本發(fā)明屬于液晶面板測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)的探針定位方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

液晶面板在正式出廠前，均需要進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試，從而檢測(cè)液晶面板是否存在壞點(diǎn)。傳統(tǒng)技術(shù)中，如圖1所示，為液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置與液晶面板的連接布置圖；在圖1中，1代表液晶面板；2代表液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置；如圖2所示，為圖1中A區(qū)域的剖面圖；從圖2可以看出，液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置配置有若干個(gè)測(cè)試接口3，液晶面板印刷有多條測(cè)試線；在每個(gè)測(cè)試接口和測(cè)試線之間設(shè)置有探針4，通過(guò)探針使測(cè)試接口和測(cè)試線之間實(shí)現(xiàn)電路連接，從而最終通過(guò)判斷測(cè)試線的亮滅情況檢測(cè)液晶面板是否存在壞點(diǎn)。

然而，在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的過(guò)程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問(wèn)題：

當(dāng)使用時(shí)間較長(zhǎng)時(shí)，容易出現(xiàn)探針左右晃動(dòng)的情況，嚴(yán)重時(shí)，探針的一端甚至從測(cè)試接口中完全脫離，出現(xiàn)圖3所示的情況，從而導(dǎo)致測(cè)試接口和測(cè)試線之間不具有電連接，無(wú)法進(jìn)行有效的液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，本發(fā)明提供一種液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)的探針定位方法及系統(tǒng)，可有效解決上述問(wèn)題。

本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：

本發(fā)明提供一種液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)的探針定位方法，包括以下步驟：

步驟1，在液晶面板的內(nèi)部印刷有n根測(cè)試線，在液晶面板的側(cè)面設(shè)置有m個(gè)測(cè)試插槽；將n根測(cè)試線劃分為n/m組，每組測(cè)試線的末端均固定到對(duì)應(yīng)的一個(gè)測(cè)試插槽中；其中，n和m均為自然數(shù)；

步驟2，液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置配置有m個(gè)測(cè)試接口，將m個(gè)測(cè)試接口與m個(gè)測(cè)試插槽相對(duì)設(shè)置后，在m個(gè)測(cè)試接口與m個(gè)測(cè)試插槽之間設(shè)置一層保護(hù)膜；所述保護(hù)膜開(kāi)設(shè)有m個(gè)固定通孔；該固定通孔與探針的外徑相匹配；

還配置有m個(gè)探針；每個(gè)所述探針的一端插入到一個(gè)測(cè)試插槽的內(nèi)部，所述探針的另一端穿過(guò)所述保護(hù)膜的固定通孔后，插入到一個(gè)測(cè)試接口的內(nèi)部，由此實(shí)現(xiàn)通過(guò)探針將測(cè)試接口和對(duì)應(yīng)的測(cè)試插槽的電連接，并且，通過(guò)保護(hù)膜定位探針。

優(yōu)選的，所述保護(hù)膜為絕緣材質(zhì)。

優(yōu)選的，所述保護(hù)膜被熱塑固定在所述液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置和所述液晶面板之間。

本發(fā)明還提供一種液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)的探針定位系統(tǒng)，包括液晶面板、液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置、探針以及保護(hù)膜；

其中，所述液晶面板的內(nèi)部印刷有n根測(cè)試線，在液晶面板的側(cè)面設(shè)置有m個(gè)測(cè)試插槽；將n根測(cè)試線劃分為n/m組，每組測(cè)試線的末端均固定到對(duì)應(yīng)的一個(gè)測(cè)試插槽中；其中，n和m均為自然數(shù)；

所述液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置配置有m個(gè)測(cè)試接口，將m個(gè)測(cè)試接口與m個(gè)測(cè)試插槽相對(duì)設(shè)置后，在m個(gè)測(cè)試接口與m個(gè)測(cè)試插槽之間設(shè)置一層所述保護(hù)膜；所述保護(hù)膜開(kāi)設(shè)有m個(gè)固定通孔；該固定通孔與探針的外徑相匹配；

所述探針的配置數(shù)量同樣為m個(gè)；每個(gè)所述探針的一端插入到一個(gè)測(cè)試插槽的內(nèi)部，所述探針的另一端穿過(guò)所述保護(hù)膜的固定通孔后，插入到一個(gè)測(cè)試接口的內(nèi)部，由此實(shí)現(xiàn)通過(guò)探針將測(cè)試接口和對(duì)應(yīng)的測(cè)試插槽的電連接，并且，通過(guò)保護(hù)膜定位探針。

優(yōu)選的，所述保護(hù)膜為絕緣材質(zhì)。

優(yōu)選的，所述保護(hù)膜被熱塑固定在所述液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置和所述液晶面板之間。

本發(fā)明提供的液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)的探針定位方法及系統(tǒng)具有以下優(yōu)點(diǎn)：

(1)通過(guò)設(shè)置保護(hù)膜，可保證長(zhǎng)時(shí)間使用時(shí)探針?lè)€(wěn)定固定在測(cè)試插槽和測(cè)試接口之間，不會(huì)發(fā)生位置偏移以及脫落現(xiàn)象，從而保證測(cè)試插槽和測(cè)試接口之間長(zhǎng)期穩(wěn)定的電性連接，保證測(cè)試質(zhì)量；

(2)還具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、制造工藝簡(jiǎn)單以及成本低的優(yōu)點(diǎn)，可廣泛推廣使用。

附圖說(shuō)明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)提供的液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置與液晶面板的連接布置圖；

圖2為圖1中A區(qū)域的剖面圖；

圖3為現(xiàn)有技術(shù)中長(zhǎng)時(shí)間使用后探針出現(xiàn)晃動(dòng)或脫離狀態(tài)時(shí)的結(jié)構(gòu)圖；

圖4為本發(fā)明提供的安裝保護(hù)膜后探針的布置示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明所解決的技術(shù)問(wèn)題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

結(jié)合圖4，本發(fā)明提供一種液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)的探針定位方法，包括以下步驟：

步驟1，在液晶面板的內(nèi)部印刷有n根測(cè)試線，在液晶面板的側(cè)面設(shè)置有m個(gè)測(cè)試插槽；將n根測(cè)試線劃分為n/m組，每組測(cè)試線的末端均固定到對(duì)應(yīng)的一個(gè)測(cè)試插槽中；其中，n和m均為自然數(shù)；例如，m為6個(gè)。

步驟2，液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置配置有m個(gè)測(cè)試接口，將m個(gè)測(cè)試接口與m個(gè)測(cè)試插槽相對(duì)設(shè)置后，在m個(gè)測(cè)試接口與m個(gè)測(cè)試插槽之間設(shè)置一層保護(hù)膜；所述保護(hù)膜開(kāi)設(shè)有m個(gè)固定通孔；該固定通孔與探針的外徑相匹配；

還配置有m個(gè)探針；每個(gè)所述探針的一端插入到一個(gè)測(cè)試插槽的內(nèi)部，所述探針的另一端穿過(guò)所述保護(hù)膜的固定通孔后，插入到一個(gè)測(cè)試接口的內(nèi)部，由此實(shí)現(xiàn)通過(guò)探針將測(cè)試接口和對(duì)應(yīng)的測(cè)試插槽的電連接，并且，通過(guò)保護(hù)膜定位探針。

實(shí)際應(yīng)用中，保護(hù)膜為絕緣材質(zhì)。保護(hù)膜被熱塑固定在所述液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置和所述液晶面板之間。

本發(fā)明還提供一種液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)的探針定位系統(tǒng)，包括液晶面板、液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置、探針以及保護(hù)膜；

其中，所述液晶面板的內(nèi)部印刷有n根測(cè)試線，在液晶面板的側(cè)面設(shè)置有m個(gè)測(cè)試插槽；將n根測(cè)試線劃分為n/m組，每組測(cè)試線的末端均固定到對(duì)應(yīng)的一個(gè)測(cè)試插槽中；其中，n和m均為自然數(shù)；

所述液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置配置有m個(gè)測(cè)試接口，將m個(gè)測(cè)試接口與m個(gè)測(cè) 試插槽相對(duì)設(shè)置后，在m個(gè)測(cè)試接口與m個(gè)測(cè)試插槽之間設(shè)置一層所述保護(hù)膜；所述保護(hù)膜開(kāi)設(shè)有m個(gè)固定通孔；該固定通孔與探針的外徑相匹配；

所述探針的配置數(shù)量同樣為m個(gè)；每個(gè)所述探針的一端插入到一個(gè)測(cè)試插槽的內(nèi)部，所述探針的另一端穿過(guò)所述保護(hù)膜的固定通孔后，插入到一個(gè)測(cè)試接口的內(nèi)部，由此實(shí)現(xiàn)通過(guò)探針將測(cè)試接口和對(duì)應(yīng)的測(cè)試插槽的電連接，并且，通過(guò)保護(hù)膜定位探針。

實(shí)際應(yīng)用中，保護(hù)膜為絕緣材質(zhì)。保護(hù)膜被熱塑固定在所述液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置和所述液晶面板之間。

由此可見(jiàn)，本發(fā)明提供的液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)的探針定位方法及系統(tǒng)具有以下優(yōu)點(diǎn)：

(1)通過(guò)設(shè)置保護(hù)膜，可保證長(zhǎng)時(shí)間使用時(shí)探針?lè)€(wěn)定固定在測(cè)試插槽和測(cè)試接口之間，不會(huì)發(fā)生位置偏移以及脫落現(xiàn)象，從而保證測(cè)試插槽和測(cè)試接口之間長(zhǎng)期穩(wěn)定的電性連接，保證測(cè)試質(zhì)量；

(2)還具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、制造工藝簡(jiǎn)單以及成本低的優(yōu)點(diǎn)，可廣泛推廣使用。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視本發(fā)明的保護(hù)范圍。