一種陣列基板及其檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種陣列基板及其檢測(cè)方法。所述陣列基板包括顯示區(qū)和檢測(cè)區(qū)，在第一檢測(cè)狀態(tài)下，將第一至第六檢測(cè)線路分成三組，依次向所述三組檢測(cè)線路提供第一檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)每行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷；在第二檢測(cè)狀態(tài)下，將第一至第六檢測(cè)線路分成兩組，依次向所述兩組檢測(cè)線路提供第二檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。
【專利說明】
一種陣列基板及其檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地說，涉及一種用于檢測(cè)顯示面板方法和顯示面板。
【背景技術(shù)】
[0002]在傳統(tǒng)的顯示面板線路設(shè)計(jì)中，通常會(huì)在顯示區(qū)域的外側(cè)設(shè)計(jì)有環(huán)繞面板的稱為短路桿(Shorting Bar)的外圍走線，并將掃描線按照奇數(shù)(ODD)和偶數(shù)(EVEN)分別引出至外圍走線，即整個(gè)面板上的奇數(shù)和偶數(shù)掃描線在顯示區(qū)域的外圍各自短接在一起。這種設(shè)計(jì)是為了在TFT制程的檢測(cè)環(huán)節(jié)中，可以通過給奇數(shù)和偶數(shù)掃描線不同的電訊號(hào)來檢查顯示面板內(nèi)是否存在短路或斷路的情況，配合不同的數(shù)據(jù)信號(hào)還可以檢查出其他類型的不良。短路桿(Shorting Bar)在檢測(cè)后被斷開或去除，不會(huì)影響到成品的正常顯示。
[0003]為了改善垂直取向液晶顯示器在大視角出現(xiàn)的色偏現(xiàn)象，會(huì)采用充電共享(Charge Sharing)的像素設(shè)計(jì)方案。圖1為現(xiàn)有技術(shù)中具有短路桿的充電共享陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖。采用第N+2行充電掃描線(Charge Gate Line)信號(hào)來控制第N行電荷共享掃描線(Share Gate Line)的開啟和關(guān)閉。如果第N行的充電掃描線和電荷共享掃描線之間發(fā)生短路，由于第N行的共享掃描線與后面第N+2行的充電掃描線相連，使得二者在順序上皆為奇數(shù)或偶數(shù)，那么通過上述奇偶行分別引出短路桿的檢測(cè)方式并無法在TFT制程段檢出上述短路缺陷。只能依靠成盒(Cell)點(diǎn)燈甚至成品檢測(cè)的方式方能檢出，導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)水平掃描線不良，良率降低。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)中還提供一種在短路桿區(qū)域設(shè)置三條檢測(cè)線路的陣列基板，如圖2所示。檢測(cè)線路G1、G2和G3依次連接至顯示區(qū)域中的連續(xù)三行充電掃描線，并向三條檢測(cè)線路依次提供檢測(cè)信號(hào)。這種方案能夠檢測(cè)同一行中充電掃描線和電荷共享掃描線之間的短路缺陷，但檢測(cè)方式更加復(fù)雜、耗時(shí)更長(zhǎng)。特別是產(chǎn)品批量生產(chǎn)量后，由于各項(xiàng)制程已逐步穩(wěn)定，上述短路缺陷出現(xiàn)的幾率極低，繼續(xù)采用該方案就會(huì)導(dǎo)致檢測(cè)效率低下，影響產(chǎn)能。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是現(xiàn)有技術(shù)中TFT制程階段檢測(cè)方式單一，并不能根據(jù)產(chǎn)品生產(chǎn)各個(gè)時(shí)期的良率狀況切換檢測(cè)方式，檢測(cè)效率較低的缺陷。
[0006]為了解決上述技術(shù)問題，本申請(qǐng)的實(shí)施例提供一種陣列基板，包括:
[0007]顯示區(qū)，其包括若干行子區(qū)域，每行子區(qū)域設(shè)置充電線和共享線，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號(hào)增加值為偶數(shù)的子區(qū)域的充電線；
[0008]檢測(cè)區(qū)，其包括第一至第六檢測(cè)線路，所述第一至第六檢測(cè)線路一一對(duì)應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線；
[0009]其中，在第一檢測(cè)狀態(tài)下，將第一至第六檢測(cè)線路分成三組，依次向所述三組檢測(cè)線路提供第一檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)每行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷；
[0010]在第二檢測(cè)狀態(tài)下，將第一至第六檢測(cè)線路分成兩組，依次向所述兩組檢測(cè)線路提供第二檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。
[0011]在一個(gè)實(shí)施例中，在第一檢測(cè)狀態(tài)下，所述三組檢測(cè)線路分別為第一和第四檢測(cè)線路、第二和第五檢測(cè)線路、第三和第六檢測(cè)線路。
[0012]在一個(gè)實(shí)施例中，在第二檢測(cè)狀態(tài)下，所述兩組檢測(cè)線路分別為第一、第三和第五檢測(cè)線路，以及第二、第四和第六檢測(cè)線路。
[0013]在一個(gè)實(shí)施例中，所述第一檢測(cè)信號(hào)有效時(shí)，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)差值為3的倍數(shù)。
[0014]在一個(gè)實(shí)施例中，所述偶數(shù)為2或者4。
[0015]本申請(qǐng)的實(shí)施例還提供一種用于檢測(cè)陣列基板的方法，所述陣列基板包括顯示區(qū)和檢測(cè)區(qū)，所述顯示區(qū)包括若干行子區(qū)域，每行子區(qū)域設(shè)置充電線和共享線，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號(hào)增加值為偶數(shù)的子區(qū)域的充電線；
[0016]所述檢測(cè)區(qū)包括第一至第六檢測(cè)線路，所述第一至第六檢測(cè)線路一一對(duì)應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線；
[0017]所述方法包括以下步驟:
[0018]在第一檢測(cè)狀態(tài)下，將所述第一至第六檢測(cè)線路分成三組，依次向所述三組檢測(cè)線路提供第一檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)每行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷；
[0019]在第二檢測(cè)狀態(tài)下，將所述第一至第六檢測(cè)線路分成兩組，依次向所述兩組檢測(cè)線路提供第二檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。
[0020]在一個(gè)實(shí)施例中，在第一檢測(cè)狀態(tài)下，所述三組檢測(cè)線路分別為第一和第四檢測(cè)線路、第二和第五檢測(cè)線路、第三和第六檢測(cè)線路。
[0021]在一個(gè)實(shí)施例中，在第二檢測(cè)狀態(tài)下，所述兩組檢測(cè)線路分別為第一、第三和第五檢測(cè)線路，以及第二、第四和第六檢測(cè)線路。
[0022]在一個(gè)實(shí)施例中，所述第一檢測(cè)信號(hào)有效時(shí)，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)差值為3的倍數(shù)。
[0023]在一個(gè)實(shí)施例中，所述偶數(shù)為2或者4。
[0024]本發(fā)明的有益效果在于，在檢測(cè)區(qū)域中設(shè)置6條檢測(cè)線路，提供兩種檢測(cè)狀態(tài)，在兩種狀態(tài)下為6條檢測(cè)線路提供不同的檢測(cè)信號(hào)，產(chǎn)生不同的檢測(cè)效果?？梢愿鶕?jù)TFT制程階段的生產(chǎn)狀況在兩種檢測(cè)狀態(tài)下進(jìn)行切換，提高檢測(cè)效率和檢測(cè)精度。
[0025]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在說明書、權(quán)利要求書以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)和獲得。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0026]附圖用來提供對(duì)本申請(qǐng)技術(shù)方案或現(xiàn)有技術(shù)的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，但并不構(gòu)成對(duì)本申請(qǐng)技術(shù)方案的限制。
[0027]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中具有短路桿的充電共享陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖；
[0028]圖2是現(xiàn)有技術(shù)中另一種具有短路桿的充電共孚陣列基板的線路結(jié)構(gòu)不意圖；
[0029]圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例一的陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖。
[0030]圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例二的陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0031]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)說明。本申請(qǐng)實(shí)施例以及實(shí)施例中的各個(gè)特征，在不相沖突的前提下可以相互結(jié)合，所形成的技術(shù)方案均在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
[0032]本發(fā)明所提到的方向用語(yǔ)，例如“上”、“下”、“左”、“右”、“前面”、“后面”等，僅僅是參考附加圖式的方向。因此，使用的方向用語(yǔ)是用以說明和理解本發(fā)明，而非用以限制本發(fā)明。
[0033]實(shí)施例一
[0034]圖3是本實(shí)施例提供的陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖。該陣列基板包括顯示區(qū)301和檢測(cè)區(qū)302，檢測(cè)區(qū)302設(shè)置于顯示區(qū)301的一側(cè)。
[0035]顯示區(qū)301中設(shè)置多行子區(qū)域3011，這些子區(qū)域以陣列的形式排列，以在制程后期形成亞像素陣列。每行子區(qū)域中設(shè)置充電線和掃描線，并且，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號(hào)增加值為2的子區(qū)域的充電線，即每行子區(qū)域的充電線為前面相隔一行的共享線提供信號(hào)。
[0036]舉例而言，如圖3所示，第N行子區(qū)域設(shè)置充電線C (N)和共享線S (N)，第N_2行子區(qū)域設(shè)置充電線C(N-2)和共享線S(N-2)，其中，第N-2行共享線S(N-2)連接至第N行充電線C (N)，從而使用充電線C(N)上的掃描信號(hào)來控制共享線S (N-2)的開啟或者關(guān)閉。
[0037]檢測(cè)區(qū)302中設(shè)置第一至第六檢測(cè)線路Gl?G6，用于向顯示區(qū)301提供檢測(cè)信號(hào)，以完成對(duì)顯示區(qū)301中充電線和掃描線的缺陷檢測(cè)。檢測(cè)線路Gl?G6——對(duì)應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線。在圖3的示例中，第一檢測(cè)線路Gl連接至第N+2行子區(qū)域的充電線C(N+2)，第二檢測(cè)線路G2連接至第N+1行子區(qū)域的充電線C(N+1)，類似的，第三至第六檢測(cè)線路G3?G6分別連接至第N行、第N-1行、第N-2行和第N-3行子區(qū)域的充電線。
[0038]以下對(duì)本實(shí)施例中提供的陣列基板檢測(cè)方法做詳細(xì)說明。
[0039]在陣列基板的量產(chǎn)初期，由于制程環(huán)境的清潔程度較差，諸如灰塵顆粒的微粒對(duì)光刻、曝光的制程操作造成影響，導(dǎo)致每行子區(qū)域中的充電線和掃描線之間容易出現(xiàn)短路缺陷。這種短路缺陷可能出現(xiàn)在顯示區(qū)的子區(qū)域中，也可能出現(xiàn)在子區(qū)域外部的線路橋接區(qū)域。例如，如圖3所示，第N行子區(qū)域內(nèi)部的短路位置307處出現(xiàn)充電線C(N)和共享線S(N)之間的短路，或者第N+1行子區(qū)域外部的短路位置308處出現(xiàn)充電線C(N+1)和共享線S(N+1)之間的短路。
[0040]在這種情況下，采用第一檢測(cè)狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)。將第一至第六檢測(cè)線路Gl?G6分成三組，即Gl和G4為第一組，G2和G5為第二組，G3和G6為第三組。依次向這三組掃描線路提供第一檢測(cè)信號(hào)。
[0041]第一檢測(cè)信號(hào)可以包括連續(xù)三個(gè)檢測(cè)時(shí)間段Tl、T2和T3。
[0042]在Tl時(shí)間段內(nèi)向檢測(cè)線路Gl和G4提供檢測(cè)信號(hào)，這時(shí)在G2、G5和G3、G6上不存在檢測(cè)信號(hào)。正常情況下，第N+2行充電線C(N+2)和第N行共享線S(N)能夠接收到來自檢測(cè)線路Gl的第一檢測(cè)信號(hào)，同樣地，第N-1行充電線C(N-1)和第N-3行共享線S(N-3)能夠接收到來自檢測(cè)線路G4的第一檢測(cè)信號(hào)。進(jìn)一步來說，第N+5行充電線C(N+5)和第N+3行共享線S(N+3)也能夠接收到來自檢測(cè)線路G4的第一檢測(cè)信號(hào)。也就是說，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)為Ν-1、Ν+2和N+5，行號(hào)的差值為3或者6。
[0043]若在陣列基板的短路位置307處存在短路缺陷，則由于第N行充電線C(N)與共享線S(N)短路連接，第N行充電線C(N)上也能夠接收到第一檢測(cè)信號(hào)，進(jìn)而從檢測(cè)線路G3上接收到第一檢測(cè)信號(hào)。這樣以來，本實(shí)施例的檢測(cè)方法能夠檢測(cè)到第N行子區(qū)域中充電線和共享線的短路缺陷。
[0044]容易理解，在Tl時(shí)間段內(nèi)，若第N+2行充電線C(N+2)或者第N行共享線S(N)不能接收到第一檢測(cè)信號(hào)，則說明充電線C(N+2)或者共享線S(N)出現(xiàn)了斷路。
[0045]在T2時(shí)間段內(nèi)向檢測(cè)線路G2和G5提供檢測(cè)信號(hào)，這時(shí)在G1、G4和G3、G6上不存在檢測(cè)信號(hào)。正常情況下，第N+1行充電線C(N+1)和第N-1行共享線S(N-1)能夠接收到來自G2的第一檢測(cè)信號(hào)，第N-2行充電線C(N-2)和第N-4行共享線S(N_4)能夠接收到來自G5的第一檢測(cè)信號(hào)。也就是說，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)為N+1和N-2，行號(hào)的差值為3。
[0046]若在陣列基板的短路位置308處存在短路缺陷，則由于第N+3行充電線C(N+3)與共享線S(N+1)短路連接，第N+3行充電線C(N+3)上也能夠接收到第一檢測(cè)信號(hào)，進(jìn)而從檢測(cè)線路G6上接收到第一檢測(cè)信號(hào)。這樣以來，本實(shí)施例的檢測(cè)方法能夠檢測(cè)到第N+1行子區(qū)域中充電線和共享線的短路缺陷。
[0047]容易理解，在T2時(shí)間段內(nèi)，若第N+1行充電線C(N+1)或者第N_1行共享線S(N_l)不能接收到第一檢測(cè)信號(hào)，則說明充電線C(N+1)或者共享線S(N-1)出現(xiàn)了斷路。
[0048]類似的，在T3時(shí)間段內(nèi)向檢測(cè)線路G3和G6提供檢測(cè)信號(hào)，這時(shí)在Gl、G4和G2、G5上不存在檢測(cè)信號(hào)，可以檢測(cè)第N-1行子區(qū)域中充電線和共享線的短路缺陷。
[0049]因此，可以在第一檢測(cè)狀態(tài)下完成精確檢測(cè)，能夠提高陣列基板中短路缺陷的檢出率。但是這一狀態(tài)下需要的檢測(cè)時(shí)間較長(zhǎng)，效率較低。
[0050]在批量生產(chǎn)階段，制程條件趨于穩(wěn)定，每行子區(qū)域中的充電線和掃描線之間很少會(huì)出現(xiàn)短路缺陷，在這種情況下，如果繼續(xù)按照第一種檢測(cè)狀態(tài)操作，導(dǎo)致檢測(cè)效率低下。本實(shí)施例中還提供第二檢測(cè)狀態(tài)來快速完成檢測(cè)。
[0051]在第二檢測(cè)狀態(tài)下，將第一至第六檢測(cè)線路Gl?G6分成兩組，即Gl、G3和G5為第一組，G2、G4和G6為第二組，并依次向這兩組掃描線路提供第二檢測(cè)信號(hào)。第二檢測(cè)信號(hào)可以包括連續(xù)兩個(gè)檢測(cè)時(shí)間段Tl和T2。
[0052]在Tl時(shí)間段內(nèi)向檢測(cè)線路G1、G3和G5提供第二檢測(cè)信號(hào)，這時(shí)在G2、G4和G6上不存在檢測(cè)信號(hào)。若第N行和第N-1行子區(qū)域的充電線中發(fā)生短路，在充電線C(N-1)上接收到來自G3的第二檢測(cè)信號(hào)，進(jìn)而在檢測(cè)線路G4上接收到第二檢測(cè)信號(hào)。從而能夠檢測(cè)出相鄰行子區(qū)域中充電線的短路缺陷。
[0053]在T2時(shí)間段內(nèi)向G2、G4和G6提供第二檢測(cè)信號(hào)，這時(shí)在G1、G3和G5上不存在檢測(cè)信號(hào)。類似地也能夠檢測(cè)到相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。
[0054]這種檢測(cè)狀態(tài)的檢測(cè)效率較高，與第一檢測(cè)狀態(tài)相比能夠提高產(chǎn)能。這種檢測(cè)狀態(tài)下，通過給奇數(shù)和偶數(shù)掃描線不同的電訊號(hào)來檢查陣列基板內(nèi)是否存在短路或斷路的情況，配合不同的數(shù)據(jù)信號(hào)還可以檢查出其他類型的不良。
[0055]本實(shí)施例針對(duì)N+2充電共享型陣列基板，在檢測(cè)區(qū)域設(shè)置6條檢測(cè)線路，提供兩種檢測(cè)狀態(tài)，在兩種狀態(tài)下為6條檢測(cè)線路提供不同的檢測(cè)信號(hào)，產(chǎn)生不同的檢測(cè)效果。因而可以根據(jù)生產(chǎn)狀況在兩種檢測(cè)狀態(tài)下進(jìn)行切換，提高檢測(cè)效率。
[0056]實(shí)施例二
[0057]圖4是本實(shí)施例提供的陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖。該陣列基板包括顯示區(qū)401和檢測(cè)區(qū)402，檢測(cè)區(qū)402設(shè)置于顯示區(qū)401的一側(cè)。第一至第六檢測(cè)線路Gl?G6—一對(duì)應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線。
[0058]與實(shí)施例一不同的是，本實(shí)施例中，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號(hào)增加值為4的子區(qū)域的充電線，即每行子區(qū)域的充電線為前面相隔三行的共享線提供信號(hào)。例如，在圖4中，第N-3行子區(qū)域的共享線S (N-3)連接至第N+1行子區(qū)域的充電線C(N+1)，從而使用充電線C(N+1)上的掃描信號(hào)來控制共享線S(N-3)的開啟或者關(guān)閉。
[0059]以下對(duì)本實(shí)施例中提供的陣列基板檢測(cè)方法做詳細(xì)說明。
[0060]在陣列基板的量產(chǎn)初期，每行子區(qū)域中的充電線和掃描線之間容易出現(xiàn)短路缺陷。采用第一檢測(cè)狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)檢測(cè)線路Gl?G6的分組情況與實(shí)施例一完全一致，且依次向三組掃描線路提供的第一檢測(cè)信號(hào)與實(shí)施例一也完全一致。
[0061]在Tl時(shí)間段內(nèi)，向檢測(cè)線路Gl和G4提供第一檢測(cè)信號(hào)，這時(shí)在G2、G5和G3、G6上不存在檢測(cè)信號(hào)。
[0062]與實(shí)施例一不同的是，正常情況下，第N+2行充電線C(N+2)和第N-2行共享線S(N-2)能夠接收到來自檢測(cè)線路Gl的第一檢測(cè)信號(hào)，同樣地，第N-1行充電線C(N-1)和第N-5行共享線S(N-5)能夠接收到來自檢測(cè)線路G4的第一檢測(cè)信號(hào)。進(jìn)一步來說，第N+5行充電線C(N+5)和第N+1行共享線S(N+1)也能夠接收到來自檢測(cè)線路G4的第一檢測(cè)信號(hào)。也就是說，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)為Ν-1、Ν+2和N+5，行號(hào)的差值為3或者6。
[0063]若在陣列基板的短路位置408處存在短路缺陷，則由于充電線C(N+1)與共享線S(N+1)短路連接，第N+1行充電線C(N+1)上也能夠接收到第一檢測(cè)信號(hào)，進(jìn)而從檢測(cè)線路G2上接收到第一檢測(cè)信號(hào)。這樣以來，本實(shí)施例的檢測(cè)方法能夠檢測(cè)到第N+1行子區(qū)域外部線路橋接區(qū)域的充電線和共享線的短路缺陷。
[0064]類似地，在T2時(shí)間段內(nèi)檢測(cè)線路G2和G5提供第一檢測(cè)信號(hào)，這時(shí)在G1、G4和G3、G6上不存在檢測(cè)信號(hào)。
[0065]與實(shí)施例一不同的是，在正常情況下，第N+1行充電線C(N+1)和第N-3行共享線S(N-3)能夠接收到來自G2的第一檢測(cè)信號(hào)，第N+4行充電線C(N+4)和第N行共享線S(N)能夠接收到來自G5的第一檢測(cè)信號(hào)。也就是說，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)為N+4和N+1,行號(hào)的差值為3。
[0066]若在陣列基板的短路位置407處存在短路缺陷，則由于充電線C (N)與共享線S (N)短路連接，第N行充電線C (N)上也能夠接收到第一檢測(cè)信號(hào)，進(jìn)而從檢測(cè)線路G3上接收到第一檢測(cè)信號(hào)。這樣以來，本實(shí)施例的檢測(cè)方法能夠檢測(cè)到第N行子區(qū)域中充電線和共享線的短路缺陷。
[0067]類似的，在T3時(shí)間段內(nèi)向檢測(cè)線路G3和G6提供檢測(cè)信號(hào)，這時(shí)在Gl、G4和G2、G5上不存在檢測(cè)信號(hào)。
[0068]在批量生產(chǎn)階段，采用第二檢測(cè)狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)檢測(cè)線路Gl?G6的分組情況與實(shí)施例一完全一致，且依次向兩組掃描線路提供的第二檢測(cè)信號(hào)和檢測(cè)方法與實(shí)施例一也完全一致。不再贅述。
[0069]本實(shí)施例針對(duì)N+4充電共享型陣列基板，在檢測(cè)區(qū)域設(shè)置6條檢測(cè)線路，提供兩種檢測(cè)狀態(tài)，在兩種狀態(tài)下為6條檢測(cè)線路提供不同的檢測(cè)信號(hào)，產(chǎn)生不同的檢測(cè)效果。因而可以根據(jù)生產(chǎn)狀況在兩種檢測(cè)狀態(tài)下進(jìn)行切換，提高檢測(cè)效率。
[0070]雖然本發(fā)明所公開的實(shí)施方式如上，但所述的內(nèi)容只是為了便于理解本發(fā)明而采用的實(shí)施方式。任何本發(fā)明所屬【技術(shù)領(lǐng)域】?jī)?nèi)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明所公開的精神和范圍的前提下，可以在實(shí)施的形式上及細(xì)節(jié)上作任何的修改與變化，但本發(fā)明的專利保護(hù)范圍，仍須以所附的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種陣列基板，其特征在于，包括: 顯示區(qū)，其包括若干行子區(qū)域，每行子區(qū)域設(shè)置充電線和共享線，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號(hào)增加值為偶數(shù)的子區(qū)域的充電線； 檢測(cè)區(qū)，其包括第一至第六檢測(cè)線路，所述第一至第六檢測(cè)線路一一對(duì)應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線； 其中，在第一檢測(cè)狀態(tài)下，將第一至第六檢測(cè)線路分成三組，依次向所述三組檢測(cè)線路提供第一檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)每行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷； 在第二檢測(cè)狀態(tài)下，將第一至第六檢測(cè)線路分成兩組，依次向所述兩組檢測(cè)線路提供第二檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，在第一檢測(cè)狀態(tài)下，所述三組檢測(cè)線路分別為第一和第四檢測(cè)線路、第二和第五檢測(cè)線路、第三和第六檢測(cè)線路。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，在第二檢測(cè)狀態(tài)下，所述兩組檢測(cè)線路分別為第一、第三和第五檢測(cè)線路，以及第二、第四和第六檢測(cè)線路。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述第一檢測(cè)信號(hào)有效時(shí)，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)差值為3的倍數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2至4中任一項(xiàng)所述的陣列基板，其特征在于，所述偶數(shù)為2或者4。
6.一種用于檢測(cè)陣列基板的方法，其特征在于，所述陣列基板包括顯示區(qū)和檢測(cè)區(qū)，所述顯示區(qū)包括若干行子區(qū)域，每行子區(qū)域設(shè)置充電線和共享線，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號(hào)增加值為偶數(shù)的子區(qū)域的充電線； 所述檢測(cè)區(qū)包括第一至第六檢測(cè)線路，所述第一至第六檢測(cè)線路一一對(duì)應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線； 所述方法包括以下步驟: 在第一檢測(cè)狀態(tài)下，將所述第一至第六檢測(cè)線路分成三組，依次向所述三組檢測(cè)線路提供第一檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)每行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷； 在第二檢測(cè)狀態(tài)下，將所述第一至第六檢測(cè)線路分成兩組，依次向所述兩組檢測(cè)線路提供第二檢測(cè)信號(hào)，以檢測(cè)相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述方法，其特征在于，所述在第一檢測(cè)狀態(tài)下，所述三組檢測(cè)線路分別為第一和第四檢測(cè)線路、第二和第五檢測(cè)線路、第三和第六檢測(cè)線路。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，在所述第二檢測(cè)狀態(tài)下，所述兩組檢測(cè)線路分別為第一、第三和第五檢測(cè)線路，以及第二、第四和第六檢測(cè)線路。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一檢測(cè)信號(hào)有效時(shí)，通過充電線接收到第一檢測(cè)信號(hào)的子區(qū)域的行號(hào)差值為3的倍數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7-9中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述偶數(shù)為2或者4。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK104360504SQ201410650209
【公開日】2015年2月18日 申請(qǐng)日期:2014年11月14日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月14日
【發(fā)明者】王醉, 羅時(shí)勲 申請(qǐng)人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司