測試線路、顯示面板及顯示裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種測試線路、顯示面板及顯示裝置，該測試線路包括對盒工藝檢測線路、第一扇區(qū)、第二扇區(qū)、用于將該對盒工藝檢測線路與該第一扇區(qū)相連接的導電區(qū)域，以及位于該導電區(qū)域中的電學檢測區(qū)域，其中，該第一扇區(qū)與該第二扇區(qū)相連接，該導電區(qū)域包括用于同該第一扇區(qū)相連接的第一重疊區(qū)，該電學檢測區(qū)域位于該導電區(qū)域中該第一重疊區(qū)之外的區(qū)域。本實用新型能夠避免由于電學測試區(qū)域損傷而導致后續(xù)模組檢測時的檢測信號不能正常傳輸，降低面板不良發(fā)生率。
【專利說明】測試線路、顯示面板及顯示裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實用新型涉及顯示領(lǐng)域，尤其涉及一種測試線路、顯示面板及顯示裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 液晶顯示器是當前主流的平板顯示器，其由陣列基板、彩膜基板和兩基板中間的 液晶層構(gòu)成。在陣列基板的制造工藝中，通常在對盒完成后要對一整張顯示面板進行兩 次切割，為了對產(chǎn)品品質(zhì)進行監(jiān)控，對第一次切割后形成的中片（Q-panel)進行第一次測 試，即對盒工藝檢測（cell test，CT)，隨即對第二次切割后形成的顯示面板單元（single panel)進行第二次測試，即電學檢測（Electrical test, ET)。
[0003] 參見圖1，圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的測試線路的示意圖，其中，對盒工藝檢測線路Γ通 過過孔6'與導電區(qū)域5'相連，電學測試區(qū)域（ET test Pad)2'位于導電區(qū)域5'中，且通 過電學測試區(qū)域2'使得導電區(qū)域5'分別與第一扇形區(qū)域3'以及第二扇形區(qū)域4'相連接， 從而使得使第一扇形區(qū)域3'中的信號能夠傳輸至第二扇形區(qū)域4'中，進而能夠使與第一 扇形區(qū)域3'相連的集成電路芯片（Integrated Circuit, 1C)發(fā)出的信號能夠發(fā)送至與第 二扇形區(qū)域4'相連的GOA (Gate Drive on Array,陣列基板行驅(qū)動）區(qū)域中，但由于導電區(qū) 域5'裸露在空氣中，在對第二次切割后形成的顯示面板單元（single panel)進行第二次 測試時，容易對電學測試區(qū)域2'造成損害，從而使得第一扇形區(qū)域3'中的信號不能傳輸?shù)?第二扇形區(qū)域4'中，導致后續(xù)模組檢測時的檢測信號不能從集成電路芯片到達G0A區(qū)域， 產(chǎn)生面板（panel)不良。 實用新型內(nèi)容
[0004] (一）要解決的技術(shù)問題
[0005] 本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種測試線路、顯示面板及顯示裝置，以解 決由于電學測試區(qū)域損傷而影響后續(xù)檢測的問題。
[0006] (二）技術(shù)方案
[0007] 為解決上述技術(shù)問題，本實用新型的技術(shù)方案提供了一種測試線路，包括對盒工 藝檢測線路、第一扇區(qū)、第二扇區(qū)、用于將所述對盒工藝檢測線路與所述第一扇區(qū)相連接的 導電區(qū)域，以及位于所述導電區(qū)域中的電學檢測區(qū)域，其中，所述第一扇區(qū)與所述第二扇區(qū) 相連接，所述導電區(qū)域包括用于同所述第一扇區(qū)相連接的第一重疊區(qū)，所述電學檢測區(qū)域 位于所述導電區(qū)域中所述第一重疊區(qū)之外的區(qū)域。
[0008] 進一步地，所述導電區(qū)域通過設(shè)置在所述第一重疊區(qū)上的過孔與所述第一扇區(qū)相 連接。
[0009] 進一步地，所述導電區(qū)域還包括用于同所述對盒工藝檢測線路相連接的第二重疊 區(qū)，所述電學檢測區(qū)域還位于所述導電區(qū)域中所述第二重疊區(qū)之外的區(qū)域。
[0010] 進一步地，所述導電區(qū)域通過設(shè)置在所述第二重疊區(qū)上的過孔與所述對盒工藝檢 測線路相連接。
[0011] 進一步地，所述導電區(qū)域還設(shè)置有開關(guān)，所述開關(guān)用于控制所述導電區(qū)域的通斷。
[0012] 進一步地，所述開關(guān)設(shè)置在所述電學檢測區(qū)與所述第一重疊區(qū)之間的區(qū)域。
[0013] 進一步地，還包括用于控制所述開關(guān)的控制線路。
[0014] 為解決上述技術(shù)問題，本實用新型還提供了一種顯示面板，包括上述任意一種的 測試線路。
[0015] 為解決上述技術(shù)問題，本實用新型還提供了一種顯示裝置，包括上述的顯示面板。
[0016] (三）有益效果
[0017] 本實用新型實施方式提供的測試線路，通過將電學測試區(qū)域設(shè)置在第一扇區(qū)與第 二扇區(qū)之外的區(qū)域，使得第一扇區(qū)中的信號不需通過電學測試區(qū)域就能夠到達第二扇區(qū)， 在對顯示面板進行電學檢測時，即使對電學測試區(qū)造成損傷，也不會影響集成電路芯片與 G0A區(qū)域之間的信號傳輸，從而可以避免由于電學測試區(qū)域損傷而導致后續(xù)模組檢測時的 檢測信號不能正常傳輸，降低面板不良發(fā)生率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0018] 圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的測試線路的示意圖；
[0019] 圖2是本實用新型實施方式提供的一種測試線路的示意圖；
[0020] 圖3是本實用新型實施方式提供的另一種測試線路的示意圖。
【具體實施方式】
[0021] 下面結(jié)合附圖和實施例，對本實用新型的【具體實施方式】作進一步詳細描述。以下 實施例用于說明本實用新型，但不用來限制本實用新型的范圍。
[0022] 圖2是本實用新型實施方式提供的一種測試線路的示意圖，包括對盒工藝檢測線 路1、第一扇區(qū)3、第二扇區(qū)4、用于將所述對盒工藝檢測線路1與所述第一扇區(qū)3相連接的 導電區(qū)域5,以及位于所述導電區(qū)域5中的電學檢測區(qū)域2,其中，所述第一扇區(qū)3與所述第 二扇區(qū)4相連接，所述導電區(qū)域5包括用于同所述第一扇區(qū)3相連接的第一重疊區(qū)51，所述 電學檢測區(qū)域2位于所述導電區(qū)域5中所述第一重疊區(qū)51之外的區(qū)域。
[0023] 其中，所述第一重疊區(qū)為導電區(qū)域5同第一扇區(qū)3相重疊的區(qū)域，所述導電區(qū)域5 可以通過設(shè)置在所述第一重疊區(qū)51上的過孔6與所述第一扇區(qū)3相連接。
[0024] 其中，所述導電區(qū)域5還包括用于同所述對盒工藝檢測線路1相連接的第二重疊 區(qū)52,優(yōu)選地，所述電學檢測區(qū)域2還位于所述導電區(qū)域5中所述第二重疊區(qū)52之外的區(qū) 域，所述第二重疊區(qū)為導電區(qū)域5同所述對盒工藝檢測線路1相重疊的區(qū)域，所述導電區(qū)域 5通過設(shè)置在所述第二重疊區(qū)52上的過孔與所述對盒工藝檢測線路1相連接。
[0025] 本實用新型實施方式提供的測試線路，第一扇區(qū)3與集成電路芯片（1C)連接，第 二扇區(qū)4與G0A區(qū)域相連接，通過將電學測試區(qū)域設(shè)置在第一扇區(qū)與第二扇區(qū)之外的區(qū)域， 使得第一扇區(qū)3中的信號不需通過電學測試區(qū)域就能夠到達第二扇區(qū)，在對顯示面板進行 電學檢測時，即使對電學測試區(qū)域造成損傷，也不會影響集成電路芯片與G0A區(qū)域之間的 信號傳輸，從而可以避免由于電學測試區(qū)域損傷而導致后續(xù)模組檢測時的檢測信號不能正 常傳輸，降低面板不良發(fā)生率。
[0026] 圖3是本實用新型實施方式提供的另一種測試線路的示意圖，該測試線路包括對 盒工藝檢測線路1、第一扇區(qū)3、第二扇區(qū)4、用于將所述對盒工藝檢測線路1與所述第一扇 區(qū)3相連接的導電區(qū)域5,以及位于所述導電區(qū)域5中的電學檢測區(qū)域2,其中，所述第一扇 區(qū)3與所述第二扇區(qū)4相連接，所述導電區(qū)域5包括用于同所述第一扇區(qū)3相連接的第一 重疊區(qū)51，所述電學檢測區(qū)域2位于所述導電區(qū)域5中所述第一重疊區(qū)51之外的區(qū)域，其 中，所述導電區(qū)域5還設(shè)置有開關(guān)7,所述開關(guān)7用于控制所述導電區(qū)域5的通斷。
[0027] 其中，可以將開關(guān)設(shè)置在所述電學檢測區(qū)與所述第一重疊區(qū)之間的區(qū)域。
[0028] 優(yōu)選地，為了能夠?qū)ι鲜鰧嵤┓绞街械拈_關(guān)7進行控制，還包括用于控制所述開 關(guān)7的控制線路8。
[0029] 具體地，通過本實用新型實施方式提供的測試線路對顯示面板進行對盒工藝檢測 (cell test，CT)時，用戶向控制線路8輸入控制信號控制開關(guān)7打開，CT信號通過對盒工 藝檢測線路輸入顯示面板，并通過導電區(qū)域5傳輸至第一扇區(qū)3,并經(jīng)第二扇區(qū)4傳輸至 G0A區(qū)從而實現(xiàn)對盒工藝檢測，當對顯示面板進行電學檢測時，用戶向控制線路8輸入控制 信號控制開關(guān)7打開，電學檢測信號通過電學檢測區(qū)域2進入顯示面板，并依次經(jīng)過導電區(qū) 域、第一扇區(qū)和第二扇區(qū)進入G0A區(qū)，從而實現(xiàn)顯示面板的電學檢測，當對顯示面板進行模 組檢測時，用戶向控制線路8輸入控制信號控制開關(guān)7關(guān)閉，模組檢測信號依次經(jīng)過第一扇 區(qū)和第二扇區(qū)進入G0A區(qū)，從而實現(xiàn)模組檢測。
[0030] 此外，本實用新型實施方式還提供了一種顯示面板，包括如上述任意一種的測試 線路。
[0031] 此外，本實用新型還提供了一種顯示裝置，包括上述的顯示面板。其中，上述顯示 裝置可以是筆記本電腦顯示屏、電子紙、有機發(fā)光二級管顯示器、液晶顯示器、液晶電視、數(shù) 碼相框、手機、平板電腦等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。
[0032] 以上實施方式僅用于說明本實用新型，而并非對本實用新型的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng) 域的普通技術(shù)人員，在不脫離本實用新型的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和 變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本實用新型的范疇，本實用新型的專利保護范圍應(yīng) 由權(quán)利要求限定。
【權(quán)利要求】
1. 一種測試線路，包括對盒工藝檢測線路、第一扇區(qū)、第二扇區(qū)、用于將所述對盒工藝 檢測線路與所述第一扇區(qū)相連接的導電區(qū)域，以及位于所述導電區(qū)域中的電學檢測區(qū)域， 其特征在于，所述第一扇區(qū)與所述第二扇區(qū)相連接，所述導電區(qū)域包括用于同所述第一扇 區(qū)相連接的第一重疊區(qū)，所述電學檢測區(qū)域位于所述導電區(qū)域中所述第一重疊區(qū)之外的區(qū) 域。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路，其特征在于，所述導電區(qū)域通過設(shè)置在所述第一 重疊區(qū)上的過孔與所述第一扇區(qū)相連接。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路，其特征在于，所述導電區(qū)域還包括用于同所述對 盒工藝檢測線路相連接的第二重疊區(qū)，所述電學檢測區(qū)域還位于所述導電區(qū)域中所述第二 重疊區(qū)之外的區(qū)域。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試線路，其特征在于，所述導電區(qū)域通過設(shè)置在所述第二 重疊區(qū)上的過孔與所述對盒工藝檢測線路相連接。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1至4任一所述的測試線路，其特征在于，所述導電區(qū)域還設(shè)置有開 關(guān)，所述開關(guān)用于控制所述導電區(qū)域的通斷。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試線路，其特征在于，所述開關(guān)設(shè)置在所述電學檢測區(qū)與 所述第一重疊區(qū)之間的區(qū)域。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試線路，其特征在于，還包括用于控制所述開關(guān)的控制線 路。
8. -種顯示面板，其特征在于，包括如權(quán)利要求1至7任一所述的測試線路。
9. 一種顯示裝置，其特征在于，包括如權(quán)利要求8所述的顯示面板。
【文檔編號】G02F1/13GK203838446SQ201420266323
【公開日】2014年9月17日 申請日期:2014年5月23日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月23日
【發(fā)明者】唐磊, 李彬 申請人:北京京東方光電科技有限公司, 京東方科技集團股份有限公司