試晶體管22之漏極222，而漏極242分別電性連接于第二導線110。此外，測試單元結(jié)構(gòu)10可選擇性地另包括多條第二短路棒28，各第二短路棒28分別電性連接于對應之第二測試晶體管24之漏極242以及對應之第二導線110之間，或電性連接于對應之第一測試晶體管22之漏極222與對應之第二測試晶體管24之源極241之間。
[0041]以下進一步說明在測試單元結(jié)構(gòu)10中各元件的相對電性連接關系。為便于說明，圖2中左邊第一條至第三條第一導線108分別以符號108a、108b、108c表不,左邊第一條至第三條第二導線110分別以符號110a、110b、IlOc表不。舉例而言,第一條第一導線108a與第二導線IlOa分別對應于用來產(chǎn)生第一種三原色光之像素122，例如紅光；第二條第一導線108b與第二導線IlOb分別對應于用來產(chǎn)生第二種三原色光之像素122，例如綠光，而第三條第一導線108c與第二導線IlOc分別對應于用來產(chǎn)生第三種三原色光之像素122，例如藍光，亦即第一條第一導線108a與第二導線IlOa對應于用來產(chǎn)生相同顏色光之像素122,第二條第一導線108b與第二導線I 1b對應于用來產(chǎn)生相同顏色光之像素122，第三條第一導線108c與第二導線IlOc對應于用來產(chǎn)生相同顏色光之像素122，但不以此為限。此外，對應電連接于第一導線108a、108b、108c之第一短路棒26由上至下分別以符號26a、26b、26c表示，且對應電連接于第一導線108a、108b、108c之第二短路棒28由上至下分別以符號28a、28b、28c表示，而對應電連接于第一導線108a、108b、108c之第一測試晶體管22由左至右依序以符號22a、22b、22c表示，但對應電連接于第二導線110a、110b、IlOc之第二測試晶體管24則分別為左側(cè)第一個第二測試晶體管24a，左側(cè)第三個第二測試晶體管24b與左側(cè)第二個第二測試晶體管24c。首先介紹左邊第一條第一導線108a所對應之元件，第一測試晶體管22a的漏極222同時電性連接于第一導線108a與第二測試晶體管24a的源極241，其中第一測試晶體管22a的漏極222系通過向下延伸經(jīng)過導線扇出區(qū)112而進入第二測試區(qū)14的第一導線108a以電性連接于第二測試晶體管24a的源極241，而第二測試晶體管24a的漏極242則電性連接于第二短路棒28a，并經(jīng)由第二短路棒28a再進一步電性連接于左側(cè)第一條第二導線110a，因此第二導線IlOa系對應于第一導線108a。在進行缺陷測試時，可以通過提供第一測試柵極線30與第二測試柵極線32各別的開關電壓與提供第一短路棒26a測試信號，以同時開啟第一測試晶體管22a與第二測試晶體管24a，由第一測試晶體管22a的漏極222傳送測試信號給第一導線108a與第二測試晶體管24a的源極241，再經(jīng)由第二測試晶體管24a的漏極242通過第二短路棒28a而傳送測試信號給對應的第二導線110a。此時,若第一導線108a為暗線,貝U可以得知第一導線108a由第一測試晶體管22a至顯示區(qū)域102之部分發(fā)生了缺陷，另一方面，若第二導線IlOa為暗線，則可以得知第二導線IlOa在顯示區(qū)域102的部分或在導線扇出區(qū)112之部分，或是第一導線108a在導線扇出區(qū)112之部分可能有缺陷。再以左側(cè)第二條第一導線108b所對應之元件為例繼續(xù)說明--第一測試晶體管22b的漏極222系電性連接于第一導線108b，并同時通過向下延伸依序經(jīng)過導線扇出區(qū)112、第二測試區(qū)14而進入第二短路棒區(qū)20的第一導線108b以電性連接于第二短路棒28b，再經(jīng)由第二短路棒28b而電性連接于第二測試晶體管24b的源極241，第二測試晶體管24b的漏極242則電性連接于對應的第二條第二導線110b，因此第二導線IlOb系對應于第一導線108b。其中，需特別注意第二測試晶體管24b之源極241與漏極242的電性連接對象與第二測試晶體管24a并不相同。因此，在進行缺陷測試時，可以通過提供第一測試柵極線30與第二測試柵極線32各別的開關電壓，并提供第一短路棒26b測試信號，以同時開啟第一測試晶體管22b與第二測試晶體管24b，由第一測試晶體管22b的漏極222傳送測試信號給第一導線108b與第二短路棒28b，再經(jīng)由第二短路棒28b傳送測試信號給第二測試晶體管24b的源極241，當?shù)诙y試晶體管24b開啟時，其漏極241可接收到測試信號而傳送給第二導線110b。此時，若第一導線108b為暗線，則可以得知第一導線108b為在第一測試晶體管22a至顯示區(qū)域102之部分有缺陷，另一方面，若第二導線IlOb為暗線，也可以得知第二導線IlOb在顯示區(qū)域102的部分或在導線扇出區(qū)112之部分，或是第一導線108b在導線扇出區(qū)112之部分可能有缺陷。至于第三條第一導線108c所對應之本實施例之測試單元結(jié)構(gòu)10之各元件類似于第一條第一導線108a，不再贅述。據(jù)此，由于各第一測試晶體管22與第二測試晶體管24會分別對應于一條第一導線108與一條第二導線110，第一測試晶體管22與第二測試晶體管24會與同一個測試單元結(jié)構(gòu)10所要測試的第一導線108與第二導線110的數(shù)量相同，進一步地，在同一個測試單元結(jié)構(gòu)10中，第一短路棒26與第二短路棒28的數(shù)量也會相同于第一測試晶體管22的數(shù)量。然而，需注意的是，顯示面板10可同時包括數(shù)個本實施例測試單元結(jié)構(gòu)10，而各測試單元結(jié)構(gòu)10可以共用第一短路棒26，所以，在顯示面板100中，本實施例之第一短路棒26的總數(shù)量只有三條，相當于各測試單元結(jié)構(gòu)10中第一測試晶體管22的數(shù)量，然而，各測試單元結(jié)構(gòu)10分別有三條第二短路棒28，所以顯示面板100之第二短路棒28的總數(shù)量大于第一短路棒26的總數(shù)量。
[0042]由上述可知，經(jīng)由測試單元結(jié)構(gòu)10的第一測試晶體管22、第二測試晶體管24及第一短路棒26及其他相配合的元件設置，可以直接以測試單元結(jié)構(gòu)10測試第一導線108與第二導線110在顯示區(qū)域102及周邊區(qū)域104(包括導線扇出區(qū)112)是否有缺陷，并且，在測試后不需另外以雷射刀切斷任何測試單元結(jié)構(gòu)10的線路或元件，能節(jié)省工藝成本，甚至在裝上芯片后，仍可能繼續(xù)利用第一測試晶體管22與第二測試晶體管24等元件進行后續(xù)的其他測試，例如信號測試。再者，雖然導線扇出區(qū)112內(nèi)的第一導線108與第二導線110的線距系由鄰近于第一測試區(qū)12之一側(cè)向鄰近于第二測試區(qū)14之一側(cè)逐漸縮小，使得第二測試區(qū)14中的第一導線108與第二導線110之間的線距比顯示區(qū)域102縮小很多，但因為第二測試區(qū)14內(nèi)系每間隔一條第一導線108或第二導線110才設置一個第二測試晶體管24，所以即使在接觸墊間距小至10至15微米的情況下，仍有足夠之空間設置第二測試晶體管24。據(jù)此，本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)10的第一測試晶體管22、第二測試晶體管24、第一短路棒26及第二短路棒28對應于第一導線108與第二導線110的相對連接關系與設置位置之設計不僅能以有效的方式測試導線的整體缺陷問題，也可以同時兼顧第二測試晶體管24及其他元件的設置空間問題。
[0043]請參考圖3，圖3為本發(fā)明顯示面板之第一實施例包含芯片的部分放大示意圖，其中圖3所繪示范圍對應于圖2。在圖3中，本發(fā)明顯示面板100另包含了芯片128，設置在芯片設置區(qū)114，其覆蓋了第二測試區(qū)14與第二短路棒區(qū)20之至少一部份，且芯片128內(nèi)的邏輯電路會分別與對應的接合墊124、126電性連接，使得各接合墊124、126可分別電性連接于對應之第一導線108或第二導線110與芯片128之間。需注意的是，由于芯片128覆蓋了芯片設置區(qū)114，為簡化圖式并使圖式清晰易懂，因此圖3僅以虛線繪示出接合墊124、126作為示意，而省略了第二測試區(qū)14與第二短路棒區(qū)20中其他的元件。
[0044]本發(fā)明之顯示面板與測試單元結(jié)構(gòu)并不以上述實施例為限。下文將繼續(xù)揭示本發(fā)明之其他實施例，然為了簡化說明并突顯各實施例之間的差異，下文中使用相同標號標注相同元件，并不再對重復部分作贅述。
[0045]請參考圖4，圖4為本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)與顯示面板之第二實施例的部分放大示意圖。本實施例與前一實施例之主要不同處在于，單一測試單元結(jié)構(gòu)10包括六個第一測試晶體管 22a、22b、22c、22d、22e、22f，分別對應于六條第一導線 108a、108b、108c、108d、108e、108f、六條第一短路棒 26&、2613、26(:、26(1、266、26€、六個第二測試晶體管 24a、24b、24c、24d、24e、24f、六條第二短路棒 28a、28b、28c、28d、28e、28f 及六條第二導線 110a、110b、110c、110d、110e、110f。其中，第一導線108a、108c、108e所對應之測試單元結(jié)構(gòu)10的元件之連接關系類似于第一實施例的第一導線108a、108c，而第一導線108b、108d、108f所對應之測試單元結(jié)構(gòu)10的元件之連接關系類似于第一實施例的第一導線108b，且測試各導線的方法也可參考第一實施例，因此不再贅述。此外，本實施例之測試單元結(jié)構(gòu)10同樣可應用于本發(fā)明顯示面板100中，類似于圖1所示，顯示面板100可同時包含多個測試單元結(jié)構(gòu)10，并排設置于顯示面板100的周邊區(qū)域104。
[0046]值得注意的是，本實施例各測試單元結(jié)構(gòu)10中用來測試與對應的第一導線108與第二導線110的數(shù)量可依需要而設計。由于一般液晶顯示面板是以能產(chǎn)生紅光、綠光及藍光之三種(次)像素122來顯示圖案，因此單一測試單元結(jié)構(gòu)10所對應之第一導線108之數(shù)量為大于或等于3，例如為3的倍數(shù)，而第二導線110、第一測試晶體管22與第二測試晶體管24的數(shù)量則分別相同于第一導線108之數(shù)量，但不以此為限。例如，若(次)像素的設計包括紅光、綠光、藍光及白光四種，則第一導線108之數(shù)量則為4的倍數(shù)，而單一測試單元結(jié)構(gòu)10所對應之第一導線108之數(shù)量為大于或等于4，例如為4的倍數(shù)。在本發(fā)明的概念下，單一測試單元結(jié)構(gòu)10所對應之第一導線108、第二導線110、第一測試晶體管22與第二測試晶體管24之數(shù)量可視每一像素由幾個次像素構(gòu)成而決定，舉例來說，當每一像素由η個次像素構(gòu)成時，單一測試單元結(jié)構(gòu)10所對應之第一導線108、第二導線110、第一測試晶體管22與第二測試晶體管24之數(shù)量可為η，η+1, η+2, η+3…或是η的正整數(shù)倍數(shù)。
[0047]如前所述，本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)之測試晶體管被區(qū)分為兩組，分別為鄰近顯示區(qū)域設置的第一測試晶體管以及設置在導線扇出區(qū)外側(cè)的第二測試晶體管，其中通過第二測試晶體管電性連接于對應之第一導線與第二導線，可以同時測試第一導線與第二導線在顯示區(qū)域與包括導線扇出部的周邊區(qū)域之部分是否有缺陷。并且，根據(jù)本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)之元件相對連接關系，第二測試晶體管與第一測試晶體管的各別數(shù)量都只為第一導線與第二導線總數(shù)量之一半，可以節(jié)省設置空間，即使在接合墊間隙較小的芯片設置區(qū)也能設置足夠數(shù)量的第二測試晶體管，能兼顧完整測試導線缺陷與空間設置之問題。同時，包含本發(fā)明測試單元結(jié)構(gòu)之顯示面板在測試后不需另外進行雷射刀切斷測試短路線之工藝，能進一步節(jié)省工藝成本，并且，留在顯示面板上的測試單元結(jié)構(gòu)仍能提供后續(xù)其他測試程序中所需的可能線路與元件。
[0048]以上所述僅為本發(fā)明之較佳實施例，凡依本發(fā)明申請專利范圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發(fā)明之涵蓋范圍。
【權利要求】
1.一種顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其特征在于，其至少設置于一顯示面板之一周邊區(qū)域，且該周邊區(qū)域位于該顯示面板之一顯示區(qū)域的至少一側(cè)，其中多條第一導線以及多條第二導線由該顯示區(qū)域延伸至該周邊區(qū)域，該些第一導線與該些第二導線具有相同數(shù)量，該測試單元結(jié)構(gòu)包括: 多個第一測試晶體管，設于一第一測試區(qū)內(nèi)，其中該些第一測試晶體管之漏極分別電性連接于該些第一導線； 多條第一短路棒(shorting bar),其中該些第一測試晶體管之源極分別電性連接于該些第一短路棒；以及 多個第二測試晶體管，設于一第二測試區(qū)，該第一測試區(qū)位于該第二測試區(qū)以及該顯示區(qū)域之間，其中該些第二測試晶體管之源極分別電性連接于該些第一測試晶體管之漏極，而該些第二測試晶體管之漏極分別電性連接于該些第二導線。
2.如權利要求1所述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其特征在于，其中該些第一測試晶體管位于該些第二測試晶體管以及該顯示區(qū)域之間。
3.如權利要求1所述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其特征在于，其另包括多條第二短路棒，各該第二短路棒分別電性連接于對應之該第二測試晶體管之漏極以及對應之該第二導線之間或電性連接于對應之該第一測試晶體管之漏極與對應之該第二測試晶體管之源極之間。
4.如權利要求3所述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其特征在于，其中該等第二測試晶體管系位于該些第二短路棒以及該些第一短路棒之間。
5.如權利要求1所述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其特征在于，其另包括一第一測試柵極線，電性連接于各該第一測試晶體管之柵極。
6.如權利要求5所述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其特征在于，其另包括一第二測試柵極線，電性連接于各該第二測試晶體管之柵極。
7.如權利要求1所述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其特征在于，其中該些第一導線與該些第二導線于一導線扇出區(qū)內(nèi)之部分系以不平行之方式并排，該導線扇出區(qū)位于該第一測試區(qū)與該第二測試區(qū)之間，在該導線扇出區(qū)內(nèi)，該些第一導線與該些第二導線之線距系由該導線扇出區(qū)鄰近于該第一測試區(qū)之一側(cè)向著鄰近于該第二測試區(qū)之一側(cè)縮小。
8.如權利要求1所述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其特征在于，其中該些第一測試晶體管、該些第二測試晶體管以及通過同一個該測試單元結(jié)構(gòu)之該些第一導線之數(shù)量系相同。
9.如權利要求1所述之顯示面板之測試單元結(jié)構(gòu)，其特征在于，其中該等第一導線之數(shù)量為等于或大于3。
10.一種顯示面板，其特征在于，其具有一顯示區(qū)域與一周圍區(qū)域，該顯示面板包括: 多個如權利要求1所述之測試單元結(jié)構(gòu)，并排設于該周圍區(qū)域； 一像素陣列，位于該顯示區(qū)域內(nèi)，該些第一導線以及該些第二導線系與該像素陣列電性連接；以及 一芯片，與該些第一導線以及該些第二導線電性連接。
11.如權利要求10所述之顯示面板，其特征在于，另包括多個接合墊，各該接合墊分別電性連接于對應之該第一導線或該等第二導線與該芯片之間。
【文檔編號】G02F1/1333GK104332122SQ201410589356
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2014年10月28日 優(yōu)先權日:2014年9月16日
【發(fā)明者】張正良, 汪砡華, 彭彥毓, 楊哲銘 申請人:友達光電股份有限公司